TW200809215A - Contactor assembly - Google Patents

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TW200809215A TW096125294A TW96125294A TW200809215A TW 200809215 A TW200809215 A TW 200809215A TW 096125294 A TW096125294 A TW 096125294A TW 96125294 A TW96125294 A TW 96125294A TW 200809215 A TW200809215 A TW 200809215A
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Description

200809215 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於LSI等電子設備(device)製程中,用於檢測 半導體晶圓所形成的數個半導體晶片電路時,使用在探測器 (prober)裝置的一種探針組合體;特別是有關於,當排列在半導 - 體晶片上的電路端子(銲墊(pad))在晶圓狀態下與探針垂直接 觸’以用來茱總測里半導體晶片在電氣導通探測(pr〇bing fest) 時,所使用於探測器裝置的一種複數樑合成型探針組合體。 φ 【先前技術】 電子設備伴隨著半導體技術的進步而提升了積體度,並在半 導體晶圓上所形成的各半導體晶片中,增加了電路配線所能運用 的區域,進而使各半導體晶片上的電路端子(銲墊)量增加、繼而 縮小銲墊面積及使銲墊間距狹小化,讓銲墊排列愈趨細微化發 展;同時,在半導體晶片未封裝前,即呈裸晶狀態時用以内置於 電路板等的晶片尺寸封裝(CSP)方式已漸成主流,其在分割半導體 晶片前,會進行晶圓狀態特性的確認及良否判定。 _ 特別是將銲墊排列做成細微化(狹隘間距化)的問題在於,對 電子設備進行電氣特性測試或檢查電路時,必須讓接觸半導體晶 片的銲墊,獲得電氣導通的探針結構,以符合銲墊排列的細微化, 因此為了因應銲墊排列的細微化進步,便使用了各種測量手段。 舉例來說,在被檢查的半導體晶片銲墊與檢查裝置之間,因 應外力產生的彈性變形而設有以區誠排列數個針狀探針的探針組 合體等技術手段;在此種以探針組合體電氣連接半導體晶片測試 電路的手段後,會再搭配使用一種稱為「探針卡」的印刷配線電 200809215 路板。 的針狀在缺卡上採用具單撐樑懸臂(cantiiever)結構 問跟· 接觸半導體晶片銲墊的探針前端部分會呈現狹隱
二置而二1接探針卡的根部’是财端部分將探針呈放射狀擴散 雪敗山·Β距加粗,再以銲錫等連接手段將探針黏合於探針卡的 典銘端子;但在接觸銲墊時,此懸臂結構的前端會偏往水平方向 =而傷及銲墊,料,也會從銲魏落畴致_量成品率等 兄且只能逐—糧每—個“,因此在安餘1隻探針時 便,出現精度上_差,進而難以將接觸屋控制一定程度等問題。 此外,另有替代這麵臂結構的垂直式探針,換*之 將探,直固枝探針卡電路端子上的垂直式探針,、^以同等= 距間隔’構成轉體晶片上的銲制距和探針卡上的電路端子間 距’但在印伽線電路板的騎卡上,將電路酸成細微化時, 則具有製造技術上的瓶頸’因此難以符合電路端子所能運用的面 積、配線寬幅鱗墊間距等要求;再者,可銲錫關距間隔也有 瓶頸’即紐畴細微化,喊垂直式麟對準轉體晶片的 墊間距垂直固定於探針卡上。 aa * 一在探針卡上,其平面區域會因電路端子面積及其他電路配線 寬幅而擴大i有比率,並妨礙電路端子的狹關距化;於是在探 針卡上使❹層印獅線電路板,端子制祕子狀或1 列千鳥型’再藉由透過通孔(thrGugh hGle)電氣連接層間配線, 以維持垂直式探針隻數的手段;但會擴大此通孔所佔空間,且通 孔的存在也會形成妨礙電路端子排列狹隘間距的原因;若將垂= 式探針固定於探針卡時,除了難以將電路端子做成狹關距外, 200809215 還需在銲鍚作業上使用高度技術及龐大人力工時,而使償格上 揚;為了解決這些問題,本發明人等便提出垂直式探針組合體、 及利用垂直式探針組合體的探測器裝置(參閱專利文獻j及專利文 獻2) 〇 本發明人等所提出昔式的垂直式探針組合體,是將銅薄板貼 在如專利文獻2之圖22所示呈緞帶狀(長方形狀)的樹脂膠膜面 上,並透過餘刻(etching)技術,讓此銅薄板在樹脂膠膜面上形成 具有彎曲部的垂直式銅探針,再層疊數片附設於此探針的樹脂膠 瞻膜後’即共構結成垂直式探針組合體。 此垂直式探針組合體是屬於層疊樹脂膠膜的結構,可在極為 狹隘的區域内配置數隻探針;此外,在樹脂膠膜上設有朝長方向 細長展延的開口部,探針具有將端子設置於前端、且在上下關係 中具有以所定間隔隔關距,讓垂直部中途沿著開口部邊緣,對 垂直部彎曲成交叉方向的彈性變形部,讓探針前端部形成,以樹 脂膠膜的開口部和探針的彈性變形部,吸收因接觸鮮墊時的壓力 所造成的變形結構。 由此可知’針對撿測時如何將探針及施加於樹脂膠膜上的壓 力疏導’本發明人等已藉由樹脂膠膜開口部的大小、形狀及探針 的彎曲形狀等技術手段提議出各種形狀;此外,最近更提議將導 電圖樣做複數樑合趣探針組合體所形成連結環(iink)結構 的探針;但,即使得以提供適用於狹陸間距化的探針組合體,也 會因継膠膜植針加卫工序的繁雜,進而面臨高成本關題。 專利文獻1 :特開2000-338133號公報。 專利文獻2 :特開2004-274010號公報。 200809215 【發明内容】 一、所欲解決的問題點: 如上述所7F,本發0狀翻已提翻膠賴疊録直式探 組合體所做的探測器裝置,屬於可測量狹關距化的銲墊間距, 例如可是為針對45 // m間距以下(舉例來說:2〇 # m間距) =進行晰的-種n在組裝探料,不驗轉^ 树^等固定手段便可自動組裝,進而可以低成本來進行量產 於接觸晶片銲墊時’可垂直涵蓋整體以具有對全體探針產 _ 控制接觸壓的一大優點。 y 然而’在構成麵習知的探針組合體巾缺乏磁封(sealed)功 能,因此在檢測高_設糾,會具有擴大靜電容量導致益法測 量等適用問題。 ..... 此外,在檢測具有矩形狀排列及銲墊的複數晶片日寺,由於鄰 接晶二的鮮墊間隔較小,以致於產生z方向(即垂直方向,以下說 月内相同)重㈣’較制平行彈簧連結環等機構臉置而擴 I 大垂直探針的身長、縱彎曲及變形等問題。 ’、 二'本發明的技術手段: 本發明之首要目的在於,將形成於樹脂膠膜的垂直探針形狀 T近,臂結構、且絲積小的單純結構則彡成單撐樑結構, 〜i有縮小靜電容量的電氣雜,再藉由增麟靜電容量無影響 的f形樑結構,使導電樑和變形樑之間會形成平行彈簧結構,進 =知以在垂直振針上進行並進動作,以擴大超速傳動(㈣r drive) 等機械特性的一種探針組合體。 本發明的第2個目的能提供減少形成樹脂膠膜開口部等製作 8 200809215 工數及輕鬆加工的複數樑合成型探針組合體。 、此外’本發明的第3個目的是在於使LSI等電子設備製程上, 尤其是指在晶圓雜狀態下,可軸直式探針翻_在多晶片 ^的電路端子(銲墊),以便作半導體晶片的電氣導通的探測測 忒,及作為液晶亮燈檢測專用探針的探針組合體。 為解决上述問職及_本發明的目的,第丨發明之複數標 合成型探針組合體的特徵在於包含:構成母材的樹腊膠膜、形成 於树月曰膠膜並由包含垂直探針的導電體所構成的導電圖樣、具有 • 懿或曲線形狀且能使一端為固定端而另端連接垂直探針的導電 樑、以及鮮電概斜槪⑽丨彳目或魏健形樑,前述 導電樑與㈣樑以機械性加翻定於垂直探針附近,形成具有平 盯彈簧結制單雜;此外,前料電顯變形祕有導電性及 非導f生的電氣特性,藉由層疊數張具有前述垂直探針的樹脂膠 膜,得以讓前述垂直探針的前端部彙總接觸半導體晶片的電極鲜 墊,用以檢測半導體晶片電路。 第2㈣之複數樑合成針組合體的舰在於,包含構成 • 母材麟娜膜、形成於樹轉膜上並由包含垂直探針的導電體 所滅鱗制樣、軸具有平行四邊形雜的平娜箬連结環 麟、與前述垂直探針相連接的導電樑、以及—體附設於此= 樑上的2個或2個以上的變形樑,前述導電襟在電氣絕緣的狀離 下,於前述平行彈簧連結環機構部分設置仿真(d_y)部 張内含有垂直探針的樹脂膠膜後,得以讓前述垂直探針 彙總接觸半導體晶片的電極銲塾,以檢測半導體晶片電路。 第3發狀縫樑合成麵顺合_舰在於,在第1發 200809215 明上,以1條或數條接地線、及1條或數條訊號線構成出導電圖 樣。 三、對照先前技術的功效: 藉由本發明的實施可獲至下列優點: 本發明可藉由讓訊號線、和不同於訊號線的線(例如接地線、 仿真線)及樹脂印刷部等,形成出擬似平行彈簧的連結環機構,並 獲得垂直探針略呈垂直的大超速傳動效果。 本發明只用訊號線,而不同於構成平行彈簧的連結環機 _ 構’且因訊號線的Z向空間會變小,因此應擴大鄰接2向的訊號 線間隔,即使以位相錢行配置,也不會擴大整體探針組合體的 Z方向長度,目越錢料祕生縱料,轉轉得低靜電 容量型探針組合體。 此外,本發明可獲得較大的占有面積,而形成與接地圖樣的 雜贿輕_喊’而得峨得磁奸频顿探針纟且 效果。 、 籲 糾’本發明可藉由將仿真配置於垂直探針附近’以防該垂 直探針發生縱·料或變形;此外,可藉由配設接地部,以減少靜 :容量;並藉由磁封功能而得以發揮適用於檢測高頻用設備的效 果。 【實施方式】 本發明的實_態大致上可私為兩大特徵: 其1,複數樑合成型探針組合體 菔的特徵在於,使用具有銅箔 200809215 黏著的樹脂膠膜,將前述銅箔(鈹Cu等)進行钕刻加工後,於樹 脂縢膜上會形成以垂餘解電體所構成賴,而在層疊數片内 含有垂直探針的樹脂膠膜後,可讓前述垂直探針的前蠕部囊集以 觀半導體晶;4轉塾’且在細轉體^電路崎針組合體 上,會形成直線或曲線形狀使一端為固定端,另一端則是為連接 垂直探針的導電樑、及具備與該導電襟略呈平行的i個或複數個 變形樑;該導電樑與變形樑是以機械式加強固定於垂直探針附 近,在魏雜方面,各樑可相具有導雜或_職以形成 樹脂膠膜上的垂錄針形狀,而在㈣結構断财形絲面積 、結構單純、且具麵小靜電容量魏雜的單撐樑·並藉由 ^與靜電容量無關的變形樑,可使導電樑與變形襟之間形成平 行彈簧結構’透過並進動作來擴大超速傳動的機械特性,以便在 垂直探針上軸财複雜錢雜雜合體。 “其2’如晴求項2所記載的揭示内容,在於使用具有銅箱黏 鲁著的删旨膠膜,將前述鋼箱進行侧加工後,於樹脂膠膜上會形 成含有垂直探針的導電圖樣,在層疊數片内含有垂直探針的樹脂 賴後,可讓祕垂直探針的_部錢崎觸轉體晶片的鮮 塾,而在檢辭導體⑻電路聰雜合體上,含讀述垂直探 針的導電圖樣會形成具平行彈簧結構的平行彈簧連結環機構,使 2個或2個以上前述垂直探針的參與及合成平行彈菁機 構’再加上财項丨所記载聰針組讀雜徵秘,讓仿真部 祕平娜f_構紅的轉_,除了__上的導 11 200809215 電雜外,其餘部分藉由仿真㈣形成關時增加樹脂膠膜的強 度,以防止因垂直探針縱彎曲所導致的變形。 本發明的平行彈簧綠,以平行配置數根形狀略同_,讓 該複數樑的兩端被固定於尚未呈共通變形的支撐體上,在固定一 端支撐體後、且移動另-端支撐體時,會在一定的範圍内進行並 進運動。 以下,可參閱本發明實施形態的圖式及說日月,則本發明並不 因此而侷限於下列實施形態中·· 第1實施形態·· 以下參閱圖式以說明本發明第!實施形態;圖i為本發明說 明用的圖式’ _ 1(a)、⑹、(G)所示為本發明對習知探針的彈 簧結構、及各垂直探針前端部的動作說簡;再者,探針的 在接觸半導體晶片的銲塾部之前是轉在垂直狀態。 圖1(a)所示為單純懸臂結構的探針實施例;此探針是由長产 L的懸臂U、以及安裝於前端部的垂直探針12所構成;在此探二 上’安裝於懸臂U前端部的垂直探針12,是以前端部朝半導體 晶片的銲墊部13上方垂直相對;使懸臂u的另—端部以水平狀 =於支撐部⑷接著於檢測時’將銲墊部13上昇或是讓支 ^且有,可使垂直探針12的前端部接觸銲塾部13的上方, 的懸臂11於計算上約⑽長度L的位置作為中心 來進仃轉,讓垂直探針12的前端部得以接觸_部13的上方 而形成距離d〇較大的移動;結果會導致垂直探針U的前端部脫 12 200809215 離銲墊部13、或被銲鋼5 13的上相傷。 為了肩?轉σ如圖1(b)所示的探針實施例,透過平行彈簧 15可將縣11結構視桃轉結構,並於連結環16的一端上設 置垂直探針12 ;即使該連結環結構在垂直探針12上施加如同圖 ⑷中垂直方向的接觸射,在透過連結環結構後會讓垂直探針 12鈿端部的移動量di為 d 1 <d 〇 I ,而因此得以略微穩定。 圖1(c)所示的探針實施例,是屬於事先讓構成懸臂的平行彈 簧15產生變形而形成連結環結構,此時垂直探針12前端部的移 動量d2則是為 d 2 < d 〇 ,而因此得以略微固定。 圖1(d)所tf林發明關於探聽構及動作實施倾形成的形 • 態原理說·;此_示的探針是以符號15⑻、15⑴、15(2) 表示由3侧臂所構成的平行彈簧結構;構成此探針的懸臂 15⑻,具有同於上·丨⑷所示的結構,且㈣直探針12安裝 於前端部;垂直探針12的前端部朝半導體晶片的鲜塾部13上方 垂直相對,該懸臂15(〇)的另一端部則固定安裝於支撐部而呈水 平狀態;懸臂15⑴及15⑵等酬於上述圖i⑹中,兩構件被 -體結合讀端部、且具有平鄉簧的連結環結構;然而,懸臂 15(1)及15(2)所構成的平行彈簧部分卻未安裝垂直探針;這是因 13 200809215 為懸臂15(0)及該前端部上所設置的垂直探針12具有導通的電氣 訊號;但是,懸臂15(0)、懸臂15(1)及15(2)所構成的平行彈簧 部分,是透過將結合構件17接合於前端部分而形成一體結構;因 此’本實施形態是藉由懸臂15(0)、15(1)、15(2)共構結合為一 體,以實現具有由3重平行彈簧結構所構成的複數樑合成型探 針;在此3重平行彈簧結構中,懸臂15(0)是由金屬所構成,而 垂直探針12上設有能導通電氣訊號機能的導電樑;另一方面,懸 ^ 臂15(1)及懸臂15(2)也可由金屬、或非金屬中的任何一種材料所 構成,並藉由變形產生具有彈簧力機能的變形樑;再者,於圖i (d) 的實施例中,可藉由增加懸臂部分形成4重以上的平行彈菩結 構;該結合構件17可由例如樹脂等其他絕緣材料所構成,舉例來 說由懸臂15(0)、懸臂15(1)及15(2)所構成平行彈簧部分的兩 方’即使是由金屬材料所構成’也不會在兩方構件之間產生通電。 此種實施例的構成,是將懸臂15(0)、15(1)、15(2)的一端 • 視為固定端’另一端則是機械性結合3個樑以構成平行彈簧形 態,可使3個彈簧發揮大致相同的力量,而當3個樑的形狀相同 時,便可獲得概略的垂直動作(略同於圖1(b)的動作)執跡;本實 施形態的懸臂15(1)及15(2)為金屬製,兩者的前端是用銅箱做成 一體化;垂直探針12和懸臂15(1)及15(2)的前端,則與結合構 件17堅固共構連結;關於圖1(旧更具體結構的實施例,將會在 第2實施形態的說明中,配合圖3、圖4(後述)進行詳述。 接下來,以圖2的平面圖(放大圖),說明圖1中本發明相關 200809215 内含有垂直探針的樹脂膠膜(以下稱為「複數樑合成型探針」)於 第1實施形態的應用原理;如圖2所示,在樹脂膠膜面上所使用 騎懸臂結構具有厚度20卵的鈹銅薄板,再將此崎板黏貼於 厚度5#m的聚亞醯胺樹脂膠膜上來進行钱刻加工。 此複數樑合成麵針是由垂直崎12、—端切垂直探針12 的平行彈簧15、及另-端姻以支撐平行彈簧15的支撐部14所 組成,僅垂直探針12的前端部,略突出於樹脂膠膜外;關於平行 彈簧15的尺寸則如圖2所示,i隻彈簧平寬a為2〇仰、連結環 16的整體平寬b為〇. 4〜如以此例來說,當彈較细時, 簧15之間的樹脂膠膜尚未設有開口部,因而使樹脂膠膜 結有耐變形強度,所以僅靠加工銅荡板以補強平行彈菁巧的 第2實施形態·· 圖3所示為本發明第2實施形離中,、、牛 的概略側視m H 3 m ^ 成型探針 示說明.如网Γ 1⑷上下關係.後的圖 ’如圖3所不,1片探針5〇是為金 箱勘著的樹脂膠膜21 ’將鋼紐刻加^後奋*用具有銅 形成且古+ 士 加後,會在樹脂膠膜21上 28b、批直探針22、變形樑23、24、導電樑25、接地部28a、 片所^隔及的導電圖樣結構;且將此探針5〇隔開數 阳㈣構成魏樑合成雜針組合體。 等電圖樣除了仿真部( 傳達部鱼拉隸“ Κ⑼了通電圖樣,亦可由訊號 〜也作動稍構成;訊號傳達部是由垂 15 200809215 部接連垂直振針22的懸臂結構圖樣所形成的導電標25、連接導 電樑25底端部的訊號線29、設置於訊號線29末端的訊號線端子 部27所構成;另外,接地作動部具有懸臂結構,且由彼此之間呈 平行配置的變形樑23、24、與變形樑23、24連結而成的接地部 28a、28b、28c、以及接連與變形樑23、24連繋接地部28a、28b、 28c的接地端子部26所構成;變形樑23及24兩構件前端部透過 一體結合而成的平行彈簧以形成連結環結構;在第2實施形態 魯 中’於變形樑23及24的前端部進行餘刻加工時,藉由讓變形樑 23及24的前端部留下銅箔後再予以接連,以進行一體結合;此 外,變形樑23及24與垂直探針22及導電樑25之間,在蝕刻加 丄時,可透過去除銅落、露出樹脂膠膜21 #手段來實現絕緣狀態。 垂直探針22是對應圖1(d)的垂直探針12;而導電樑25則是 對應圖1(d)的懸臂15⑻;此外,變形樑23、24各對岸(
_侧、15⑴™、24在第2 J 魯地部28a進行共通的電氣連接,但也可以獨立連接的手段形成電 氣配線圖樣’此屬可輕易制範_技術手段,因而於此省略說 月,訊號線部29則包含訊號線端子部27、導電樑25、及垂直探 針22〇 接地作動部具備將電荷釋放於外部導電部(電路板等)的接地 端子部26,導電樑25 #-端是為接觸半導體晶片銲墊的垂直探 針22,另-端侧則是為用於接觸電路板#訊號線端子部27,在垂 直探針22和訊號線端子部27之間,是以導電樑25配線連接而 200809215 成;此外,接地作動部也形成接地部28a、28b、2此、且各以接 地作動用配線進行連接。 垂直探針22的前端部從樹脂雜21的頂端面垂直突出,接 地端子部26及訊號線端子部27的前端部,則朝2方向呈相等高 度並自樹脂膠膜21的底端面垂直突出;在著重於變_ ^^ 及導電樑25時,各配線如第丨實施形態所示為具有細作襟所構 成的平行彈簣結構;而在接地配線方面,則是由2根變形襟U、 24形成具有平行彈簧的連結環機構,針對變形樑23、%所形成 的平行配置’ i根導電樑25可視為訊號配線,以作任意選擇平行 樑的支數姐置實施;換言之’在維持平行彈簧樑所構成的位置 關係下,平簡簧構成獅位置,可朝z方向進行複數並 可藉此縮小構成平行彈簧的域配線,屬彡成小靜電容 探針50〇 而且本實削彡㈣騎5G,可料具麵直骑22、平行彈 簀配線部的變形樑23、24、以及包含導電樑25的支撐部3〇、含 有接地端子部26與訊號線端子部27的固定部31等二大機能;換 言支撐部30為了在檢測半導體晶片電路時,能吸收施加於垂 直探針22垂直賴的加壓力’而_平行彈簧的變形,可對固定 部31呈上下方向(箭頭)的並進運動(轉換/shif〇。 為了輕易進行轉換,在支撐尊3〇與固定部31之間的境界部 附近’ w脂膠膜21 _邊侧設有缺σ 32,也在樹脂膠膜μ 的底邊部隱設有切口 33,以鮮此部分的樹轉辭寬;此外, 17 200809215 :士朝向刀口 33的水平方向來傾斜平行彈簧的配置角度(9 ;並 樹月曰膠膜21的狹平寬部分作為支點,得以輕鬆轉換垂直探針 、、向還可抑制垂直探針22發生縱彎曲;而變形樑、 24及導電樑25所具有的平行彈簧結構,也抑制了垂直探針22於 X方向(即長方向;換言之,就是圖3中的左右方向,以下本發 月的内谷亦同)的動作,並防止對半導體晶片的銲塾產生摩擦現 象。 • 第3實施形態: 圖斤示為本务明關於複數樑合成型探針於第3實施开乂態的 侧視圖;再者’本實施縣的基本構成,_於第2實施形態的 說明内容’在此僅對不同部分作說明;此外,對於相同部分則採 用相同的符號。 帛3實^關於挺針51的特徵在於,在樹脂膠膜μ上具 有變形樑23、24、導電樑25及仿真部41a、41b、41.c ;變形樑 • 23 24導電樑25疋屬於與導電有關的部分;而仿真部41則屬 於與導電無關的部分;仿真部41a、仙、他會在銅紐刻加工 時,錢賴23、24及導_ 25等結構同時職,靖變形樑 23、24及導電樑25的電氣如同島嶁般孤立。 仿真αΜΙ的形成位置,會選擇設置在不妨礙變形樑23、24 與導電樑25通電的位置;如圖4麟的仿真部也、桃、也皆 是如此設置於適當位置;而該仿真㈣厚度也_於導電圖樣, 但厚度卻比獅軸的厚度厚上4倍左右,所以具制剛性也大 200809215 於探針51。 所以本實鉍形恶的特徵在於,在相近配置的變形樑四、%和 V电樑25、變形樑23、24和仿真部、以及導電樑25與仿真部之 間的間时’填充有絕緣翻旨;所使㈣絕緣樹脂是具有聚亞酸 胺樹脂的絕雜料劑,藉由赚印纖術來填人聊中;如圖 4 7緣樹月旨杨、42b、42c、42d所標示的形成位置;換言之, 於導電樑垂直部分的兩侧配置(絕賴脂)42a、伽;另於導電樑 φ 水平部分的兩侧配置了(絕緣樹脂)42c、42d。 特別疋,導電樑的垂直部分朝z方向時較長,因此在垂直探 針22峨面較小時,則容轉生縱彎曲關題;如本實施形態所 不在導電樑的兩侧配置絕緣樹脂42a、42b,並藉由在該外侧設有 接地部28b與仿真部仙,以便在垂直探針附近形成絕緣構件, 可具有強度補強的作用,以防止垂直探針發生縱彎曲的情形。 此外,本實施形態的垂直探針22附近有仿真部41a(定位仿 鲁 真部),且設有貫通此仿真部41a與樹脂膠膜21的貫通孔4如, 在仿真部41b(連結仿真部)的一端接近垂直探針22時,得以輕鬆 讓垂直探針、連結仿真部和定位仿真部形成相同平面;貫通孔妨& 用於被支撐棒(可用構成探針組合體時的棒材、絕緣材所構成)貫 通’猎此讓連結仿真部面、與垂直探針面在相同面内進行動作, 其他的探針51透過貫通孔及支撐棒,是為較難以傳達力量的鈐 構。. 用於構成此探針組合體的貫通孔43b、43c,也被設置於接地 200809215 部28a,在這些貫通孔43a、43b、43c内插麼導入層疊棒(支撐棒) 後,並用適當間隔層叠探針51 ;以藉此將複數個探針Μ依所需 間隔層疊設置來獲得探針組合體。 此外’本實施形態在構成平行彈簧結構的2對向導電部烈(即 接地線部24及導電樑25)附近的樹脂膠膜21上,設有開口部44; 藉由卩和部44的設置使探針51具有平㈣簧的機能而得以運 用;換言之,也可輕鬆使垂直探針進行並進運動。 瞻 此外’本實施形態是在接地端子部26、以及訊號線端子部以 附近的導電部上,設有彎曲部45 ;藉此讓接地端子部%及訊號 線端子部27在接觸檢測裝置等電路板的電極時,得以利用形變來 吸收接觸壓力。 第4實施形態: 其-人,參閱圖5所不為說明本發明第4實施形態關於複數標 合成型探針組合體的結構;圖5是將圖4所示的複數樑合成型探 _ 針51並列層嚎數片以形成探針組合體的立體視圖;圖&是舉 片(①〜⑩)配置形狀幾乎相同的探針51為例,將片與片之間的間 距PI S等間隔排列;其次,在各相同位置上所開通的貫通孔他、 43b、43c則是藉由壓入支撐棒46a、備、46c後,得以固定所需 間距位置;藉此將10個垂哀探針22朝圖5中的乂方向囊集固定; 而且,在垂直探針22接觸半導歡晶片的鋅墊時,可憑藉懸臂的彎 曲變形’以朝z方向進行並進運動;此外,還可透過支撐棒,將 垂直探針於Z方向的高度固定至一定高度。 20 200809215 在此支撐棒娜、46c插入探針51的岐部31、且使電路板 的電極接聰針51後,便不條方向称但在支撐棒㈣ 人垂直心針22的支撐部3〇時,藉由垂直探針22與半導體晶片銲 藝之間的接麵力,麵餘針22朝z方向追餘麵形成向此 方向移動的結構。 以下再進-步詳細說明上述所示的層疊探針51 ;如圖6所 不,该層㈣探針51是以6片(①〜⑥)構成探針組合體的實施 鲁例,探針51基本上屬於同樣結構,但以個別立場來看,探針、 51b 51c 51d、51e於結構上則各具有些微差異;針對觀察探針 51a與探針51b的結構差異處後,如圖6所示,兩探針51&、5化 的接地端子部26及訊號線端子部27之間會形成不同的間距;換 言之,以探針51a而言,接地端子部26與訊號線端子部27的間 距為W ;以探針51b而言,接地端子部26與訊號線端子部27的 間距為(W—P);探針51b相較於探針51a而言,探針51b的訊號 • 線端子部27朝接地端子部26偏移一距離P;再者,在各探針51a、 51b、51c、51d、51e中,接地端子部26的設置位置皆相同;同 樣的’以探針51b和探針51c來看,如圖6所示的探針51 b,其 接地端子部26與訊號線端子部27的間距為(W—P);以探針51c 而言,接地端子部26與訊號線端子部27的間距為(W—2P);探針 51c相較於探針51b而言,探針Sic的訊號線端子部27朝接地端 子部26偏移一距離p ;以致於在探針51a和探針51c的比較下, 探針51c比探針51a的訊號線端子部27朝接地端子部26偏移二 21 200809215 個距離2P ;以下亦同理推論,探針51d相較於探針5k而言,探 針51d的訊號線端子部27朝接地端子部26偏移—距離p ;以探 針51e相較於探針51d而言,探針51e的訊號線端子部27朝接地 端子部26偏移一距離p ;層疊於探針51e後方的探針51&亦同; 層疊的探針51a、51b、51c、51d、51e之間,是藉由訊號線端子 部27朝接地端子部26偏移一距離p的設置方式,讓訊號線端子 部27的間距尺寸(視為P2),大於垂直探針四的間距尺寸。 φ 再者P2尺寸是以下列做計算: P2 = (Pl2+p2) 1/2 口此,/、要在半導體晶片檢測電路上,使用本發明的複數樑 合成型探針組合體,即使設置於電路板的電極間距尺寸,大於半 導體晶片銲墊的間距尺寸(實際上是如此),仍可定位垂直探針泣 和半導體晶片的銲墊;另一方面,也可定位訊號線端子部27和電 路板的電極。 馨 根據本實施形悲,由於鄰接訊號線並未位於相同位置,因此 可組裝靜電容量較小的探針51,以構成出因應高頻的探針組合 體;此外,可如同奇數群組及偶數群組一般,藉由依序配置,以 構成出被數間距偏離的鄰接§凡號線’而具備磁封效果及縮小靜電 容量值的效果;此外,稀疏分佈訊號線輸出端子部,可簡化端子 間的收受訊號。 本發明已基於圖式之最佳實施形態進行說明,但只要是熟習 該項技術者,也可在不脫離本發明構想下,輕鬆進行各種變更與 22 200809215 改變;因此本發明亦包含該變更的實施例。
23 200809215 【圖式簡單說明】 圖1、·本發明相關習知平行彈簧結構的說明圖;而圖1(a)、 ⑹、(c)為錢絲轉端部_作說日細。 圖2 ·本發明第1實施形態中垂直探針的放大圖。 圖3 ·本發明第2實施形態之複數樑合成型探針的概略侧視圖。 圖4·本發明第3實施形態之複數樑合成型探針的側視圖。 圖5:本發明第4實施形態之複數樑合成型探針組裝結構的立 體視圖。
圖6:本發明第5實施形態之複數樑合成型探針的組 渾圖。 、衣、、、口構分 圖7 ·為圖6配置複數樑合成型探針的說明圖。 【主要元件符號說明】 11 懸臂 12 垂直探針 13 銲墊部 14 支撐部 15 平行彈簧 15(0)〜15(2)懸臂 16 連結環 17 結合構件 21 樹脂膠膜 22 垂直探針 23、24 變形樑 25 導電樑 24 200809215
26 接地端子部 27 訊號線端子部 28a〜28c 接地部 29 訊號線 30 支撐部 31 固定部 32 缺口 33 切口 41 仿真部 41a〜41c 仿真部 42a〜42d 絕緣樹脂 43a〜43c 貫通孔 44 開口部 45 彎曲部 46a〜46c 支撐棒 50、51 探針 51a〜51e 探針 W 間距 P 距離 dO 距離 cH、d 2 移動量 L 長度 a 彈簧平寬 200809215

Claims (1)

  1. 200809215 十、申請專利範圚: h -種探雜合體,具複數樑合賴,其特徵在於包含: 構成母材的樹脂膠膜; 形成於树月日膠膜上並由包含番吉您斜道 此时匕δ麥罝知針的導電體所構成的導電 圖樣; 具有錄或曲_狀且缺-端制定麵另端為連接垂直 探針的導電樑;以及 • 與刚述導電樑呈概略平行延伸的1個或複數個變形樑; 則述導電樑與變形樑以機械性加強固定於垂直探針附近,形 成/、有平行U#構的單撐樑;前述導電樑與變形樑具有導電性 及非導電性的電氣特性; 藉由層疊數片前述内含垂直探針的樹脂膠膜,並讓前述垂直 探針的制部銳_轉體“的電極_,讀測半導體晶 片電路。 鲁 2· 一種捸針組合體,具複數樑合成型,其特徵在於包含: 構成母材的樹脂膠膜; 形成於樹轉駐並由包含鼓探針的導電撕構成的導電 圖樣; 呈平行四邊形的平行烊簧連結環機構; 與前述垂直探針相連接的導I樑;以及 被體附没於該導電樑上2個或2個以上的變形樑; 刚述導電樑在電氣絕緣狀態下,具有設置於前述平行彈簧連 27 200809215 結環機構部分的仿真部; 藉由層疊數片内含有垂直探針的樹脂膠膜,並讓前述垂直探 針的前端部彙總接觸半導體晶片的電極銲墊,以檢測半導體晶片 電路。 3·如申請專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,所述導 電圖樣是由1條或數條接地線、以及1條或複條訊號線所構成。 4·如申請專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,在維持 所述平行彈簧連結環機構所形成的相關位置狀態下,以朝z方向 設置複數個平行彈簧構成連結環位置。 5·如申請專利範圍第1項所述探針組合體,其中,在所述複 數樑合成型探針組合體上,以導電圖樣中面積較大的圖樣作為導 電樑及變形樑的固定端。 6·如申請專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,將所述 鄰接訊號線區分群組後再加以配置。 Φ 7·如申請專利範圍第2項所述的探針組合體,其中,在餘列 前述銅箔時,除去導電圖樣以外的部分可形成仿真部,以作為樹 脂膠膜的補強構件。 8·如申請專利範圍第2項所述的探針組合體,其中,所述導 電圖樣與仿真部之間的樹脂膠膜面,可填充絕緣性黏著劑。 9·如申請專利範圍第2項所越的探針組合體,其中,在所述 樹脂膠膜上、以及與銅箔所形成的導電圖樣之間形成電氣絕緣狀 態的仿真部,並且至少在導電圖樣與導電圖樣之間、或導電圖樣 28 200809215 與仿真部之間’形成樹脂印刷部(絕緣性黏著劑)。 10·如申請專利範圍第2項所述的探針組合體1所 接於前述垂直探針處,财仿真部和樹脂印刷部, 針縱彎曲。 直抓 11. 如帽專概圍第2項所述的探針組合體,其 真部及祕線部上喃轉麟有貫通孔。 ^ 12. 如申請專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,藉由加 入2個或2個以上的導電圖樣加人平行彈簧結構,構成且^平: 彈簧連結環機構的各平㈣簧麵針,使—端上財前述垂直探 針’的-端_水平方向延伸賴臂結構,以作為支撐部。 13. 如申請專纖_丨項所述龍針組合體,其巾,2個或 2個以上的導電_所加人的平行彈簧結構,是屬於彎曲變 連結環機構。 > 14·如申4專利細第丨項所賴探針組合體,其中,在前述 平行彈簧所構成的2對向導電圖樣之間的樹脂膠膜上,設有^口 部0 15.如申請專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,在平行 彈簧支撐部附近的樹脂膠膜上設有缺口,得以使平行彈菁進行並 進運動。 、 16·如申請專利範圍第i項隊述的探針組合體,其中,透過連 接前述垂直探針之間的連結環機構及導電圖樣,可同時具有接觸 電路板連接銲墊的端子部。 29 200809215 17·如申請專利範圍第1項所賴探針組合體,財,前述端 子部在層翻含㈣施·樹轉断,如_距偏=各配 置位置财式實施,讀於各麟賴上形魏線部。 18. 如申請專利範圍第丨項所述的探針組合體,其中,所述端 子部附近的導電圖樣上,設有彎曲部。 19. 如申請專利範圍第丨項所述的探針組合體,其中,所述連 結環機構及端子部附近設有切口部,以作為懸臂結構。 2〇·如申請專利範圍第i項所述的探針組合體,其中,所述複 數樑合成贿針組合齡水付向傾斜肖度0以形成連結環結 構,並可藉由改變此角度Θ,以改變垂直探針及被檢查晶圓上之 銲墊間的劃線(scribe)(摩擦)量。 21·如申請專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,所述探 針組合體内可插入不同長度的導電圖樣、或導電配線和該探針組 合體孔的支撐棒’及稀疏分佈的電路板電極、及可進行電氣連接 的1列或2列並行的垂直探針。 22·如申请專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,所述探 針組合體具有長度不同的導電圖樣或導電配線,及稀疏分佈的輸 出端子(垂直探針)。 23·如申請專利範圍第1項所述的探針組合體,其中,所述探 針組合體具有長度不同的接地部輸出端子,及稀疏分佈的接地部 輸出端子。 24·如申請專利範圍第!或6項所述的探針組合體,其中,所 200809215 述垂直探針附近具有定位仿真部,並設有貫通該定位仿真部和樹 脂膠膜的貫通孔,讓連結仿真部的一端,透過近接垂直探針,而 讓垂直探針和連結仿真部及定位仿真部,形成相同平面。 25·如申請專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,所 述連結仿真部面,是在垂直探針面與正確的相同面内進行動作, 其他探針組合體則透過拆入於孔與孔之間的支撐棒,而不易發生 力量的傳達。 φ 26·如申请專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,以 直交方式配置前述探針組合體。 27·如申睛專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,以 具電氣絕緣狀態之1個或i個以上的樹脂材料,為固定平行彈箬 的固定部。 28·如申請專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,在 所述平行彈簧結構上構成2個以上電氣絕緣的探針(以下稱為複 • 數探針),在複數探針之間則具有以若干間隙進行連接的數個仿真 部,而若干間隙部分則填充有絕緣性樹脂劑,藉由數個探針與數 個仿真部構成平行彈簧結構。 29·如申請專利範圍第丨或6項所述的探針組合體,其中,以 所需間隔,朝x方向排列略同於前述數個探針所構成之層疊探針 組合體的探針組合體。 一 30·如申請專利範圍第i或6項所述的探針組合體,其中,以 所需間隔,朝厚度方向層疊前述複數探針所構成之層疊探針組合 31 200809215 體,以便與複數排列的銲整上呈對向相對。 」1·如申哨專利範圍第i或6項所述的探針組合體,其中,使 用則述,、有銅v|黏著的樹脂膠膜,在將前述銅箱進行餘刻加工 後於樹月曰膠膜上會形成含有垂直探針的導電圖樣,藉由層疊數 片内合有垂直探針的樹脂膠膜,使前述垂直探針的 觸半導體,電極鮮塾,並在檢測細^ '一 3:則述垂直探針的導電圖樣,以形成具有平行彈箸結構的 _ 平2彈黃連結環機構,且於該平行彈箐機構上合成2個或2個以 j别述_跳針叫電賺,再朝X方向配置數個含有前述垂直 振針的導電圖樣。 32.如申吻專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,在 前述導電圖樣上形成彎曲形狀,以縮短Ζ方向的垂直移動麵(超 速傳動量)。 33·如申喷專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,在 ⑩ 前述樹脂膠膜上使數個端子部朝ζ向形成-定的高度/、 34·如申請專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,為 同祕觸鄰接半導體晶片的電極銲塾,可設置2個或2個以上導 通探針。 35·如中轉利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,直 父及排列刖述探針組合體,以因應多晶片或呈矩形千鳥排列的電 極銲墊。 36·如申睛專利範圍第1或6項所述的探針組合體,其中,所 32 200809215 述探針組合體在完成組裝的狀態下,具備配線於右方的探針組合 體、及配線於左方的探針組合體。
    33
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