TW200910764A - Level shifter having low duty cycle distortion - Google Patents

Level shifter having low duty cycle distortion Download PDF

Info

Publication number
TW200910764A
TW200910764A TW097123965A TW97123965A TW200910764A TW 200910764 A TW200910764 A TW 200910764A TW 097123965 A TW097123965 A TW 097123965A TW 97123965 A TW97123965 A TW 97123965A TW 200910764 A TW200910764 A TW 200910764A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
node
input
latch
logic
signal
Prior art date
Application number
TW097123965A
Other languages
English (en)
Inventor
Chul-Kyu Lee
Original Assignee
Qualcomm Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qualcomm Inc filed Critical Qualcomm Inc
Publication of TW200910764A publication Critical patent/TW200910764A/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Description

200910764 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 且更特定言之係 限兩者之高速位 所揭示之實施例係關於位準移位電路, 關於顯示低工作週期失真及宾带 ^八丹久阿電源電壓容 準移位電路。 【先前技術】 可自不同電源電壓為數位邏輯 包吩供電。在一實例中, 積體電路包括以第一電源電壓操作之
„ „ _ 弟數位邏輯區塊以 及以弟二«電壓操作之第:數位邏輯區塊。若數位作號 將自-個邏輯區塊經過至另一邏輯區塊,則必須對信號之 數位位準進行移位。有時使用摇. 了使用稱為位準移位器之電路來執 行此位準移位功能。 圖ι(先前技術)為習知位準移位器κ電路圖。標藏 ▽胤表示第-電源電壓(例如,12伏特),而標籤 表示第二電源電壓(例如,U伏特)。若輸入節點2上之數 位輸入信號IN自數位低邏輯位準(例如,接地電位或約接 地電位)轉變至數位高邏輯位準(例如,vddl或約 VDDL),則反相器3引起節點4上之信號變低,且反相器$ 引起節點6上之信號變高(至VDDL),且反相器7引起節點8 上之彳5唬變低(至接地電位)。節點6上轉變至VDD]L之信號 引起厚閘極絕緣體N-通道電晶體9接通。節點8上轉變至接 地電位之信號引起厚閘極絕緣體N_通道電晶體1〇關閉。正 、經接通之電晶體9將節點丨丨上之電壓下拉至接地電位,且 因此引起厚閘極絕緣體p_通道電晶體12接通。正經關閉之 132539.doc 200910764 電晶體10允許導電電晶體12將節點13上之電壓朝向第二電 源電壓VDDH提昇。節點13上之高電壓引起厚閘極絕緣體 P-通道電晶體14關閉。因此,發現輸入節點2上自接地電 位至VDDL之低至高轉變經移位為節點13上自接地電位至 VDDH之低至高轉變。在此實例中節點13上之數位信號經 過兩個反相器15及16且隨後在節點18上的信號由以第二電 源電壓VDDH操作之第二數位邏輯區塊使用之前由又—緩 衝器1 7緩衝。
圔1之位準移位電路在許多 ·「 丨二I逍嘗 信號速度增加,發現位準移位電路將不合意之量之工作週 期失真偏斜引入信號中。低至高之信號轉變具有經由電路 之第一傳播延遲(TPD—LH),而高至低之信號轉變具有經 由電路之第二傳播延遲(tDP_hl)。N_通道電晶體ι〇可多 快地下拉節點13上之電壓且切換節點13上之信號顯著地於 響高至低之傳播延料間。P_通道電晶體12可多快地提昇 節點上之電壓且切換節點13上之信號顯著地影響低至古 傳播延遲時間。可調整電晶體1〇及12之尺寸以使得在某: 組之操作電壓、過程及溫度條件下存在極少偏斜或不存在 偏斜。不幸地,隨著電路之操作電壓、過程及溫度變化, 低至高與高至低傳播延遲時間彼此間不同。 在實例中’期望位準移位器電路將傳導彻贿冗之 :信號。舉例而言,若正經位準移位之信號為正與 號同步地自傳輸器電路通信至接收器電路之資料信號^ 右^到達接收器之時間變化’則時脈信號可進行計時之 132539.doc 200910764 速率減小。在已在接收器處接收到資料以前,時脈信號不 可轉變為至接收器中之時脈資料。在4〇〇 MHz信號應用 中,電路規格要求若將方波作為輸入供應至位準移位電 路,則自電路輸出之經位準移位之信號在電壓、過程及溫 度界點(corner)之所有排列上必須具有不小於百分之三十 之工作週期且必須具有不大於百分之七十之工作週期。不 幸地,圖1之電路可具有大於此之工料期失真。 圖2為說明經輸入至圖1之電路的5〇/5〇工作週期之彻 MHz輸入信號…如何經位準移位為具有一肋/別工作週期 之輸出信號㈤丁的波形圖。此大於電路規格所允許之工作 週期失真。經改良之電路係所要的。 【發明内容】 斥穎位準移位器電路接收在第—信號電壓範圍(例如, 自接地電位至約K2伏特之第一電源電請叫内轉變之 數位輸人信號m且將錢IN轉換為在第 如,自接地電位至約丨.8伏特之 竹〈弟—電源電壓VDDH)内轉 ^之數位輸出信號贿。位準移位器電路包括反相電路、 又又耦合位準移位鎖存器及SR邏輯閘鎖存器。 =目電路接收數位輸人信號ΙΝ且輪出信號之反相版本及 二,非反相版本。反相電路自第—電源電壓砸供電 以使仔信號之反相及非反相版 内轉變。 ^兩者在I信號電壓範圍 第二輸入 交叉耦合 —父又耦合位準移位鎖存器具有第—輪入 節點、第一差動輸出節點及第二差動輸出 132539.doc 200910764 位準移位鎖存器由第二電源電塵VDDH供電以使得輪出至 =及f二差動輸出節點上之信號在第二信號電麼範圍内 變。父又耗合位準移位鎖存器之第—輸人節點經 自反相電路接收非反相#节 _ 按收非反相L而交又耦合位準移位鎖存哭 . 4弟二輸入節點經耦接以自反相電路接收反相信號。°。 . ,亦由第二電源電請DH供電之SR邏輯閉鎖存器 $定⑻輸入節點、-重設(R)輸入節點及—輸出節點。設 疋輸入節點輕接至夺艾叙人乂隹 x 〇= 4移位鎖存11之第-差動輸 出即點,而重設輸入節‘_至交叉叙合位準移 之第二差動輸出節點。訊邏輯間鎖存器之輸出節點輪出經 反相之數位輸出信號以產生數輸 信號贿在第二電壓範圍中轉變/嶋ουτ。數位輪出 在操作中,數位輸入信_之低至高轉變引起交 位準移位鎖存器經設定為第一狀態,其又引起交 : 準移位鎖存器向其差動輸出節“ ^ 穿上翰出尚信號。 〇 重設,存器以使得數位信號晴自數位邏輯低轉 立-位邏輯同。數位輸入信號IN之高至低轉變引起交又 搞合位準移位鎖存器經設定為第二狀態,其又引起交又耗 . 二立準移位鎖存器向其差動輸出節點之其他節點上輸出高 . ⑤信號設定SR鎖存器以使得數位信號〇υτ自數 輯低轉變至數位邏輯高。 & 輸入信號IN之低至高轉變的 延遲與輸入信細之高至低轉變的經電路的傳播 傳播延遲相差別在此處稱為”工立:電路的 d天具偏斜”之時間 132539.doc 200910764 =ϋ例t,當位準移位器電路具有大於第一電源電 塗VDDL之標稱1>2伏特值的四分之一的電源電麼容限時, 工作週期失真偏斜在操作電n程及操作溫度界點上小 於5〇皮秒。歸因於位準移位器電路之架構,在不必須對交 又耦合位準移位鎖存器内之p_通道電晶體及N_通道電晶體 之#作特性進行平衡之情形下達成低工作週期失真偏斜。 由於不必須對交又搞合位準移位鎖存器内之p_通道電晶體 及N-通道電晶體進行平衡,可相對於ρ·通道電晶體增純_ 通道電晶體之尺寸,藉此增加位準移位器電路之 容限。 至 以上為發明内容且因此有必要含有細節之駒匕、概括及 省略’因A ’彼等熟習此項技術者將瞭解發明内容僅為說 明性的且不意欲在任何方式上加以限制。本文所描述之裝 置及/或過程的如由申請專利範圍單獨界定之其他態樣、 發明性特徵及優點將在本文陳述之非限制實施方式中變得 顯而易見。 【實施方式】 圖3為根據一新顆態樣之位準移位電路⑽之簡化圖。位 準移位電路HK)包括-輸人節點⑻、—交以合位準移位 鎖存器U)2、-設定·重設(SR)邏輯問鎖存器1()3、—反相 電路104、-反相|| 1Q5、—緩衝器1()6及—輸出節點。 數位輸人信號職輪人節點⑻上經接收且經位準移位且 料數位輸出信號0UT於輸出節點1〇7上輸出。數位輸入 Mm在第一信號電壓範圍(例如,自接地電位至約u伏 132539.doc 200910764 特之VDDL電壓)内轉變。數位輸出信號〇υτ在第二信號電 歷範圍(例如’自接地電位至約1.8伏特之VDDH電壓)内轉 變。以涉及Ρ-通道及Ν_通道場效應電晶體之互補邏輯實現 位準移位電路100。 反相電路104包括非反相數位邏輯電路108及反相數位邏 輯電路109。非反相數位邏輯電路108包括兩個反相器125
及120 °反相數位邏輯電路ι〇9為單一反相器127。反相電 路104由第一電源電壓V:DDL(例如,1.2伏特)供電。反相電 路104將輸入信號1N之反相版本作為信號INB供應至節點 110上。信號名稱INB中之"B"指示”條信號化打广。反相電 路104亦將輸入信號…之非反相版本作為信號wo供應至 節點11 1上。信號名稱IND中之”D"指示,,延遲"。 交又耦合位準移位鎖存器1〇2包括第一輸入節點112、第 一輸入節點1 13、第一差動輸出節點丨14、第二差動輸出節 點115、兩個厚閘極絕緣體N_通道電晶體ιΐ6及ιΐ7及兩個 交又耦合位準移位 厚閘極絕緣體P-通道電晶體118及丨19。 鎖存器102由第二電源電壓¥〇1^(例如,18伏特)供電。 SR邏輯間鎖存器1 03亦由第二電源電塵供電。此 邏輯閘鎖存器⑼包括設定(s)輸人節點121、重設⑻輸入 節點120、一輸出節點122、第一崎閘123及第二舰閘 m。此處術語”差動"並不意謂資訊必定作為兩個信號之 間之電虔差而通信’而是包括使用兩個信號來控制諸如sr 邏輯閘鎖存器103之接收器電路之情況··一個信號 起SR邏輯閘鎖存器經設定,且另_ 〜 力 k號用以引起SR邏輯 I32539.doc 10 200910764 閘鎖存器經重設。 Ο 圖4說明當輸入節點101上之輸入信號^自數位低邏輯位 準(例如,接地電位或接近接地電位)轉變至數位高邏輯位 準(例如,電源電壓VDDL或接近¥£)13£)時位準移位電路 100之操作。最初,數位邏輯低呈現於輸入節點1〇1上。節 點111上之信號因此為數位邏輯低且節點丨丨〇上之信號為數 位邏輯高。節點111上之數位邏輯低引起N_通道電晶體116 為非導電的且節點110上之數位邏輯高引起N_通道電晶體 117為導電的。p_通道電晶體119因此為非導電且通道電 晶體118為導電的。非導電之队通道電晶體u 6及導電之卜 通道電晶體118引起數位邏輯高呈現於節點128上。導電之 N-通道電晶體117及非導電之ρ·通道電晶體ιΐ9引起數位邏 輯低呈現於節點129上。由於數位邏輯高呈現於節點128 上,因此數位邏輯高呈現於N〇R閘124之較低輸入線上。 NOR閘124因此向N0R閘123之較低輸入線上輸出數位邏輯 低信號。由於數位邏輯低信號呈現於職問123之兩個輸 線上因此NOR閘123輸出數位邏輯高信號。輸出節點 7上之L號OU丁因此為數位邏輯低。由於為數位邏輯低 之輸入信號IN引起輸出信號〇υτ為數位邏輯低,因此位準 移位器1 〇 〇為非反相位準移位器電路。 輸入信號IN至數位邏輯高之轉變引起節點⑴上之作號 變高且引起節點U0上之信號變低。如由圖4中記號"〇心 指示使得N-通道電晶體116為導電的。n_通道電晶體晴 即點128㈣至接地節點m。使得n_通道電晶體⑴為非 132539.doc 200910764 導電的。交又搞合移位鎖存器1〇2因此進行切換,且使得 P-通道電晶體U9為導電的。p_通道電晶體ιΐ9將節點129 麵接至電源電壓節點131。節點129上之信號因此轉變至數 位邏輯高。NOR開123之上部輸入線上之數位邏輯高引起 麵閘⑵輸出數位邏輯低信號。由於數位邏輯低信號現 呈現於NOR閘124之較低輸入線上,因此數位邏輯低信號 王現於NOR閘124之兩個輸入線上。SR邏輯閘鎖存器之狀 態因此進行切換。現向輸出節點122上輸出數位邏輯低之 SR鎖存㈣3可謂已經"重設"。由於輸出節點122上之信號 轉變至數位邏輯低’輸出節點上之信號OUT轉變至數 位邏輯尚。經由電路之作·骑< 丄 號路k由圖4甲之粗箭頭說明。 在此插作中,SR鎖存器103由於向交又搞合位準移位鎖存 器1〇2之第二差動輸线115(參相3)上輸出之數位邏輯高 信號而經”重設”。
Lj 圖5說明當輸入節點101上之輸入信號_數位邏輯高轉 變回數位邏輯低時位準移位電路⑽之操作。輸人節點⑼ 上之轉變引起節點110上之信號轉變至數位邏輯高,其又 引起使得N-通道電晶體m為導電的。導電之队通道電曰 體m由圖5中之” 0N”記號指示1-通道電晶體117將節: 129柄接至接地節點13()以使得節點129上之電壓轉變至數 位邏輯低。節點⑴上之信號亦轉變至數位邏輯低,其又 引起使得N-通道電晶體116為非導電的。節點129上之數位 邏輯低信號引起使得p_通道電晶體u 8 P-通道電晶體u8將節點丨職至電源電 132539.doc 12 200910764 Ο
點128上之信號因此轉變至數位邏輯高。因此,交又福人 =準移位鎖存器1G2已切換狀態。數位邏輯高現呈現㈣ 〇2之第一差動輸出節點114上。从邏輯閉鎖存器103 之π AT輸入線121上之數位邏輯高信號引起麵閘m 輸出數位邏輯低信號。由於數位邏輯低信號呈現於賺閉 ⑵之兩個輸入線上’因此N0R問123之輸出線上之信號轉 變至數位邏輯高°因此’發現SR邏輯閉鎖存器103具有經 切換之狀態。由於舰間123之輸出線上之信號轉變至數 位邏輯高,因此SR邏輯問鎖存器⑼經設定為已經"設定”。 SR邏輯閘鎖存器i 03之設定引起輸出節點i 〇7上之信號〇υτ 轉變至數位邏輯低。經由電路之信號路徑由圖5中之粗箭 頭說明。 交叉耦合位準移位鎖存器i 〇〇之電晶體經定尺寸以使得 節點128及129(交又耦合位準移位鎖存器1〇2之第一及第二 差動輸出即點)中之每一者上之信號之低至高轉變慢於其 向至低轉隻。由於SR鎖存器1〇3由數位邏輯高信號設定或 者重設,因此使得經由SR鎖存器之高至低傳播快於經由 SR鎖存器之低至高傳播,以使得SR鎖存器之設定及重設 輸入節點兩者將不經歷同時之數位邏輯高信號。當在交又 耦合位準移位鎖存器102之差動輸出節點中之一者上發生 低至两轉變時信號開始經由SR鎖存器1 〇3傳播。 期望圖4及圖5中所說明之路徑的傳播延遲在電壓、過程 及溫度界點之所有排列下儘可能彼此接近。注意在圖4之 箭頭中’信號經過兩個反相器125及126、鎖存器102之N- 132539.doc -13- 200910764 通道下拉電晶體116、鎖存器1 〇2之p_通道提昇電晶體 119、NOR閘123及隨後之反相器1〇5及緩衝器1〇6。在圖5 之箭頭中’信號經過一個反相器127、鎖存器102之沁通道 下拉電晶體117、鎖存器1〇2之P-通道提昇電晶體ns、鎖 存器103之兩個NOR閘124及123及隨後之反相器1〇5及緩衝 器106。因此發現圖5之箭頭比圖4之箭頭多經過一個N〇R 閘,但少經過一個反相器。因此,為匹配電路之低至高與
高至低傳播延遲,使得NOR閘124之傳播延遲實質上等於 經由反相器12 5之傳播延遲。 在圖1之先前技術位準移位器!中,輸入信號以之低至高 轉變導致使得N-通道電晶體Π)為非導電的且使得p_通道電 晶體12為導電的,節點η上之電壓變高的速率因此取決於 P-通道電晶體12將節點13上之電壓提昇至電源電壓vddh 的能力。相反,輸入信號败高至低轉變導致使得通道 電晶體ίο為導電的且使得P_通道電晶體12為非導電的。節 點13上之電壓變低的速率因此取決於N_通道電晶體η將節 ㈣上之電h拉至接地電位的能力。使得經由整個電路 1之低至高傳播延遲等於經由整個電路!的高至低傳播延遲 因此通常涉及使兩個不同類型之電晶體(p_通道及通道) 平㈣在節點U上切換電麼。此係由於交又輕合位準移位 鎖存„„以單端方式將信號驅動至其後之輸出電路 電子遷移率與電洞遷移率之不同,通常使得P-通道電曰體 約為其相關聯之道電晶體之兩倍大,以使得在需= 工作週期失真之情形下使N_通道及p_通道電晶體之驅動強 132539.doc 200910764 度平衡。 另方面,在圖3之新|貝電路中,交叉#合位準移位# 存器102以雙端方式驅動其後之輸出電路。在圖3之電路 中輸入仏號1N之低至高轉變導致使得斗通道電晶體116 為導電的且P-通道電晶體119為導電的。導電之p_通道電 晶體119將節點129上之電壓提昇至數位邏輯高且引起向狄 鎖存器1G3之重設τ輸人線12()上輸出重設信號。節點129 上之電Μ轉變至數位邏輯高的速率因此取決於p—通道電晶 體119接通之能力及Ν·通道電晶體117經關閉之能力。輸入 信號IN之高至低轉變導致使得小通道電晶體ιη為導電的 且使得ρ-通道電晶體118為導電的且使得斗通道電晶體ιΐ6 為非導電的。導電之ρ·通道電晶體118將節點128上之電壓 提昇至數位邏輯高且引起向SR鎖存器1〇3之設定"s,,輸入線 121上輸出設定信號。節點128上之電壓轉變至數位邏輯高 的速率因此取決於P-通道電晶體118接通之能力及N_通道 電晶體116經關閉之能力。因此,對於輸入信號m之低至 南轉變及高至低轉變兩者而言,交叉耦合位準移位鎖存器 102輸出主動高設定或重設信號的速率取決於N—通道電晶 體可關閉之速率及相關聯之P-通道電晶體可接通之速率。 使得經由整個電路100之低至高傳播延遲等於經由整個電 路100之向至低傳播延遲因此不涉及使兩個不同類型之電 晶體(厚閘極p-通道對厚閘極N_通道)之能力平衡以在節點 上切換電壓。電壓、過程及溫度對於P_通道對沁通道電晶 體具有之導致圖1的先前技術電路中之工作週期失真的不 132539.doc 200910764 同效應因此不影響圖3之新穎位準移位器電路丨〇〇。 圖1之先前技術電路亦經受另一問題。常常期望位準移 位器電路1在諸如VDDL之電源電壓之低值下繼續操作。此 稱為”電源電壓容限"。隨著電源電壓VDDLi值減小,反 相器7可驅動N-通道電晶體10之閘極之最大電壓降低。在 將使付電晶體1G導電時之條件下以愈來愈低的電麼驅動 通道電晶體1G之閘極導致此電晶體僅部分地接通或微弱地 導電。電源電壓VDDL之進一步降低不能夠允許N_通道電 晶體10為交又耦合鎖存器進行切換而充分地接通。位準移 位器電路因此停止工作。增加N_通道電晶體10之尺寸增加 N-通道電晶體10在給定閘驅動電壓下將傳導的電流之量。
’不需要使N-通道電晶 關閉及傳導特性平衡。 體117及p-通道電晶體119之接通及 類似地,不需要使N-通道電晶體n 接通及關閉及傳導特性平衡。因^
容限相比改良電源電壓容限。 日日體】16及P-通道電晶體丨18之 •。因此,增加N-通道電晶體 1之先前技術電路之電源電壓 >在一實例中,N-通道電晶體 132539.doc 200910764 117之通道寬度大於Ρ·通道電晶體119之通道寬度且N_通 道電晶體116之通道寬度大於?_通道電晶體ιΐ8之通道寬 度。 圖6為說明與圖i之先前技術位準移位器電路^偏斜相 比圖3之新賴位準移位器電路⑽的偏斜之圖。偏斜為在低 至向輸入信號IN的經由電路之傳播延遲與高至低 IN的經由電路的傳播延遲之間時間(皮秒)的不同。對^ 作電源電壓、過程及操作溫度之變量中之每一者士、’、 在最小可允許之值及最大可允許之值。此等通^稱5為,= 點"。因此’存在三個變量之高值及低值之十六個不同排 列。在圖6之實例中,溫度具有零下4〇攝氏度之最小值及 125攝氏度之最大值。VDDL具有l Q8伏特之最小值及⑷ T特之最大值(至少增減百分之十)。VDDH具有Μ伏特之 取小值及2.0伏特之最大值(至少增減百分之十)。過程特性 為”低’,至”快"。十六個排列中之每一者處之偏斜指示於圖6 中。舉例而言,對於排列i而言,在所有十六個操作界點 上’圖1之先前技術位準移位器具有約13〇皮秒之偏斜,而 圖3之新穎位準移位器電路⑽具有小於5〇皮秒之偏斜。 圖7為說明與圖i之先前技術位準移位器電路⑽偏斜相 比圖3之新穎位準移位器電路1〇〇的電源電壓容限之圖。考 慮線⑽。線代表圖】之先前技術位準移位器之操作。 隨著電源㈣VDDL之量值減小,如由自U伏特VDDL降 =約〇.95伏特VDDL之線2〇〇之水平方向所指示工作週期相 田迻疋。F通後對於低於約0.95伏特之VDDL電壓而言,工 132539.doc -17· 200910764 = :始改變(工作週期失真增加)。在,_處,工作週 送= 分高,但位準移位器電路1仍然將輪入信㈣傳 言^卽點、。然而,對於低於約0.95伏特之電源電壓而 °現卫作週期降至零。先前技術位準移位器已停止摔 :广電屬容限因此為丨.2伏特之標稱電源電塵v職值 賴位Γ伏特,或約°.25伏特。接下來’考慮代表圖3之新 =位準移位器的操作之線加。在發現工作週期失真快速 曰加之别’可減小電源電MVDDW降至約〇 83伏特。圖3 之新穎位準移位器電路1〇〇在降至約〇81伏特之電源電壓 卿匕情況下繼續操作。因此據說圖3之新賴位準移位器 100具有1.2伏特減去0 81伏特或〇 39伏特之電源電壓容 限。0.39伏特之電源電壓容限為超越顯示約〇 25伏特的電 源電麼谷限之圖1的先前技術電路之實質改良U9伏特 之電源電壓谷限約為標稱i. 2伏特電源電壓之三分之一(大 於四分之一)。 如圖6中所說明,圖6之新穎位準移位器電路1〇〇之特定 實轭例在所有十六個過程、操作電壓及操作溫度界點上具 有]、於50皮秒之偏斜,且其實現此且同時能夠在降至約 0.81伏特之電源電壓情況下操作。驅動交又耦合鎖存器 之差動輸出節點中的每一者之p_通道及N_通道電晶體 對中的N-通道電晶體之通道寬度至少與該對的相關聯p-通 道電晶體之通道寬度一樣大。 圖8為根據一新穎態樣之方法3〇〇之流程圖。在步驟3〇1 中’接收數位輸入信號且輸出數位輸入信號之反相及非反 132539.doc -18- 200910764 彳版本在一實例中,圖3之反相電路1 〇4執行此步驟。在 步驟3 02中,將非反相版本接收於交又耦合位準移位鎖存 器之第一輸入節點上且將反相版本接收於交叉耦合位準移 位鎖存器之第二輸入節點上。在一實例中,交叉耗合位準 移位鎖存器為圖3之交叉搞合位準移位鎖存器1()2。在步驟 303中1交叉轉合位準移位鎖存器之第—差動輸出信號 接收於SR邏輯閘鎖存器之卜輸人節點上,且將交又耗合 ,準移位鎖存盗之第二差動輸出信號接收於sr邏輯問鎖存 器之第二輸入節點上。在一實例中,sr邏輯閘鎖存器為圖 3之訊邏輯閘鎖存器1〇3。SR邏輯閘鎖存器輸出經位準移 位之數位輸出信號(數位輸入信號之經位準移位之版本)。 儘管上文出於指導目的而描述某些特定實施例,但此專 利文獻之教示具有—般適用性且不限於上文描述之特定實 施例°在上文之描述中’當兩個節點直接由導體連接以: :兩個節點實際上為單一實質上等電位之節㈣,稱兩個 接:在—起。儘管400 —之數位輸入信號經描述 料移位電路以低4 —斜^ 丁位旱移位,但應理解輸入信號之此頻率僅用 :。圖3電路操作於高於4〇〇MHz之頻率下。因此,在不^ 述: = 申請專利範圍的範鳴之情形下可實踐所描 .例之各種特徵的各種修改、調適及組合。 【圖式簡單說明】 、。 圖U先前技術)為先前技術位準移位器電路之圖。 圖2(先前技術)為說明由圖1之先前技術位準移位器弓j入 132539.doc -19- 200910764 的電路工作週期失真之波形圖。 圖3為根據—新賴態樣之新穎位準移位器電路100之電路 圖〇 圖4為說明當輪入信號之低至高轉變傳播經過位準移位 為電路時圖3的新穎位準移位器電路之操作的電路圖。 。。圖5為祝明當輸人信號之高至低轉變傳播經過位準移位 态電路時圖3的新穎位準移位器電路1〇〇之操作的電路圖。 义圖6為將圖3之新賴位準移位器電路1GG的偏斜與圖1之先 月❼技術位準移位$雷k 1 + i 4 ^ 。 干砂1正器電路1在十六個不同電壓、過程及溫度 刼作界點上進行比較的圖。 ,圖7為忒明圖3之新穎位準移位器電路丨〇〇及圖丨的先前技 術位準移位器電路丨之電源電壓容限的圖。 圖8為根據一新穎態樣之方法之流程圖。 【主要元件符號說明】 2 V 3 4 • 5 6 7 8 9 10 習知位準移位器 輸入節點 反相器 節點 反相器 節點 反相器 節點 厚閘絕緣體N -通道電晶體 厚閘絕緣體N-通道電晶體 132539.doc -20- 200910764 i 11 節點 12 厚閘絕緣體P-通道電晶體 13 節點 14 厚閘絕緣體P-通道電晶體 15 反相器 16 反相器 17 緩衝器 18 節點 100 新穎位準移位器電路 101 輸入節點 102 交叉耦合位準移位鎖存器 103 設定-重設(SR)邏輯閘鎖存器 104 反相電路 105 反相器 106 緩衝器 107 輸出節點 108 非反相數位邏輯電路 109 反相數位邏輯電路 110 節點 111 節點 112 第一輸入節點 113 第二輸入節點 114 第一差動輸出節點 115 第二差動輸出節點 132539.doc .21 200910764 116 厚閘絕緣體N-通道電晶體 117 厚閘絕緣體N-通道電晶體 118 厚閘絕緣體P-通道電晶體 119 厚閘絕緣體P-通道電晶體 120 重設(R)輸入節點 121 設定(S)輸入節點 122 輸出節點 123 第一 NOR閘 124 第二NOR閘 125 反相器 126 反相器 127 反相器 128 節點 129 節點 130 接地節點 131 供應電壓節點 200 線 201 點 202 線 IN 數位輸入信號 INB 信號 IND 信號 OUT 輸出信號 R 重設 132539.doc -22- 200910764 s 設定 TPD_HL 第二傳播延遲 TPD_LH 第一傳播延遲 VDDH 第二電源電壓 VDDL 第一電源電壓 132539.doc -23 -

Claims (1)

  1. 200910764 、申請專利範圍: 種位準移位器電路,其包含: —交又耦合位準移位鎖 點、-第二輸入節點、-第―:二有一第一輸入節 動輸出節點; 動輪出節點及-第二差 點一設二設(SR)邏輯閑鎖存器,其具有一重設輸入節
    點叙拉^輸人㈣及—輸出節點,其中該重設輸入節 ::接至該交叉耗合位準移位鎖存器之該第二差動輸出 即點’且其中該設定輸入節 μ …。 耦接至該交又耦合位準移 ,★存益之該第一差動輸出節點;及 一二反相電路,其向該交又麵合位準移位鎖存器之該第 入郎點上供應一數位信號,且向該交叉耦合位準移 位鎖存器之該第二輸人節點上供應該數位信號之一反相 版本。 2.如請求項!之位準移位器電路,其中該交又輕合位準移 位鎖存器包含: —電源電壓節點, 一第一Ρ-通道場效應電晶體(PFET),其具有一源極、 一汲極及一閘極,其中該源極耦接至該電源電壓節點, 且其中該汲極耦接至該SR邏輯閘鎖存器之該設定輸入節 點’且其中該閘極耦接至該第二差動輸出節點; 一第二PFET,其具有一源極、一汲極及—閘極,其中 該源極耦接至該電源電壓節點,且其中該汲極麵接至該 SR邏輯閘鎖存器之該重設輸入節點,且其中該閘極耗接 132539.doc 200910764 至該第一差動輸出節點; 一接地節點; 一第一 N-通道場效應電晶體(NFET),其具有一源極、 一汲極及一閘極,其中該源極耦接至該接地節點,其中 戎及極麵接至該第一pFET之該及極,且其中該閉極為該 父又耦合位準移位鎖存器之該第一輸入節點;及 f -第一 NFET,其具有—源極、—沒極及—間極,其中 該源極耦接至該接地節點,其中該汲極經耦接至該第二 PFET之肢極,且其中關極為該交又#合位 存器之該第二輸入節點。 鎖 3.如請求項2之位準移位器電路,其中該反相電路包含. 一非反相數位邏輯電路,其具有-輸入節點及—輸出 :點,其中該輸出節點耗接至該交叉耗合位準移位鎖存 之该第一輪入節點;及 二=位邏輯電路,其具有一輸入節點及一輸出節 數位邏輯電路之該輸入節點,且其中 = 叉麵合位準移位鎖存器之該第二輸入節點。 父 月求項3之位準移位器電路, 包含: T ^SR邏軏閘鎖存器 &第NOR閘’其具有一第一輸入節點、一 節點及一輪出節點, 一 ‘” 一輸入 ' 此處該弟一輸入節^1;反分c ^、TO Α 鎖存器之該重設輪人節點,且其中出:"t輯閘 輯閘鎖存芎H ^ b °"輪出郎點為該SR邏 貝仔态之叆輸出節點;及 132539.doc 200910764 -第二NOR閘,其具有—第—輪人節點、 節點及-輸出節點,其中該第’ -别 雜六堪— 别入郎點為該SR邏輯閘 鎖存器之該設定輸入節點,其 一 NOR Π夕兮认, μ卓二輸入節點為該第 NOR閘之该輪出節點,且发 N〇Rea ^ ^ ^ ^ Sx輪出節點為該第一 JN〇K閘之該第二輸入節點。 5.如請求項4之位準移位器電路复 〃'中一自該非反相數位 砝輯電路之該輸入節點至該非 Ψ - -JH. 相數位邏輯電路的該輸 出即點而經過該非反相數 〇 坌一值、铒電路之第一信號具有一 第傳播延遲,其中一自該反相數#、s β + -Wt 2, ^ Γ: ^ Λ 邗數位邏輯電路之該輸入 即點至遠反相數位邏輯電路 叙办、sΑ 的以輪出卽點而經過該反相 數位邏輯電路之第二信號具有— 弟一傳播延遲,且其中 該弟二傳播延遲短於該第一傳播延遲。 '、 6. 如請求項2之位準移位器電 电纷再中該第一 NFET旦有一 通道寬度,其中該第一PFE * 通道寬度’且其中該 第一 NFET之該通道窗声 度大於s亥弟—PFE丁之該通道寬 度。 Q 7. 如請求項1之位準移位 电格具中該反相電路自一電 源電壓供電,且1中兮你.·隹必7 , ^ 移位器電路在一半導體處理 變化範圍上,在—— 攝氏度操作溫度範圍上及在該電 源電壓增減百分之+之 L 作週期失真偏斜 、 疋十之—範圍上具有一小於五十皮秒之 8.如請求項6之位準移位 夕位益電路,其中該位準移位器電路 在該位準移位器電路正 队w白兆赫之一輸入信號且輸 出四百4匕赫之-φΑ- φ JJL. . 輸出k旒時具有一小於五十皮秒之工作 132539.doc 200910764 J期失真偏斜,其t該反相電路由—第一電源電壓供 電由其:該:又耗合位準移位鎖存器及該认邏 :! 一第二電源電壓供電,且其中該位準移位器電路在 §亥弟一電源電壓增減百分之十地變化之條件上及在該第 二電_增減百分之十地變化之條 皮秒之該工作週期失直傯#日甘Λ 五十 肩失真偏斜,且其中該位準移位器電路 =一165攝氏度溫度範圍上具有小於五十皮秒之該工作 週期失真偏斜。 Ο 9·如請求項1之位準移位器電路,其中該反相電路由—第 -電源電壓供電,其中該交叉麵合位準移位鎖存器由一 弟-電_供電’且其中該位準移位器電路在該位準 移位器電路正接收四百兆赫之__輸人信號且輸出四百兆 赫之一輸出信號時具有—小於五十皮秒之玉作週期失真 料’ 其中該位準移位器電路在該第—電源電塵增減 百刀之十地變化之條件上及在該第二電源電壓增減百分 十也欠化之條件上具有小於五十皮秒之該工作週期失 f爲斜I其甲該位準移位器電路在一 攝氏度溫度 摩巳圍上具有小於五十皮秒之該工作週期失真偏斜。 10. —種方法,其包含: 二接收—輸入信號且輸出該輸入信號之一非反相版本及 輸入L就之一反相版本’其中該輸入信號之該反相版 s卜反相版本為其電壓在自一接地電位至一第一電 /原電屋的範圍中之數位信號; :§輸入彳5號之該非反相版本接收到一交叉耦合位準 132539.doc 200910764 二::存器之一第一輸入節點上,及將該輸入信號之該 j本接收到該交叉搞合位準移位鎖存器之_第 入即點上’其中該交叉麵合位準移位鎖存器輸出—第: 差動輸出信號及-第二差動輪出信號;及 鎖=ΓΓΓ信號接收到一設定娜R)邏輯閘 ^ 輸入即點上,及將該第二差動輸師於 接收到該SR邏輯閑鎖存器之一第二輸入節點上 崎輯閘鎖存器輸出—經位準移位之電壓在自該接地電/ 位至-第二電源電麗的範圍中之數位輸出信號。 η·:=Γ方法’其中當該輸入信號為四百兆赫信號 =讀出信號中存在—最U作週期失真偏斜,且其 /最大工作週期失真偏斜在_ i 65攝氏度溫 =該第-電源電壓增減百分之十地變化之條件下及在 該弟二電源電壓增減百分之十地變化之條件下小 皮秒。 、 12. —種方法,其包含: =收-數位輸人信號之—低至高轉變且對其進行回應 =一設定-重設㈣邏輯閑鎖存器之—第一輸入節點上 二'一數位邏輯高信號以使得該此邏輯閘鎖存器切換狀 =引起一數位輸出信號進行轉變,其中該數位輸入信 =接地電位轉變至約-第-電源電壓,且其中該SR 邏輯閑鎖存器由H源電壓供電;及 接收°亥數位輸入信號之-高至低轉變且對其進行回瘅 而向魏邏輯問鎖存器之一第二輸入節點上供應一數; 132539.doc 200910764 邏輯高信號以使得該SR邏輯間鎖存器切換狀態 數位輸出信號進行轉變。 %該 1 3.如味求項12之方法,直中马· q p、想絲s b 八千該8尺邏輯閘鎖存器包括一第— NOR閘及一第二NOR閘,盆中兮 八中該SR邏輯閘鎖存器之 一輸入節點為該第—職閘之—第-輸入節點,直中: SR邏輯問鎖存器之該第二輸入節點為該第二峨問之: :-輸入節點’其中該第一職開之—第二 接至該第二臟閘之一輪出節點,且其中該第二_= 之 苐一輸入郎點麵接至該第—xmp pg 忑弟N0R閘之一輸出節點。 14. 一種位準移位器電路,其包含: -設定-重設(SR)邏輯間鎖存器,其具有—設定輸入節 點、一重設輸人節點及一輪出節點,其巾—具有一第二 信號電壓範圍之數位輸出信號呈現在該輸出節點上,: 中該SR邏輯閘鎖存器由一電源電壓供電;及 '、 構件其用於接收一具有_第一信號電壓範圍之數位 邏輯輸入信號及對其進行回應而驅動該以輸入節點且 驅動該重設輸人節點以使得:υ該數位邏輯輸入信號之 -低至高轉變引起該SR邏輯間鎖存器經重設且引 位輸出信號在-第一傳播延遲時間之後進行轉變 該數位邏輯輸入信號之-高至低轉變引起該訊邏輯閉鎖 存器經設定且引起該數位輸出信號在—第二傳播延 間之後進行轉變,其中在該第__㈣㈣= 傳播延遲時間之間的一最大偏斜在一 165攝氏度溫度: 圍上及在該電源電壓增減百分之十地變化之條件下小於 132539.doc •6· 200910764 五十皮秒。 15. 如請求項14之位準移位涔雷 抒位益電路,其中該構件包括汲極直 接耦接至該設定輸銘 入即點之一對場效應電晶體,其中該 對場效應電晶體之-第-場效應電晶體為-具有-通道 ^度之道電日日日體,其中該對場效應電日日日體之一第二 场效應電晶體為-具有-通道寬度之N-通道電晶體,且 其中該N-通道電晶體之該通道寬度大於該通道電晶體 之該通道寬度。 16. 如請求項14之位準移位器電路,其中該構件包括由另一 電源電壓供電之數位邏輯’且其中小於五十皮秒之該最 大偏斜為在一 165攝氏度溫度範圍上及在該另一電源電 壓增減百分之十地變化之條件下。 17. 如請求項16之位準移位器電路,其中該位準移位器電路 具有-大於該另_電源電壓之—標稱值的四分之—的電 源電壓容限。 U 18. 如請求項16之位準移位器電路’其中該構件包含: -反相電路,其接收該數位邏輯輸人信號且輪出該數 位邏輯輸入信號之-反相版本且亦輸出該數位邏輯輸入 信號之一非反相版本;及 一交叉耦合位準移位鎖存器,直且右一 、有第—輪入節點 及第二輸入節點、一第一差動輸出節點及一第二差動輸 出節點’其中該第—輸人節點經耗接以接收該“邏輯 ^^㈣Μ #㈣二輸人節點經耗接 以接收該數位邏輯輸入信號之該反相版本,复' /、甲5亥弟'一 132539.doc 200910764 差動輸出節點耦接至該SR邏輯閘鎖存器之該設定輸入節 點,且其中該第二差動輸出節點耦接至該SR邏輯閘鎖存 器之該重設輸入節點。 19.如請求項14之位準移位器電路,其中該SR邏輯閘鎖存器 包含兩個交叉搞合NOR閘。
    132539.doc
TW097123965A 2007-06-26 2008-06-26 Level shifter having low duty cycle distortion TW200910764A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/768,300 US7956642B2 (en) 2007-06-26 2007-06-26 Level shifter having low duty cycle distortion

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW200910764A true TW200910764A (en) 2009-03-01

Family

ID=39708746

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW097123965A TW200910764A (en) 2007-06-26 2008-06-26 Level shifter having low duty cycle distortion

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7956642B2 (zh)
EP (2) EP2214314A3 (zh)
JP (4) JP2010532142A (zh)
KR (1) KR101200452B1 (zh)
CN (1) CN101689849B (zh)
TW (1) TW200910764A (zh)
WO (1) WO2009003068A1 (zh)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7948810B1 (en) * 2007-10-15 2011-05-24 Marvell International Ltd. Positive and negative voltage level shifter circuit
US7982500B2 (en) * 2007-12-03 2011-07-19 Glacier Microelectronics Low-noise PECL output driver
US7768309B2 (en) * 2007-12-03 2010-08-03 Luich Thomas M Low-noise PECL output driver
JP5454582B2 (ja) * 2009-09-09 2014-03-26 日本電気株式会社 ラッチ回路およびラッチ回路における電位補正方法
US8030965B2 (en) * 2009-12-10 2011-10-04 Advantest Corporation Level shifter using SR-flip flop
US8456194B2 (en) * 2010-11-17 2013-06-04 Advanced Micro Devices, Inc. Level shifter with primary and secondary pull-up circuits
JP2012191333A (ja) * 2011-03-09 2012-10-04 Toshiba Corp 出力回路および出力制御システム
US8451047B2 (en) * 2011-05-17 2013-05-28 Issc Technologies Corp. Circuit used for indicating process corner and extreme temperature
JP2013021498A (ja) * 2011-07-11 2013-01-31 Toshiba Corp Cmos論理集積回路
JP2013115621A (ja) * 2011-11-29 2013-06-10 Seiko Epson Corp レベルシフター回路、集積回路装置、電子時計
US8912823B2 (en) 2011-12-08 2014-12-16 Intel Corporation Voltage compensated level-shifter
US8994402B2 (en) * 2013-01-31 2015-03-31 Oracle International Corporation Level shifter circuit optimized for metastability resolution and integrated level shifter and metastability resolution circuit
US9100010B2 (en) * 2013-08-14 2015-08-04 Texas Instruments Incorporated Cascoded H-bridge pre-driver
CN103532526B (zh) * 2013-10-22 2016-05-18 北京兆易创新科技股份有限公司 电压转换电路及电压转换方法
JP6336831B2 (ja) * 2014-06-25 2018-06-06 ローム株式会社 インタフェース回路、それを用いた半導体集積回路
US20160191059A1 (en) * 2014-12-29 2016-06-30 Sandisk Technologies Inc. Cross-coupled level shifter with transition tracking circuits
CN105573944A (zh) * 2016-02-04 2016-05-11 惠州市蓝微新源技术有限公司 一种利用单片机普通io口产生强差分数字信号的电路
US10128847B2 (en) 2016-02-26 2018-11-13 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for level shifting
TWI638520B (zh) * 2018-01-22 2018-10-11 佑華微電子股份有限公司 具有重置與栓鎖功能的電位轉換器
JP6588116B2 (ja) * 2018-02-26 2019-10-09 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション レベルシフタ
US10270448B1 (en) * 2018-05-16 2019-04-23 Nxp B.V. Level shifter circuit with transistor drive strength variation compensation
JP7097749B2 (ja) * 2018-06-05 2022-07-08 エイブリック株式会社 レベルシフト回路
US10418998B1 (en) * 2018-09-05 2019-09-17 Novatek Microelectronics Corp. Level shifter circuit and method thereof
US10734892B2 (en) * 2018-09-27 2020-08-04 Psemi Corporation Level shifter for power applications
US10862463B1 (en) * 2020-01-10 2020-12-08 University Of Electronic Science And Technology Of China Level shifter for high-speed gate drivers
US10965278B1 (en) * 2020-03-24 2021-03-30 SiFive, Inc. Cross-coupled high-speed, low power level shifter
US11018653B1 (en) 2020-05-04 2021-05-25 Apple Inc. Low voltage clock swing tolerant sequential circuits for dynamic power savings
KR102671582B1 (ko) * 2020-06-19 2024-06-05 이피션트 파워 컨버젼 코퍼레이션 GaN 기반의 레벨 시프터용 차동 활성화 래치
US11228312B1 (en) 2020-07-15 2022-01-18 Qualcomm Incorporated Wide voltage range level shifter with reduced duty cycle distortion across operating conditions
US11606093B2 (en) 2020-09-29 2023-03-14 Mediatek Inc. Level converting enable latch
CN112436834B (zh) * 2020-11-27 2021-11-09 广州鸿博微电子技术有限公司 信号电平转换电路及其实现方法
CN112532230A (zh) 2020-12-01 2021-03-19 深圳市紫光同创电子有限公司 电平转换电路
CN116633341A (zh) * 2022-02-14 2023-08-22 力智电子股份有限公司 驱动装置的电位转换电路
CN117254682B (zh) * 2023-11-20 2024-03-12 成都芯翼科技有限公司 一种抗干扰电压转换电路

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4532463A (en) * 1983-01-26 1985-07-30 Ricoh Company, Ltd. Method and apparatus for adjusting operation time of servosystem
US4532436A (en) * 1983-09-30 1985-07-30 Rca Corporation Fast switching circuit
US4980583A (en) * 1989-01-03 1990-12-25 National Semiconductor Corporation CMOS level shift circuit with active pull-up and pull-down
JP3194636B2 (ja) * 1993-01-12 2001-07-30 三菱電機株式会社 レベル変換回路、レベル変換回路を内蔵したエミュレータ用マイクロコンピュータ、レベル変換回路を内蔵したピギーバックマイクロコンピュータ、レベル変換回路を内蔵したエミュレートシステム及びレベル変換回路を内蔵したlsiテストシステム
US5781026A (en) * 1996-03-28 1998-07-14 Industrial Technology Research Institute CMOS level shifter with steady-state and transient drivers
US6002290A (en) * 1997-12-23 1999-12-14 Sarnoff Corporation Crisscross voltage level shifter
US6445210B2 (en) * 2000-02-10 2002-09-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Level shifter
JP4327411B2 (ja) * 2001-08-31 2009-09-09 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP2003168969A (ja) * 2001-09-18 2003-06-13 Nec Microsystems Ltd レベルシフト回路
US6777992B2 (en) * 2002-04-04 2004-08-17 The Regents Of The University Of Michigan Low-power CMOS flip-flop
JP2003309462A (ja) * 2002-04-15 2003-10-31 Mitsubishi Electric Corp レベルシフト回路
JP2003324343A (ja) * 2002-04-30 2003-11-14 Lucent Technol Inc 集積回路
DE10349464B4 (de) * 2003-10-23 2009-07-30 Qimonda Ag Pegelumsetz-Einrichtung
JP4502767B2 (ja) * 2004-09-29 2010-07-14 株式会社リコー レベルシフト回路
JP4640788B2 (ja) * 2005-04-01 2011-03-02 川崎マイクロエレクトロニクス株式会社 レベル変換回路
JP4872470B2 (ja) * 2006-06-09 2012-02-08 ソニー株式会社 レベルシフタ回路及び情報再生装置
US7511552B2 (en) * 2006-06-15 2009-03-31 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus of a level shifter circuit having a structure to reduce fall and rise path delay

Also Published As

Publication number Publication date
KR101200452B1 (ko) 2012-11-12
US20090002027A1 (en) 2009-01-01
EP2181503B1 (en) 2014-05-21
EP2181503A1 (en) 2010-05-05
JP2016197865A (ja) 2016-11-24
EP2214314A2 (en) 2010-08-04
KR20100033522A (ko) 2010-03-30
US7956642B2 (en) 2011-06-07
EP2214314A3 (en) 2010-08-11
JP2015008472A (ja) 2015-01-15
JP2013048452A (ja) 2013-03-07
CN101689849A (zh) 2010-03-31
CN101689849B (zh) 2016-12-07
JP2010532142A (ja) 2010-09-30
JP5646571B2 (ja) 2014-12-24
WO2009003068A1 (en) 2008-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200910764A (en) Level shifter having low duty cycle distortion
US8975943B2 (en) Compact level shifter
US7548093B1 (en) Scheme of level shifter cell
JP2007505556A (ja) レベル・シフター
US8441279B2 (en) Scan flip-flop circuits and scan test circuits including the same
US11323118B1 (en) Low power logic circuitry
TWI792232B (zh) 工作週期校正電路及其方法
US20080204078A1 (en) Level shifter for preventing static current and performing high-speed level shifting
US8680912B2 (en) Level shifting circuitry
TW200822557A (en) Junction field effect transistor level shifting circuit
TWI781008B (zh) 電位移位器
US8860461B2 (en) Voltage level shifter, decoupler for a voltage level shifter, and voltage shifting method
KR101699241B1 (ko) 저전력, 고속 처리가 가능한 플립플랍 회로
US9112486B2 (en) Asymmetric propagation delays in level shifters and related circuits
US20120081166A1 (en) Level Shifter Circuits and Methods
US10382041B2 (en) Buffer circuit
WO2023112506A1 (ja) 電子回路
TW202322565A (zh) 時序劣化降低的電壓位準移位
CN108429550A (zh) 信号选择电路和半导体装置
TW200823825A (en) Level shifter and multilevel shifter
TW201032476A (en) Signal converting device
TW201725871A (zh) 用於轉發差動信號之系統及技術
JPH0786887A (ja) 可変遅延回路
TWM359156U (en) Level converter for low voltage operation