KR980013563A - Ic 테스터용 테스트 보드(test board for ic tester) - Google Patents

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Abstract

본 발명의 IC 테스터용 테스트 보드에 있이서의 베이스유니트(21)는 제6커넥터(24)와 베이스카드(25)와 케이블 장비(27)에 의해 구성되어 있다.
제6커넥터(24)는 핀카드(3)에 설치된 제5커넥터(23)에 맞물리고 베이스카드(25)는 제6커넥터(24)를 설치하여 각 제6커넥터(24)마다 분할되며, 케이블 장비(27)는 양단에 제7커넥터(26) 및 제8커넥터(28)를 구비하며, 제7커넥터(26)가 상기 베이스카드(25)에 설치된 제6커넥터(24)에 맞물린 접속선에 대하여 변경 가능하다.
DUT유니트(22)는 케이블 장비(27)의 제8커넥터(28)에 맞물린 제9커넥터(29)를 설치고, IC소켓(15)을 구비한 소켓보드(14)로 구성되어 있다.

Description

IC 테스터용 테스트 보드 (TEST BOARD FOR IC TESTER)
본 발명은 IC 테스터용 테스트 보드에 관한 것으로서, 특히 IC 테스터와 자동핸들러를 접속하는 IC 테스터용 테스트 보드에 관한 것이다.
IC 테스터용 테스트 보드는, IC 테스터와 자동핸들러의 접속에 이용되고, 도 4a 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 피측정 디바이스(16)와 핀카드(3) 사이에 개재하고, 베이스유니트(1)와 DUT유니트(2)를 구비하고 있다. 도 4a 및 도 4b는 종래 기술의 구성도, 도 5는 종래 기술의 사시도, 도 6은 도 5를 Ⅵ방향에서 본 그림이다.
도 4a 및 도 4b에 있어서, 베이스유니트(1)는, 제1커넥터(6)를 설치한 베이스 보드(5)와, 양단에 제2커넥터(7)및 제3커넥터(9)를 갖는 케이블 장비(8)를 구비하고 있다.
핀카드(3)에는, 포커핀(4)이 설치되어, 베이스 보드(5)의 하면에 설치된 포커핀 접촉부(도시생략)를 포커핀(4)으로 누름으로써(화살표E), 베이스 보드(5)가 핀카드(3)에 접속된다 베이스 보드(5)상에는, 제1커넥터(6)가 설치되고, 제1커넥터(6)에는 케이블 장비(8)의 제2커넥터(7)가 맞물려져 있다.
한편, DUT유니트(2)는 제4커넥터(10)를 설치한 커넥터카드(11)와, IC소켓(15)을 설치한 소켓보드(14)와, 커넥터카드(11)와 소켓보드(14) 사이를 접속하는 케이블(13)을 구비하고 있다. DUT유니트(2)를 구성하는 케이블(13)은 도 4a의 참조부호12로 도시하는 바와 같이, 그 일단이 커넥터카드(11)에, 타단이 소켓보드(14)에, 각각 납땜 접속되어 있다.
이 구성에 의해, 제3커넥터(9)와 제4커넥터(10) 사이(도 4b의 화살표C)로 베이스유니트(1)와 DUT 유니트(2)를 분리함으로써 DUT유니트(2)를 교환하고, 품종이 다른 피측정 디바이스(16)에 대응하게 되어 있다.
또한, 포커핀(4)차 포커핀 접촉부(도시생략) 사이(도 4b의 화살표D)에서 핀카드(3)와 베이스유니트(1)를 분리함으로써, 핀카드(3)나 제1커넥터(6)의 유지보수가 행하여진다.
더욱이, DUT유니트(2)를 구성하는 케이블(13)을 이용함으로써, 신호의 접속선을 변경하고, 품종이 다른 피측정 디바이스(16)으로의 대응이 기능하다. 그렇지만, 상기 종래의 IC 테스터용 테스트 보드로서는, 예컨대 아래와 같은 문제가 있었다.
(1) 종래의 DUT유니트(2)는 제4커넥터(10)를 설치하는 커넥터카드(11)와, IC소켓(15)을 설치하는 소켓보드(14)와, 커넥터카드(11)와 소켓보드(14)를 납땜으로 접속한 케이블(13)을 구비하고 있다. 이와 같이, 모듈화된 것이, 도 5 및 도 6에 도시한 바와 같이, 박스(17)에 수용됨으로써, DUT유니트(2)가 구성된다. 따라서, DUT유니트(2)가 크고, 무겁고, 또한 구조도 복잡하기 때문에, 분리 ·교환이 용이하지 않고, 예컨대, 분리 교환에 많은 일손을 요한다.
(2) 제1커넥터(6)는 도 4b 및 도 6에 도시한 바와 같이, 베이스유니트(1) 전체로 넓게 퍼진 공통의 베이스보드(5)에 설치되어 있다. 따라서, 베이스유니트(1)를 유지보수하는 경우에 있어서, 이러한 커다란 베이스 보드(5)에 설치되어 있는 제1커넥터(6)를 교환하는 것은, 수고와 시간을 요하며 용이하지 않다.
(3) DUT유니트(2)를 구성하는 커넥터카드(11)와 소켓보드(14)와의 접속은, 양단이 납땜 접속된 케이블(13)에 의해, 또한, 베이스유니트(1)를 구성하는 베이스 보드(5)와 핀카드(3)와의 접속은, 포커핀(4)에 의해 각각 행하여지고 있다(도 4a, 도 4b 및 도 6). 따라서, 신호의 접속계에서, 포커핀(4)나 납땜접속(12)같은 접속점이 많고, 특히, 고주파신호의 고속전송이 실현되기 어렵다. 그 결과, 접속점에서의 고주파의 전송성능이나 신뢰성이 낮아지고 있다.
(4) 품종이 다른 피측정 디바이스(16)에 대응하기 위해서 접속하는 신호의 배열을 변경할 필요가 있다.
본 발명은 DUT유니트의 분리 ·교환과 다른 품종으로의 대응을 쉽게 하고, 베이스유니트의 유지보수성 및 접속점에서의 고주파신호의 전송성능과 신뢰성을 향상시키며, 더욱이 접속하는 신호의 배열을 변경할 수 있는 케이블장비를 사용한 IC 테스터용 테스트 보드를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
도 1a 및 도 1b는 본 발명의 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예를 나타내는 사시도이다.
도 3은 도 2를 Ⅲ방향에서 본 도면이다.
도 4a 및 도 4b는 종래 기술의 구성도이다.
도 5는 기술의 구성도이다.
도 6은 도 3를 Ⅵ방향에서 본 도면이다.
본 발명에서는 상기 과제를 해결하기 위해서, 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 베이스유니트와 DUT유니트를 구비하고, 피측정 디바이스와 핀카드와의 사이에 개재하여, IC테스터와 자동핸들러를 접속하는 IC테스터용 테스트 보드에 있어서, 상기 베이스유니트(21)는 핀카드(3)에 설치된 제5커넥터(23)에 맞물린 제6커넥터(24)와 제6커넥터(24)를 설치하여, 각 제6커넥터(24)마다 분할된 베이스카드(25)와, 양단에 제7커덱터(26) 및 제8커넥터(28)를 구비하고,
제7커넥터(26)가 상기 베이스카드(25)에 설치된 제6커넥터(24)에 맞물린 접속선에 대하여 변경이 가능한 케이블 장비(27)로 구성되며, 상기 DUT유니트(22)는 케이블 장비(27)의 제8커넥터(28)에 맞물린 제9커넥터(29)를 설치하고, IC소켓(15)을 구비한 소켓보드(14)로 구성되어 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, DUT유니트(22)가 케히블 배선이 없이 소켓보드(14)만으로 구성되이 있기때문에, DUT유니트(22)가 소형화됨과 동시에 경량화되어, 구조가 간단해지고, DUT유니트의 분리 · 교환이 용이해져, 다른 패턴의 소켓보드(14)로 함으로써, 품종이 다른 피측정 디바이스(16)으로의 대응이 가능해진다.
또한, 분할된 베이스카드(25)에 제6커넥터(24)가 설치되어 있으므로, 베이스유니트(21)의 유지보수성이 향상되고, 포커핀(4)과 납땜접속(12)이 불필요하므로, 접속점이 감소되어 고주파신호의 전송성능과 신뢰성이 향상되며, 소켓보드(14)와 핀카드(3) 사이를 접속선이 변경가능한 케이블장비(27)고 접속하였기때문에, 접속되는 신호의 배열을 변경할 수 있다.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 1a 및 도 1b은 본 발명의 구성도, 도 2는 본 발명의 사시도, 도 3은 도 2를 Ⅲ방향에서 본 도면이다. 도1a 내지 도 3에 있어서, 부호21은 베이스유니트, 22는 DUT유니트, 3은 핀카드, 23은 제5커넥터, 24는 제6커넥터, 25는 베이스카드, 26은 제7커넥터, 27은 케이블장비, 28은 제8커넥터, 29는 제9커넥터, 14는 소켓보드, 15는 IC소켓, 16은 피측정 디바이스이다.
핀카드(3)에는 피측정 디바이스(14)를 시험하는 시험회로(도시생략)가 탑재되어, 시험회로에 접속되는 제5커넥터(23)가 설치되어 있다. 핀카드(3)의 제5커넥터(23)는, 그에 대향되는 제6커넥터(24)에 맞물려 있고, 제6커넥터(24)는 베이스카드(25)의 하면에 설치되어 있다. 또한, 베이스카드(25)는 설치되어 있는 제6커넥터(24)마다 분할되어 있다. 즉, 베이스카드(25)는 제6커넥터(24)단위로 각각 분할되어 있다.
케이블장비(27)는 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 단열부(27a)를 관통하며, 양단에 제7커넥터(26)와 제8커텍터(28)를 갖고 있다. 케이블장비(27)의 일단의 제7커넥터(26)는, 도 2의 커넥터 하우징(26a)으로 바꿔 끼움으로써, 접속선을 변경할 수 있어, 접속하는 신호의 배열이 변경가능하도록 되어 있다. 또한, 상기 커넥터 하우징(26a)은, 각 베이스카드(25)에 설치된 포스트하우징(26b)에 안내됨과 동시에, 빠짐이 방지되도록 되어 있다.
그리고, 상기 제6커넥터(24)와 제6커넥터(24)마다 분할된 베이스카트(25)와, 제7커넥터(26)에 의해 접속선을 변경할 수 있는 케이블장비(27)에 의해, 베이스유니트(21)가 구성되어 있다.
케이블장비(27)의 타단의 제8커넥터(28)는, 고정단열부(28a)에 설치되고(도 2, 도 3), 제8커넥터(28)는 소켓보드(14)에 설치된 제9커넥터(29)에 맞물려 있다. 소켓보드(14)에는 IC소켓(15)이 설치되어 있고, 패턴을 통해 이미 설명한 제9커넥터(29)에 접속되며, IC소켓(15)에 시험대상인 피측정 디바이스(16)가 설치되어 있다. 그리고, 상기 제9커넥터(29)와 제9커넥터(29)가 설치되어 있는 소켓보드(14)에 의해 DUT 유니트(22)가 구성되어 있다.
이하, 상기 구성을 구비한 본 발명의 작용을 설명하기로 한다.
(1) DUT유니트(22)의 분리 · 교환과 다른 품종으로의 대응
소켓보드(14)로 이루어지는 DUT유니트(22)를, 제8커넥터(28)와 제9커넥터(29) 사이(도 1b의 화살표A)로 분리하여, 새로운 DUT유니트(22)와 교환한다. 이 경우, DUT유니트(22)는 소켓보드(14)만으로 구성되어 있기 때문에, 매우 소형, 경량이며, 또한 구조가 간단하다. 따라서, 베이스유니트(21)에 대한 DUT유니트(22)의 분리 교환을 용이하게 할수있다. 더욱이, 다른 패턴의 소켓보드(14)로 함으로써, 품종이 다른 피측정 디바이스(16)에 대응할 수 있다.
(2) 베이스유니트(21)의 유지보수
베이스유니트(21)는, 분할된 베이스카드(25)로 구성되고, 각 베이스카드(25)에 설치된 제6커넥터(24)와 핀카드(3)의 제5커넥터(23) 사이(제1도 (B)의 화살표 B))로 분리된다. 따라서, 분리한 베이스유니트(21)로부터, 교환이 필요한 제6커넥터(24)가 설치되어 있는 베이스카드(25)만을 떼어, 새로온 제6커넥터(24)와 교환할 수 있고, 유지보수가 지극히 용이하게 된다.
(3) 고주파신호의 전송성능과 신뢰성
소켓보드(14)와 핀카드(3)의 사이는, 포커핀(4)이나 납땜접속(12)이 아니라 케이블장비(27)만으로 접속되어 있다. 따라서, 접속점이 감소되고, 핀카드(3)와 피측정 디바이스(16) 사이에서 신호의 고속전송이 실현될 수 있다. 이에 따라, 접속점에서의 고주파신호의 전송성능과 신뢰성이 향상된다.
(4) 신호의 배열변경
또한, 핀카드(3)와 피측정 디바이스(16) 사이를 접속하고 있는 상기 케이블장비(27)의 제7커넥터(26)를, 해당커넥터 하우징(26a)으로 바꿔 끼움으로써, 접속선을 변경할 수 있다. 그 결과, 접속되는 신호의 배열이 변경가능하게 되고, 품종이 다른 피측정 디바이스(16)에도 대응할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 의하면, IC 테스터용 테스트 보드의 베이스 유니트(21)를 핀카드(3)에 설치된 제5커넥터(23)에 맞물리는 제7커넥터(24)와, 제6커넥터(24)를 설치하고, 각 제6커넥터(24)마다 분할된 베이스카드(25)와, 양단에 제7커넥터(26) 및 제8커넥터(28)를 구비하고, 제7커넥터(26)가 상기 베이스카드(25)에 설치된 제6커넥터(24)에 맞물리는 접속선을 변경할 수 있는 케이블장비(27)에 의해, 또한 DUT유니트(22)를, 케이블 장비(27)의 제8커넥터(28)에 맞물리는 제9커넥터(29)를 설치함과 동시에, IC소켓(15)을 구비한 소켓보드(14)에 의해, 각각 구성한 것에 의해, DUT유니트의 분리 · 교환과 다른 품종으로의 대응을 쉽게 하여, 베이스유니트의 유지보수성을 향상시키고, 접속점에서의 고주파신호의 전송성능과 신뢰성을 향상시키며, 접속되는 신호의 배열을 변경할 수 있는 효과가 있다.

Claims (2)

  1. 베이스유니트와 DUT유니트를 구비하고, 피측정 디바이스와 핀카드와의 사이에 개재하여, IC 테스터와 자동핸들러를 접속하는 IC테스터용 테스트 보드에 있어서, 상기 베이스유니트(21)가 핀카드(3)에 설치된 제5커넥터(23)에 맞물린 제6커넥터(24)와, 제6커넥터(24)를 설치하여, 각 제6커넥터(24)마다 분할된 베이스카드(25)와, 양단에 제7커넥터(26) 및 제8커넥티(28)를 구비하고, 제7커넥터(26)가 상기 베이스카드(25)에 설치된 제6커넥터(24)에 맞물린 접속선에 대하이 변경이 가능한 케이블 장비(27)로 구성되며, 상기 DUT유니트(22)는 케이블 장비(27)의 제8커넥터(28)에 맞물린 제9커넥터(29)를 설치하고, IC소켓(15)을 구비한 소켓보드(14)로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 IC 테스터용 테스트 보드.
  2. 제1항에 있어서, 상기 케이블 장비(27)의 제7커넥터(26)를 각 베이스카드(25)의 포스트하우징(26b)에 삽입되어 있는 커넥터 하우징(26a)에 바꿔 끼움으로서, 접속선을 변경할 수 있는 IC 테스터용 테스트 보드.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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