NL8502476A - Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers. - Google Patents

Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers. Download PDF

Info

Publication number
NL8502476A
NL8502476A NL8502476A NL8502476A NL8502476A NL 8502476 A NL8502476 A NL 8502476A NL 8502476 A NL8502476 A NL 8502476A NL 8502476 A NL8502476 A NL 8502476A NL 8502476 A NL8502476 A NL 8502476A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
test
integrated circuit
series
information
integrated circuits
Prior art date
Application number
NL8502476A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Priority to NL8502476A priority Critical patent/NL8502476A/nl
Priority to DE3627638A priority patent/DE3627638C2/de
Priority to US06/902,910 priority patent/US4791358A/en
Priority to SE8603749A priority patent/SE469995B/sv
Priority to JP61209756A priority patent/JP2873297B2/ja
Priority to CA000517650A priority patent/CA1257012A/en
Priority to GB8621538A priority patent/GB2180355B/en
Priority to FR8612607A priority patent/FR2587124B1/fr
Publication of NL8502476A publication Critical patent/NL8502476A/nl
Priority to US07/239,714 priority patent/US4879717A/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318544—Scanning methods, algorithms and patterns
    • G01R31/31855—Interconnection testing, e.g. crosstalk, shortcircuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
NL8502476A 1985-09-11 1985-09-11 Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers. NL8502476A (nl)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8502476A NL8502476A (nl) 1985-09-11 1985-09-11 Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers.
DE3627638A DE3627638C2 (de) 1985-09-11 1986-08-14 Verfahren zum Prüfen von auf Träger angeordneten integrierten Schaltungen, Träger mit derartigen integrierten Schaltungen sowie integrierte Schaltung und Prüfanordnung zum Durchführen des Verfahrens
US06/902,910 US4791358A (en) 1985-09-11 1986-09-02 Integrated circuits, carriers therefor and testing apparatus and method for the foregoing
SE8603749A SE469995B (sv) 1985-09-11 1986-09-08 Förfarande för testning av integrerade kretsar som är monterade på en bärare
JP61209756A JP2873297B2 (ja) 1985-09-11 1986-09-08 集積回路搭載担体のテスト方法、該集積回路搭載担体、該担体に搭載する集積回路及び該担体テスト用のテスト装置
CA000517650A CA1257012A (en) 1985-09-11 1986-09-08 Testing of combination of carrier and integrated circuits mounted thereon
GB8621538A GB2180355B (en) 1985-09-11 1986-09-08 Testing assemblies of interconnected integrated circuits
FR8612607A FR2587124B1 (fr) 1985-09-11 1986-09-09 Procede pour tester des supports portant plusieurs circuits integres a fonctionnement numerique, support pourvu de tels circuits, circuit integre propre a etre monte sur un tel support et dispositif de test pour tester de tels supports
US07/239,714 US4879717A (en) 1985-09-11 1988-09-02 Testable carriers for integrated circuits

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8502476 1985-09-11
NL8502476A NL8502476A (nl) 1985-09-11 1985-09-11 Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8502476A true NL8502476A (nl) 1987-04-01

Family

ID=19846534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8502476A NL8502476A (nl) 1985-09-11 1985-09-11 Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers.

Country Status (8)

Country Link
US (2) US4791358A (de)
JP (1) JP2873297B2 (de)
CA (1) CA1257012A (de)
DE (1) DE3627638C2 (de)
FR (1) FR2587124B1 (de)
GB (1) GB2180355B (de)
NL (1) NL8502476A (de)
SE (1) SE469995B (de)

Families Citing this family (64)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL192801C (nl) * 1986-09-10 1998-02-03 Philips Electronics Nv Werkwijze voor het testen van een drager met meerdere digitaal-werkende geïntegreerde schakelingen, geïntegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op een aldus te testen drager, en drager voorzien van meerdere van zulke geïntegreerde schakelingen.
NL8801362A (nl) * 1988-05-27 1989-12-18 Philips Nv Elektronische module bevattende een eerste substraatelement met een funktioneel deel, alsmede een tweede substraatelement voor het testen van een interkonnektiefunktie, voet bevattende zo een tweede substraatelement, substraatelement te gebruiken als zo een tweede substraatelement en elektronisch apparaat bevattende een plaat met gedrukte bedrading en ten minste twee zulke elektronische modules.
NL8801835A (nl) * 1988-07-20 1990-02-16 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het testen van meervoudige voedingsverbindingen van een geintegreerde schakeling op een printpaneel.
US6304987B1 (en) 1995-06-07 2001-10-16 Texas Instruments Incorporated Integrated test circuit
US4862072A (en) * 1988-09-08 1989-08-29 General Electric Company Distributed access serial port test arrangement for integrated circuits
US4996691A (en) * 1988-09-21 1991-02-26 Northern Telecom Limited Integrated circuit testing method and apparatus and integrated circuit devices for use therewith
US5077738A (en) * 1988-12-30 1991-12-31 Intel Corporation Test mode enable scheme for memory
US4875003A (en) * 1989-02-21 1989-10-17 Silicon Connections Corporation Non-contact I/O signal pad scan testing of VLSI circuits
JPH02260200A (ja) * 1989-03-30 1990-10-22 Sharp Corp 複数ビット並列テスト機能を有する半導体記憶装置における複数ビット並列機能テスト方法
JP3005250B2 (ja) 1989-06-30 2000-01-31 テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド バスモニター集積回路
US5115435A (en) * 1989-10-19 1992-05-19 Ncr Corporation Method and apparatus for bus executed boundary scanning
US5168501A (en) * 1990-02-06 1992-12-01 Unisys Corporation Method for checking hardware errors
US6675333B1 (en) * 1990-03-30 2004-01-06 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit with serial I/O controller
KR0169736B1 (ko) * 1990-03-30 1999-01-15 엔. 라이스 머레트 데이타 통신 인터페이스 및 이의 통신 방법
US5498972A (en) * 1990-08-15 1996-03-12 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Device for monitoring the supply voltage on integrated circuits
SE466875B (sv) * 1990-08-15 1992-04-13 Ellemtel Utvecklings Ab Anordning foer att oevervaka matningsspaenningen lokalt paa integrerad krets
US5293123A (en) * 1990-10-19 1994-03-08 Tandem Computers Incorporated Pseudo-Random scan test apparatus
US5122753A (en) * 1990-12-20 1992-06-16 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of testing electrical components for defects
US5369645A (en) * 1991-07-02 1994-11-29 Hewlett-Packard Company Testing integrated circuit pad input and output structures
DE4132072A1 (de) * 1991-09-26 1993-04-08 Grundig Emv Pruefeinrichtung fuer integrierte schaltkreise
US5377198A (en) * 1991-11-27 1994-12-27 Ncr Corporation (Nka At&T Global Information Solutions Company JTAG instruction error detection
US5423050A (en) * 1991-11-27 1995-06-06 Ncr Corporation Intermodule test across system bus utilizing serial test bus
US5343478A (en) * 1991-11-27 1994-08-30 Ncr Corporation Computer system configuration via test bus
US5325368A (en) * 1991-11-27 1994-06-28 Ncr Corporation JTAG component description via nonvolatile memory
US5410551A (en) * 1992-01-02 1995-04-25 Andahl Corporation Net verification method and apparatus
US5260649A (en) * 1992-01-03 1993-11-09 Hewlett-Packard Company Powered testing of mixed conventional/boundary-scan logic
US5448166A (en) * 1992-01-03 1995-09-05 Hewlett-Packard Company Powered testing of mixed conventional/boundary-scan logic
US5390191A (en) * 1992-01-31 1995-02-14 Sony Corporation Apparatus and method for testing the interconnection between integrated circuits
TW253097B (de) * 1992-03-02 1995-08-01 At & T Corp
US5341380A (en) * 1992-03-19 1994-08-23 Nec Corporation Large-scale integrated circuit device
US5270642A (en) * 1992-05-15 1993-12-14 Hewlett-Packard Company Partitioned boundary-scan testing for the reduction of testing-induced damage
GB9217728D0 (en) * 1992-08-20 1992-09-30 Texas Instruments Ltd Method of testing interconnections between integrated circuits in a circuit
DE4322249A1 (de) * 1992-10-23 1994-04-28 Marquardt Gmbh Bus-Schalter
EP0642083A1 (de) * 1993-09-04 1995-03-08 International Business Machines Corporation Prüfschaltkreis und Verfahren zum Prüfen von Chipverbindungen
US5581176A (en) * 1993-05-24 1996-12-03 North American Philips Corporation Analog autonomous test bus framework for testing integrated circuits on a printed circuit board
GB2278689B (en) * 1993-06-02 1997-03-19 Ford Motor Co Method and apparatus for testing integrated circuits
US5864565A (en) 1993-06-15 1999-01-26 Micron Technology, Inc. Semiconductor integrated circuit having compression circuitry for compressing test data, and the test system and method for utilizing the semiconductor integrated circuit
US5951703A (en) * 1993-06-28 1999-09-14 Tandem Computers Incorporated System and method for performing improved pseudo-random testing of systems having multi driver buses
WO1995016924A1 (en) * 1993-12-16 1995-06-22 Philips Electronics N.V. Device for testing the connection between an output of a means which outputs a fixed logic value and the input of a circuit
JP3555953B2 (ja) * 1993-12-21 2004-08-18 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴイ プリング抵抗を備える接続部をテストする装置
KR970011651B1 (ko) * 1994-02-02 1997-07-12 삼성전자 주식회사 반도체 소자의 버스라인 블록화에 의한 단선 검사장치 및 검사방법
JPH07306883A (ja) * 1994-05-12 1995-11-21 Fujitsu Ltd パターン評価支援装置
US5544107A (en) * 1994-08-22 1996-08-06 Adaptec, Inc. Diagnostic data port for a LSI or VLSI integrated circuit
JP2581018B2 (ja) * 1994-09-12 1997-02-12 日本電気株式会社 データ処理装置
US5969538A (en) 1996-10-31 1999-10-19 Texas Instruments Incorporated Semiconductor wafer with interconnect between dies for testing and a process of testing
US5745493A (en) * 1995-11-20 1998-04-28 International Business Machines Corporation Method and system for addressing multiple components on a communication bus
US6011387A (en) * 1996-08-12 2000-01-04 Philips Electronics North America Corporation Analog autonomous test bus framework for testing integrated circuits on a printed circuit board
US5857085A (en) * 1996-11-13 1999-01-05 Cypress Semiconductor Corporation Interface device for XT/AT system devices on high speed local bus
DE69836625D1 (de) * 1997-03-21 2007-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Prüfen der funktionellen blöcke in einer integrierten halbleiterschaltung
US6242269B1 (en) * 1997-11-03 2001-06-05 Texas Instruments Incorporated Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits
US6405335B1 (en) 1998-02-25 2002-06-11 Texas Instruments Incorporated Position independent testing of circuits
US6323694B1 (en) 1998-04-01 2001-11-27 Ltx Corporation Differential comparator with a programmable voltage offset for use in an automatic tester
US6052810A (en) * 1998-07-07 2000-04-18 Ltx Corporation Differential driver circuit for use in automatic test equipment
GB2344184A (en) * 1998-11-26 2000-05-31 Ericsson Telefon Ab L M Testing integrated circuits
US6654913B1 (en) * 1999-02-17 2003-11-25 International Business Machines Corporation Alternate port apparatus for manufacturing test of integrated serial bus and method therefor
FR2793328B1 (fr) * 1999-05-07 2001-06-29 Thomson Multimedia Sa Procede d'aide a la detection de defauts de fonctionnement dans un appareil numerique et appareil numerique associe
DE19940902C1 (de) * 1999-08-27 2001-06-21 Wolfgang Runge Prüfeinrichtung
US6728915B2 (en) 2000-01-10 2004-04-27 Texas Instruments Incorporated IC with shared scan cells selectively connected in scan path
US6769080B2 (en) 2000-03-09 2004-07-27 Texas Instruments Incorporated Scan circuit low power adapter with counter
US7487419B2 (en) * 2005-06-15 2009-02-03 Nilanjan Mukherjee Reduced-pin-count-testing architectures for applying test patterns
US7386086B1 (en) * 2005-10-03 2008-06-10 Westinghouse Electric Co. Llc Printed circuit card
JP5365381B2 (ja) * 2009-07-09 2013-12-11 大日本印刷株式会社 回路板の検査方法、回路板の検査装置
JP5855616B2 (ja) * 2013-09-12 2016-02-09 大日本印刷株式会社 回路板の検査方法、回路板の検査装置
CN107861019B (zh) * 2017-11-23 2023-09-05 深圳市巴丁微电子有限公司 一种h桥的检测系统及检测方法

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3761695A (en) * 1972-10-16 1973-09-25 Ibm Method of level sensitive testing a functional logic system
US4241307A (en) * 1978-08-18 1980-12-23 International Business Machines Corporation Module interconnection testing scheme
US4225957A (en) * 1978-10-16 1980-09-30 International Business Machines Corporation Testing macros embedded in LSI chips
US4244048A (en) * 1978-12-29 1981-01-06 International Business Machines Corporation Chip and wafer configuration and testing method for large-scale-integrated circuits
JPS5672367A (en) * 1979-11-17 1981-06-16 Fujitsu Ltd Circuit for test
NL8004176A (nl) * 1980-07-21 1982-02-16 Philips Nv Inrichting voor het testen van een schakeling met digitaal werkende en kombinatorisch werkende onderdelen.
US4357703A (en) * 1980-10-09 1982-11-02 Control Data Corporation Test system for LSI circuits resident on LSI chips
NL8005976A (nl) * 1980-10-31 1982-05-17 Philips Nv Tweedraads-bussysteem met een kloklijndraad en een datalijndraad voor het onderling verbinden van een aantal stations.
US4479088A (en) * 1981-01-16 1984-10-23 Burroughs Corporation Wafer including test lead connected to ground for testing networks thereon
US4494066A (en) * 1981-07-02 1985-01-15 International Business Machines Corporation Method of electrically testing a packaging structure having n interconnected integrated circuit chips
JPS5811875A (ja) * 1981-07-14 1983-01-22 Matsushita Electronics Corp 集積回路素子の自動測定装置
JPS58137060A (ja) * 1982-02-10 1983-08-15 Hitachi Ltd Ｌｓｉ搭載パツケ−ジの診断方式
US4509008A (en) * 1982-04-20 1985-04-02 International Business Machines Corporation Method of concurrently testing each of a plurality of interconnected integrated circuit chips
US4503386A (en) * 1982-04-20 1985-03-05 International Business Machines Corporation Chip partitioning aid (CPA)-A structure for test pattern generation for large logic networks
EP0104293B1 (de) * 1982-09-28 1986-12-30 International Business Machines Corporation Anordnung zum Laden und Lesen verschiedener Kippschaltungsketten in einem Datenverarbeitungssystem
DE3368770D1 (en) * 1982-11-20 1987-02-05 Int Computers Ltd Testing digital electronic circuits
US4580137A (en) * 1983-08-29 1986-04-01 International Business Machines Corporation LSSD-testable D-type edge-trigger-operable latch with overriding set/reset asynchronous control
JPS6082871A (ja) * 1983-10-13 1985-05-11 Nec Corp 論理集積回路
US4534028A (en) * 1983-12-01 1985-08-06 Siemens Corporate Research & Support, Inc. Random testing using scan path technique
JPH0772744B2 (ja) * 1984-09-04 1995-08-02 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
JPS61204744A (ja) * 1985-02-05 1986-09-10 Hitachi Ltd 診断機能を有するｒａｍ内蔵ｌｓｉおよびその診断方法
US4728883A (en) * 1985-03-15 1988-03-01 Tektronix, Inc. Method of testing electronic circuits
US4710931A (en) * 1985-10-23 1987-12-01 Texas Instruments Incorporated Partitioned scan-testing system
US4710933A (en) * 1985-10-23 1987-12-01 Texas Instruments Incorporated Parallel/serial scan system for testing logic circuits

Also Published As

Publication number Publication date
CA1257012A (en) 1989-07-04
GB8621538D0 (en) 1986-10-15
SE8603749L (sv) 1987-03-12
US4791358A (en) 1988-12-13
SE8603749D0 (sv) 1986-09-08
US4879717A (en) 1989-11-07
JPS6262275A (ja) 1987-03-18
GB2180355A (en) 1987-03-25
SE469995B (sv) 1993-10-18
GB2180355B (en) 1990-01-24
DE3627638A1 (de) 1987-03-19
FR2587124A1 (fr) 1987-03-13
FR2587124B1 (fr) 1987-12-18
DE3627638C2 (de) 2000-04-06
JP2873297B2 (ja) 1999-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8502476A (nl) Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers.
KR0176697B1 (ko) 회로판 테스트 시스템 및 방법
EP0254981B1 (de) Diagnoseschaltung
NL192801C (nl) Werkwijze voor het testen van een drager met meerdere digitaal-werkende geïntegreerde schakelingen, geïntegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op een aldus te testen drager, en drager voorzien van meerdere van zulke geïntegreerde schakelingen.
US5754827A (en) Method and apparatus for performing fully visible tracing of an emulation
US5428622A (en) Testing architecture with independent scan paths
EP0430569B1 (de) Fehlertolerante Verbindungsnetze
JPS63243890A (ja) 半導体集積回路装置
US5581564A (en) Diagnostic circuit
KR910008920B1 (ko) 다중-모우드 카운터 회로망 및 이 회로망의 동작 검사 방법
US4720672A (en) Testability system
KR900008804B1 (ko) 선견 터미날 카운터 및 터미날 카운트 신호 발생 방법
JP2002100738A (ja) 半導体集積回路及びテスト容易化回路の自動挿入方法
US5307472A (en) Data transfer interface module
JP3190364B2 (ja) 検査方法及び回路
US5513187A (en) Process for testing integrated circuits with at least one logic circuit and testable integrated circuit
US20030068000A1 (en) System and method for connecting a host and a target
US20080104462A1 (en) Serializer/de-serializer bus controller inferface
WO2000031638A1 (en) Method of testing integrated circuits
JP2874248B2 (ja) 診断用スキャンパス付き電子回路
JP4151241B2 (ja) 半導体試験装置のピンレジスタ回路
EP0926597B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur vollsichtbaren Ablaufverfolgung einer Emulation
JP2885278B2 (ja) 半導体論理装置及び半導体論理回路の検査方法
KR920007781Y1 (ko) 동기식 병렬 전송방법을 이용한 버스정합부
JPH0325229Y2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed