SE529375C2 - Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer - Google Patents
Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorerInfo
- Publication number
- SE529375C2 SE529375C2 SE0501717A SE0501717A SE529375C2 SE 529375 C2 SE529375 C2 SE 529375C2 SE 0501717 A SE0501717 A SE 0501717A SE 0501717 A SE0501717 A SE 0501717A SE 529375 C2 SE529375 C2 SE 529375C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- coating
- filament
- reactor
- plasma
- magnetron
- Prior art date
Links
- 230000000694 effects Effects 0.000 title claims abstract description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 11
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 229910000997 High-speed steel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 23
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 19
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 claims description 11
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 8
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 3
- ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 232Th Chemical compound [232Th] ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 0.000 claims description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052776 Thorium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 claims description 2
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001404 rare earth metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- -1 steel Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 2
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 5
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000005596 ionic collisions Effects 0.000 description 2
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CSSYLTMKCUORDA-UHFFFAOYSA-N barium(2+);oxygen(2-) Chemical class [O-2].[Ba+2] CSSYLTMKCUORDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 230000001376 precipitating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
- H01J37/3405—Magnetron sputtering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C14/021—Cleaning or etching treatments
- C23C14/022—Cleaning or etching treatments by means of bombardment with energetic particles or radiation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3471—Introduction of auxiliary energy into the plasma
- C23C14/3478—Introduction of auxiliary energy into the plasma using electrons, e.g. triode sputtering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/35—Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
- C23C14/354—Introduction of auxiliary energy into the plasma
- C23C14/355—Introduction of auxiliary energy into the plasma using electrons, e.g. triode sputtering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32321—Discharge generated by other radiation
- H01J37/3233—Discharge generated by other radiation using charged particles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Description
Föreliggande uppfinning avser en anordning för att åstadkomma förbättrad plasmaaktivitet iPVDreaktorer. P.g.a. ökande plasmadensitet möjliggör uppfinningen operation av sputtersetsning vid mycket lägre tryck än vad som annars är möjligt i en PVD-beläggningskammare för magnetronsputtring. Så, gasfasspridning undviks och problem med återdeponering och kontaminering av sputtringsrengjorda ytor av 3-D-föremål är eliminerade. Uppfinningen tillåter sputtersetsning av substrat i ett magnetronsputtringssystem vid bias-värden lämpliga för att undvika kollisionsskador.
Modern högproduktiv spånformande bearbetning av metaller kräver pålitliga verktygsskär med hög slitstyrka, goda seghetsegenskaper och utomordentligt motstånd mot plastisk deformation.
Detta har hittills uppnåtts genom att använda hårdmetallskär belagda med slitstarka skikt såsom TiN, TixAlyN, CrxAlyN och AI2O3. Sådana skikt har varit kommersiellt tillgängliga i många år. Flera hårda skikt i en multiskiktstruktur bygger vanligtvis upp en beläggning. Ordningsföljden och tjockleken av de individuella skikten är noggrant valda för att passa olika skärapplikationsområden och arbetstyckematerial.
Beläggningarna är oftast utfällda med teknikerna kemisk ångdeponering (CVD), medeltemperatur-CVD (MTCVD) eller fysisk ångdeponering (PVD). CVD-skikt är vanligtvis utfällda vid en temperatur mellan 900 och 1000 °C och MTCVD vid 700-800 med användning av acetonitril, CH3CN,- som reaktant. Fördelarna med CVD är god vidhäftning, att relativt tjocka skikt kan växa och möjlighet att utfälla isolerande skikt såsom Al203.
PVD avser ett antal metoder där metallånga tillhandahålls i en lämplig atmosfär för att bilda den önskade föreningen som ska utfällas genom termisk förångning, sputtring, jonplätering, bågförångning etc. vid en temperatur av 100-700"C. Med PVD, kan många fler material utfällas än med CVD, och skikten har tryckspänningar i motsats till dragspänningar som i CVD-skikt. Den låga beläggningstemperaturen förorsakar å andra sidan problem med vidhäftningen av skikten. Av det skälet involverar beläggningen av substrat med PVD-teknik vanligtvis åtskilliga rengöringssteg.
Substraten är vanligtvis förbehandlade innan de går in i PVD reaktorn genom användning av t.ex. blästring, våtetsning och/eller rengörning i lösningsmedel. Omedelbart före beläggning, inkluderas oftast ett sputtringsetsningssteg i vakuum för att ytterligare rengöra substratet från fukt, naturligt förekommande oxider och andra föroreningar som inte avlägsnats under förbehandlingssteget. Etsningssteget utförs vanligen genom att tillhandahålla plasma vid ett tryck i intervallet 0.2-1.0 Pa i reaktorn. Genom att applicera en negativ bias på substraten bombarderar joner från denna plasma dessa och då rengörs ytorna därav. Biåsen bör vara tillräckligt hög för att sputteretsa substraten, men inte tillräckligt hög för att skada ytan. Typiska biasvärden är approx -2 00V, medan värden under -500V börjar förorsaka strålningsskador genom jonkollision. Plasman är vanligtvis genererad genom en elektrisk urladdning i en ädelgasatmosfär, t.ex. Ar, inutiPVD-reaktorn. En låg plasmaaktivitet i detta steg kan leda till ofullbordad etsning, anisotropisk etsning och/eller återdeponering av sputtrat material. Mer återdeponering medför högre Ar tryck under etsning. Detta beror på det faktum att när den fria medelvägen för gasmolekyler krymper ökar sannolikheten att gasfasspridning och ett moln av etsat material är därmed sannolikt att återdeponeras och kontaminerar ytan igen. Återdeponering och anisotropisk etsning är speciellt en angelägenhet vid arbete med tredimensionella strukturer där delar därav blir 'skuggade' från plasman; det vill säga ytor som inte har huvudplasman i direkt synlinje.
Sputteretsning kan erhållas på olika sätt. En möjlighet är att tända plasma i en Ar atmosfär med användning av en varm W glödtråd (GB-A-2049560). Andra mer kemiskt reaktiva gaser (t.ex. H2och fluorkolväten) kan även vara närvarande för att förstärka processen. Den termiska glödtråden bör vara skyddad från plasma eftersom den annars också kommer att bli etsad. Detta åstadkommes genom att placera glödtråden i en separat glödtrådkammare. Elektronerna måste i detta fall accelereras ut ur denna kammare genom en anod belägen i den motsatta delen därav. Elektronerna som korsar kammaren joniserar Ar gasen i vars plasma är homogent distribuerad och kan därför användas för att sputteretsa substraten. Elektronkanalen genom hela höjden av kammaren måste avledas radiellt med användning av stora magnetiska spolar lokaliserade på toppen och botten av reaktorn. Tekniken är ganska komplicerad och fordrar en hög grad av kontroll för att distribuera plasman jämnt över substraten. En fördel med metoden ovan är att etsningen kan utföras vid lågt tryck, ungefär 0.2 Pa, som reducerar problemen med återdeponering.
En elegant alternativ väg för att bilda homogen sputter-etsningsplasma utan rigorösa kontroller är att applicera en alternerande spänning mellan substraten och en motelektrod (WO 97/22988) . Motelektroden kan vara en magnetronkälla som även används i beläggningsprocessen, som följer etsningsprocessen. De elektriska förbindelserna är schematiskt visade i figur 3 tillsammans med föreliggande uppfinning. Den tidigare kända tekniken består av en strömkrets bestående av substraten (3), strömförsörjningen (8), och magnetronkällan (2). Denna metod fungerar tämligen väl vid tryck över 0.8 Pa, men vid detta höga tryck ses tyvärr återdeponering av etsat material ofta på verkligt 3-dimensionella substrat. Det höga tryck som behövs för operation av den elektriska urladdningen nödvändig för att generera etsningsplasman beror på den låga joniseringsgraden sedd inom magnetron sputteringsteknologin. Dessutom används tyvärr värdefullt sputtermaterial för sputterrengöring.
I US 5,294,322 är det beskrivet hur en bågurladdning täckt av en slutare kan användas som en lågspänningselektronkälla. Återigen samlas elektronerna vid en anod. När elektronerna passerar beläggningskammaren genereras joner av en ädelgas genom elektron-atom kollisioner och en separat strömkälla används för att accelerera dessa joner mot substraten. Nackdelen är att antingen måste en separat dedikerad arckälla användas för elektron-generering, vilket stjäl värdefull kammarväggyta, eller så kan en avskärmad beläggningskälla användas i vilket fall värdefullt beläggningsmaterial förloras i ett sputteretsningsrengöringssteg.
Det är därför ett ändamål med föreliggande uppfinning att tillhandahålla en anordning och en metod för ökning av plasmaintensiteten under sputteretsning av substraten men att bibehålla teknologin enkel.
Figurerna är schematiska representationer av magnetron-beläggningssystemet enligt uppfinningen i sidvy (figur 1), toppvy (figur 2), och de elektriska kopplingarna enligt en representation av uppfinningen (figur 3) där 1 - Reaktorvägg 2 - Magnetron (elektrod) 3 - Substrat att belägga 4 - Glödtråd - Bur 6 - Strömkälla för att accelerera elektroner ut från den varma glödtråden 7 - Strömkälla kopplad till den varma glödtråden 8 - Strömkälla för att bilda den primära plasman Föreliggande uppfinning avser så en anordning för förbättrad plasmaaktivitet i en PVD-reaktor innehållande substrat som ska beläggas. Enligt föreliggande uppfinning tänds en primär plasma genom att använda en växel- eller likspänning mellan substraten och ytterligare en elektrod.Elektroden kan vara åtminstone en separat dedikerad elektrod, reaktorväggen, åtminstone en PVD-beläggningskälla, magnetron- och/eller arckälla, som beskrivs i WO 97/22988 eller företrädesvis åtminstone ett magnetron par eller ett dubbel magnetronsputtrings-(DMS)-par.DMS-teknologin består av två magnetronsputtringskällor förbundna till en bipolär pulsad strömkälla. För att öka plasmaaktiviteten genom termisk emission av elektroner, installeras en varm glödtråd i reaktorn, företrädesvis centralt längs den symmetriska axeln förlängd från topp till botten av reaktorn. Med glödtråd menas någon lämplig design såsom tråd, mesh, band eller liknande. Glödtråden är helst spiralformad eller på annat sätt konstruerad för att tillåta termisk expansion/krympning.Glödtråden är helst tillverkad från effektiva elektron-emitterande material såsom W, toriumbelagd W eller en belagd tråd, där beläggningen är en effektiv elektronemitter såsom sällsynta jordartsoxider, nanorör av kol, bariumoxider etc.Glödtråden kan ha formen av en lång glödtråd eller som flera kortare glödtrådar förbundna antingen i serie eller parallellt eller kombinationer därav. Antingen lik- eller växelström eller kombinationer därav kan användas för uppvärmning av glödtråden. Glödtråden är företrädesvis belägen i centrum av reaktorn och elektronerna är jämnt distribuerade i z-riktningen (höjd-axel) av reaktorn. För att garantera en effektiv emission av elektroner från glödtråden såväl som en god radiell fördelning, kan en likström eller bipolär spänning appliceras mellan glödtråden som en katod och en motsvarande anod. Denna anod kan vara reaktorväggen, en eller flera separata elektroder, eller en eller flera av elektroderna som används för att generera den primära plasman. Elektronerna genererar plasma när dessa passerar det utrymmet som skiljer katodglödtråden och anoden, vilket ger en ökning i Ar-jonisering i processen. Denna förbättrade plasmadensitet möjliggör sputteretsning vid mycket lägre tryck i intervallet 0.1-0.2 Pa än vad som annars är möjligt i ett magnetronbeläggningssystem. Den ökade joniseringen möjliggör operation av sputteretsning vid ett substratbiasvärde omkring -200 V, vilket ger mindre jonkollisionsskador än för tidigare kända teknologier för magnetronsputtringssystem.
Glödtråden utsätts för plasman och eroderar så med tiden. Beroende på detta, måste glödtråden antingen ersättas som rutin, eller skyddas av en bur omfattande t.ex. en metallcylinder, en mesh, eller metallstänger som omger glödtrådarna men med små skåror från vilka de utsända elektronerna kan accelereras ut in i plasman. Potentialen hos buren är i området från potentialen av den varma glödtråden till potentialen av den lämpliga anoden.
Anordningen enligt uppfinningen är speciellt användbar i ett magnetronsputtringssystem.
Uppfinningen avser även användning av anordningen för att förstärka plasmaaktiviteten för användning vid sputteretsning före beläggning med skikt på skär tillverkade av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik, kubisk bornitrid eller metaller såsom stål, såväl som beläggning av metalltrådar, stänger och band speciellt skär tillverkade av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik eller kubisk bornitrid.
EXEMPEL 1 tidigare känd teknik Sputteretsning av hårdmetallskär utfördes enligt systemet beskrivet i WO 97/22988. En plasma tändes vid ett moderat tryck av 0.8 Pa och en substrat-källa-spänning av 800V, som var den minimala spänningen för att utföra etsningen. En ström genom substraten av 2A erhölls. Denna substratström begränsades av jondensiteten som har sin grund i användningen av en magnetron som motelektrod. Strömmen var, dessutom, relaterad till effekten av laddade joner och var därför ett mått på etsningen. Substraten visade efter denna sputter-etsningsprocedur tecken på återdeponering på skuggade ytor. Spänningen som krävdes för att utföra urladdningen var tillräckligt hög för att riskera kollisionsskador på substraten.
EXEMPEL 2 uppfinning Exempel 1 upprepades med användning av systemet som beskrivits ovan men med tillsatsen av en centralt belägen varm W-glödtråd, som indikerats i figur 2. Vid uppvärmning av glödtråden med 11A och applicering av en spänning av 360V mellan glödtråd (katod) och reaktorväggen (anod) erhölls etsning vid 0.2 Pa. Med en substrat - Ti-motelektroder(magnetronkällor)-spänning av 200V mättes en substrat ström av 7A. Denna spänning var inte den minimala etsningsspänningen som krävdes men vald som ändamålsenlig. Substraten var klart mer och djupare etsade och visade inga tecken på återdeponering, inte heller på mycket skuggade ytor.
Så, vid etsning enligt föreliggande uppfinning uppnås en mer effektiv etsning, vid en lägre substratspänning som innebär mindre kollisionsskador och vid ett lägre tryck och då eliminering av återdeponering.
EXEMPEL 3 Skären från exempel 1 och 2 var, omedelbart efter etsningen belagda med ett 1,6 um tjock skikt av AI2O3med användning av en standardbeläggningsprocess:DMSmed användning av två par av magnetroner utrustade med Al-källor. Ett bakgrundstryck av 0.23 Pa Ar upprätthölls för urladdningar av sputtringsgas som kördes vid 40 kW vardera. Syrereaktiv gas tillsattes vid 2 x 30 sccm och kontrollerad genom en krets för återföring av strålning. Detta resulterade i kristallina aluminiumoxidskikt. De två grupperna av skär utvärderades i ett svarvtest i rostfritt stål, med målet att fastställa vidhäftningen av beläggningarna. Resultaten indikerade att skären etsade enligt tidigare känd teknik uppvisade omfattande flagning medan skären etsade enligt uppfinningen visade mindre flagning och färre tecken av förslitning.
Claims (5)
1. Anordning för att förbättra plasmaaktiviteten vid sputteretsning före beläggning, i enPVD -reaktor, innehållande substrat (3) som ska beläggas med skikt, där en primär plasma uppstår genom en lik- eller växelspänning anlagd mellan substrat (3) och åtminstone ytterligare en elektrod, som kan vara något av en separat dedikerad elektrod (2), reaktorväggen, åtminstone en PVD-beläggningskälla, magnetron och/eller arckälla, ett magnetronpar eller ett dubbel magnetronsputtringspar, där anordningen ytterligare omfattar en termisk emitter i form av en varm glödtråd (4) i formen av en lång glödtråd eller som flera kortare glödtrådar fö rbundna antingen i serie eller parallellt eller kombinationer därav, värmd av antingen lik-eller växelström eller kombinationer därav, kännetecknad av att den varma glödtråden (4) är belägen väsentligen längs symmetriaxeln i reaktorn som sträcker sig från topp till botten där den varma glödtråden (4) är en katod och reaktorväggen (1) är en anod.
2. Anordning enligt krav lkännetecknadav att glödtråden (4) är antingen W, toriumbelagd W eller någon belagd tråd där beläggningen är en effektiv elektronemitter, såsom sällsynta jordartsoxider eller nanorör av kol.
3. Anordning enligt något av föregående krav kännetecknad av att den varma glödtråden (4) är skyddad av en kammare eller en bur (5) med små öppningar från vilka de utsända elektronerna kan fly, och där kammaren eller buren har en potential i området från potentialen för den varma glödtråden till potentialen för den motsvarande anoden.
4. Anordning enligt något av föregående krav kännetecknad av attPVD -beläggningssystemet är ett magnetronsputtringssystem.
5. Användning av anordningen enligt något av föregående krav i en PVD-reaktor för att åstadkomma förbättrad plasmaaktivitet vid sputteretsning före beläggning med skikt på skär tillverkade av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik, kubisk bornitrid eller metaller såsom stål, såväl som beläggning av metalltrådar, stänger och band, företrädesvis skär tillverkat av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik eller kubisk bornitrid.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE0501717A SE529375C2 (sv) | 2005-07-22 | 2005-07-22 | Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer |
EP06445051.3A EP1746178B1 (en) | 2005-07-22 | 2006-06-20 | Device for improving plasma activity in PVD-reactors |
IL176658A IL176658A0 (en) | 2005-07-22 | 2006-07-02 | Device for improving plasma activity in pvd-reactors |
JP2006194631A JP2007035623A (ja) | 2005-07-22 | 2006-07-14 | プラズマ活性を向上させる装置 |
CN2006101057500A CN1900354B (zh) | 2005-07-22 | 2006-07-21 | 提高pvd反应器中的等离子体活度的装置 |
KR1020060068728A KR20070012275A (ko) | 2005-07-22 | 2006-07-21 | Pvd 반응기에서 플라즈마 활성을 개선하기 위한 장치 |
US11/490,502 US20070017804A1 (en) | 2005-07-22 | 2006-07-21 | Device for improving plasma activity PVD-reactors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE0501717A SE529375C2 (sv) | 2005-07-22 | 2005-07-22 | Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE0501717L SE0501717L (sv) | 2007-01-23 |
SE529375C2 true SE529375C2 (sv) | 2007-07-24 |
Family
ID=37198970
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE0501717A SE529375C2 (sv) | 2005-07-22 | 2005-07-22 | Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070017804A1 (sv) |
EP (1) | EP1746178B1 (sv) |
JP (1) | JP2007035623A (sv) |
KR (1) | KR20070012275A (sv) |
CN (1) | CN1900354B (sv) |
IL (1) | IL176658A0 (sv) |
SE (1) | SE529375C2 (sv) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8629650B2 (en) * | 2008-05-13 | 2014-01-14 | Qualcomm Incorporated | Wireless power transfer using multiple transmit antennas |
US8878393B2 (en) * | 2008-05-13 | 2014-11-04 | Qualcomm Incorporated | Wireless power transfer for vehicles |
US20100201312A1 (en) | 2009-02-10 | 2010-08-12 | Qualcomm Incorporated | Wireless power transfer for portable enclosures |
US8854224B2 (en) * | 2009-02-10 | 2014-10-07 | Qualcomm Incorporated | Conveying device information relating to wireless charging |
US9312924B2 (en) | 2009-02-10 | 2016-04-12 | Qualcomm Incorporated | Systems and methods relating to multi-dimensional wireless charging |
CN102011101B (zh) * | 2009-09-04 | 2013-06-05 | 清华大学 | 金刚石薄膜的生长装置 |
US8895115B2 (en) | 2010-11-09 | 2014-11-25 | Southwest Research Institute | Method for producing an ionized vapor deposition coating |
US9761424B1 (en) | 2011-09-07 | 2017-09-12 | Nano-Product Engineering, LLC | Filtered cathodic arc method, apparatus and applications thereof |
US10304665B2 (en) | 2011-09-07 | 2019-05-28 | Nano-Product Engineering, LLC | Reactors for plasma-assisted processes and associated methods |
JP5689051B2 (ja) * | 2011-11-25 | 2015-03-25 | 株式会社神戸製鋼所 | イオンボンバードメント装置 |
CN107507747A (zh) * | 2017-08-17 | 2017-12-22 | 太仓劲松智能化电子科技有限公司 | 真空电子管制备方法 |
US11834204B1 (en) | 2018-04-05 | 2023-12-05 | Nano-Product Engineering, LLC | Sources for plasma assisted electric propulsion |
CN113941708A (zh) * | 2021-10-12 | 2022-01-18 | 桂林理工大学 | 一种增强PcBN复合片界面结合能力的制备方法 |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3069286A (en) * | 1958-08-07 | 1962-12-18 | Du Pont | Preparation of metallized perfluorocarbon resins |
FR1534917A (fr) * | 1967-06-22 | 1968-08-02 | Alcatel Sa | Perfectionnements à l'obtention de dépôts par pulvérisation cathodique |
US3583899A (en) * | 1968-12-18 | 1971-06-08 | Norton Co | Sputtering apparatus |
JPS5845892B2 (ja) * | 1980-06-23 | 1983-10-13 | 大阪真空化学株式会社 | スパツタ蒸着装置 |
US4351697A (en) * | 1982-01-04 | 1982-09-28 | Western Electric Company, Inc. | Printed wiring boards |
GB8720415D0 (en) * | 1987-08-28 | 1987-10-07 | Vg Instr Group | Vacuum evaporation & deposition |
JPH02254168A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-12 | Yukio Ichinose | 窒化ほう素の製造方法 |
JPH03191057A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-08-21 | Ricoh Co Ltd | 薄膜形成装置 |
JPH0473896A (ja) * | 1990-07-13 | 1992-03-09 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | プラズマ発生装置 |
JPH04157152A (ja) * | 1990-10-22 | 1992-05-29 | Yoshikatsu Nanba | 同軸型高周波イオン化蒸着装置 |
JPH0617240A (ja) * | 1990-12-19 | 1994-01-25 | Ricoh Co Ltd | 薄膜形成装置 |
DE4125365C1 (sv) * | 1991-07-31 | 1992-05-21 | Multi-Arc Oberflaechentechnik Gmbh, 5060 Bergisch Gladbach, De | |
CA2121266C (en) * | 1992-08-14 | 1998-06-09 | Simon K. Nieh | Surface preparation and deposition method for titanium nitride onto carbonaceous |
JP2603104Y2 (ja) * | 1993-06-04 | 2000-02-28 | 石川島播磨重工業株式会社 | プラズマ発生装置 |
US5850167A (en) * | 1995-04-11 | 1998-12-15 | Kinseki, Limited | Surface acoustic wave device |
JPH0917597A (ja) * | 1995-06-27 | 1997-01-17 | Kao Corp | プラズマ発生装置及び方法 |
US5840167A (en) * | 1995-08-14 | 1998-11-24 | Lg Semicon Co., Ltd | Sputtering deposition apparatus and method utilizing charged particles |
US6468642B1 (en) * | 1995-10-03 | 2002-10-22 | N.V. Bekaert S.A. | Fluorine-doped diamond-like coatings |
DE19546826C1 (de) * | 1995-12-15 | 1997-04-03 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Einrichtung zur Vorbehandlung von Substraten |
JPH09195036A (ja) * | 1996-01-22 | 1997-07-29 | Ulvac Japan Ltd | 蒸着装置、及び薄膜製造方法 |
DE29615190U1 (de) * | 1996-03-11 | 1996-11-28 | Balzers Verschleissschutz GmbH, 55411 Bingen | Anlage zur Beschichtung von Werkstücken |
JPH11200046A (ja) * | 1998-01-12 | 1999-07-27 | Ricoh Co Ltd | 巻き取り式成膜装置 |
US6153061A (en) * | 1998-03-02 | 2000-11-28 | Auburn University | Method of synthesizing cubic boron nitride films |
US6238537B1 (en) * | 1998-08-06 | 2001-05-29 | Kaufman & Robinson, Inc. | Ion assisted deposition source |
JP3696079B2 (ja) * | 2000-12-04 | 2005-09-14 | 株式会社日立製作所 | 慣性静電閉じ込め装置 |
JP4756434B2 (ja) * | 2001-06-14 | 2011-08-24 | 日立金属株式会社 | 皮膜形成装置 |
US6454910B1 (en) * | 2001-09-21 | 2002-09-24 | Kaufman & Robinson, Inc. | Ion-assisted magnetron deposition |
JP4078084B2 (ja) * | 2002-01-28 | 2008-04-23 | キヤノン株式会社 | イオン化成膜方法及び装置 |
JP3640947B2 (ja) * | 2002-10-07 | 2005-04-20 | 株式会社東芝 | イオン源、イオン注入装置、半導体装置の製造方法 |
JP3973100B2 (ja) * | 2003-03-14 | 2007-09-05 | 財団法人浜松科学技術研究振興会 | マイクロ波プラズマ発生方法およびその装置 |
US7147900B2 (en) * | 2003-08-14 | 2006-12-12 | Asm Japan K.K. | Method for forming silicon-containing insulation film having low dielectric constant treated with electron beam radiation |
DE10347981A1 (de) * | 2003-10-15 | 2005-07-07 | Gühring, Jörg, Dr. | Verschleißschutzschicht für spanabhebende Werkzeuge, insbesondere für rotierende Zerspanungswerkzeuge |
-
2005
- 2005-07-22 SE SE0501717A patent/SE529375C2/sv not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-06-20 EP EP06445051.3A patent/EP1746178B1/en active Active
- 2006-07-02 IL IL176658A patent/IL176658A0/en unknown
- 2006-07-14 JP JP2006194631A patent/JP2007035623A/ja active Pending
- 2006-07-21 KR KR1020060068728A patent/KR20070012275A/ko active Search and Examination
- 2006-07-21 US US11/490,502 patent/US20070017804A1/en not_active Abandoned
- 2006-07-21 CN CN2006101057500A patent/CN1900354B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1746178B1 (en) | 2013-08-07 |
EP1746178A3 (en) | 2007-09-12 |
KR20070012275A (ko) | 2007-01-25 |
SE0501717L (sv) | 2007-01-23 |
EP1746178A2 (en) | 2007-01-24 |
CN1900354A (zh) | 2007-01-24 |
IL176658A0 (en) | 2008-01-20 |
JP2007035623A (ja) | 2007-02-08 |
CN1900354B (zh) | 2011-08-03 |
US20070017804A1 (en) | 2007-01-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE529375C2 (sv) | Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer | |
KR101499272B1 (ko) | 진공 처리 장치 및 진공 처리 방법 | |
Vlček et al. | Pulsed dc magnetron discharges and their utilization in plasma surface engineering | |
EP3228161B1 (en) | Plasma source utilizing a macro-particle reduction coating and method of using a plasma source utilizing a macro-particle reduction coating for deposition of thin film coatings and modification of surfaces | |
US20090200158A1 (en) | High power impulse magnetron sputtering vapour deposition | |
SE503141C2 (sv) | Apparat för alstring av linjär ljusbågsurladdning för plasmabearbetning | |
JPH02285072A (ja) | 加工物表面のコーティング方法及びその加工物 | |
JP5037475B2 (ja) | スパッタ装置 | |
WO2015134108A1 (en) | Ion beam sputter deposition assembly, sputtering system, and sputter method of physical vapor deposition | |
JP2009543951A (ja) | 電気絶縁皮膜の堆積方法 | |
JPH0688215A (ja) | セラミック塗料の直接付着法および装置 | |
JP6577804B2 (ja) | マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法 | |
WO1997045567A1 (en) | Flow-through ion beam source | |
US20050040037A1 (en) | Electron beam enhanced large area deposition system | |
JP6871933B2 (ja) | コーティングのための表面を前処理するための方法 | |
JPH0372067A (ja) | 複数の蒸発ルツボを備えたアーク放電型蒸発器 | |
EP2159820B1 (en) | A physical vapour deposition coating device as well as a physical vapour deposition method | |
JPH03146489A (ja) | 複合材用被覆フィラメント | |
JP2013014804A (ja) | イオン化率の計測方法及びイオン化率計測装置 | |
JP6569900B2 (ja) | スパッタリング装置および成膜方法 | |
JP7219941B2 (ja) | プラズマcvd装置、磁気記録媒体の製造方法及び成膜方法 | |
Seitkulov et al. | New Method for Synthesis of Hard Coatings Using Pulsed Bombardment with High-Energy Gas Atoms | |
KR20080004944A (ko) | 고효율 대향 타겟식 스퍼터링 장치 | |
RU2463382C2 (ru) | Способ и устройство для получения многослойно-композиционных наноструктурированных покрытий и материалов | |
CN112218419A (zh) | 一种大束流高密度的等离子源 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |