NL8701278A - Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator. - Google Patents

Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator. Download PDF

Info

Publication number
NL8701278A
NL8701278A NL8701278A NL8701278A NL8701278A NL 8701278 A NL8701278 A NL 8701278A NL 8701278 A NL8701278 A NL 8701278A NL 8701278 A NL8701278 A NL 8701278A NL 8701278 A NL8701278 A NL 8701278A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
transistor
integrated
substrate
circuit
cmos circuit
Prior art date
Application number
NL8701278A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Priority to NL8701278A priority Critical patent/NL8701278A/nl
Priority to US07/094,363 priority patent/US4820936A/en
Priority to DE88201025T priority patent/DE3880735T2/de
Priority to EP88201025A priority patent/EP0293045B1/en
Priority to JP63127214A priority patent/JPS63307771A/ja
Priority to KR1019880006148A priority patent/KR960013760B1/ko
Publication of NL8701278A publication Critical patent/NL8701278A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/03Astable circuits
    • H03K3/0315Ring oscillators
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/205Substrate bias-voltage generators

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

η ΡΗΝ 12.149 1 N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken te Eindhoven
Geïntegreerde CMOS-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator.
De uitvinding heeft betrekking op een geïntegreerde CMOS-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator, die wordt aangestuurd door een klokgenerator, welke ook de verdere circuits in de geïntegreerde schakeling stuurt.
5 Een geïntegreerde CMOS-schakeling, waarin een substraatvoorspanningsgenerator is opgenomen, is bekend uit het Europese Octrooi 0 029 681, dat op 28 januari 1987 is gepubliceerd. Substraatvoorspanningsgeneratoren worden in CMOS-schakelingen toegepast om te vermijden dat deze in de zogenaamde latch-up toestand gaan. Indien 10 geen substraatvoorspanningsgeneratoren worden toegepast, is de kans groot dat deze latch-up toestand wordt bereikt. In een CMOS-proces met n-wells, dat veel wordt toegepast, worden zowel n-type als p-type transistoren geïmplementeerd waardoor tevens parasitaire thyristoren worden gekreëerd. Indien een of meer van deze thyristoren door 15 bepaalde spanningen op knooppunten in een schakeling en op verschillende plaatsen in een substraat worden ontstoken, worden sommige knooppunten van de schakeling door deze thyristoren op een vaste spanning gehouden.
Het gevolg hiervan is dat de schakeling niet meer korrekt werkt en in een latch-toestand is geraakt. Het opwekken van een 20 substraatvoorspanning zorgt ervoor dat de thyristoren veel moeilijker kunnen ontsteken. Doorgaans bestaat een substraatvoorspanningsgenerator uit een kapacitieve pomp die door een ringoscillator wordt gestuurd. De ringoscillator wordt ook gebruikt voor het opwekken van de klokfrequentie die wordt gebruikt voor het sturen van de verdere 25 circuits op de geïntegreerde schakeling. Nu is echter de latch-up gevoeligheid afhankelijk van de klokfrequentie, omdat indien een hogere klokfrequentie wordt toegepast ook de pomp van de substraatvoorspanningsgenerator sneller moet pompen om de door de hogere klokfrequentie verhoogde substraatstromen te kunnen kompenseren.
30 Veel geïntegreerde CMOS-schakelingen hebben echter een ingangsklem voor het toevoeren van een kloksignaal met een door de gebruiker van de schakeling gewenste frequentie, omdat de schakeling in 8701278 * PHN 12.149 2 een door de gebruiker ontworpen systeem moet passen of omdat de schakeling in verschillende modes kan werken, waarbij voor de verschillende modes verschillende klokfrequenties nodig zijn. Een voorbeeld hiervan is een geheugenschakeling, die voor opslag van 5 teletekst-informatie in televisies dienst doet. De klokfrequentie voor het geheugen is dan mede bepaald door het in de televisie toegepaste 625 of 525 beeldlijnensysteem. Een oscillator voor het sturen van de ladingspomp van de substraatvoorspanningsgenerator wordt in zulke geïntegreerde schakelingen niet mee geïntegreerd. De ladingspomp 10 wordt dan gestuurd met klokpulsen, die van extern aan de schakeling worden toegevoerd. Echter wordt tijdens het testen van de geïntegreerde schakeling door de gebruiker niet altijd een klokfrequentie aangeboden. Wanneer in dat geval tests worden gedaan, wordt er geen substraatvoorspanning opgewekt waardoor dus een verhoogde 15 latch-up gevoeligheid ontstaat. Verder kunnen er bij de ontwikkeling van de schakeling op de eerste gefabriceerde siliciumwafers met de CMOS-schakeling gedurende meetprocedures onverwacht toch één of enkele delen van de schakeling in latch-up-toestand gaan, waardoor er substraatstromen gaan lopen, die de substraatvoorspanning laten 20 afnemen. Het gevolg hiervan is dat nog grotere delen van de geïntegreerde schakeling in de latch-up-toestand gaan enzovoorts. Uiteindelijk kan er helemaal niets meer gemeten worden aan de geïntegreerde schakeling.
Het is het doel van de uitvinding om in een 25 geïntegreerde CMOS-schakeling te voorzien, waarin maatregelen zijn genomen waardoor zelfs bij het afwezig zijn van de klokfrequentie bij het testen van de schakeling door de gebruiker of bij het meten van de schakeling bij de ontwikkeling van het produkt toch geen latch-up-toestand zal kunnen gaan optreden.
30 De geïntegreerde CMOS-schakeling volgens de uitvinding heeft daardoor het kenmerk, dat in de geïntegreerde schakeling een verdere substraatvoorspanningspomp is voorzien, die wordt aangestuurd door een geïntegreerde oscillator, die door schakelmiddelen inschakelbaar is, die door de uitgang van een komparatorschakeling voor 35 het vergelijken van de substraatvoorspanning met een referentie-spanning wordt aangestuurd.
Een geïntegreerde CMOS-schakeling met een dergelijke oscillator en 870 1 278 * PHN 12.149 3 substraatvoorspanningspomp heeft het voordeel dat, indien de substraatvoorspanning niet negatiever is, is dan een in te stellen spanning, bijvoorbeeld -2,2 Volt, deze voorspanningsgenerator automatisch ingeschakeld wordt. Hierdoor kunnen extra substraatstromen 5 tijdens normaal gebruik worden opgevangen maar de substraatvoorspanningsgenerator kan ook als volwaardig fungeren indien tijdens het testen bij de gebruiker of bij het meten van de geïntegreerde schakeling gedurende diens ontwikkeling geen klokpulsen worden aangeboden.
10 De geïntegreerde schakeling volgens de uitvinding zal worden toegelicht aan de hand van een in een tekening weergegeven voorbeeld, in welke tekening een substraatvoorspanningsgenerator is weergegeven.
In een geïntegreerde CMOS-schakeling volgens de 15 uitvinding wordt een oscillator 0 toegepast die met schakelmiddelen S in-en uitschakelbaar is, een vergelijkschakeling CO die de opgewekte substraatvoorspanning VBB vergelijkt met een referentie en een ladingspomp PU voor het opwekken van de substraatvoorspanning VBB' welke pomp PU wordt gestuurd door de uitgang van de oscillator 0. De 20 oscillator 0 bevat een aantal in serie geschakelde versterker- schakelingen 1 tot en met 6 en 8 tot en met 11 waarbij tussen versterker-schakelingen 6 en 8 een met de schakelmiddelen S in- of uitschakelbare versterker is opgenomen. De hier toegepaste schakelmiddelen S met versterkerschakeling vormen een NOR-poort, die twee in serie geschakelde 25 PHOS-transistoren en twee parallel geschakelde NMOS-transistoren bevat.
Van de NOR-poort vormen de P-transistor P15 en de N-transistor N15 de versterkerschakeling die deeluitmaakt van de ringoscillator 0 die de invertoren 1 tot en met 11 bevat. De transistoren P16 en N14 van de NOR-poort vormen de schakelmiddelen S waarmee de ringoscillator 0 wordt in-30 of uitgeschakeld. De uitgang van inverter 11 is verbonden met een ingang van een drijvertrap 12 die de substraatvoorspanningspomp PU aanstuurt. Substraatvoorspanningspompen PU zijn op zich bekend en behoeven verder geen nadere toelichting. De vergelijkschakeling CO bevat een spanningsdeler die tussen de voedingsspanning VQD en de 35 substraatspanning V0B is aangesloten. De spanningsdeler bevat drie transistoren die in serie zijn geschakeld waarbij uitgaande van VDD in serie staan een PMOS-transistor P13 waarvan de stuurelektrode aan massa 8701278 r t PHN 12.149 4 hangt successievelijk een NMOS-transistor waarvan eveneens de stuurelektrode aan massa hangt en een tweede PMOS-transistor waarvan de stuurelektrode met de substraatvoorspanning νββ is verbonden. Een knooppunt 15 tussen de drains van PMOS-transistor P13 en NMOS-transistor 5 N12 is verbonden met een ingang van inverter 13 waarvan de uitgang de schakelmiddelen S oftewel de transistoren P15 en N14 bestuurt. De werking van de vergelijkingsschakeling is als volgt. De transistoren P13 en P20 zijn altijd geleidend en vormen met de NMOS-transistor N12 een spanningsdeler indien deze transistor N12 eveneens geleidend is. De 10 dimensies van deze drie transistor P13, N12 en P20 is zo gekozen dat de ingangsspanning van inverter 13 altijd bij een voldoend lage substraat-spanning laag genoeg is om de uitgang hoog te laten zijn. Dit heeft het gevolg dat de transistor P15 wordt gesperd en de transistor N14 van de schakelmiddelen S geleidend is. Derhalve is de oscillator O 15 uitgeschakeld. Indien nu de substraatvoorspanning VfiB niet negatief genoeg meer is, met andere woorden positiever wordt, zal nu de NMOS-transistor N12 gaan sperren omdat diens stuurelektrode aan massa hangt. De spanning tussen de stuurelektrode en de hoofdelektrode op het knooppunt 14 tussen de NMOS-transistor 12 en de PMOS-transistor 20 is 20 dan niet meer groter dan de drempelspanning van de NMOS-transistor N12. De NMOS-transistor N12 zal daardoor gaan sperren en het knooppunt 15 wordt via de geleidende PMOS-transistor P13 opgeladen. Derhalve zal indien de spanning op knooppunt 15 boven de drempelspanning komt van de inverter 13 de uitgang van deze inverter 13 van hoog naar laag omslaan. 25 Derhalve wordt de PMOS-transistor P15 van de schakelaar S geleidend en de NMOS-transistor N14 van de schakelaar S sperrend. De oscillator 0 is daardoor ingeschakeld. Er wordt derhalve via de drijver 12 en de ladingspomp PO lading gepompt naar het substraat zodat de substraatvoorspanning VgB negatiever wordt. De oscillator O blijft werken tot 30 een voldoend negatieve substraatvoorspanning VBB is opgewerkt. Tijdens het afnemen van de substraatvoorspanning neemt ook de spanning op knooppunt 14 tussen de transistoren N12 en P20 verder af zodat de gate source spanning van transistor N12 toe zal nemen. Wordt nu een voldoend negatieve substraatvoorspanning VBB bereikt, dan zal transistor N12 35 weer stroom gaan geleiden, zodat het knooppunt 15 wordt ontladen. De ingang van inverter 13 wordt van een hoog potentiaal ontladen naar een laag potentiaal zodat de uitgang van inverter 13 een hoog uitgangsniveau 8701278 \ t PHN 12.149 5 verkrijgt en daardoor de oscillator O via de schakelmiddelen S bevattende de transistoren P15 en N14 uitschakelt.
De op zich bekende ladingspomp PU bevat een kapaciteit c, die tussen de inverter 12 en een knooppunt C1 is aangesloten, en twee 5 NHOS-transistoren N10 en N11, die respektievelijk tussen het knooppunt C1 en massa respektievelijk substraat zijn geschakeld. De beide transistoren N10 en N11 zijn op bekende wijze als diode gebruikt. De poapkapaciteit C van bijvoorbeeld 10 pf wordt opgeladen via de NMOS-transistor N10 (de uitgang van inverter 12 is hoog) en ontladen via de 10 transistor n11 naar het substraat. Bij het ontladen zal echter de transistor N11 zich als een bipolaire transistor gedragen, omdat de source van transistor N11 negatiever wordt dan het substraat (op VBB), dat dan als basis fungeert. Echter gedraagt de transistor N10 zich op dezelfde wijze, zodat de transistor N10 wel als MOS-veldeffekt-15 transistor is uitgeschakeld, maar als bipolair element wel stroomgeleidend is. Zijn de transistoren N10 en N11 even groot dan zal de helft van de in de kapaciteit C opgeslagen lading door transistor N10 worden afgevoerd. De ladingspomp PU heeft slechts een rendement van 50%. Wordt nu de transistor N11 groter gemaakt dan de transistor N10 20 (bijvoorbeeld breedte/lengte van N11 is 5x breedte/lengte van de transistor N10) dan is het rendement te verbeteren (bij het voorbeeld tot + 80%).
8701278

Claims (5)

1. Geïntegreerde CMOS-schakeling met. een substraatvoor- spanningsgenerator, die door een externe klokgenerator aanstuurbaar is, welke ook verdere circuits in de geïntegreerde schakeling stuurt, met het kenmerk, dat in de geïntegreerde schakeling in een verdere 5 substraat-voorspanningspomp is voorzien, die wordt aangestuurd door een mee-geintegreerde oscillator, die door schakelmiddelen inschakelbaar is, die door de uitgang van een komparatorschakeling voor het vergelijken van de substraatvoorspanning met een referentiespanning wordt aangestuurd.
2. Geïntegreerde CMOS-schakeling volgens konklusie 1, met het kenmerk, dat de geïntegreerde oscillator een ringoscillator is van een aantal in serie geschakelde invertertrappen, waarbij een invertertrap samen met de schakelmiddelen een NOR-poort vormt.
3. Geïntegreerde CMOS-schakeling volgens konklusie 1 of 2, 15 met het kenmerk, dat de komparatorschakeling wordt gevormd door een inverter en een tussen de positieve voedingsspanning en substraatspanning gezette serieschakeling van een PMOS-transistor een NMOS-transistor en een tweede als diode geschakelde PMOS-transistor, waarbij de eerstgenoemde PMOS en de NMOS-transistor met hun 20 stuurelektrode aan massa zijn gelegd, een knooppunt van de drains ervan verbonden is met de ingang van de inverter en de diode tussen de NMOS-transistor en het substraat is geschakeld.
4. Geïntegreerde CMOS-schakeling met een subtraatvoor-spanningsgenerator, die tussen een eerste knooppunt en een uitgang van 25 een oscillator een kapaciteit bevat, tussen het eerste knooppunt en massa een eerste als diode geschakelde NMOS-transistor bevat en tussen het eerste knooppunt en het substraat een tweede als diode geschakelde NMOS-transistor bevat, met het kenmerk, dat de breedte/lengte-verhouding van de tweede transistor substantieel groter is dan de breedte/lengte-30 verhouding van de eerste transistor.
5. Geïntegreerde CMOS-schakeling volgens konklusie 4, met het kenmerk, dat de breedte/lengte-verhouding van de tweede transistor een faktor 5 groter is dan die van de eerste transistor. 8701278
NL8701278A 1987-05-29 1987-05-29 Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator. NL8701278A (nl)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8701278A NL8701278A (nl) 1987-05-29 1987-05-29 Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator.
US07/094,363 US4820936A (en) 1987-05-29 1987-09-08 Integrated CMOS circuit comprising a substrate bias voltage generator
DE88201025T DE3880735T2 (de) 1987-05-29 1988-05-20 Integrierter CMOS-Kreis mit Substratvorspannungsregler.
EP88201025A EP0293045B1 (en) 1987-05-29 1988-05-20 Integrated cmos circuit comprising a substrate bias voltage generator
JP63127214A JPS63307771A (ja) 1987-05-29 1988-05-26 相補型金属酸化物半導体集積回路
KR1019880006148A KR960013760B1 (ko) 1987-05-29 1988-05-26 Cmos 집적 회로

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8701278A NL8701278A (nl) 1987-05-29 1987-05-29 Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator.
NL8701278 1987-05-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8701278A true NL8701278A (nl) 1988-12-16

Family

ID=19850082

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8701278A NL8701278A (nl) 1987-05-29 1987-05-29 Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4820936A (nl)
EP (1) EP0293045B1 (nl)
JP (1) JPS63307771A (nl)
KR (1) KR960013760B1 (nl)
DE (1) DE3880735T2 (nl)
NL (1) NL8701278A (nl)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5140177A (en) * 1988-12-02 1992-08-18 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Complementary circuit device returnable to normal operation from latch-up phenomenon
JPH0783254B2 (ja) * 1989-03-22 1995-09-06 株式会社東芝 半導体集積回路
JPH04129264A (ja) * 1990-09-20 1992-04-30 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
US5081371A (en) * 1990-11-07 1992-01-14 U.S. Philips Corp. Integrated charge pump circuit with back bias voltage reduction
US5117125A (en) * 1990-11-19 1992-05-26 National Semiconductor Corp. Logic level control for impact ionization sensitive processes
US5162668A (en) * 1990-12-14 1992-11-10 International Business Machines Corporation Small dropout on-chip voltage regulators with boosted power supply
JP2902804B2 (ja) * 1991-04-08 1999-06-07 株式会社東芝 基板バイアス電圧発生回路
US5146110A (en) * 1991-05-22 1992-09-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory with substrate voltage generating circuit for removing unwanted substrate current during precharge cycle memory mode of operation
EP0615668A4 (en) * 1991-10-30 1995-03-01 Xilinx Inc REGULATOR FOR PUMPED VOLTAGE GENERATOR.
JP2937591B2 (ja) * 1991-12-09 1999-08-23 沖電気工業株式会社 基板バイアス発生回路
KR950002015B1 (ko) * 1991-12-23 1995-03-08 삼성전자주식회사 하나의 오실레이터에 의해 동작되는 정전원 발생회로
US5347172A (en) * 1992-10-22 1994-09-13 United Memories, Inc. Oscillatorless substrate bias generator
KR0124046B1 (ko) * 1993-11-18 1997-11-25 김광호 반도체메모리장치의 승압레벨 감지회로
JPH07322606A (ja) * 1994-05-27 1995-12-08 Sony Corp 昇圧回路及びこれを用いた固体撮像装置
US5731736A (en) * 1995-06-30 1998-03-24 Dallas Semiconductor Charge pump for digital potentiometers
JPH09162713A (ja) * 1995-12-11 1997-06-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
DE69805011T2 (de) * 1997-01-09 2002-12-12 Asulab Sa Mit photovoltaischer Zelle funktionierendes elektronisches Gerät, insbesondere Zeitmesswerk
CH691010A5 (fr) * 1997-01-09 2001-03-30 Asulab Sa Appareil électrique fonctionnant à l'aide d'une source photovoltaïque, notamment pièce d'horlogerie.
US6014053A (en) * 1997-05-12 2000-01-11 Philips Electronics North America Corporation Amplifier MOS biasing circuit for a avoiding latch-up
KR100505597B1 (ko) * 1998-03-17 2005-10-12 삼성전자주식회사 래치업을억제하는벌크바이어스전압발생회로및그발생방법
US6141200A (en) * 1998-04-20 2000-10-31 International Business Machines Corporation Stacked PFET off-chip driver with a latch bias generator for overvoltage protection
US6140630A (en) * 1998-10-14 2000-10-31 Micron Technology, Inc. Vcc pump for CMOS imagers
US6825878B1 (en) 1998-12-08 2004-11-30 Micron Technology, Inc. Twin P-well CMOS imager
US7709777B2 (en) * 2003-06-16 2010-05-04 Micron Technology, Inc. Pumps for CMOS imagers
US7061296B2 (en) 2003-12-19 2006-06-13 Infineon Technologies Ag Circuit arrangement for generating a digital clock signal
FR2896057A1 (fr) * 2006-01-12 2007-07-13 St Microelectronics Sa Procede et dispositif de generation d'un nombre aleatoire dans un peripherique usb
US8638135B2 (en) * 2011-10-13 2014-01-28 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit having latch-up recovery circuit
US10516385B2 (en) 2017-03-31 2019-12-24 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Ring oscillator, controlling circuit and methods for realignment
US10461723B2 (en) * 2017-11-30 2019-10-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Full range realignment ring oscillator

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4142114A (en) * 1977-07-18 1979-02-27 Mostek Corporation Integrated circuit with threshold regulation
JPS5559756A (en) * 1978-10-30 1980-05-06 Fujitsu Ltd Semiconductor device
JPS55107255A (en) * 1979-02-12 1980-08-16 Mitsubishi Electric Corp Substrate potential generating circuit device
DE2966592D1 (en) * 1979-03-05 1984-03-01 Motorola Inc Substrate bias regulator
JPS5632758A (en) * 1979-08-27 1981-04-02 Fujitsu Ltd Substrate bias generating circuit
JPS6033314B2 (ja) * 1979-11-22 1985-08-02 富士通株式会社 基板バイアス電圧発生回路
JPS5785253A (en) * 1980-11-17 1982-05-27 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS57186351A (en) * 1981-05-12 1982-11-16 Fujitsu Ltd Semiconductor device
JPS57193054A (en) * 1981-05-22 1982-11-27 Fujitsu Ltd Substrate bias generating circuit
US4439692A (en) * 1981-12-07 1984-03-27 Signetics Corporation Feedback-controlled substrate bias generator
JPS5965467A (ja) * 1982-10-06 1984-04-13 Matsushita Electronics Corp 基板電位発生回路
JPS59193056A (ja) * 1983-04-15 1984-11-01 Hitachi Ltd 基板バイアス電圧発生回路

Also Published As

Publication number Publication date
DE3880735D1 (de) 1993-06-09
KR880014438A (ko) 1988-12-23
JPS63307771A (ja) 1988-12-15
EP0293045B1 (en) 1993-05-05
KR960013760B1 (ko) 1996-10-10
DE3880735T2 (de) 1993-11-11
EP0293045A1 (en) 1988-11-30
US4820936A (en) 1989-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8701278A (nl) Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator.
US5898335A (en) High voltage generator circuit
US5128560A (en) Boosted supply output driver circuit for driving an all N-channel output stage
US5034625A (en) Semiconductor substrate bias circuit
US4115710A (en) Substrate bias for MOS integrated circuit
US6249169B1 (en) Transistor output circuit
EP0202074A1 (en) Bias generator circuit
EP0219994A2 (en) Temperature compensated complementary metal-insulator-semiconductor oscillator
JPH0951266A (ja) 基板電圧を所望の値に維持するための回路及び方法
US6172886B1 (en) Apparatus for voltage multiplication with output voltage having low dependence on supply voltage
US4710647A (en) Substrate bias generator including multivibrator having frequency independent of supply voltage
US6677798B2 (en) High speed voltage level shifter
US5179296A (en) Charge pump substrate bias circuit
US5886567A (en) Back bias voltage level detector
JP2553816B2 (ja) 半導体装置の内部電源発生回路
US4503339A (en) Semiconductor integrated circuit device having a substrate voltage generating circuit
US6924694B2 (en) Switch circuit
JPS61222318A (ja) パワ−オンリセツト回路
US7002400B2 (en) Input circuits including boosted voltage and related methods
US5563548A (en) Output voltage controlling circuit in a negative charge pump
US6480040B2 (en) Device for the detection of a high voltage greater than a supply voltage
KR0120560B1 (ko) 고전압 발생회로
KR970010650B1 (ko) 반도체집적회로의 고전압 검출회로
KR19990074796A (ko) 디램의 파워-오프 회로
KR19990019750A (ko) 기판 바이어스전압 감지장치

Legal Events

Date Code Title Description
A1C A request for examination has been filed
BV The patent application has lapsed