SE529375C2 - Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer - Google Patents

Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer

Info

Publication number
SE529375C2
SE529375C2 SE0501717A SE0501717A SE529375C2 SE 529375 C2 SE529375 C2 SE 529375C2 SE 0501717 A SE0501717 A SE 0501717A SE 0501717 A SE0501717 A SE 0501717A SE 529375 C2 SE529375 C2 SE 529375C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
coating
filament
reactor
plasma
magnetron
Prior art date
Application number
SE0501717A
Other languages
English (en)
Other versions
SE0501717L (sv
Inventor
Toril Myrtveit
Markus Rodmar
Torbjoern Selinder
Original Assignee
Sandvik Intellectual Property
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sandvik Intellectual Property filed Critical Sandvik Intellectual Property
Priority to SE0501717A priority Critical patent/SE529375C2/sv
Priority to EP06445051.3A priority patent/EP1746178B1/en
Priority to IL176658A priority patent/IL176658A0/en
Priority to JP2006194631A priority patent/JP2007035623A/ja
Priority to CN2006101057500A priority patent/CN1900354B/zh
Priority to KR1020060068728A priority patent/KR20070012275A/ko
Priority to US11/490,502 priority patent/US20070017804A1/en
Publication of SE0501717L publication Critical patent/SE0501717L/sv
Publication of SE529375C2 publication Critical patent/SE529375C2/sv

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/02Pretreatment of the material to be coated
    • C23C14/021Cleaning or etching treatments
    • C23C14/022Cleaning or etching treatments by means of bombardment with energetic particles or radiation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3471Introduction of auxiliary energy into the plasma
    • C23C14/3478Introduction of auxiliary energy into the plasma using electrons, e.g. triode sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/35Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
    • C23C14/354Introduction of auxiliary energy into the plasma
    • C23C14/355Introduction of auxiliary energy into the plasma using electrons, e.g. triode sputtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32321Discharge generated by other radiation
    • H01J37/3233Discharge generated by other radiation using charged particles

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Description

Föreliggande uppfinning avser en anordning för att åstadkomma förbättrad plasmaaktivitet iPVDreaktorer. P.g.a. ökande plasmadensitet möjliggör uppfinningen operation av sputtersetsning vid mycket lägre tryck än vad som annars är möjligt i en PVD-beläggningskammare för magnetronsputtring. Så, gasfasspridning undviks och problem med återdeponering och kontaminering av sputtringsrengjorda ytor av 3-D-föremål är eliminerade. Uppfinningen tillåter sputtersetsning av substrat i ett magnetronsputtringssystem vid bias-värden lämpliga för att undvika kollisionsskador.
Modern högproduktiv spånformande bearbetning av metaller kräver pålitliga verktygsskär med hög slitstyrka, goda seghetsegenskaper och utomordentligt motstånd mot plastisk deformation.
Detta har hittills uppnåtts genom att använda hårdmetallskär belagda med slitstarka skikt såsom TiN, TixAlyN, CrxAlyN och AI2O3. Sådana skikt har varit kommersiellt tillgängliga i många år. Flera hårda skikt i en multiskiktstruktur bygger vanligtvis upp en beläggning. Ordningsföljden och tjockleken av de individuella skikten är noggrant valda för att passa olika skärapplikationsområden och arbetstyckematerial.
Beläggningarna är oftast utfällda med teknikerna kemisk ångdeponering (CVD), medeltemperatur-CVD (MTCVD) eller fysisk ångdeponering (PVD). CVD-skikt är vanligtvis utfällda vid en temperatur mellan 900 och 1000 °C och MTCVD vid 700-800 med användning av acetonitril, CH3CN,- som reaktant. Fördelarna med CVD är god vidhäftning, att relativt tjocka skikt kan växa och möjlighet att utfälla isolerande skikt såsom Al203.
PVD avser ett antal metoder där metallånga tillhandahålls i en lämplig atmosfär för att bilda den önskade föreningen som ska utfällas genom termisk förångning, sputtring, jonplätering, bågförångning etc. vid en temperatur av 100-700"C. Med PVD, kan många fler material utfällas än med CVD, och skikten har tryckspänningar i motsats till dragspänningar som i CVD-skikt. Den låga beläggningstemperaturen förorsakar å andra sidan problem med vidhäftningen av skikten. Av det skälet involverar beläggningen av substrat med PVD-teknik vanligtvis åtskilliga rengöringssteg.
Substraten är vanligtvis förbehandlade innan de går in i PVD reaktorn genom användning av t.ex. blästring, våtetsning och/eller rengörning i lösningsmedel. Omedelbart före beläggning, inkluderas oftast ett sputtringsetsningssteg i vakuum för att ytterligare rengöra substratet från fukt, naturligt förekommande oxider och andra föroreningar som inte avlägsnats under förbehandlingssteget. Etsningssteget utförs vanligen genom att tillhandahålla plasma vid ett tryck i intervallet 0.2-1.0 Pa i reaktorn. Genom att applicera en negativ bias på substraten bombarderar joner från denna plasma dessa och då rengörs ytorna därav. Biåsen bör vara tillräckligt hög för att sputteretsa substraten, men inte tillräckligt hög för att skada ytan. Typiska biasvärden är approx -2 00V, medan värden under -500V börjar förorsaka strålningsskador genom jonkollision. Plasman är vanligtvis genererad genom en elektrisk urladdning i en ädelgasatmosfär, t.ex. Ar, inutiPVD-reaktorn. En låg plasmaaktivitet i detta steg kan leda till ofullbordad etsning, anisotropisk etsning och/eller återdeponering av sputtrat material. Mer återdeponering medför högre Ar tryck under etsning. Detta beror på det faktum att när den fria medelvägen för gasmolekyler krymper ökar sannolikheten att gasfasspridning och ett moln av etsat material är därmed sannolikt att återdeponeras och kontaminerar ytan igen. Återdeponering och anisotropisk etsning är speciellt en angelägenhet vid arbete med tredimensionella strukturer där delar därav blir 'skuggade' från plasman; det vill säga ytor som inte har huvudplasman i direkt synlinje.
Sputteretsning kan erhållas på olika sätt. En möjlighet är att tända plasma i en Ar atmosfär med användning av en varm W glödtråd (GB-A-2049560). Andra mer kemiskt reaktiva gaser (t.ex. H2och fluorkolväten) kan även vara närvarande för att förstärka processen. Den termiska glödtråden bör vara skyddad från plasma eftersom den annars också kommer att bli etsad. Detta åstadkommes genom att placera glödtråden i en separat glödtrådkammare. Elektronerna måste i detta fall accelereras ut ur denna kammare genom en anod belägen i den motsatta delen därav. Elektronerna som korsar kammaren joniserar Ar gasen i vars plasma är homogent distribuerad och kan därför användas för att sputteretsa substraten. Elektronkanalen genom hela höjden av kammaren måste avledas radiellt med användning av stora magnetiska spolar lokaliserade på toppen och botten av reaktorn. Tekniken är ganska komplicerad och fordrar en hög grad av kontroll för att distribuera plasman jämnt över substraten. En fördel med metoden ovan är att etsningen kan utföras vid lågt tryck, ungefär 0.2 Pa, som reducerar problemen med återdeponering.
En elegant alternativ väg för att bilda homogen sputter-etsningsplasma utan rigorösa kontroller är att applicera en alternerande spänning mellan substraten och en motelektrod (WO 97/22988) . Motelektroden kan vara en magnetronkälla som även används i beläggningsprocessen, som följer etsningsprocessen. De elektriska förbindelserna är schematiskt visade i figur 3 tillsammans med föreliggande uppfinning. Den tidigare kända tekniken består av en strömkrets bestående av substraten (3), strömförsörjningen (8), och magnetronkällan (2). Denna metod fungerar tämligen väl vid tryck över 0.8 Pa, men vid detta höga tryck ses tyvärr återdeponering av etsat material ofta på verkligt 3-dimensionella substrat. Det höga tryck som behövs för operation av den elektriska urladdningen nödvändig för att generera etsningsplasman beror på den låga joniseringsgraden sedd inom magnetron sputteringsteknologin. Dessutom används tyvärr värdefullt sputtermaterial för sputterrengöring.
I US 5,294,322 är det beskrivet hur en bågurladdning täckt av en slutare kan användas som en lågspänningselektronkälla. Återigen samlas elektronerna vid en anod. När elektronerna passerar beläggningskammaren genereras joner av en ädelgas genom elektron-atom kollisioner och en separat strömkälla används för att accelerera dessa joner mot substraten. Nackdelen är att antingen måste en separat dedikerad arckälla användas för elektron-generering, vilket stjäl värdefull kammarväggyta, eller så kan en avskärmad beläggningskälla användas i vilket fall värdefullt beläggningsmaterial förloras i ett sputteretsningsrengöringssteg.
Det är därför ett ändamål med föreliggande uppfinning att tillhandahålla en anordning och en metod för ökning av plasmaintensiteten under sputteretsning av substraten men att bibehålla teknologin enkel.
Figurerna är schematiska representationer av magnetron-beläggningssystemet enligt uppfinningen i sidvy (figur 1), toppvy (figur 2), och de elektriska kopplingarna enligt en representation av uppfinningen (figur 3) där 1 - Reaktorvägg 2 - Magnetron (elektrod) 3 - Substrat att belägga 4 - Glödtråd - Bur 6 - Strömkälla för att accelerera elektroner ut från den varma glödtråden 7 - Strömkälla kopplad till den varma glödtråden 8 - Strömkälla för att bilda den primära plasman Föreliggande uppfinning avser så en anordning för förbättrad plasmaaktivitet i en PVD-reaktor innehållande substrat som ska beläggas. Enligt föreliggande uppfinning tänds en primär plasma genom att använda en växel- eller likspänning mellan substraten och ytterligare en elektrod.Elektroden kan vara åtminstone en separat dedikerad elektrod, reaktorväggen, åtminstone en PVD-beläggningskälla, magnetron- och/eller arckälla, som beskrivs i WO 97/22988 eller företrädesvis åtminstone ett magnetron par eller ett dubbel magnetronsputtrings-(DMS)-par.DMS-teknologin består av två magnetronsputtringskällor förbundna till en bipolär pulsad strömkälla. För att öka plasmaaktiviteten genom termisk emission av elektroner, installeras en varm glödtråd i reaktorn, företrädesvis centralt längs den symmetriska axeln förlängd från topp till botten av reaktorn. Med glödtråd menas någon lämplig design såsom tråd, mesh, band eller liknande. Glödtråden är helst spiralformad eller på annat sätt konstruerad för att tillåta termisk expansion/krympning.Glödtråden är helst tillverkad från effektiva elektron-emitterande material såsom W, toriumbelagd W eller en belagd tråd, där beläggningen är en effektiv elektronemitter såsom sällsynta jordartsoxider, nanorör av kol, bariumoxider etc.Glödtråden kan ha formen av en lång glödtråd eller som flera kortare glödtrådar förbundna antingen i serie eller parallellt eller kombinationer därav. Antingen lik- eller växelström eller kombinationer därav kan användas för uppvärmning av glödtråden. Glödtråden är företrädesvis belägen i centrum av reaktorn och elektronerna är jämnt distribuerade i z-riktningen (höjd-axel) av reaktorn. För att garantera en effektiv emission av elektroner från glödtråden såväl som en god radiell fördelning, kan en likström eller bipolär spänning appliceras mellan glödtråden som en katod och en motsvarande anod. Denna anod kan vara reaktorväggen, en eller flera separata elektroder, eller en eller flera av elektroderna som används för att generera den primära plasman. Elektronerna genererar plasma när dessa passerar det utrymmet som skiljer katodglödtråden och anoden, vilket ger en ökning i Ar-jonisering i processen. Denna förbättrade plasmadensitet möjliggör sputteretsning vid mycket lägre tryck i intervallet 0.1-0.2 Pa än vad som annars är möjligt i ett magnetronbeläggningssystem. Den ökade joniseringen möjliggör operation av sputteretsning vid ett substratbiasvärde omkring -200 V, vilket ger mindre jonkollisionsskador än för tidigare kända teknologier för magnetronsputtringssystem.
Glödtråden utsätts för plasman och eroderar så med tiden. Beroende på detta, måste glödtråden antingen ersättas som rutin, eller skyddas av en bur omfattande t.ex. en metallcylinder, en mesh, eller metallstänger som omger glödtrådarna men med små skåror från vilka de utsända elektronerna kan accelereras ut in i plasman. Potentialen hos buren är i området från potentialen av den varma glödtråden till potentialen av den lämpliga anoden.
Anordningen enligt uppfinningen är speciellt användbar i ett magnetronsputtringssystem.
Uppfinningen avser även användning av anordningen för att förstärka plasmaaktiviteten för användning vid sputteretsning före beläggning med skikt på skär tillverkade av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik, kubisk bornitrid eller metaller såsom stål, såväl som beläggning av metalltrådar, stänger och band speciellt skär tillverkade av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik eller kubisk bornitrid.
EXEMPEL 1 tidigare känd teknik Sputteretsning av hårdmetallskär utfördes enligt systemet beskrivet i WO 97/22988. En plasma tändes vid ett moderat tryck av 0.8 Pa och en substrat-källa-spänning av 800V, som var den minimala spänningen för att utföra etsningen. En ström genom substraten av 2A erhölls. Denna substratström begränsades av jondensiteten som har sin grund i användningen av en magnetron som motelektrod. Strömmen var, dessutom, relaterad till effekten av laddade joner och var därför ett mått på etsningen. Substraten visade efter denna sputter-etsningsprocedur tecken på återdeponering på skuggade ytor. Spänningen som krävdes för att utföra urladdningen var tillräckligt hög för att riskera kollisionsskador på substraten.
EXEMPEL 2 uppfinning Exempel 1 upprepades med användning av systemet som beskrivits ovan men med tillsatsen av en centralt belägen varm W-glödtråd, som indikerats i figur 2. Vid uppvärmning av glödtråden med 11A och applicering av en spänning av 360V mellan glödtråd (katod) och reaktorväggen (anod) erhölls etsning vid 0.2 Pa. Med en substrat - Ti-motelektroder(magnetronkällor)-spänning av 200V mättes en substrat ström av 7A. Denna spänning var inte den minimala etsningsspänningen som krävdes men vald som ändamålsenlig. Substraten var klart mer och djupare etsade och visade inga tecken på återdeponering, inte heller på mycket skuggade ytor.
Så, vid etsning enligt föreliggande uppfinning uppnås en mer effektiv etsning, vid en lägre substratspänning som innebär mindre kollisionsskador och vid ett lägre tryck och då eliminering av återdeponering.
EXEMPEL 3 Skären från exempel 1 och 2 var, omedelbart efter etsningen belagda med ett 1,6 um tjock skikt av AI2O3med användning av en standardbeläggningsprocess:DMSmed användning av två par av magnetroner utrustade med Al-källor. Ett bakgrundstryck av 0.23 Pa Ar upprätthölls för urladdningar av sputtringsgas som kördes vid 40 kW vardera. Syrereaktiv gas tillsattes vid 2 x 30 sccm och kontrollerad genom en krets för återföring av strålning. Detta resulterade i kristallina aluminiumoxidskikt. De två grupperna av skär utvärderades i ett svarvtest i rostfritt stål, med målet att fastställa vidhäftningen av beläggningarna. Resultaten indikerade att skären etsade enligt tidigare känd teknik uppvisade omfattande flagning medan skären etsade enligt uppfinningen visade mindre flagning och färre tecken av förslitning.

Claims (5)

1. Anordning för att förbättra plasmaaktiviteten vid sputteretsning före beläggning, i enPVD -reaktor, innehållande substrat (3) som ska beläggas med skikt, där en primär plasma uppstår genom en lik- eller växelspänning anlagd mellan substrat (3) och åtminstone ytterligare en elektrod, som kan vara något av en separat dedikerad elektrod (2), reaktorväggen, åtminstone en PVD-beläggningskälla, magnetron och/eller arckälla, ett magnetronpar eller ett dubbel magnetronsputtringspar, där anordningen ytterligare omfattar en termisk emitter i form av en varm glödtråd (4) i formen av en lång glödtråd eller som flera kortare glödtrådar fö rbundna antingen i serie eller parallellt eller kombinationer därav, värmd av antingen lik-eller växelström eller kombinationer därav, kännetecknad av att den varma glödtråden (4) är belägen väsentligen längs symmetriaxeln i reaktorn som sträcker sig från topp till botten där den varma glödtråden (4) är en katod och reaktorväggen (1) är en anod.
2. Anordning enligt krav lkännetecknadav att glödtråden (4) är antingen W, toriumbelagd W eller någon belagd tråd där beläggningen är en effektiv elektronemitter, såsom sällsynta jordartsoxider eller nanorör av kol.
3. Anordning enligt något av föregående krav kännetecknad av att den varma glödtråden (4) är skyddad av en kammare eller en bur (5) med små öppningar från vilka de utsända elektronerna kan fly, och där kammaren eller buren har en potential i området från potentialen för den varma glödtråden till potentialen för den motsvarande anoden.
4. Anordning enligt något av föregående krav kännetecknad av attPVD -beläggningssystemet är ett magnetronsputtringssystem.
5. Användning av anordningen enligt något av föregående krav i en PVD-reaktor för att åstadkomma förbättrad plasmaaktivitet vid sputteretsning före beläggning med skikt på skär tillverkade av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik, kubisk bornitrid eller metaller såsom stål, såväl som beläggning av metalltrådar, stänger och band, företrädesvis skär tillverkat av hårdmetall, snabbstål, cermets, keramik eller kubisk bornitrid.
SE0501717A 2005-07-22 2005-07-22 Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer SE529375C2 (sv)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0501717A SE529375C2 (sv) 2005-07-22 2005-07-22 Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer
EP06445051.3A EP1746178B1 (en) 2005-07-22 2006-06-20 Device for improving plasma activity in PVD-reactors
IL176658A IL176658A0 (en) 2005-07-22 2006-07-02 Device for improving plasma activity in pvd-reactors
JP2006194631A JP2007035623A (ja) 2005-07-22 2006-07-14 プラズマ活性を向上させる装置
CN2006101057500A CN1900354B (zh) 2005-07-22 2006-07-21 提高pvd反应器中的等离子体活度的装置
KR1020060068728A KR20070012275A (ko) 2005-07-22 2006-07-21 Pvd 반응기에서 플라즈마 활성을 개선하기 위한 장치
US11/490,502 US20070017804A1 (en) 2005-07-22 2006-07-21 Device for improving plasma activity PVD-reactors

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0501717A SE529375C2 (sv) 2005-07-22 2005-07-22 Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE0501717L SE0501717L (sv) 2007-01-23
SE529375C2 true SE529375C2 (sv) 2007-07-24

Family

ID=37198970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE0501717A SE529375C2 (sv) 2005-07-22 2005-07-22 Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20070017804A1 (sv)
EP (1) EP1746178B1 (sv)
JP (1) JP2007035623A (sv)
KR (1) KR20070012275A (sv)
CN (1) CN1900354B (sv)
IL (1) IL176658A0 (sv)
SE (1) SE529375C2 (sv)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8629650B2 (en) * 2008-05-13 2014-01-14 Qualcomm Incorporated Wireless power transfer using multiple transmit antennas
US8878393B2 (en) * 2008-05-13 2014-11-04 Qualcomm Incorporated Wireless power transfer for vehicles
US20100201312A1 (en) 2009-02-10 2010-08-12 Qualcomm Incorporated Wireless power transfer for portable enclosures
US8854224B2 (en) * 2009-02-10 2014-10-07 Qualcomm Incorporated Conveying device information relating to wireless charging
US9312924B2 (en) 2009-02-10 2016-04-12 Qualcomm Incorporated Systems and methods relating to multi-dimensional wireless charging
CN102011101B (zh) * 2009-09-04 2013-06-05 清华大学 金刚石薄膜的生长装置
US8895115B2 (en) 2010-11-09 2014-11-25 Southwest Research Institute Method for producing an ionized vapor deposition coating
US9761424B1 (en) 2011-09-07 2017-09-12 Nano-Product Engineering, LLC Filtered cathodic arc method, apparatus and applications thereof
US10304665B2 (en) 2011-09-07 2019-05-28 Nano-Product Engineering, LLC Reactors for plasma-assisted processes and associated methods
JP5689051B2 (ja) * 2011-11-25 2015-03-25 株式会社神戸製鋼所 イオンボンバードメント装置
CN107507747A (zh) * 2017-08-17 2017-12-22 太仓劲松智能化电子科技有限公司 真空电子管制备方法
US11834204B1 (en) 2018-04-05 2023-12-05 Nano-Product Engineering, LLC Sources for plasma assisted electric propulsion
CN113941708A (zh) * 2021-10-12 2022-01-18 桂林理工大学 一种增强PcBN复合片界面结合能力的制备方法

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3069286A (en) * 1958-08-07 1962-12-18 Du Pont Preparation of metallized perfluorocarbon resins
FR1534917A (fr) * 1967-06-22 1968-08-02 Alcatel Sa Perfectionnements à l'obtention de dépôts par pulvérisation cathodique
US3583899A (en) * 1968-12-18 1971-06-08 Norton Co Sputtering apparatus
JPS5845892B2 (ja) * 1980-06-23 1983-10-13 大阪真空化学株式会社 スパツタ蒸着装置
US4351697A (en) * 1982-01-04 1982-09-28 Western Electric Company, Inc. Printed wiring boards
GB8720415D0 (en) * 1987-08-28 1987-10-07 Vg Instr Group Vacuum evaporation & deposition
JPH02254168A (ja) * 1989-03-27 1990-10-12 Yukio Ichinose 窒化ほう素の製造方法
JPH03191057A (ja) * 1989-12-20 1991-08-21 Ricoh Co Ltd 薄膜形成装置
JPH0473896A (ja) * 1990-07-13 1992-03-09 Sumitomo Heavy Ind Ltd プラズマ発生装置
JPH04157152A (ja) * 1990-10-22 1992-05-29 Yoshikatsu Nanba 同軸型高周波イオン化蒸着装置
JPH0617240A (ja) * 1990-12-19 1994-01-25 Ricoh Co Ltd 薄膜形成装置
DE4125365C1 (sv) * 1991-07-31 1992-05-21 Multi-Arc Oberflaechentechnik Gmbh, 5060 Bergisch Gladbach, De
CA2121266C (en) * 1992-08-14 1998-06-09 Simon K. Nieh Surface preparation and deposition method for titanium nitride onto carbonaceous
JP2603104Y2 (ja) * 1993-06-04 2000-02-28 石川島播磨重工業株式会社 プラズマ発生装置
US5850167A (en) * 1995-04-11 1998-12-15 Kinseki, Limited Surface acoustic wave device
JPH0917597A (ja) * 1995-06-27 1997-01-17 Kao Corp プラズマ発生装置及び方法
US5840167A (en) * 1995-08-14 1998-11-24 Lg Semicon Co., Ltd Sputtering deposition apparatus and method utilizing charged particles
US6468642B1 (en) * 1995-10-03 2002-10-22 N.V. Bekaert S.A. Fluorine-doped diamond-like coatings
DE19546826C1 (de) * 1995-12-15 1997-04-03 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Einrichtung zur Vorbehandlung von Substraten
JPH09195036A (ja) * 1996-01-22 1997-07-29 Ulvac Japan Ltd 蒸着装置、及び薄膜製造方法
DE29615190U1 (de) * 1996-03-11 1996-11-28 Balzers Verschleissschutz GmbH, 55411 Bingen Anlage zur Beschichtung von Werkstücken
JPH11200046A (ja) * 1998-01-12 1999-07-27 Ricoh Co Ltd 巻き取り式成膜装置
US6153061A (en) * 1998-03-02 2000-11-28 Auburn University Method of synthesizing cubic boron nitride films
US6238537B1 (en) * 1998-08-06 2001-05-29 Kaufman & Robinson, Inc. Ion assisted deposition source
JP3696079B2 (ja) * 2000-12-04 2005-09-14 株式会社日立製作所 慣性静電閉じ込め装置
JP4756434B2 (ja) * 2001-06-14 2011-08-24 日立金属株式会社 皮膜形成装置
US6454910B1 (en) * 2001-09-21 2002-09-24 Kaufman & Robinson, Inc. Ion-assisted magnetron deposition
JP4078084B2 (ja) * 2002-01-28 2008-04-23 キヤノン株式会社 イオン化成膜方法及び装置
JP3640947B2 (ja) * 2002-10-07 2005-04-20 株式会社東芝 イオン源、イオン注入装置、半導体装置の製造方法
JP3973100B2 (ja) * 2003-03-14 2007-09-05 財団法人浜松科学技術研究振興会 マイクロ波プラズマ発生方法およびその装置
US7147900B2 (en) * 2003-08-14 2006-12-12 Asm Japan K.K. Method for forming silicon-containing insulation film having low dielectric constant treated with electron beam radiation
DE10347981A1 (de) * 2003-10-15 2005-07-07 Gühring, Jörg, Dr. Verschleißschutzschicht für spanabhebende Werkzeuge, insbesondere für rotierende Zerspanungswerkzeuge

Also Published As

Publication number Publication date
EP1746178B1 (en) 2013-08-07
EP1746178A3 (en) 2007-09-12
KR20070012275A (ko) 2007-01-25
SE0501717L (sv) 2007-01-23
EP1746178A2 (en) 2007-01-24
CN1900354A (zh) 2007-01-24
IL176658A0 (en) 2008-01-20
JP2007035623A (ja) 2007-02-08
CN1900354B (zh) 2011-08-03
US20070017804A1 (en) 2007-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE529375C2 (sv) Anordning för förbättrad plasmaaktivitet i PVD-reaktorer
KR101499272B1 (ko) 진공 처리 장치 및 진공 처리 방법
Vlček et al. Pulsed dc magnetron discharges and their utilization in plasma surface engineering
EP3228161B1 (en) Plasma source utilizing a macro-particle reduction coating and method of using a plasma source utilizing a macro-particle reduction coating for deposition of thin film coatings and modification of surfaces
US20090200158A1 (en) High power impulse magnetron sputtering vapour deposition
SE503141C2 (sv) Apparat för alstring av linjär ljusbågsurladdning för plasmabearbetning
JPH02285072A (ja) 加工物表面のコーティング方法及びその加工物
JP5037475B2 (ja) スパッタ装置
WO2015134108A1 (en) Ion beam sputter deposition assembly, sputtering system, and sputter method of physical vapor deposition
JP2009543951A (ja) 電気絶縁皮膜の堆積方法
JPH0688215A (ja) セラミック塗料の直接付着法および装置
JP6577804B2 (ja) マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法
WO1997045567A1 (en) Flow-through ion beam source
US20050040037A1 (en) Electron beam enhanced large area deposition system
JP6871933B2 (ja) コーティングのための表面を前処理するための方法
JPH0372067A (ja) 複数の蒸発ルツボを備えたアーク放電型蒸発器
EP2159820B1 (en) A physical vapour deposition coating device as well as a physical vapour deposition method
JPH03146489A (ja) 複合材用被覆フィラメント
JP2013014804A (ja) イオン化率の計測方法及びイオン化率計測装置
JP6569900B2 (ja) スパッタリング装置および成膜方法
JP7219941B2 (ja) プラズマcvd装置、磁気記録媒体の製造方法及び成膜方法
Seitkulov et al. New Method for Synthesis of Hard Coatings Using Pulsed Bombardment with High-Energy Gas Atoms
KR20080004944A (ko) 고효율 대향 타겟식 스퍼터링 장치
RU2463382C2 (ru) Способ и устройство для получения многослойно-композиционных наноструктурированных покрытий и материалов
CN112218419A (zh) 一种大束流高密度的等离子源

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed