MXPA06012042A - Aparato y metodo para el marcado automatico de defectos sobre bandas de material. - Google Patents

Aparato y metodo para el marcado automatico de defectos sobre bandas de material.

Info

Publication number
MXPA06012042A
MXPA06012042A MXPA06012042A MXPA06012042A MXPA06012042A MX PA06012042 A MXPA06012042 A MX PA06012042A MX PA06012042 A MXPA06012042 A MX PA06012042A MX PA06012042 A MXPA06012042 A MX PA06012042A MX PA06012042 A MXPA06012042 A MX PA06012042A
Authority
MX
Mexico
Prior art keywords
band
anomalies
marks
location
marker
Prior art date
Application number
MXPA06012042A
Other languages
English (en)
Inventor
Steven P Floeder
Carl J Skeps
James A Masterman
Original Assignee
3M Innovative Properties Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 3M Innovative Properties Co filed Critical 3M Innovative Properties Co
Publication of MXPA06012042A publication Critical patent/MXPA06012042A/es

Links

Classifications

    • DTEXTILES; PAPER
    • D06TREATMENT OF TEXTILES OR THE LIKE; LAUNDERING; FLEXIBLE MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • D06HMARKING, INSPECTING, SEAMING OR SEVERING TEXTILE MATERIALS
    • D06H3/00Inspecting textile materials
    • DTEXTILES; PAPER
    • D06TREATMENT OF TEXTILES OR THE LIKE; LAUNDERING; FLEXIBLE MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • D06HMARKING, INSPECTING, SEAMING OR SEVERING TEXTILE MATERIALS
    • D06H1/00Marking textile materials; Marking in combination with metering or inspecting
    • D06H1/02Marking by printing or analogous processes
    • DTEXTILES; PAPER
    • D06TREATMENT OF TEXTILES OR THE LIKE; LAUNDERING; FLEXIBLE MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • D06HMARKING, INSPECTING, SEAMING OR SEVERING TEXTILE MATERIALS
    • D06H3/00Inspecting textile materials
    • D06H3/08Inspecting textile materials by photo-electric or television means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • G01N2021/8917Paper, also ondulated
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • G01N2021/8918Metal
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N2021/8927Defects in a structured web
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/898Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
    • G01N21/8983Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood for testing textile webs, i.e. woven material

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)
  • Details Or Accessories Of Spraying Plant Or Apparatus (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

Un sistema (20) para la caracterizacion de bandas (30) que permite la identificacion de regiones anomalas sobre la banda para que sea realizada en un primer tiempo y lugar, y permite que la ubicacion y el marcado de los defectos actuales sean realizados en un segundo tiempo y lugar.

Description

combinado con el tiempo y el lugar de conversión del producto. Los métodos de identificación de regiones defectuosas fluctúan desde la clasificación de rollos que utilizan mapas electrónicos hasta los distintos mecanismos de marcado. La clasificación de rollos sería adecuada si alguien quisiera juzgar las estadísticas de grosor de la banda. Sin embargo, con el fin de remover las regiones específicas defectuosas, el rollo debe ser inspeccionado una vez más . Los marcadores tienden a ser utilizados para señalar sólo el borde de la banda, y en muchos casos esto es suficiente. Una vez que la marca sea identificada sobre el borde de la banda, alguien remueve normalmente la porción defectuosa. Desafortunadamente, existen más situaciones que se generan en donde el marcado de borde de las bandas no es suficiente. Estas situaciones incluyen: 1) Los defectos difíciles de identificar posteriormente, de manera que aún con la presencia de una marca de borde las personas podrían tener un tiempo muy difícil para encontrar el defecto. Las bandas anchas y los defectos pequeños componen esta situación. 2) Las situaciones en donde el rollo inicial es deslizado hacia rollos más pequeños, de manera que la marca de borde ya no esté presente en los rollos más angostos . Además de estas dificultades, otra preocupación o problema se genera durante la manufactura por el deseo de elaborar el producto "justo a tiempo" . La manufactura del producto sólo cuando los clientes lo requieren permite que la industria reduzca su inventario de los bienes terminados, lo cual origina ahorros para los consumidores.- Sin embargo, la consecución de este objetivo a menudo obliga a que los fabricantes trabajen para desarrollar sistemas y dispositivos que les permitan un cambio rápido con respecto a varios productos . Sumario de la Invención Los campos de inspección y marcado de defecto de la banda son adicionalmente beneficiados por el presente sistema a través del cual el marcado es aplazado desde el momento de la inspección. Esto permite la identificación sólo de aquellas manchas que sean consideradas como defectos con respecto al uso final contemplado de la banda, incluso cuando éste uso final sea seleccionado como "justo a tiempo", inmediatamente antes de la conversión final de la banda en su forma terminada . La presente invención proporciona un sistema para la caracterización de las bandas que permite que la identificación de las regiones anómalas sobre la banda sea efectuada en un primer tiempo y lugar, y permite que la ubicación y el marcado de los defectos actuales sean realizados en un segundo tiempo y lugar. Esto permite la selección de lo que constituye un defecto actual con respecto al uso final contemplado de la banda para que sea elaborada "justo a tiempo" . El desperdicio de material es reducido debido a que los criterios de lo que constituye los defectos que podrían descalificar una porción de la banda para un uso final particular puesto que ya no se necesita ser equivalente a lo que es utilizado para las aplicaciones de uso final más demandantes . En un primer aspecto, la invención puede ser pensada como un método de análisis de las características de una banda de material que comprende : la formación de imagen de una porción secuencial de la banda que proporcione la información digital ; el procesamiento de la información digital con un algoritmo inicial que identifique las regiones sobre la banda que contienen anomalías; la colocación de marcas de referencia sobre la banda; el registro de la información de posición que ubique las regiones identificadas con relación a las marcas de referencia; y la aplicación de las marcas de ubicación en la banda que identifiquen la posición al menos de algunas de las anomalías, utilizando la información de posición y las marcas de referencia como una guía. En la mayoría de las modalidades convenientes del método, la posición sólo de las anomalías, que califican como defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda, es identificada con marcas de ubicación. Para realizar el método, es frecuentemente ventajoso llevar a cabo la extracción de regiones identificadas de la información digital y además, el análisis de las regiones extraídas que sean identificadas al menos con un algoritmo subsiguiente para determinar qué anomalías representan los defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. Las etapas son convenientemente conseguidas utilizando las técnicas descritas en la Solicitud de Patente copendiente y co-asignada de los Estados Unidos 10/669, 197 "Apparatus And Method For Automated Inspection Of Moving Webs By Reprocessing Image Information" (Archivo de Apoderado No .58695US002 ) . Siguiendo la guía de la referencia recién mencionada, será frecuentemente ventajosa la realización del guardado o almacenamiento temporal de las regiones identificadas antes de analizarlas, aunque hasta un alcance en el que la información guardada o almacenada en forma temporal sea analizada después que la- formación de imagen haya sido realizada sobre toda la banda. Cuando sea conveniente que el usuario del método realice la identificación de las regiones anómalas sobre la banda en un primer tiempo y lugar y que efectúe la ubicación y el marcado de los defectos actuales en un segundo tiempo y lugar, también será normalmente conveniente que se realice el arrollamiento de la banda sobre un rollo entre la etapa de colocación y la etapa de aplicación. El rollo enrollado puede ser entonces embarcado hacia un lugar conveniente junto con la información almacenada acerca de sus anomalías superficiales, en donde podría esperarse que sea tomada la decisión acerca de la aplicación del rollo para un uso final específico. En función del uso final exacto, podría ser conveniente colocar las marcas de ubicación sobre o adyacentes a las anomalías cuya posición identifican, o podría ser conveniente colocar las marcas de ubicación, de manera que estén separadas en un modo predeterminado de las anomalías cuya posición identifican. En el segundo aspecto, la invención es un sistema para el marcado de una banda de material. El sistema incluye un marcador de referencia para la aplicación de marcas de referencia en la banda y un módulo de inspección para la formación de imagen de una porción secuencial de la banda a fin de proporcionar la información digital, el procesamiento de la información digital con un algoritmo inicial para identificar las regiones sobre la banda que contienen anomalías, y el registro de la información de posición que ubica las regiones identificadas con relación a las marcas de referencia. El sistema también incluye un lector de referencia que realiza la lectura y proporciona la información de ubicación de las marcas de referencia, un marcador de banda que aplica señales de ubicación en la banda y un controlador del marcador de banda que regula el marcador de banda para así aplicar las marcas de ubicación en la banda que identifiquen la posición por lo menos de algunas de las anomalías, utilizando la información de posición y la información de ubicación como una guía. En una modalidad preferida, el marcador de banda aplica las marcas de ubicación que identifican la posición sólo de las anomalías que califican como defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. En estas modalidades, es ventajosa la colocación del módulo de inspección para extraer las regiones identificadas de la información digital. A continuación, el sistema además podría incluir un procesador asociado con el controlador del marcador de banda para analizar las regiones extraídas que son identificadas al menos con un algoritmo subsiguiente con el objeto de determinar qué anomalías representan los defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. El usuario del sistema podría realizar la identificación de las regiones anómalas sobre la banda en un primer tiempo y lugar y además podría efectuar la ubicación y el marcado de los defectos actuales en un segundo tiempo y lugar. En este ejemplo, también es normalmente conveniente que el módulo de inspección guarde o almacene en forma temporal las regiones identificadas para el procesador. En ciertas modalidades, el marcador de referencia y el módulo de' inspección podrían ser asociados con un primer aparato de manejo de banda y podrían tener el lector de referencia, el marcador de banda y el controlador del marcador de banda asociados con un segundo aparato de manejo de banda. Otras características y ventajas serán aparentes a partir de la siguiente descripción de las modalidades de la misma, y a partir de las reivindicaciones. Definiciones Para los propósitos de la presente invención, los siguientes términos utilizados en esta solicitud son definidos como sigue: el término "banda" significa una hoja de material que tiene una dimensión fija en una dirección y una longitud ya sea predeterminada o no determinada en la dirección ortogonal; el término "marca de referencia" significa un identificador de símbolo o numérico que es utilizado para reconocer únicamente una posición particular; el término "aplicación específica" significa que define los requerimientos del producto en base a su uso pretendido; y los términos "anomalía" o "anomalías" significan una desviación del producto normal que podría o no ser un defecto, en función de sus características y severidad. Breve Descripción de las Figuras En las distintas figuras adjuntas, las mismas partes soportan los mismos números de referencia; y: La Figura 1 ilustra una vista esquemática de un sistema de ejemplo de acuerdo con la presente invención; La Figura 2 ilustra una forma conveniente para una marca de referencia utilizada en conexión con la presente invención; y La Figura 3 ilustra una vista en perspectiva de una porción de un marcador de banda adecuado para uso en conexión con la presente invención. Descripción Detallada de la Invención A continuación, con referencia a la Figura 1, se ilustra una vista esquemática del flujo de información y material a través de un método de ejemplo 20 de acuerdo con la presente invención. El aparato y el método 20 asociados con la práctica de la presente invención podrían ser generalmente considerados como dos módulos distintos, un módulo de inspección 24 y un módulo de · marcado 26. No es un requerimiento de la invención que el módulo de inspección 24 y el módulo de marcado 26 sean separados como se ilustra en la Figura 1, aunque muchas de la mayoría de las modalidades preferidas son situadas de esta manera. El proceso comienza en la primera etapa 28. El módulo de inspección 24 es adaptado para actuar sobre una banda de material 30 que se mueve en la dirección DI. Muchos tipos diferentes de materiales de banda son adecuados para uso con la presente invención, como será discutido en mayor detalle más adelante . Podría ser preferido el suministro de la dirección para la banda 30 en el comienzo del módulo de inspección 24 y, cuando éste sea el caso, podría emplearse un sensor de borde 32 , su retroalimentación de información hacia cualquier mecanismo conveniente de dirección o guía de banda. Entonces, la banda 30 es dirigida por debajo de la cámara 34 , que se encuentra situada para que sea capaz de formar la imagen de la banda 30 cuando ésta sea iluminada por el dispositivo de iluminación 36 . Aunque la figura ilustra la banda iluminada por la luz reflejada, también podría ser' empleada la luz trasmitida o la luz transflectada. La información digital que proviene de la cámara 34 es dirigida hacia un procesador 38 el cual ejecuta la información digital con un algoritmo inicial para identificar las regiones sobre la banda 30 que contienen anomalías. En la mayoría de las modalidades preferidas, el procesador 38 utiliza un algoritmo inicial simple que puede ejecutarse en tiempo real y al menos es capaz de identificar las regiones que son anómalas. Entonces, el procesador 38 extrae las regiones identificadas de la información digital para su consideración posterior. En estas modalidades, el método incluye la realización de esta consideración al analizar las regiones identificadas que son extraídas al menos con un algoritmo subsiguiente para determinar qué anomalías representan los defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. Este análisis puede ser realizado por el módulo de inspección 24, o por el módulo de marcado 26, o por un módulo intermedio adecuado y en función de la aplicación exacta, las ventajas podrían ser acumuladas o aumentadas a partir de cualquiera de estas posibilidades. Sin consideración, a menudo se prefiere guardar o almacenar en forma temporal las regiones identificadas antes de su análisis . Durante la realización del método de la presente invención, es necesaria la colocación de las marcas de referencia 40 sobre la banda 30 y posteriormente, el registro de la información de posición que ubica las regiones identificadas con relación a estas marcas de referencia 40. Las marcas de referencia 40 podrían ser colocadas sobre la banda 30 antes de entrar en el módulo de inspección 24, en tal caso, el procesador 38 podría ser programado para observarlas cuando estás sean tomadas por la cámara 34. En forma alterna, y como sé representa en la Figura 1, las marcas de referencia 40 podrían ser agregadas a la banda 30 por medio de' un marcador de referencia 42 y podrían ser integradas por el procesador 38 en la información de posición en un modo alternativo. Si la etapa de colocación de las marcas de referencia 40 sobre la banda 30 fuera realizada antes o después de la etapa de la formación de imagen de la banda 30, el procesador 38 registraría la información de posición que ubica las regiones identificadas con relación a las marcas de referencia 40. Para algunos usos finales especializados para la banda 30, podría ser preferida la colocación a lo largo del borde de la banda de alguna marca que corresponda con la ubicación ya sea de las anomalías o la identificación de defectos. Si éste fuera el caso, podría utilizarse el marcador opcional lateral 44 para aplicar estas marcas . Una vez que la banda 30 ha pasado a través del módulo de inspección 24, la etapa intermedia 46 ha sido alcanzada. En este punto, la banda 30 ha sido señalada con las marcas de referencia 40, y al menos un mapa electrónico 50 (conceptualizado en la figura como un objeto correspondiente) ha sido creado para registrar la información de posición que ubica las regiones identificadas (conceptualizado en la figura con el número de referencia 52) con relación a las marcas de referencia 40. Al menos un mapa electrónico 50 existirá y posiblemente más de uno (en forma colectiva son denominados como 50a) . Más de un mapa electrónico podría existir si el algoritmo inicial o el subsiguiente algoritmo (s) opcional hubieran determinado en este momento qué anomalías representan los defectos actuales con respecto a más de un uso final contemplado de la banda. En la mayoría de las modalidades preferidas de la presente invención, una segunda etapa intermedia 54 será alcanzada, en donde la banda 30 ha sido enrollada en un alma 56 para su embarque hacia una ubicación conveniente para conseguir la conversión de la banda 30 en una forma útil para el uso final contemplado. Los mapas electrónicos 50 y/o 50a también son transmitidos hacia la ubicación en donde será efectuada la conversión, que se ilustra en la figura en una forma estilizada como un disquete 58, aunque cualquier medio conveniente de transmisión electrónica puede utilizarse. Sin considerar si ha ocurrido la etapa opcional intermedia 54, la banda 30 es colocada en movimiento en la dirección D2 hacia el módulo de marcado 26. El controlador del marcador de banda 60 es proporcionado al menos con uno de los mapas electrónicos correspondientes 50 que corresponden con esta banda particular 30. El controlador del marcador de banda 60 se dirige hacia la etapa opcional del análisis del mapa electrónico 50 con un algoritmo (s) subsiguiente para determinar qué anomalías representan los defectos actuales con respecto al uso final ahora contemplado de la banda. La banda 30 primero es pasada a través de un lector de referencia 62 que realiza la lectura y proporciona la información de ubicación de las marcas de referencia 40. El lector de referencia 62 comunica esta información de ubicación al controlador del marcador de banda 60. El controlador del marcador de banda 60 ejecuta un programa para formar un plan con el objeto de aplicar las marcas de ubicación en la banda que identifiquen la posición al menos de algunas de las anomalías, utilizando la información de posición y la información de ubicación como una guía. A continuación, el controlador del marcador de banda envía una serie de comandos al marcador de banda 64 , el cual entonces aplica las marcas de ubicación 66 en la banda 30 . Continuando con la discusión anterior, en la mayoría de las modalidades de la invención sólo estas anomalías que califican como defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda son identificadas con las marcas de ubicación 66 . En muchas aplicaciones preferidas de la presente invención, las marcas de ubicación 66 se encuentran sobre o adyacentes a las anomalías cuya posición identifican. Sin embargo, en algunas aplicaciones especializadas las marcas de ubicación 66 se encuentran separadas en una forma predeterminada de las anomalías cuya posición identifican. A continuación, con referencia a la Figura 2 , se ilustra una forma conveniente para una marca de referencia 40 utilizada en conexión con la presente invención. Estas marcas son colocadas en intervalos regulares a través de toda la longitud de la banda. La marca de referencia completa 40 incluye una o más marcas de ubicación de referencia 82 , 84 , las cuales localizan con exactitud la posición particular dentro de la banda y un código de barras 80 que codifica, de manera conveniente, un identificador único para cada marca de ubicación de referencia 82 , 84 . Por lo tanto, las marcas de referencia 82 , 84 ubican con exactitud la posición y el código de barras sólo identifica esta posición, de modo que un mapa electrónico puede ser nuevamente sincronizado con la banda física durante la operación de marcado. La Figura 3 es una vista en perspectiva de una porción de un ejemplo de un marcador de banda 64 adecuado para uso en la presente invención. El marcador de banda 64 incluye un bastidor 86 y los conectores de cable de montaje 88 que se comunican con otro aparato que incluye el controlador del marcador de banda 60 (no se muestra) . También montados sobre el bastidor 86 se encuentran series de módulos de chorro de tinta 90 , cada uno de los cuales tiene una serie de boquillas de chorro 92 sobre las mismas. Los módulos de chorro de tinta 90 son montados, en forma conveniente, en una posición escalonada en dos hileras, de modo que la cobertura a través del ancho incluso de una banda ancha pueda ser proporcionada de tal forma que un mal funcionamiento pueda ser dirigido mediante el reemplazo del módulo errante único de chorro de tinta 90 más que a través del desensamble del mecanismo total. La mecánica actual de operación de los módulos de chorro de tinta 90 es convencional como es entendido por aquellas personas expertas en la técnica.
Materiales de Banda De acuerdo con la presente invención, la banda en movimiento continuo podría incluir cualquier material de forma de hoja o lámina que tenga un ancho y un espesor predeterminados y con una longitud no determinada o predeterminada. Los materiales proporcionados en forma de banda que podrían ser de formación ópticamente de imagen son adecuados para uso con la presente invención. Los ejemplos de materiales de banda incluyen, aunque no se limitan a, metales, cartón, bandas tejidas, no tejidas, películas de fibra de vidrio, poliméricas o combinaciones de las mismas. Los metales podrían incluir materiales como el acero o el aluminio. De manera general, los materiales tejidos incluyen varias bandas. Los materiales no tejidos incluyen materiales tales como el cartón, los medios de filtro o el material de aislamiento. Las películas incluyen por ejemplo, películas poliméricas claras y opacas que incluyen películas laminadas y revestidas. Un tipo de problema de inspección particularmente adecuado para la resolución a través del uso de la presente invención es la inspección de las películas ópticas . Con las películas, por ejemplo, para la superficie de una pantalla de computadora, en donde los defectos tenues pueden cobrar mucha importancia al usuario que está observando en la pantalla durante horas en un tiempo. Algunas veces la definición exacta de qué tipo de defecto en este tipo de aplicación será inaceptablemente molesto para el usuario, y qué tipo de defecto es menos peligroso es totalmente compleja. Un esquema para la reducción de la complejidad de la determinación es presentado con mayor particularidad más adelante. Un segundo tipo de problema de inspección es la inspección de bandas de circuito flexible. La invención es particularmente adecuada para tratar con la complejidad involucrada en donde los circuitos individuales en una banda de circuito flexible tienen patrones de circuito de repetición depositados o formados sobre un substrato flexible. Normalmente, una banda tiene múltiples circuitos individuales cada uno de los cuales incluye varias partes pequeñas situadas en patrones arbitrarios. Los circuitos individuales son posteriormente separados de la banda, por ejemplo, mediante corte de matriz para uso en aplicaciones eléctricas discretas . Para muchas aplicaciones adecuadas para la presente invención, los materiales de banda o los materiales combinados podrían tener un revestimiento aplicado. Los revestimientos que podrían ser formados de manera óptica son adecuados para uso con la presente invención. De manera general, los revestimientos son aplicados en una superficie expuesta del material de banda de base. Los ejemplos de revestimientos incluyen adhesivos, revestimientos de densidad óptica, revestimientos de refuerzo de baja adhesión, revestimientos metalizados, revestimientos activos en forma óptica, revestimientos eléctricamente conductivos o no conductivos, o combinaciones de los mismos. El revestimiento podría ser aplicado al menos en una porción del material de banda o podría cubrir por completo la superficie del material de base de banda. Adquisición de Imagen La adquisición de imágenes conseguida a través del uso de dispositivos convencionales de formación de imagen que sean capaces de leer una porción secuencial de la banda en movimiento y proporcionar la salida en la forma de un flujo de datos digitales . Para propósitos de la invención, el dispositivo de formación de imagen podría incluir una cámara que proporcione, en forma directa, un flujo de datos digitales o una cámara analógica con un convertidor adicional de analógico a digital. Además, otros sensores tal como por ejemplo, los escáneres de láser podrían ser utilizados como el dispositivo de formación de imagen. Una porción secuencial de la banda indica que los datos son preferiblemente adquiridos por una sucesión de líneas . Las líneas comprenden un área de la banda en movimiento continuo que mapea, en forma óptica hacia una o más hileras de elementos de detección o píxeles . Los ejemplos de dispositivos adecuados para la adquisición de la imagen incluyen las cámaras de exploración de línea tal como el Modelo #LD21 de Perkin Elmer (Sunnyvale, California) , Modelos Piranha de Dalsa (Waterloo, Ontario, Canadá) , o el Modelo #TH78H15 de Thompson-CSF (Totawa, N. J.). Los ejemplos adicionales incluyen los escáneres de láser de Surface Inspection Systems GmbH (Munich, Alemania) en conjunto con un convertidor de analógico a digital. La imagen podría ser opcionalmente adquirida a través de la utilización de los elementos ópticos que ayudan en la procuración de la imagen. Los elementos podrían ser parte de una cámara o podrían estar separados de la cámara. Los elementos ópticos utilizan la luz reflejada, la luz trasmitida o la luz transflectada durante el proceso de formación de imagen . Detección de Anomalía o Defecto Después de la adquisición, las imágenes son procesadas utilizando ya sea el procesamiento convencional de detección de defecto o utilizando las técnicas descritas en la Solicitud de Patente copendiente y co-asignada de los Estados Unidos 10/669, 197 "Apparatus And Method For Automated Inspection Of Moving Webs By Reprocessing Image Information" (Archivo de Apoderado No .58695US002 ) . De manera general, la última técnica emplea un sistema que efectúa un examen preliminar con un primer algoritmo, comúnmente un algoritmo menos sofisticado. El examen preliminar produce la información de imagen acerca de las regiones de la banda que contiene las anomalías. Algunas de las anomalías serán defectuosas, aunque muchas podrían ser "positivos falsos" o anomalías que no sean defectuosas. De hecho, algunas áreas podrían ser defectuosas si el producto fuera utilizado en una aplicación particular, aunque no serían defectuosas si fuera utilizado en otra aplicación. Para separar de manera efectiva los defectos actuales de las anomalías, la información de imagen original es posteriormente reconsiderada y es sometida al menos a uno de una variedad de procesamientos de imagen más sofisticados y algoritmos de extracción de defecto. Los algoritmos de detección de defecto o los algoritmos de detección de anomalía empleados en la presente invención incluyen aquellos que son convencionalmente utilizados en el campo de la inspección de banda. Aquellas personas expertas en la técnica del establecimiento de los sistemas de inspección de banda son capaces de combinar uno o más algoritmos con tipos específicos de banda y defecto para conseguir el nivel deseado de precisión de la detección del defecto. Los ejemplos no limitantes de los algoritmos adecuados incluyen el promedio circundante, la clasificación circundante, la expansión de contraste, varias manipulaciones de imagen monádica y diádica, el filtrado digital tal como los filtros de Laplace, los operadores Sobel, el filtrado de paso alto y el filtrado de paso bajo, el análisis de textura, el análisis fractal, el procesamiento de frecuencia tal como las transformadas de Fourier y las transformadas de tren de ondas, las convoluciones, el procesamiento morfológico, el umbral, los análisis de componente conectado, el procesamiento de burbuja dispersante, las clasificaciones de burbuja dispersante o las combinaciones de los mismos . En una modalidad preferida, la detección de anomalía es empleada en una primera etapa del proceso utilizando un algoritmo seleccionado para producir un mapa electrónico. La banda de materiales enrollada en un rollo final durante esta etapa de procesamiento. El mapa electrónico y la banda son inspeccionados, de manera subsiguiente, a la luz del uso final deseado. Las anomalías que sean defectos por completo para el uso final deseado son identificadas sobre la banda con marcas de ubicación, como se describió con anterioridad. La información de anomalía o defecto que es extraída de la información de imagen es guardada en un mecanismo conveniente de almacenamiento de datos para su transferencia y utilización posterior en el proceso de marcado. Los ejemplos de mecanismos de almacenamiento incluyen varios formatos de archivo y base de datos de computadora. Un método preferido utiliza una base de datos tal como Microsoft SQL Server de Microsoft Inc., Redmond, WA. Marcado de Referencia Las marcas de referencia y los códigos de barras asociados podrían ser impresos sobre el material de banda utilizando muchos métodos distintos que incluyen el marcado de tinta, la impresión de láser, dispositivos de impresión mecánica u otros métodos similares . Es importante que las marcas puedan ser aplicadas en forma confiable y que las velocidades de producción de banda y las marcas sean detectadas con facilidad y que los códigos de barras sean leídos también con facilidad durante las operaciones sucesivas. Un ejemplo de un dispositivo adecuado de impresión es el Modelo 6800 Ink Jet prínter de Linx Printing Technologies (Cambridgeshire, UK) y un lector adecuado de código de barras es el Modelo 530 de DVT Corporation (Duluth, Georgia) . Marcado de Ubicación de Defecto En algún momento después de la inspección inicial y la aplicación de. las marcas de ubicación de referencia, los defectos del producto que son determinados por el sistema de inspección pueden ser marcados para permitir una identificación y remoción fáciles . En función del material de banda y las condiciones de producción, muchos mecanismos distintos de marcado y configuraciones de marcado podrían ser convenientes. No obstante, los métodos de marcado se prefiere que tengan la capacidad de aplicar la marca de defecto lo suficientemente cerca a la ubicación del defecto actual del producto sobre la banda. Los marcadores colocados en orden han probado que son particularmente efectivos, aunque también son convenientes los marcadores controlados de posición. Un método particularmente conveniente para los productos de película utiliza una serie de marcadores de tinta tales como el Modelo MS610 de Matthews de Pittsburg, Pennsylvania. A medida que la banda pasa a través del sistema durante la operación de marcado, las marcas de referencia son regularmente detectadas y son leídos los códigos de barras asociados . La combinación del código de barras y la marca de referencia permite que alguien registre con exactitud la posición física de la banda con las anomalías o defectos identificados en el mapa electrónico. El nuevo registro regular garantiza la exactitud del registro en proceso. Una persona experta en la técnica es capaz de establecer el nuevo registro a través de técnicas convencionales de transformación de coordenadas físicas. Debido a que la banda física ahora está registrada en el mapa electrónico, la posición física de las anomalías o defectos específicos es conocida. En el ejemplo en donde la posición física de los defectos o anomalías subsiguientemente identificadas como defectos verdaderos pasa por debajo de la unidad de marcado, las marcas son aplicadas en la banda. El tipo de marca y la posición exacta de la marca sobre o junto al defecto podrían ser seleccionados en base al material de la banda, la clasificación del defecto, el procesamiento de la banda que se requiere para dirigir el defecto y la aplicación del uso final pretendido de la banda. En el caso de un marcador de tinta colocad en orden, los marcadores son encendidos de preferencia en función de su posición a lo ancho de la banda a medida que los defectos pasan la unidad en la dirección descendente de la banda. Con este método, las exactitudes del marcado menores de 1 mm han sido regularmente conseguidas en bandas de alta velocidad con velocidades de producción más grandes de 150 pies/minuto . Sin embargo, las bandas a velocidades más altas en exceso de los 1000 metros/minutos se encuentran dentro de la capacidad de la invención. Ejemplo 1 La impresora de Modelo 6800 de Lynx fue adaptada para imprimir a lo largo del borde de una banda de manera que sirviera como un marcador de referencia, y se utilizó para imprimir marcas de referencia en una banda polimérica en movimiento. Cada una de estas marcas de referencia incluyó un código de barras y una posición de referencia como se representó de manera general en la Figura 2. La banda polimérica fue formada a partir de un poliéster transparente con un espesor de 5 milésimas, que se encuentra comercialmente disponible a partir de 3m Company, St. Paul, MN. La banda, que lleva sus marcas de referencia, fue entonces dirigida hacia un módulo de inspección que formo la imagen de las porciones s-ecuenciales de la banda. Es-ta formación de imagen fue conseguida por una cámara de Modelo AT71XM2CL 010-BA0 , que se encuentra comercialmente disponible a partir de Atmel de San José, CA. La banda fue observada con iluminación trasera a través de un módulo de iluminación que se encuentra comercialmente disponible a partir de Schott- Fostec, LLC, de Alexandria, VA. La información digital de la cámara fue enviada a una computadora digital de Modelo Precisión 530 que se encuentra comercialmente disponible a partir de Dell Computer Corp. de Round Rock, TX. ' Allí se realizó el procesamiento con un algoritmo inicial para identificar las regiones de la banda que contienen las anomalías. La cámara también trajo al procesador digital la información con relación a las marcas de referencia. A continuación, el procesador digital extrajo la información con relación a las regiones identificadas y registró la información de posición que ubica las regiones identificadas con relación a las marcas de referencia. La información de posición fue almacenada en medios magnéticos, y la banda fue enrollada sobre un carrete para su procesamiento posterior. Ejemplo 2 La banda del Ejemplo 1 fue colocada en movimiento, desenrollándola de su carrete en la dirección contraria a partir del cual se enrolló. Esta fue dirigida a través de un lector de referencia que incluye una cámara de Modelo Legend 530, que se encuentra comercia.1 Tnen.te disponible a partir d-e DVT de Duluth, GA. El control de posición con respecto a la banda a medida que esta pasó por el lector de referencia fue proporcionado por un controlador de posición servo que se encuentra comercialmente disponible a partir de Accuweb de Madison WI, en base a la información del sensor de borde de banda que se encuentra comercialmente disponible como el Modelo 1.5X3U 4043-01, también de Accuweb. La iluminación de la banda en el lector de referencia fue proporcionada por un módulo con iluminación trasera que se encuentra comercialmente disponible a partir de Advanced Illumination de Rochester, VT. La salida de la cámara fue dirigida hacia un controlador del marcador de banda que comprende una computadora digital de Modelo Precisión 530, que se encuentra comercialmente disponible a partir de Dell Computer Corp. de Round Rock, TX. , de modo que la información de ubicación de las marcas de referencia sobre la banda pudiera ser obtenida. El procesador en el controlador del marcador de banda también fue proporcionado con la información registrada de posición que fue obtenida en el Ejemplo 1. El controlador del marcador de banda combinado en la información registrada de posición y con la información de ubicación del lector de referencia para formar un mapa electrónico de la ubicación de las anomalías de la banda. A continuación, la banda fue dirigida sobre un marcador de banda generalmente cons-truido como se representa en la Figura 3. En este marcador de banda, los módulos de chorro de tinta comercialmente disponibles como el Modelo MS610 de Matthews de Pittsburgh, Pennsylvania fueron montados sobre un bastidor en dos hileras escalonadas y fueron colocados de acuerdo con la regulación del controlador del marcador de banda. Cuando de acuerdo con el mapa electrónico de las anomalías de la banda, una anomalía pasó por debajo del marcador de banda, un chorro pequeño de tinta negra fue expelido desde el módulo adecuado de chorro sobre la- banda para identificar la ubicación de la anomalía. Durante algunas vueltas, el controlador del marcador de banda fue programado para dirigir el marcador de banda a fin de colocar una marca adyacente al borde de banda en la distancia previsible en el sentido de dirección de la máquina comparado con la anomalía. En otros experimentos , la marca fue directamente colocada sobre la anomalía. En estos últimos casos, durante el rebobinado de las bandas hasta una longitud de 2000 m, fueron obtenidos errores de exactitud de posición en la colocación de la marca sobre la anomalía no mayores de 1 mm. Ejemplo 3 La banda de acuerdo con el Ejemplo 1 fue movida y generalmente marcada de acuerdo con la descripción en el Ejemplo 2, excepto que el controlador del marcador de banda fue proporcionado con un algoritmo subsiguiente diseñado para utilizar los defectos actuales- de distinción haciendo que la porción del alma sea inadecuada para un uso final contemplado particular a partir de otras anomalías entre la información extraída en el mapa electrónico. Durante la vuelta, el controlador del marcador de banda fue adicionalmente programado para enviar comandos al marcador de banda a fin de colocar las marcas de ubicación sólo sobre estas anomalías que calificó de acuerdo con el algoritmo subsiguiente como los defectos actuales . Varias modificaciones y alteraciones de la presente invención serán aparentes para aquellas personas expertas en la técnica sin apartarse del alcance y espíritu de esta invención, y debe entenderse que esta invención no se limita a las modalidades ilustrativas señaladas en la presente. Se hace constar que con relación a esta fecha el mejor método conocido por la solicitante para llevar a la práctica la citada invención, es el que resulta claro de la presente descripción de la invención.

Claims (1)

  1. REIVINDICACIONES Habiéndose descrito la invención como antecede, se reclama como propiedad lo contenido en las siguientes reivindicaciones : 1. Un método de análisis de las características de una banda de material, caracterizado porque comprende: la formación de imagen al menos de una porción de una banda que proporcione la información digital; el procesamiento de la información digital con un algoritmo inicial que identifique las regiones sobre la banda que contiene anomalías; la colocación de marcas de referencia sobre la banda; el registro de la información de posición que ubique las regiones identificadas con relación a las marcas de referencia; y la aplicación de marcas de ubicación en la banda que identifiquen la posición al menos de algunas de las anomalías, utilizando la información de posición y las marcas de referencia como una guía. 2. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque lá posición sólo de las anomalías, que califican como defectos actuales con respecto a-1 uso final-contemplado de la banda, es identificada con marcas de ubicación. 3. El método de conformidad con la reivindicación 2 , caracterizado además porque comprende: la extracción de las regiones identificadas a partir de la información digital, y el . análisis de las regiones identificadas que son extraídas al menos con un algoritmo subsiguiente para determinar qué anomalías representan los defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. 4. El método de conformidad con la reivindicación 3 , caracterizado además porque comprende el guardado o almacenamiento temporal de las regiones identificadas antes de su análisis . 5. El método de conformidad con la reivindicación 4, caracterizado porque la información guardada o almacenada en forma temporal es analizada una vez que la formación de imagen ha sido realizada sobre toda la banda. 6. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado además porque comprende el arrollamiento de la banda sobre un rollo entre la etapa de colocación y la etapa de aplicación. 7. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque las marcas de ubicación se encuentran sobre o adyacentes a las anomalías cuya posición identifican. 8; El- método de conformidad con la reivind-icajcién lf caracterizado porque las marcas de ubicación se encuentran separadas en un modo predeterminado de las anomalías cuya . posición identifican. 9. Un sistema para el marcado de una banda de material, caracterizado porque comprende: un marcador de referencia para la aplicación de marcas de referencia en la banda; un módulo de inspección para la formación de imagen al menos de una porción de la banda a fin de proporcionar la información digital, el procesamiento de la información digital con un algoritmo inicial que identifica las regiones sobre la banda que contienen anomalías, y el registro de la información de posición que ubica las regiones identificadas con relación a las marcas de referencia; un lector de referencia que realiza la lectura y proporciona la información de ubicación de las marcas de referencia; un marcador de banda que aplica señales de ubicación en la banda; y un controlador del marcador de banda que regula el marcador de banda para así aplicar las marcas de ubicación en la banda que identifiquen la posición por lo menos de algunas de las anomalías, utilizando la información de posición y la información de ubicación como una guía. 10. El sistema de conformidad con la reivindicación 9, caracterizado porque el marcador de banda aplica las marcas de ubicación que identifican la posición sólo de las anomalías que califican como defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. 11. El sistema de conformidad con la reivindicación 10, en donde el módulo de inspección extrae las regiones identificadas de la información digital, caracterizado además porgue comprende: un procesador asociado con el controlador del marcador de banda para analizar las regiones identificadas que son extraídas al menos con un algoritmo subsiguiente con el objeto de determinar qué anomalías representan los defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. 12. El sistema de conformidad con la reivindicación 11, caracterizado porque el módulo de inspección guarda o almacena en forma temporal las regiones identificadas para el procesador. 13. El sistema de conformidad con la reivindicación 9, caracterizado porque el marcador de referencia y el módulo de inspección son asociados con un primer aparato de manejo_ de banda, y en donde el lector de referencia, el marcador de banda y el controlador del marcador de banda son asociados con un segundo aparato de manejo de banda. 14. El sistema de conformidad con la reivindicación 9, caracterizado porque el marcador de banda coloca las marcas de ubicación sobre o adyacentes a las anomalías cuya posición identifican. 15. El sistema de conformidad con la reivindicación 9, caracterizado porque el marcador de banda coloca las marcas de ubicación que están separadas en una forma predeterminada de las anomalías cuya posición identifican. 16. Un aparato de marcado que señala una banda de material que tiene marcas de referencia sobre la misma, utiliza un mapa digital que incluye la información de posición de las anomalías de la banda con relación a las marcas de referencia, caracterizado porque comprende: un lector de referencia que realiza la lectura y proporciona la información de ubicación de las marcas de referencia, un marcador de banda que aplica las marcas de ubicación en la banda; y un controlador del marcador de banda que regula el marcador de banda para así aplicar las marcas de ubicación en la banda que identifica la posición al menos de algunas de las_ anomalías, utilizando la información de posición y la información de ubicación como una guía. 17. El aparato de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque el mapa digital además comprende la información con relación a la naturaleza de las anomalías de la banda, y en donde el marcador de banda señala sólo las anomalías que califican como defectos actuales con respecto al uso final contemplado en la banda. 18. Un método de marcado de una banda de material que tiene marcas de referencia y posiblemente anomalías de banda sobre la misma, caracterizado porque comprende: el suministro de un mapa digital que incluye la información de posición de las anomalías de la banda con relación a las marcas de referencia, la aplicación de las marcas de ubicación en la banda que identifican la posición al menos de algunas de las anomalías, utilizando la información de posición y las marcas de referencia como una guía. 19. El método de conformidad con la reivindicación 18, caracterizado además porque comprende: la extracción de las regiones identificadas a partir de la información digital; y el análisis de las regiones identificadas que son extraídas al menos con un algoritmo subsiguiente para determinar qué anomalías representan los defectos actuales con respecto al uso final contemplado de la banda. 20. El método de conformidad con la reivindicación 19, caracterizado además porque comprende el guardado o álmacenamiento temporal de las regiones identificadas antes de su análisis . 21. El método de conformidad con la reivindicación 18, caracterizado además porque comprende el arrollamiento de la banda sobre un rollo antes de la aplicación de las marcas de ubicación.
MXPA06012042A 2004-04-19 2005-03-23 Aparato y metodo para el marcado automatico de defectos sobre bandas de material. MXPA06012042A (es)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/826,995 US7623699B2 (en) 2004-04-19 2004-04-19 Apparatus and method for the automated marking of defects on webs of material
PCT/US2005/009741 WO2005106104A1 (en) 2004-04-19 2005-03-23 Apparatus and method for the automated marking of defects on webs of material

Publications (1)

Publication Number Publication Date
MXPA06012042A true MXPA06012042A (es) 2007-01-25

Family

ID=34963902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MXPA06012042A MXPA06012042A (es) 2004-04-19 2005-03-23 Aparato y metodo para el marcado automatico de defectos sobre bandas de material.

Country Status (11)

Country Link
US (3) US7623699B2 (es)
EP (1) EP1738018B1 (es)
JP (2) JP2007532930A (es)
KR (1) KR101227298B1 (es)
CN (1) CN101035946B (es)
AT (1) ATE518986T1 (es)
BR (1) BRPI0509965A (es)
HK (1) HK1104590A1 (es)
MX (1) MXPA06012042A (es)
TW (1) TWI371571B (es)
WO (1) WO2005106104A1 (es)

Families Citing this family (101)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7623699B2 (en) 2004-04-19 2009-11-24 3M Innovative Properties Company Apparatus and method for the automated marking of defects on webs of material
US20060090319A1 (en) * 2004-11-01 2006-05-04 Howe Major K Defect locating system for moving web
US20070116350A1 (en) * 2005-11-21 2007-05-24 Cheverton Mark A Method for detecting the alignment of films for automated defect detection
JP4698405B2 (ja) * 2005-12-20 2011-06-08 日本テトラパック株式会社 シール状態検査装置及びシール状態検査方法
TWI345827B (en) * 2007-01-10 2011-07-21 Nanya Technology Corp Phase change memory device and method of fabricating the same
US9440812B2 (en) * 2007-01-11 2016-09-13 3M Innovative Properties Company Web longitudinal position sensor
EP2126552A4 (en) * 2007-02-16 2016-04-20 3M Innovative Properties Co METHOD AND APPARATUS FOR LIGHTING MATERIAL FOR AUTOMATED INSPECTION
US8060304B2 (en) 2007-04-04 2011-11-15 Certusview Technologies, Llc Marking system and method
US9086277B2 (en) 2007-03-13 2015-07-21 Certusview Technologies, Llc Electronically controlled marking apparatus and methods
US8473209B2 (en) 2007-03-13 2013-06-25 Certusview Technologies, Llc Marking apparatus and marking methods using marking dispenser with machine-readable ID mechanism
US7640105B2 (en) 2007-03-13 2009-12-29 Certus View Technologies, LLC Marking system and method with location and/or time tracking
US20100188668A1 (en) * 2007-06-19 2010-07-29 3M Innovative Properties Company Total internal reflection displacement scale
KR20100037089A (ko) * 2007-06-19 2010-04-08 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 변위 스케일을 제조하는 시스템 및 방법
WO2008157623A1 (en) * 2007-06-19 2008-12-24 3M Innovative Properties Company Systems and methods for indicating the position of a web
US20090028417A1 (en) * 2007-07-26 2009-01-29 3M Innovative Properties Company Fiducial marking for multi-unit process spatial synchronization
US8175739B2 (en) * 2007-07-26 2012-05-08 3M Innovative Properties Company Multi-unit process spatial synchronization
US7542821B2 (en) * 2007-07-26 2009-06-02 3M Innovative Properties Company Multi-unit process spatial synchronization of image inspection systems
WO2009042638A2 (en) * 2007-09-27 2009-04-02 Abb Ltd. Accurate tracking of web features through converting processes
US20100074515A1 (en) * 2008-02-05 2010-03-25 Kla-Tencor Corporation Defect Detection and Response
US9659268B2 (en) * 2008-02-12 2017-05-23 CertusVies Technologies, LLC Ticket approval system for and method of performing quality control in field service applications
US8532342B2 (en) 2008-02-12 2013-09-10 Certusview Technologies, Llc Electronic manifest of underground facility locate marks
KR101037600B1 (ko) * 2008-02-29 2011-05-30 김성곤 부직포 제조방법 및 검사장치
DE102008014656A1 (de) * 2008-03-17 2009-10-01 Eads Deutschland Gmbh Verfahren zur automatisierten Überwachung textiler Verstärkungsmaterialien für die Herstellung faserverstärkter Kunststoffe
DE102008017441B4 (de) * 2008-04-03 2014-05-28 Windmöller & Hölscher Kg Verfahren und Anordnung zur Herstellung von Säcken aus Gewebematerial
US7937233B2 (en) * 2008-04-17 2011-05-03 3M Innovative Properties Company Preferential defect marking on a web
US9473626B2 (en) 2008-06-27 2016-10-18 Certusview Technologies, Llc Apparatus and methods for evaluating a quality of a locate operation for underground utility
US8280631B2 (en) 2008-10-02 2012-10-02 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for generating an electronic record of a marking operation based on marking device actuations
US9208464B2 (en) 2008-10-02 2015-12-08 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for analyzing locate and marking operations with respect to historical information
US9208458B2 (en) * 2008-10-02 2015-12-08 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for analyzing locate and marking operations with respect to facilities maps
US8965700B2 (en) 2008-10-02 2015-02-24 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for generating an electronic record of environmental landmarks based on marking device actuations
US20090327024A1 (en) 2008-06-27 2009-12-31 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for quality assessment of a field service operation
US8612271B2 (en) 2008-10-02 2013-12-17 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for analyzing locate and marking operations with respect to environmental landmarks
US8424486B2 (en) 2008-07-10 2013-04-23 Certusview Technologies, Llc Marker detection mechanisms for use in marking devices and methods of using same
US7797133B2 (en) * 2008-09-10 2010-09-14 3M Innovative Properties Company Multi-roller registered repeat defect detection of a web process line
US8442766B2 (en) 2008-10-02 2013-05-14 Certusview Technologies, Llc Marking apparatus having enhanced features for underground facility marking operations, and associated methods and systems
WO2010039242A2 (en) 2008-10-02 2010-04-08 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for generating electronic records of locate operations
US8478617B2 (en) 2008-10-02 2013-07-02 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for generating alerts on a locate device, based on comparing electronic locate information to facilities map information and/or other image information
US8527308B2 (en) 2008-10-02 2013-09-03 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for overlaying electronic locate information on facilities map information and/or other image information displayed on a locate device
GB2476445B (en) 2008-10-02 2014-01-08 Certusview Technologies Llc Marking device docking stations and methods of using same
US8510141B2 (en) * 2008-10-02 2013-08-13 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for generating alerts on a marking device, based on comparing electronic marking information to facilities map information and/or other image information
US8749239B2 (en) 2008-10-02 2014-06-10 Certusview Technologies, Llc Locate apparatus having enhanced features for underground facility locate operations, and associated methods and systems
US8620726B2 (en) 2008-10-02 2013-12-31 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for analyzing locate and marking operations by comparing locate information and marking information
US20100188407A1 (en) 2008-10-02 2010-07-29 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for displaying and processing facilities map information and/or other image information on a marking device
US20100198663A1 (en) 2008-10-02 2010-08-05 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for overlaying electronic marking information on facilities map information and/or other image information displayed on a marking device
JP5205220B2 (ja) * 2008-11-13 2013-06-05 旭化成イーマテリアルズ株式会社 積層体における欠陥位置特定方法
JP5592397B2 (ja) 2008-12-29 2014-09-17 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー ウェブ基準を使用して位相固定したウェブ位置信号
BRPI0918692A2 (pt) 2008-12-30 2015-12-01 3M Innovative Properties Co aparelho e método para a produção de fiduciais sobre um substrato
CA2691780C (en) * 2009-02-11 2015-09-22 Certusview Technologies, Llc Management system, and associated methods and apparatus, for providing automatic assesment of a locate operation
TWI421489B (zh) * 2009-03-10 2014-01-01 Takano Co Ltd Visual Inspection System
JP2010262265A (ja) * 2009-04-10 2010-11-18 Nitto Denko Corp 光学フィルムロール原反、およびそれを用いた画像表示装置の製造方法
AT508159B1 (de) * 2009-06-05 2010-11-15 Starlinger & Co Gmbh Fehlerstellenerkennung
EP2458371A1 (en) * 2009-07-24 2012-05-30 Asahi Glass Company, Limited Glass member quality control method and quality control device, and glass member with mark
CA2771286C (en) 2009-08-11 2016-08-30 Certusview Technologies, Llc Locating equipment communicatively coupled to or equipped with a mobile/portable device
CA2710189C (en) 2009-08-20 2012-05-08 Certusview Technologies, Llc Methods and apparatus for assessing marking operations based on acceleration information
CA2713282C (en) 2009-08-20 2013-03-19 Certusview Technologies, Llc Marking device with transmitter for triangulating location during marking operations
EP2467674A1 (en) 2009-08-20 2012-06-27 Certusview Technologies, LLC Methods and marking devices with mechanisms for indicating and/or detecting marking material color
DE102009051426A1 (de) * 2009-10-30 2011-05-05 Sgl Carbon Se Verfahren zum Erfassen der Struktur eine textilen Multifilamenterzeugnisses und Verfahren zum Verarbeiten eines textilen Multifilamenterzeugnisses
CN102140758B (zh) * 2010-02-01 2013-09-04 李海鹰 一种静电容式测力传感器
SG183894A1 (en) * 2010-03-10 2012-10-30 3M Innovative Properties Co Application-specific repeat defect detection in web manufacturing processes
US9046413B2 (en) 2010-08-13 2015-06-02 Certusview Technologies, Llc Methods, apparatus and systems for surface type detection in connection with locate and marking operations
CN102230272B (zh) * 2011-06-09 2013-07-03 洛阳方智测控股份有限公司 一种自动验布机的打标装置
US9142023B2 (en) * 2011-12-22 2015-09-22 3M Innovative Properties Company Maintaining registration of spatially synchronized data for web products
CN109898250B (zh) * 2012-12-13 2021-12-10 乔纳森·卓脑 暂时改变柔性元件材料的属性以便于物品的装配
CN103243533A (zh) * 2013-04-19 2013-08-14 江南大学 一种用于修布的织物自动退绕系统
DE102013108485B4 (de) * 2013-08-06 2015-06-25 Khs Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Fehlertracking bei Bandmaterialien
US20150090140A1 (en) 2013-10-01 2015-04-02 Goss International Americas Inc. Print job and process roll event tracking
PT3126532T (pt) * 2014-04-04 2019-09-19 Bramac S R L Método para marcação de referências num artigo plano e sistema associado
DE102014005347A1 (de) * 2014-04-11 2015-10-15 Texmag Gmbh Vertriebsgesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur lnspektion und zur Konfektionierung einer laufenden Warenbahn
US9951472B2 (en) 2014-04-15 2018-04-24 Gpcp Ip Holdings Llc Methods and apparatuses for controlling a manufacturing line used to convert a paper web into paper products by reading marks on the paper web
CN105784720A (zh) * 2014-12-16 2016-07-20 徐帆 布料缺陷的检测方法和系统
CN104532535B (zh) * 2014-12-31 2016-09-14 重庆瑞美服装有限公司 智能标注验布机
KR20180031058A (ko) 2015-08-21 2018-03-27 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 광축을 갖는 광학 필름 및 그의 처리 시스템 및 방법
CN106918603B (zh) * 2015-12-25 2021-04-27 中钞印制技术研究院有限公司 光谱检测方法及系统
US20180033129A1 (en) * 2016-07-28 2018-02-01 United Technologies Corporation Systems and methods for indexing and detecting components
JP6978842B2 (ja) * 2017-03-03 2021-12-08 住友化学株式会社 マーキング装置、欠陥検査システム及びフィルム製造方法
EP4302948A3 (de) * 2017-04-05 2024-03-27 Zünd Systemtechnik Ag Schneidemaschine mit überblickskamera
CN107102007B (zh) * 2017-06-19 2019-11-26 浙江爬爬婴幼儿用品有限公司 布匹检测中的图案一致性识别方法
US10501274B2 (en) * 2017-07-06 2019-12-10 Honeywell International Inc. Continuous web sheet defect analytics, classification and remediation for enhancing equipment efficiency and throughput
CN107201640B (zh) * 2017-07-18 2019-07-30 海宁市泰达针织有限公司 一种快速验布机
KR102603009B1 (ko) 2017-09-05 2023-11-15 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 기록 시스템 및 필름 제조 시스템, 그리고 필름의 제조 방법
KR20200111235A (ko) 2018-01-31 2020-09-28 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 제조된 웨브의 검사를 위한 가상 카메라 어레이
US11327010B2 (en) 2018-01-31 2022-05-10 3M Innovative Properties Company Infrared light transmission inspection for continuous moving web
JP7373490B2 (ja) 2018-01-31 2023-11-02 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 光解離性バルビツール酸系化合物
KR20190097622A (ko) 2018-02-12 2019-08-21 옥광호 친환경 층간소음 방지구조
CN108776136B (zh) * 2018-06-02 2021-09-14 李亚萍 一种用于保温材料加工的自动装置
CN108951075B (zh) * 2018-09-29 2021-10-29 广东新一系实业有限公司 一种带疵点裁片的筛除方法及带疵点裁片定位系统
DE102018222180A1 (de) * 2018-12-18 2020-06-18 Thyssenkrupp Steel Europe Ag System zur Inspektion von Materialbändern und Verfahren zum Betrieb des Systems
WO2020163054A1 (en) 2019-02-06 2020-08-13 Corning Incorporated Methods of processing a viscous ribbon
CN109978874B (zh) * 2019-04-02 2023-03-14 湖南大学 一种钢轨表面缺陷视觉检测装置及识别方法
CN110093771A (zh) * 2019-04-28 2019-08-06 季华实验室 一种智能验布系统
WO2020254935A1 (en) * 2019-06-19 2020-12-24 Uster Technologies Ltd. Systems and methods for automatic fabric inspection
CN112801930A (zh) * 2019-10-28 2021-05-14 上海铼钠克数控科技股份有限公司 基于机器视觉的织物的背光经纬瑕疵检测方法和设备
CN110820299B (zh) * 2019-11-22 2021-04-27 常州市新创智能科技有限公司 一种用于对绕卷的织物裁片进行区分的标记方法
KR102152327B1 (ko) 2020-02-21 2020-09-07 옥광호 친환경 바닥재를 이용한 층간소음 방지구조
EP3885744A1 (en) * 2020-03-25 2021-09-29 Fitesa S.A. Mapping and removing a defect from a web material
FI129971B (en) * 2020-06-24 2022-11-30 Procemex Oy Ltd The intelligent synchronization method of the web monitoring system
CN112176694A (zh) * 2020-10-16 2021-01-05 黄辰宇 一种基于智能制造的防护服面料收卷检测装置
TWI801874B (zh) * 2021-05-18 2023-05-11 財團法人紡織產業綜合研究所 用於織物的噴墨製程的優化方法
CN113957691A (zh) * 2021-11-23 2022-01-21 郑州市娅丽达服饰有限公司 一种服装设计面料检验系统
CA3239964A1 (en) * 2021-12-09 2023-06-15 Juha Reunanen Web position tracking
WO2023118615A1 (es) * 2021-12-21 2023-06-29 Lortek S.Coop. Dispositivo de trazabilidad automática y dinámica de bobinas de papel tisú

Family Cites Families (132)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3759620A (en) 1972-05-30 1973-09-18 Philco Ford Corp Flaw detection and marking apparatus
US4134684A (en) 1977-01-18 1979-01-16 Intex Corp. Repeat defect detector system
US4173441A (en) * 1977-03-28 1979-11-06 E. I. Du Pont De Nemours And Company Web inspection system and method therefor
US4211132A (en) 1977-11-21 1980-07-08 E. I. Du Pont De Nemours And Company Apparatus for on-line defect zoning
US4330356A (en) 1980-06-18 1982-05-18 Philip Morris, Incorporated Web marking apparatus and method
US4458852A (en) * 1981-06-05 1984-07-10 American Hoechst Corporation Web transfer apparatus
DE3305907A1 (de) 1983-02-21 1984-08-30 Anton Cramer GmbH & Co KG, 4402 Greven Verfahren und vorrichtung zum anzeichnen von gasdurchlaessigen stoff- und anderen warenbahnen, insbesondere zum automatischen anzeichnen in einer anzeichnungsstation
FR2548077B1 (fr) * 1983-06-30 1987-03-06 Gerber Scient Inc Appareil pour aider un operateur a resoudre les problemes poses par les defauts des etoffes
DE3325125C1 (de) 1983-07-12 1985-02-14 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen
US4877323A (en) 1984-11-23 1989-10-31 Stillwagon W C Method and apparatus for inspecting a high speed web
JP2602201B2 (ja) 1985-04-12 1997-04-23 株式会社日立製作所 被検査パターンの欠陥検査方法
US5068799A (en) 1985-04-24 1991-11-26 Jarrett Jr Harold M System and method for detecting flaws in continuous web materials
US4629312A (en) 1985-10-02 1986-12-16 Lucht Engineering, Inc. Thermal marking system for photographic media
JPS6293637A (ja) 1985-10-21 1987-04-30 Hitachi Ltd 自動検反システム
US4700627A (en) 1986-01-28 1987-10-20 Case-Hoyt Method and apparatus for marking defective portions of a printed web
GB8620430D0 (en) 1986-08-22 1986-10-01 Plessey Co Plc Marking of articles
DE3629004A1 (de) 1986-08-27 1988-03-10 Agie Ag Ind Elektronik Stromzufuehrung fuer eine drahtelektrode einer elektroerosionsmaschine
FR2608960B1 (fr) 1986-12-31 1989-11-24 Loriot Jean Marc Procede et dispositif de decoupage d'un tissu a motif repetitif
US4752897A (en) 1987-05-01 1988-06-21 Eastman Kodak Co. System for monitoring and analysis of a continuous process
US4828156A (en) 1987-10-08 1989-05-09 Ncr Corporation Web monitoring system
JPH0786474B2 (ja) 1988-09-09 1995-09-20 富士写真フイルム株式会社 欠陥周期の測定方法
US4951223A (en) 1989-03-28 1990-08-21 Langdon Wales R Web material inspection system
US5062331A (en) 1989-08-07 1991-11-05 Eastman Kodak Company Apparatus and method for edge notching a continuously moving web
AU627658B2 (en) * 1990-06-13 1992-08-27 Aluminium Company Of America Video inspection system
IL99823A0 (en) 1990-11-16 1992-08-18 Orbot Instr Ltd Optical inspection method and apparatus
US5440648A (en) 1991-11-19 1995-08-08 Dalsa, Inc. High speed defect detection apparatus having defect detection circuits mounted in the camera housing
US5351202A (en) 1992-02-27 1994-09-27 International Business Machines Corporation Evaluation and ranking of manufacturing line non-numeric information
JP3200237B2 (ja) * 1992-06-09 2001-08-20 イーストマン コダック カンパニー 欠陥ドナー検出方法
DK0656938T3 (da) 1992-07-13 1998-07-20 Minnesota Mining & Mfg Teknik til at tælle objekter i et skanderet billede
JPH0671864A (ja) 1992-08-27 1994-03-15 Komori Corp 印刷物検査装置におけるウェブの蛇行認識方法および装置、印刷物検査装置における撮像位置補正方法および装置
US5414123A (en) * 1992-09-11 1995-05-09 Thiokol Corporation Polyether compounds having both imine and hydroxyl functionality and methods of synthesis
US5365596A (en) * 1992-12-17 1994-11-15 Philip Morris Incorporated Methods and apparatus for automatic image inspection of continuously moving objects
DE69324557T2 (de) * 1992-12-31 1999-09-23 Zellweger Uster Inc Kontinuierliche zweidimensionale Überwachung von dünnem Gewebe textilen Materials
US5305392A (en) 1993-01-11 1994-04-19 Philip Morris Incorporated High speed, high resolution web inspection system
US5305707A (en) 1993-03-26 1994-04-26 Robert Ryder Web marking device
JPH0724528A (ja) * 1993-07-12 1995-01-27 Nippon Steel Corp 長手方向位置マーキング鋼帯コイル
US5450116A (en) 1993-09-14 1995-09-12 P-M Acquisition Corp. Apparatus for generating a spreading information tape
US5537669A (en) 1993-09-30 1996-07-16 Kla Instruments Corporation Inspection method and apparatus for the inspection of either random or repeating patterns
US5544256A (en) 1993-10-22 1996-08-06 International Business Machines Corporation Automated defect classification system
JPH10503245A (ja) 1993-11-24 1998-03-24 レテヒ、アクチエンゲゼルシャフト、ハー.フォン、アルクス 織布における欠陥の追跡方法
US5434629A (en) 1993-12-20 1995-07-18 Focus Automation Systems Inc. Real-time line scan processor
US5563809A (en) 1994-04-06 1996-10-08 Abb Industrial Systems, Inc. Measurement/control of sheet material using at least one sensor array
US5922168A (en) * 1995-09-28 1999-07-13 Pacific Trinetics Corporation Apparatus for making laminated electrical and electronic devices
US5710420A (en) 1995-12-05 1998-01-20 Xerox Corporation Method for embedding and recovering machine-readable information
US5760414A (en) 1995-12-19 1998-06-02 Monarch Marking Systems, Inc. Web of record members and method of and apparatus for making same and system for detecting indicia
US5696591A (en) 1996-01-05 1997-12-09 Eastman Kodak Company Apparatus and method for detecting longitudinally oriented flaws in a moving web
US6031931A (en) 1996-03-15 2000-02-29 Sony Corporation Automated visual inspection apparatus
JP3975408B2 (ja) 1996-08-20 2007-09-12 ウステル・テヒノロジーズ・アクチエンゲゼルシヤフト 繊維面組織における欠陥を認識する方法及び装置
US5774177A (en) 1996-09-11 1998-06-30 Milliken Research Corporation Textile fabric inspection system
SE511822C2 (sv) 1996-11-13 1999-11-29 Svante Bjoerk Ab Anordning och metod för att markera defekter på en transparent remsa
US6092059A (en) 1996-12-27 2000-07-18 Cognex Corporation Automatic classifier for real time inspection and classification
FR2761475B1 (fr) 1997-03-28 1999-06-11 Lorraine Laminage Procede d'inspection de surface d'une bande en defilement par segmentation d'image en zones suspectes
KR100303608B1 (ko) 1997-05-22 2001-11-22 박호군 혈구세포자동인식방법및장치
TW331650B (en) 1997-05-26 1998-05-11 Taiwan Semiconductor Mfg Co Ltd Integrated defect yield management system for semiconductor manufacturing
US6014209A (en) 1997-06-23 2000-01-11 Beltronics, Inc. Method of optically inspecting multi-layered electronic parts and the like with fluorescent scattering top layer discrimination and apparatus therefor
US6246472B1 (en) 1997-07-04 2001-06-12 Hitachi, Ltd. Pattern inspecting system and pattern inspecting method
US5949550A (en) 1997-08-21 1999-09-07 Consolidated Papers, Inc. Method and apparatus for detecting defects in a moving web
ATE197503T1 (de) 1997-08-22 2000-11-11 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und vorrichtung zur automatischen prüfung bewegter oberflächen
WO1999010833A1 (en) 1997-08-27 1999-03-04 Datacube, Inc. Web inspection system for analysis of moving webs
JPH11248641A (ja) 1998-03-03 1999-09-17 Sumitomo Metal Ind Ltd 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法
US6272437B1 (en) 1998-04-17 2001-08-07 Cae Inc. Method and apparatus for improved inspection and classification of attributes of a workpiece
JP2000009447A (ja) 1998-06-25 2000-01-14 Nippon Inter Connection Systems Kk テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検出方法
US6252237B1 (en) 1998-07-15 2001-06-26 3M Innovation Properties Company Low cost thickness measurement method and apparatus for thin coatings
EP1027615B1 (en) 1998-07-28 2008-09-10 Matsushita Electric Works, Ltd. Inspection system for inspecting discrete wiring patterns formed on a continuous substrate sheet of a flexible material
JP2000051940A (ja) * 1998-08-06 2000-02-22 Nkk Corp 薄鋼板への表面欠陥マーキング方法
US6266437B1 (en) * 1998-09-04 2001-07-24 Sandia Corporation Sequential detection of web defects
JP2000173836A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Mitsubishi Electric Corp 静止誘導機器
US6404910B1 (en) 1998-12-31 2002-06-11 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Making absorbent articles using vision imaging system
US6266436B1 (en) 1999-04-09 2001-07-24 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Process control using multiple detections
FI106086B (fi) 1999-01-22 2000-11-15 Hildeco Oy Ltd Järjestelmä prosessin tarkkailemiseksi
KR100568973B1 (ko) * 1999-03-18 2006-04-07 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 결함 마킹방법 및 장치
US6496596B1 (en) 1999-03-23 2002-12-17 Advanced Micro Devices, Inc. Method for detecting and categorizing defects
DE29924323U1 (de) * 1999-03-24 2002-12-05 Anitra Medienprojekte Gmbh Träger für Muster und Lesegerät zur Positionsbestimmung
US6187522B1 (en) 1999-03-25 2001-02-13 Eastman Kodak Company Scratch resistant antistatic layer for imaging elements
ES2217726T3 (es) 1999-05-14 2004-11-01 TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE SA Detector de defectos para cierres de envases.
US6359477B1 (en) * 1999-06-03 2002-03-19 Texas Instruments Incorporated Low power driver design
US6407373B1 (en) 1999-06-15 2002-06-18 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for reviewing defects on an object
DE19930173A1 (de) 1999-06-30 2001-01-04 Parsytec Comp Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur prozeßoptimierenden Einstellung von Parametern eines Produktionsprozesses
US6137967A (en) * 1999-09-13 2000-10-24 Oce Printing Systems Gmbh Document verification and tracking system for printed material
US7006674B1 (en) * 1999-10-29 2006-02-28 Cytyc Corporation Apparatus and methods for verifying the location of areas of interest within a sample in an imaging system
US6484306B1 (en) * 1999-12-17 2002-11-19 The Regents Of The University Of California Multi-level scanning method for defect inspection
US6452679B1 (en) 1999-12-29 2002-09-17 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method and apparatus for controlling the manufacturing quality of a moving web
US6934028B2 (en) 2000-01-20 2005-08-23 Webview, Inc. Certification and verification management system and method for a web inspection apparatus
US6413827B2 (en) 2000-02-14 2002-07-02 Paul A. Farrar Low dielectric constant shallow trench isolation
JP2001261191A (ja) 2000-03-21 2001-09-26 Dainippon Printing Co Ltd 情報記憶可能な不良位置指示テープを用いた不良情報付加装置と不良情報書換え装置および不良位置指示テープ
US6632241B1 (en) 2000-03-22 2003-10-14 Endovascular Technologies, Inc. Self-expanding, pseudo-braided intravascular device
JP2001347315A (ja) * 2000-04-03 2001-12-18 Nkk Corp 欠陥マーキングしたコイルの製造方法、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングしたコイルの作業方法
EP1148332B1 (en) 2000-04-18 2005-11-30 The University of Hong Kong Method of inspecting images to detect defects
US6464094B2 (en) 2000-06-29 2002-10-15 George Zacharias Stand-by tank for remote access fire suppression
DE60027896T2 (de) 2000-08-07 2006-11-30 Fuji Photo Film B.V. Positionsindizierung von Flächen mit Qualitätsproblem auf einer kontinuierlichen Bahn
US7177458B1 (en) 2000-09-10 2007-02-13 Orbotech Ltd. Reduction of false alarms in PCB inspection
US6798925B1 (en) * 2000-12-22 2004-09-28 Cognex Corporation Method and apparatus for calibrating an image acquisition system
US6816749B2 (en) * 2000-12-22 2004-11-09 Fuji Photo Film Co., Ltd. Method of and apparatus for manufacturing rolled medium products
JP3948209B2 (ja) * 2000-12-25 2007-07-25 Jfeスチール株式会社 鋼帯の欠陥部の表示及び排出方法
US6765224B1 (en) 2000-12-29 2004-07-20 Cognex Corporation Machine vision method and system for the inspection of a material
US6750466B2 (en) 2001-02-09 2004-06-15 Wintriss Engineering Corporation Web inspection system
US6950547B2 (en) 2001-02-12 2005-09-27 3M Innovative Properties Company Web inspection method and device
JP2002243648A (ja) 2001-02-20 2002-08-28 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 帯状金属処理面の検査装置
SE0101374L (sv) * 2001-04-19 2002-10-20 Svante Bjoerk Ab Förfarande och anordning för optisk avsyning
US20020176617A1 (en) * 2001-05-22 2002-11-28 Pti Advanced Filtration, Inc. System and method for continuous integrity testing of a material web
JP2003043638A (ja) * 2001-08-02 2003-02-13 Fuji Photo Film Co Ltd 写真フイルムの生産管理方法
JP4771629B2 (ja) * 2001-09-14 2011-09-14 Jfeスチール株式会社 鋼材の品質情報管理方法
US6836334B2 (en) 2001-10-31 2004-12-28 Kvh Industries, Inc. Angle random walk (ARW) noise reduction in fiber optic sensors using an optical amplifier
JP2003166940A (ja) * 2001-11-29 2003-06-13 Fuji Photo Film Co Ltd 平版材料の検査装置の信号トラッキング装置
FI115561B (fi) 2002-03-27 2005-05-31 Metso Automation Oy Menetelmä kuvantavasti mitatun informaation ajalliseksi synkronoimiseksi
US7023542B2 (en) 2002-04-03 2006-04-04 3M Innovative Properties Company Imaging method and apparatus
US7082347B2 (en) * 2002-08-07 2006-07-25 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Autosetpoint registration control system and method associated with a web converting manufacturing process
US6845278B2 (en) 2002-08-07 2005-01-18 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Product attribute data mining in connection with a web converting manufacturing process
US6904330B2 (en) 2002-08-07 2005-06-07 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Manufacturing information and troubleshooting system and method
US7117057B1 (en) 2002-09-10 2006-10-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. Yield patrolling system
JP4272862B2 (ja) 2002-09-20 2009-06-03 キヤノン株式会社 位置検出方法、位置検出装置及び露光装置
FI20021973A (fi) 2002-11-05 2004-05-06 Sr Instr Oy Synkroninen optinen mittaus- ja tarkistusmenetelmä ja laite
US6812997B2 (en) 2002-11-21 2004-11-02 Eastman Kodak Company Printing apparatus having a media defect detection system
US6812998B2 (en) * 2003-03-20 2004-11-02 Eatsman Kodak Company Method and system for shipping of photofinishing orders
US7027934B2 (en) 2003-09-24 2006-04-11 3M Innovative Properties Company Apparatus and method for automated web inspection
JP2005114624A (ja) * 2003-10-09 2005-04-28 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
US20050092839A1 (en) * 2003-10-31 2005-05-05 Oram Thomas K. Method and apparatus for providing and processing active barcodes
US7146034B2 (en) * 2003-12-09 2006-12-05 Superpower, Inc. Tape manufacturing system
KR101203325B1 (ko) 2003-12-31 2012-11-20 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 시트-기반 물품에 대한 재고품 제어
EP2339419A1 (en) 2003-12-31 2011-06-29 3M Innovative Properties Co. Maximisation of yield for web-based articles
US7623699B2 (en) 2004-04-19 2009-11-24 3M Innovative Properties Company Apparatus and method for the automated marking of defects on webs of material
JP4624043B2 (ja) 2004-09-14 2011-02-02 株式会社デンソー 回転検出装置
JP2006094076A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Renesas Technology Corp 高周波電力増幅回路および高周波電力増幅用電子部品
US20060143671A1 (en) 2004-12-23 2006-06-29 Ens John E Digital process analysis and control camera system
US7172124B2 (en) * 2005-03-10 2007-02-06 Microsoft Corporation Camera-based barcode recognition
GB0517929D0 (en) 2005-09-02 2005-10-12 Xaar Technology Ltd Method of printing
US7831317B2 (en) * 2005-11-14 2010-11-09 Rockwell Automation Technologies, Inc. Distributed historian architecture
JP2008219486A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Freescale Semiconductor Inc パワーオン検知回路
US8175739B2 (en) 2007-07-26 2012-05-08 3M Innovative Properties Company Multi-unit process spatial synchronization
US20090028417A1 (en) 2007-07-26 2009-01-29 3M Innovative Properties Company Fiducial marking for multi-unit process spatial synchronization
US7542821B2 (en) 2007-07-26 2009-06-02 3M Innovative Properties Company Multi-unit process spatial synchronization of image inspection systems
US7797133B2 (en) 2008-09-10 2010-09-14 3M Innovative Properties Company Multi-roller registered repeat defect detection of a web process line

Also Published As

Publication number Publication date
EP1738018A1 (en) 2007-01-03
CN101035946A (zh) 2007-09-12
BRPI0509965A (pt) 2007-09-25
JP2007532930A (ja) 2007-11-15
TWI371571B (en) 2012-09-01
US20050232475A1 (en) 2005-10-20
WO2005106104A1 (en) 2005-11-10
KR20070011520A (ko) 2007-01-24
TW200602614A (en) 2006-01-16
US8238646B2 (en) 2012-08-07
US7623699B2 (en) 2009-11-24
HK1104590A1 (en) 2008-01-18
JP2012233917A (ja) 2012-11-29
JP5647192B2 (ja) 2014-12-24
KR101227298B1 (ko) 2013-01-29
EP1738018B1 (en) 2011-08-03
US20110211747A1 (en) 2011-09-01
US7974459B2 (en) 2011-07-05
US20100040278A1 (en) 2010-02-18
CN101035946B (zh) 2011-03-30
ATE518986T1 (de) 2011-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MXPA06012042A (es) Aparato y metodo para el marcado automatico de defectos sobre bandas de material.
US7937233B2 (en) Preferential defect marking on a web
JP5965038B2 (ja) ウェブ製造プロセスにおける用途固有の繰り返し欠陥検出
US8060234B2 (en) Accurate tracking of web features through converting processes
KR100788205B1 (ko) 웹 검사 방법 및 장치
US20140369591A1 (en) Maintaining registration of spatially synchronized data for web products
MXPA06007469A (es) Control de inventario para articulos basados en redes

Legal Events

Date Code Title Description
FG Grant or registration