DE3325125C1 - Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen - Google Patents

Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen

Info

Publication number
DE3325125C1
DE3325125C1 DE3325125A DE3325125A DE3325125C1 DE 3325125 C1 DE3325125 C1 DE 3325125C1 DE 3325125 A DE3325125 A DE 3325125A DE 3325125 A DE3325125 A DE 3325125A DE 3325125 C1 DE3325125 C1 DE 3325125C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
error
marking
error signal
signal
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3325125A
Other languages
English (en)
Inventor
Christoph Dr. 8021 Icking Schenk
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rheinmetall DeTec AG
Original Assignee
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Erwin Sick GmbH Optik Elektronik filed Critical Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority to DE3325125A priority Critical patent/DE3325125C1/de
Priority to GB8416857A priority patent/GB2143320B/en
Priority to JP59142100A priority patent/JPS6039555A/ja
Application granted granted Critical
Publication of DE3325125C1 publication Critical patent/DE3325125C1/de
Priority to US06/890,796 priority patent/US4746020A/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/894—Pinholes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T83/00—Cutting
    • Y10T83/525—Operation controlled by detector means responsive to work
    • Y10T83/527—With means to control work-responsive signal system
    • Y10T83/528—To delay response to work-senser

Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen, bei dem die Materialbahn zunächst an einer die Bahn quer zu ihrer Längsrichtung periodisch abtastenden Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung und in einem definierten Abstand davon an einer Markierungsvorrichtung vorbeigeführt wird und bei dem entsprechend den von der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung gebildeten Fehlersignalen in dem Augenblick an der Markierungsvorrichtung eine Markierung ausgelöst wird, wo die Fehlstelle, von der das Fehlersignal abgeleitet wurde/die Markierungsvorrichtung passiert. Außerdem bezieht sich die Erfindung auf eine Anordnung zur Ausführung dieses Verfahrens mit einer die Bahn quer zu ihrer Längsrichtung periodisch abtastenden Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung, einem daran angeschlossenen Fehleranalysator, einem darauffolgenden Fehlersignalspeicher und einer in einem definierten Abstand von der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung vorgesehenen Markierungsvorrichtung, die in Abhängigkeit von dem Vorliegen eines Fehlersignals bei bestimmten Bahnkoordinaten eine entsprechende Bahnmarkierung vornimmt.
ίο Bei der Oberflächeninspektion werden Materialbahnen, z. B. Magnetfolien, in ihrer Längsrichtung kontinuierlich und relativ schnell an einer Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung vorbeigeführt. Die Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung arbeitet im allgemeinen mit einem durch ein Spiegelrad periodisch quer über die Bahn geführten Laserstrahl und einem Lichtempfänger, der je nach dem, ob die gerade vom Laserstrahl abgetastete Stelle der Bahn einen Fehler aufweist oder nicht, unterschiedliche elektrische Signale an eine Auswerteelektronik abgibt. Derartige Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtungen sind in vielfachen Variationen bekannt.
Häufig genügt es für die Oberflächeninspektion nicht, einen Fehler nur festzustellen, sondern es soll an der festgestellten Fehlstelle auch eine Markierung vorgenommen werden. Hierzu kann im Abstand von der Fehlerfeststellungs-Markierungsvorrichtung, und zwar in Bahnlaufrichtung, quer über oder unter der Bahn eine Markierungsvorrichtung vorgesehen werden. Zur Markierung eignen sich Farbspritzen, Markierstifte, Etikettierer, Magnetköpfe u. dgl., je nach dem, welche Art der Markierung gewünscht oder bei dem zu überwachenden Material möglich ist. Der Einsatz von Magnetköpfen kommt z. B. bei der Oberflächeninspektion von Magnetbändern in Frage. Derartige zur Herstellung von Ton- oder Videobändern verwendete Magnetbänder werden in relativ großen Breiten von z. B. 700 mm hergestellt. In diesem Fall ist es zweckmäßig, über die Breite der Bahn etwa 120 Magnetköpfe unmittelbar nebeneinander anzuordnen, mittels der dann etwaige Fehlstellen in relativ feiner Rasterung magnetisch markiert werden können.
Es ist also in der Regel nicht möglich, die Markierungsvorrichtung am gleichen Ort wie die Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung anzubringen. Deshalb wird die Markierungsvorrichtung um eine bestimmte Strecke in Laufrichtung versetzt hinter der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung angeordnet. Die von der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung gelieferte Fehlerinformation kann mit Hilfe eines Schieberegisters bis zum Ort der Markierung zeitlich so verzögert werden, daß die Markierung jeweils am Ort der Fehlstelle erfolgt. Wählt man den Takt des Schieberegisters proportional zur Bahngeschwindigkeit, so wird die Markierungsvorrichtung genau in dem Augenblick angesteuert, in dem der Fehler die Markierungsvorrichtung passiert. Die Zahl der Taktimpulse zwischen dem Passieren der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung und der Markierungsvorrichtung bestimmt die Länge des Schieberegisters.
Voraussetzung für das einwandfreie Arbeiten dieser Anordnung ist es, daß das Fehlersignal innerhalb sehr kurzer Zeit nach der Fehlerfeststellung in das Schieberegister eingespeist wird. Die Verzögerungszeit sollte kleiner als eine Taktperiode sein. Der Vorschubtakt wird durch einen vom Bahnvorschub gesteuerten Inkrementalgeber bestimmt. Hierdurch wird der Vorschub der Bahn digitalisiert, indem der Vorschub z. B. in einzelne Schritte von 1 mm unterteilt wird. Mit anderen Worten wird jeweils nach 1 mm Vorschub eine Fehler-
3 4
ermittlung durch Abtasten der Bahn durchgeführt. Zeitaufwand analysiert und ebenfalls gänzlich unabhän-
Die Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung gibt nun gig vom Vorschub der Bahn zwischengespeichert. Erst im allgemeinen nicht ohne weiteres verwertbare Fehler- wenn eine fehlermäßig bereits erfaßte Stelle der Bahn signale ab. Zum einen sind die Fehlersignale je nach der zur Markierungsvorrichtung gelangt, wird der Spei-Art des Fehlers (Loch, Kratzer, Beule usw.) sehr ver- 5 cherinhalt daraufhin überprüft, ob für die betreffende schieden; zum anderen führt aber auch die einwandfreie Längskoordinate Fehlersignale abgespeichert sind oder Struktur einer Bahn häufig zu Signalen, die von den nicht. Sind Fehlersignale abgespeichert, so werden diese echten Fehlersignalen nur schwer unterscheidbar sind. dem Speicher entnommen und zu einer entsprechenden So findet man z. B. in Textilbahnen sehr viele Löcher, die Markierung der Bahn verwendet,
zur normalen Struktur des betreffenden Bahnmaterials 10 Um die Kapazität des Speichers möglichst gering haigehören, jedoch bei Verwendung einer auf Löcher an- ten zu können, soll nach Feststellung eines Fehlersignals sprechenden Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung vie- bei bestimmten Bahnkoordinaten das betreffende Fehle Lochsignale auslösen, die von den echten Fehlersi- lersignal im Speicher gelöscht werden,
gnalen zu unterscheiden sind, die z. B. auftreten, wenn in Um nicht nur eine Markierung in Längs-, sondern dem Bahnmaterial ein Kettfaden ausfällt. 15 auch in Querrichtung der Bahn zu ermöglichen, ist nach
Zur Trennung von echten Fehlersignalen und keine einer besonders bevorzugten Ausführungsform vorge-
Fehler darstellenden Struktursignalen ist im allgemei- sehen, daß die Markierungsvorrichtung quer zur Längs-
nen ein aufwendiger Analysenvorgang erforderlich. Bei richtung der Materialbahn mehrere Markierer aufweist
schnell laufenden Materialbahnen und vielen fehlerhaf- und der Fehlersignalspeicher auch die Querkoordinate
ten Stellen kann dabei die Datenrate für die kontinuier- 20 jedes Fehlersignals speichert und daß das von dem
liehe sofortige Verarbeitung der Signale zu hoch sein. Komparator an die Markierungsvorrichtung abgegebe-
Nun könnte man zwar zur Geschwindigkeitsanpassung ne Meßsignal auch eine Querkoordinatenkomponente
einen Pufferspeicher verwenden, wobei die Verzöge- enthält.
rungszeit in dem Pufferspeicher vom Füllgrad abhängig Der schnell arbeitende Fehlersignalspeicher regiist. In abhängigkeit von den eingehenden Daten kann 25 striert also nicht nur die Fehlersignale, sondern auch auch die Rechenzeit eines etwa verwendeten Auswerte- deren Koordinaten in Vorschubrichtung und quer zur rechners verschieden sein. Das bedeutet, daß die Zeit Vorschubrichtung der Materialbahn. Das Fehlersignal zwischen dem Fehlerdurchgang durch die Fehlerfest- selbst kann dabei unterschiedliche Werte je nach dem stellungs-Abtastvorrichtung und der Fehlererkennung Charakter des festgestellten Fehlers haben. Im Fehlererstens sehr groß und zweitens variabel ist. Aus diesem 30 analysator sind die Fehlerart und der Fehlerort in abso-Grunde ist eine genaue Fehlermarkierung in Transport- luten Koordinaten ermittelt worden,
richtung nicht mehr möglich. Weiter ist es schon be- Beim Start der Inspektion wird ein z. B. durch einen kannt (DE-OS 17 73 279), mehrere, auf unterschiedliche Inkrementalgeber angesteuerter Vorschubkoordinaten-Fehler ansprechende Vorrichtungen in Transportrich- zähler an der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung auf tung hintereinander an einer Bahn anzuordnen, welche 35 Null gesetzt. Gleichzeitig wird ein entsprechender Voran eine Auswerteelektronik angeschlossen sind, um ein schubkoordinatenzähler der Markierungsvorrichtung Ausscheiden schadhafter Produkte auszulösen. Auch auf den negativen Wert des Abstandes der beiden Vorbei dieser vorbekannten Vorrichtung müssen etwaige richtungen eingestellt. In kurzen Vorschubabständen Fehler noch während des Vorbeilaufens der Fehlstelle von z. B. 1 mm wird nun die augenblicklich an der Maran der Vorrichtung erkannt, d. h analysiert werden. Für 40 kierungsvorrichtung gültige Vorschubkoordinate mit eine aufwendige Analyse zur Unterscheidung von den Vorschubkoordinaten der bereits abgespeicherten Struktur- und Fehlersignalen steht also ebenfalls keine Fehlersignale verglichen. Stimmen die beiden Werte inZeit zur Verfügung. nerhalb einer vorwählbaren Toleranz überein, wird ein
Weiter ist bereits ein komplettes Oberflächen-In- Markiervorgang ausgelöst.
spektionssystem bekannt (DE-OS 28 50 203), das zur 45 Auf diese Weise ist es möglich, die Fehler mit hoher Aussortierung fehlerhafter Blätter, z. B. der Blätter ei- Genauigkeit auf der Bahn in Vorschubrichtung zu marnes Röntgenfilms, vorgesehen ist. Auch bei diesem vor- kieren. Durch Anordnung mehrerer Markierer quer zur bekannten Oberflächen-Inspektionssystem muß die Transportrichtung ist es außerdem möglich, durch AusAuswertung der Empfangssignale sofort, d. h. noch wäh- wertung der Querkoordinate den Fehler auch in Querrend des Vorbeilaufens der Bahn an der Abtastvorrich- 50 richtung zu kennzeichnen. Die Auflösung der Kenntung erfolgen. zeichnung in Querrichtung ist durch die Zahl der ver-
Das Ziel der Erfindung besteht demgegenüber darin, wendeten Markierer bestimmt. Bei niedriger Geschwineine Anordnung der eingangs genannten Gattung zu digkeit ist es auch möglich, den Markierkopf in Querschaffen, mit der auch bei mit hoher Geschwindigkeit richtung entsprechend der Koordinatenangabe zu vervorgeschobenen Materialbahnen und sehr komplexen, 55 schieben.
von der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung geliefer- Aufgrund des an der Markierungsvorrichtung erfolten Fehler- und Struktursignalen, die einer zeitaufwen- genden Vergleichs der Absolutkoordinaten mit den abdigen Analyse bedürfen, eine einwandfreie und geord- gespeicherten Koordinaten wird die Fehlerkennzeichnete Markierung der Bahn bzw. Aussortierung fehler- nung in Vorschubrichtung unabhängig von der Zeit, die hafter Bahnstücke in einem definierten Abstand von der 60 für die Fehleranalyse erforderlich ist. Die einzige Bedin-Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung mit relativ gerin- gung besteht darin, daß die Zeit, in der die Materialbahn gern Aufwand möglich ist. vom Inspektionsort zum Markierungsort transportiert
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des wird, bei der höchsten Bahngeschwindigkeit größer ist
Patentanspruchs 1 vorgesehen. als die maximal für die Fehleranalyse benötigte Zeit.
Aufgrund dieser Ausbildung werden die von der Feh- 65 Diese Bedingung ist durch Wahl eines geeigneten Ab-
lerfeststellungs-Abtastvorrichtung abgegebenen Signa- Standes ohne weiteres erfüllbar.
Ie völlig unabhängig von der Bahngeschwindigkeit al- Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise an-
lein nach dem für ein spezielles Signal erforderlichen hand der Zeichnung beschrieben, deren einzige Figur
5
eine schematische Wiedergabe einer Anordnung zur Bahngeschwindigkeit ist, an den Komparator 12 weiter-Markierung von Fehlstellen an schnell vorgeschobenen gibt, werden die Markierer 14a, 14ώ, 14c,... im Falle des Materialbahnen ist. Vorliegens eines Fehlers genau in dem Moment betä-
Nach der Zeichnung wird eine in Draufsicht darge- tigt, wo sich die Bahnstelle, deren Fehlersignal von der stellte Materialbahn 15 in Richtung des Pfeiles / mit 5 Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung 16 ermittelt wureiner vorgegebenen Geschwindigkeit von z.B. 10 m/s de, genau unterhalb der Markierer der Markierungsvorvorgeschoben. richtung 14 befindet.
An einer bestimmten Stelle der Bahn 15 ist über oder Aufgrund der erfindungsgemäßen Anordnung spielt
unter ihr eine Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung 16 es keine Rolle, mit welcher Geschwindigkeit die einzelvorgesehen, die auf der Bahn einen Lichtpunkt 17 ent- io nen Fehlersignale im Speicher 11 abgespeichert werden, wirft, der periodisch in Richtung des Pfeiles F über die da durch den Komparator 12 und den Längskoordina-Bahn geführt wird, wodurch ein schematisch angedeute- tenzähler 13 die an der Markierungsvorrichtung 14 erter Lichtstrich 18 entsteht. forderliche Zuordnung wieder hergestellt wird. Es ist
Im Bereich der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrich- lediglich erforderlich, daß alle von der Fehlerfeststeltung 16 ist außerdem ein Inkrementalgeber 19 angeord- 15 lungs-Abtastvorrichtung 16 ermittelten Fehlersignale net, welcher ein dem Vorschub der Bahn 15 entspre- spätestens dann im Speicher 11 abgespeichert sind, chendes Signal abgibt und einen Vorschubkoordinaten- wenn die betreffende Bahnstelle die Markierungsvorzähler ansteuert. Der Inkrementalgeber gibt ein Taktsi- richtung 14 nach dem Durchlaufen der Strecke x0 ergnal ab, welcher die nachfolgende Schaltung in be- reicht.
stimmten Zeitabständen, entsprechend z. B. einem Vor- 20 Zur einwandfreien Funktion der erfindungsgemäßen schub der Bahn von 1 mm zur Fehlerverarbeitung ver- Anordnung ist es auch erforderlich, daß der Komparaanlaßt. tor 12 innerhalb eines Taktes den Vergleich mit dem
Der vom Inkrementalgeber 19 gelieferte Vorschub- Inhalt des Speichers 11 durchführen kann, takt 21 ist zum einen an einen der Fehlerfeststellungs- An die Längskoordinatenzähler 13, 20 ist über eine
Abtastvorrichtung 16 zugeordneten Längskoordinaten- 25 Zuleitung 25 auch ein Nullsetzimpuls anlegbar, um den zähler 20 und zum anderen an einen einer Markierungs- Beginn einer Fehleranalyse zeitlich festlegen zu können.
vorrichtung 14 zugeordneten zweiten Längskoordina-
tenzähler 13 angelegt. Die Markierungsvorrichtung ist Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
in einem Abstand xo in Laufrichtung /hinter der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung 16 angeordnet und erstreckt sich quer über oder unter der Bahn 15. Die Markierungsvorrichtung 15 besteht aus zahlreichen in Querrichtung nebeneinänderliegenden Markierern 14a, 146, 14c,..., welche es gestatten, an dem betreffenden Ort zu einer gewünschten Zeit eine optische, elektrische oder magnetische Markierung an der Bahn 15 anzubringen.
Der Längskoordinatenzähler 20 ist an einen Fehlersignalanalysator 22 angelegt, dem auch das von der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung 16 gebildete FehlersignaTz,-einschließlich der zugehörigen Fehlerkoordinate jozugeführtist.jdst die in der Zeichnung angedeutete Koordinate eines bestimmten Bahnpunktes am Orte des Lichtstriches 18 in Querrichtung der Bahn.
Im Fehlersignalanalysator 22 wird für jede Längskoordinate Xi ermittelt, ob dort Fehlersignale z-, auftreten und wenn ja, bei welcher Querkoordinate y,. Über ein Ausgaberegister 23, welches aus den Werten xs, y,- und z-, ein Fehlerwort bildet, wird ein Fehlersignalspeicher 11 beaufschlagt, in dem ermittelte Fehlersignale nach der Fehlerart (zj) sowie nach ihrem Bahnkoordinaten x„ y, abgespeichert werden. Die wortserielle Übertragung vom Ausgaberegister 23 zum Fehlersignalspeicher 11 kann wahlweise bitseriell oder bitparallel erfolgen.
An den Speicher 11 ist ein Komparator 12 angeschlossen, dessen anderem Eingang das Ausgangssignal von dem zweiten Längskoordinatenzähler 13 zugeführt ist. Der Komparator 12 vergleicht das vom Längskoordinatenzähler 13 abgegebene Längskoordinatensignal mit dem Inhalt des Speichers 11 und gibt ein Ausgangssignal ab, sobald für eine bestimmte Längskoordinate x,-im Speicher 11 ein Fehlersignal gespeichert ist. Das entsprechende Markierungssignal wird über ein Ausgaberegister 24 an die Markierungsvorrichtung abgegeben und beaufschlag je nach dem Wert der Querkoordinate yt den zugeordneten Markierer 14a, 14Z?, 14c usw. mit dem Fehlersignal z/.
Da der zweite Längskoordinatenzähler 13 sein Koordinatensignal mit der Verzögerung X0Zv, wobei ν die

Claims (3)

Patentansprüche:
1. Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen oder zur Aussortierung fehlerhafter Materialstücke mit einer die Bahn quer zu ihrer Längsrichtung periodisch abtastenden Fehlerfeststellungs-Abtastungsvorrichtung, einem Fehlersignalspeicher und einer in einem definierten Abstand von der Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung vorgesehenen Markierungs- oder Aussortierungsvorrichtung, die in Abhängigkeit von dem Vorliegen eines Fehlersignals bei bestimmten Bahnkoordinaten eine entsprechende Bahnmarkierung bzw. Aussortierung vornimmt, dadurch gekennzeichnet, daß die Fehlerfeststellungs-Abtastvorrichtung (16) an einen Fehlersignalanalysator (22) angeschlossen ist, welcher die eingehenden Signale unabhängig von der Bahngeschwindigkeit allein nach dem für ein spezielles Signal erforderlichen Zeitaufwand daraufhin analysiert, ob es sich um Fehler- oder Struktursignale handelt, und die ermittelten Fehlersignale (zi) an den Fehlersignalspeicher (11) liefert, der die Bahnkoordinaten (xb ys) der Fehlersignale (zi) ebenfalls unabhängig vom Vorschub der Bahn speichert, und daß ein Komparator (12) an den Fehlersignalspeicher (11) angeschlossen ist, an den außerdem ein Längskoordinatenzähler (13) angelegt ist, wobei der Fehlersignalspeicher (11) in kurzen Zeitabständen prüft, ob für die gerade vom Längskoordinatenzähler (13) ermittelte, gerade an der Markierungsvorrichtung (14) vorbeilaufende Längskoordinate (xi) ein Fehlersignal vorliegt, und daß der Komparator (12) bei Feststellen eines Fehlersignals (zj) ein Markierungs- bzw. Aussortierungssignal an die Markierungs- oder Aussortierungsvorrichtung (14) abgibt.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Markierungsvorrichtung (14) quer zur Längsrichtung der Materialbahn (15) mehrere Markierer (14a, 14Zj, 14c, ...) aufweist und der Fehlersignalspeicher (11) auch die Querkoordinate (yi) jedes Fehlersignals (zi) speichert und daß das von dem Komparator (12) an die Markierungsvorrichtung (14) abgegebene Meßsignal auch eine Querkoordinatenkomponente (^enthält.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß nach Feststellung eines Fehlersignals bei bestimmten Bahnkoordinaten das betreffende Fehlersignal im Speicher gelöscht wird.
DE3325125A 1983-07-12 1983-07-12 Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen Expired DE3325125C1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3325125A DE3325125C1 (de) 1983-07-12 1983-07-12 Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen
GB8416857A GB2143320B (en) 1983-07-12 1984-07-03 A method of an apparatus for marking faults on a rapidly moving material web, or for sorting out faulty pieces of the material web
JP59142100A JPS6039555A (ja) 1983-07-12 1984-07-09 迅速移動帯材に欠陥を印するための、又は、材料の欠陥片を選別するための装置
US06/890,796 US4746020A (en) 1983-07-12 1986-07-24 Method and an apparatus for marking faults on rapidly moving material webs

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3325125A DE3325125C1 (de) 1983-07-12 1983-07-12 Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3325125C1 true DE3325125C1 (de) 1985-02-14

Family

ID=6203790

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3325125A Expired DE3325125C1 (de) 1983-07-12 1983-07-12 Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4746020A (de)
JP (1) JPS6039555A (de)
DE (1) DE3325125C1 (de)
GB (1) GB2143320B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1030172A2 (de) * 1999-02-18 2000-08-23 Parsytec Computer GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren, Kennzeichnen und Wiederauffinden von Fehlern eines Materialbandes
DE102010037788B4 (de) * 2010-09-27 2012-07-19 Viprotron Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Anzeige von automatisiert ermittelten Fehlerstellen
DE102016011554A1 (de) 2016-09-23 2018-05-03 Vision Tools Bildanalyse Systeme Gmbh Verfahren zur Darstellung von Fehlern an Werkstücken

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3629004A1 (de) * 1986-08-27 1988-03-10 Agie Ag Ind Elektronik Stromzufuehrung fuer eine drahtelektrode einer elektroerosionsmaschine
US4837715A (en) * 1987-01-27 1989-06-06 Kimberly-Clark Corporation Method and apparatus for detecting the placement of components on absorbent articles
US4865872A (en) * 1987-02-17 1989-09-12 Enamel Products & Plating Company Strip inspecting apparatus and associated method
ATE77883T1 (de) * 1987-08-18 1992-07-15 Krauss & Reichert Maschf Verfahren und vorrichtung zum erfassen und behandeln von fehlern in stoffbahnen.
US4828156A (en) * 1987-10-08 1989-05-09 Ncr Corporation Web monitoring system
US4904875A (en) * 1989-01-30 1990-02-27 James River Corporation Facial tissue splice detector system
US5050093A (en) * 1989-10-19 1991-09-17 The Boeing Company Method and apparatus for inspecting electrical wire
US5354994A (en) * 1991-12-31 1994-10-11 Ray Hicks Method and apparatus for detecting film edges and film optical centers
US5235515A (en) * 1992-02-07 1993-08-10 Kimberly-Clark Corporation Method and apparatus for controlling the cutting and placement of components on a moving substrate
DE4216469A1 (de) * 1992-05-19 1993-11-25 Diehl Gmbh & Co Einrichtung zum Klassifizieren von Fehlern in Häuten
CA2095555A1 (en) * 1992-12-16 1994-06-17 Robert L. Popp Apparatus and methods for selectively controlling a spray of liquid to form a distinct pattern
JP3245507B2 (ja) * 1994-09-27 2002-01-15 株式会社新川 試料検査装置における試料搬送方法及び試料搬送装置
US6037009A (en) 1995-04-14 2000-03-14 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method for spraying adhesive
US5618347A (en) 1995-04-14 1997-04-08 Kimberly-Clark Corporation Apparatus for spraying adhesive
SE511822C2 (sv) * 1996-11-13 1999-11-29 Svante Bjoerk Ab Anordning och metod för att markera defekter på en transparent remsa
US20030105443A1 (en) * 2000-07-10 2003-06-05 The Procter & Gamble Company Absorbent article comprising mircroporous film with registration mark
DE60027896T2 (de) * 2000-08-07 2006-11-30 Fuji Photo Film B.V. Positionsindizierung von Flächen mit Qualitätsproblem auf einer kontinuierlichen Bahn
US7052483B2 (en) * 2000-12-19 2006-05-30 Animas Corporation Transcutaneous inserter for low-profile infusion sets
US6950547B2 (en) * 2001-02-12 2005-09-27 3M Innovative Properties Company Web inspection method and device
US6788803B2 (en) 2001-12-14 2004-09-07 Paragon Trade Brands, Inc. Methods and systems for making disposable absorbent article having graphics
GB0207874D0 (en) * 2002-04-05 2002-05-15 Pelcombe Ltd Web marking systems and methods
JP2007517232A (ja) * 2003-12-31 2007-06-28 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー ウェブに基づく物品の歩留まりの最大化
EP1702299A4 (de) * 2003-12-31 2011-11-23 3M Innovative Properties Co Inventarsteuerung für webgestützte artikel
US7623699B2 (en) * 2004-04-19 2009-11-24 3M Innovative Properties Company Apparatus and method for the automated marking of defects on webs of material
FR2907424B1 (fr) * 2006-10-19 2012-09-21 Edixia Procede et dispositif pour assurer un controle et un marquage d'emballages
US20090028417A1 (en) * 2007-07-26 2009-01-29 3M Innovative Properties Company Fiducial marking for multi-unit process spatial synchronization
US8175739B2 (en) * 2007-07-26 2012-05-08 3M Innovative Properties Company Multi-unit process spatial synchronization
US7542821B2 (en) 2007-07-26 2009-06-02 3M Innovative Properties Company Multi-unit process spatial synchronization of image inspection systems
JP4518175B2 (ja) * 2008-04-08 2010-08-04 トヨタ自動車株式会社 ウェブ蛇行修正装置及びウェブ蛇行修正方法
US7797133B2 (en) * 2008-09-10 2010-09-14 3M Innovative Properties Company Multi-roller registered repeat defect detection of a web process line
TWI411557B (zh) * 2010-11-26 2013-10-11 Primax Electronics Ltd 標籤列印裝置
DE102013108485B4 (de) * 2013-08-06 2015-06-25 Khs Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Fehlertracking bei Bandmaterialien
CA2893017C (en) 2015-01-19 2020-03-24 Tetra Tech, Inc. Light emission power control apparatus and method
CA2892952C (en) 2015-01-19 2019-10-15 Tetra Tech, Inc. Protective shroud
CA2893007C (en) 2015-01-19 2020-04-28 Tetra Tech, Inc. Sensor synchronization apparatus and method
US10349491B2 (en) 2015-01-19 2019-07-09 Tetra Tech, Inc. Light emission power control apparatus and method
US10362293B2 (en) 2015-02-20 2019-07-23 Tetra Tech, Inc. 3D track assessment system and method
US10730538B2 (en) 2018-06-01 2020-08-04 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for calculating plate cut and rail seat abrasion based on measurements only of rail head elevation and crosstie surface elevation
US10807623B2 (en) 2018-06-01 2020-10-20 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for gathering data from sensors oriented at an oblique angle relative to a railway track
US11377130B2 (en) 2018-06-01 2022-07-05 Tetra Tech, Inc. Autonomous track assessment system
US10625760B2 (en) 2018-06-01 2020-04-21 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for calculating wooden crosstie plate cut measurements and rail seat abrasion measurements based on rail head height
WO2020232431A1 (en) 2019-05-16 2020-11-19 Tetra Tech, Inc. System and method for generating and interpreting point clouds of a rail corridor along a survey path
US11867630B1 (en) 2022-08-09 2024-01-09 Glasstech, Inc. Fixture and method for optical alignment in a system for measuring a surface in contoured glass sheets

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1296822B (de) * 1959-12-22 1969-06-04 Feldmuehle Ag Vorrichtung zur laufenden UEberwachung von Papier, Pappe, Folien oder sonstigen bahn- oder blattfoermigen Erzeugnissen auf optisch erkennbare Abweichungen (Fehlerstellen)
DE1773279A1 (de) * 1968-04-09 1971-09-16 Ball Brothers Co Inc Elektronische UEberwachungsvorrichtung mit einer Vielzahl von UEberwachungsstationen
DE2245058A1 (de) * 1972-09-14 1974-03-21 Sick Optik Elektronik Erwin Photoelektrische oberflaechenabtastvorrichtung
DE2720196A1 (de) * 1976-05-07 1977-11-17 Ferranti Ltd Diskriminierschaltung
DE2720804A1 (de) * 1976-05-10 1977-12-01 British Steel Corp Verfahren zur materialpruefung
DE2749873A1 (de) * 1976-12-01 1978-06-08 Ferranti Ltd Detektoranordnung fuer optische ueberwachung von gegenstaenden
DE2850203A1 (de) * 1977-11-21 1979-05-23 Du Pont Verfahren und vorrichtung zur pruefung eines laufenden materialstreifens auf materialfehler
EP0060160A1 (de) * 1981-02-25 1982-09-15 Cem Compagnie Electro-Mecanique Verfahren zur Untersuchung von Fehlern an Glasbahnen und Einrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2758712A (en) * 1952-08-18 1956-08-14 Linderman Engineering Company Detecting apparatus
US3290167A (en) * 1963-07-01 1966-12-06 American Mach & Foundry Motion responsive flaw marking apparatus and method
US3793983A (en) * 1972-04-20 1974-02-26 Ppg Industries Inc Apparatus for marking flat glass
US4004904A (en) * 1975-08-04 1977-01-25 Index, Incorporated Electronic system for article identification
JPS5296084A (en) * 1976-02-06 1977-08-12 Konan Camera Res Inst System for processing surface flaw
US4073260A (en) * 1976-04-19 1978-02-14 British Steel Corporation Apparatus for removing cross welds from metal tubes and marking the same
US4134684A (en) * 1977-01-18 1979-01-16 Intex Corp. Repeat defect detector system
US4166541A (en) * 1977-08-30 1979-09-04 E. I. Du Pont De Nemours And Company Binary patterned web inspection
US4211132A (en) * 1977-11-21 1980-07-08 E. I. Du Pont De Nemours And Company Apparatus for on-line defect zoning
JPS5694589A (en) * 1979-12-27 1981-07-31 Nec Corp Memory device
JPS6333160Y2 (de) * 1980-09-27 1988-09-05

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1296822B (de) * 1959-12-22 1969-06-04 Feldmuehle Ag Vorrichtung zur laufenden UEberwachung von Papier, Pappe, Folien oder sonstigen bahn- oder blattfoermigen Erzeugnissen auf optisch erkennbare Abweichungen (Fehlerstellen)
DE1773279A1 (de) * 1968-04-09 1971-09-16 Ball Brothers Co Inc Elektronische UEberwachungsvorrichtung mit einer Vielzahl von UEberwachungsstationen
DE2245058A1 (de) * 1972-09-14 1974-03-21 Sick Optik Elektronik Erwin Photoelektrische oberflaechenabtastvorrichtung
DE2720196A1 (de) * 1976-05-07 1977-11-17 Ferranti Ltd Diskriminierschaltung
DE2720804A1 (de) * 1976-05-10 1977-12-01 British Steel Corp Verfahren zur materialpruefung
DE2749873A1 (de) * 1976-12-01 1978-06-08 Ferranti Ltd Detektoranordnung fuer optische ueberwachung von gegenstaenden
DE2850203A1 (de) * 1977-11-21 1979-05-23 Du Pont Verfahren und vorrichtung zur pruefung eines laufenden materialstreifens auf materialfehler
EP0060160A1 (de) * 1981-02-25 1982-09-15 Cem Compagnie Electro-Mecanique Verfahren zur Untersuchung von Fehlern an Glasbahnen und Einrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DE-Z.: Blech-Rohre-Profile 27, 1980, 3, 188-189 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1030172A2 (de) * 1999-02-18 2000-08-23 Parsytec Computer GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren, Kennzeichnen und Wiederauffinden von Fehlern eines Materialbandes
DE19906701C1 (de) * 1999-02-18 2000-12-14 Parsytec Comp Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren, Kennzeichnen und Wiederauffinden von Fehlern eines Materialbandes
EP1030172A3 (de) * 1999-02-18 2001-04-11 Parsytec Computer GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren, Kennzeichnen und Wiederauffinden von Fehlern eines Materialbandes
DE102010037788B4 (de) * 2010-09-27 2012-07-19 Viprotron Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Anzeige von automatisiert ermittelten Fehlerstellen
US9524623B2 (en) 2010-09-27 2016-12-20 Viprotron Gmbh Method and device for indicating automatically identified flaws
DE102016011554A1 (de) 2016-09-23 2018-05-03 Vision Tools Bildanalyse Systeme Gmbh Verfahren zur Darstellung von Fehlern an Werkstücken
DE102016011554B4 (de) 2016-09-23 2019-07-18 Vision Tools Bildanalyse Systeme Gmbh Verfahren zur Darstellung von Fehlern an Werkstücken

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6039555A (ja) 1985-03-01
GB2143320A (en) 1985-02-06
GB2143320B (en) 1986-10-22
GB8416857D0 (en) 1984-08-08
US4746020A (en) 1988-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3325125C1 (de) Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen
DE3046611C2 (de)
DE3328034C2 (de)
DE102007029299B4 (de) Optischer Sensor für Positionieraufgaben
DE3713279A1 (de) Verfahren zum erfassen von dimensionsfehlern
EP0303722B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen und Behandeln von Fehlern in Stoffbahnen
DE3138071C2 (de)
WO2002010716A2 (de) Verifikation von dickenmodulationen in oder auf blattgut
EP2159536B1 (de) Verfahren zum berührungslosen Messen der Geschwindigkeit und/oder der Länge eines in Längsrichtung bewegten Strangs, insbesondere eines Kabels
DE1473378A1 (de) Vorrichtung zur Auswertung bei der Abtastung von blattfoermigen Einzelprodukten oder kontinuierlichen Baendern erhaltener Informationen
DE10129889A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Störungserfassung beim Transport einer Bahn
DE1473622A1 (de) Verfahren und Einrichtung zur selbsttaetigen dreidimensionalen Darstellung der Lage einer Fehlerstelle in einem Pruefobjekt
DE3913159A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von wellenfoermigen deformationen an wenigstens einer schienenoberseite (schienenlaufflaeche) eines schienenweges
DE3212438C2 (de) Verfahren zur Auswertung der analogen elektrischen Ausgangssignale einer photoelektrischen Lichtempfangsvorrichtung in optischen Bahnabtastvorrichtungen
DE3100131A1 (de) Verfahren zur bestimmung der form eines risses
EP0093865B1 (de) Abtastvorrichtung zur Ermittlung von Warenbahnnähten
EP0408490B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Zählen von Druckprodukten
DE1499399C3 (de) Gerät zur automatischen Ermittlung der Registrierdauer eines Ereignisses aus Balkendiagrammen
DE4239456A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Oberflächen
DE2917510C2 (de) Verfahren zur automatischen Erkennung der Breite, der Kopf- und der Seitenkonturen von blech- oder bandförmigen Prüfstücken bei der Werkstoffprüfung mit Ultraschall
DE3522809A1 (de) Verfahren und messanlage zur durchmesserbestimmung der raeder von radsaetzen
EP0294674B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung von Tangentialriemen bei einer Maschine zum Herstellen gedrehter oder gezwirnter Fäden
DE19505513A1 (de) Verfahren zur Einzelstückverfolgung
EP3323517A1 (de) Sortiersystem und verfahren zur verfolgung eines einsortierens eines sortierguts in ein sortierregister
DE3141220C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of patent without earlier publication of application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8363 Opposition against the patent
8368 Opposition refused due to inadmissibility
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: RHEINMETALL MACHINE VISION GMBH, 40882 RATINGEN, D

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: RHEINMETALL DETEC AKTIENGESELLSCHAFT, 40880 RATING