JP3747649B2 - プリント回路板試験装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、バウンダリ・スキャンICを実装したプリント回路板をバウンダリ・スキャン試験するプリント回路板試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図6は従来のプリント回路板の一例を示す概念図である。図6中、1はプリント回路板本体、2−1〜2−4はバウンダリ・スキャンIC実装箇所、P1〜Pnは一般信号ピン、3は一般信号配線群、TCKはテスト・クロック・ピン、TMSはテスト・モード選択信号ピン、TDIは入力テスト・データ・ピン、TDOは出力テスト・データ・ピンである。
【0003】
図6に示す従来のプリント回路板は、バウンダリ・スキャンIC実装箇所2−1〜2−4の1以上の任意箇所にバウンダリ・スキャンICを実装したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板を製造する場合に使用するというものである。
【0004】
図7は図6に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の一例を示す概念図であり、バウンダリ・スキャンIC実装箇所2−1〜2−4にバウンダリ・スキャンIC4−1〜4−4を実装したオプション品を示している。なお、B1〜B8はバウンダリ・スキャンIC4−1〜4−4の内部に搭載されているバウンダリ・スキャン・セルを示している。
【0005】
図8は図6に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の他の例を示す概念図であり、バウンダリ・スキャンIC実装箇所2−1、2−4にバウンダリ・スキャンIC4−1、4−4を実装したオプション品を示している。
【0006】
図9は従来のプリント回路板試験装置の一例を示す概念図である。図9中、5は試験装置本体、6は試験装置本体5と図6に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板とを接続するためのアダプタ(接続治具)である。
【0007】
試験装置本体5において、P1〜Pnは一般信号ピン、TCKはテスト・クロック・ピン、TMSはテスト・モード選択信号ピン、TDIは入力テスト・データ・ピン、TDOは出力テスト・データ・ピンである。
【0008】
また、アダプタ6において、P1A〜PnAは一般信号ピン、TCKAはテスト・クロック・ピン、TMSAはテスト・モード選択信号ピン、TDIAは入力テスト・データ・ピン、TDOAは出力テスト・データ・ピンである。
【0009】
また、P1B〜PnBは一般信号ピン、TCKBはテスト・クロック・ピン、TMSBはテスト・モード選択信号ピン、TDIBは入力テスト・データ・ピン、TDOBは出力テスト・データ・ピンである。
【0010】
図10は図9に示す従来のプリント回路板試験装置を使用して図7に示す従来のバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図である。
【0011】
図10に示す例の場合、バウンダリ・スキャン試験に必要なバウンダリ・スキャン・チェーンは、試験装置本体5のTDIピン→アダプタ6のTDIAピン→アダプタ6のTDIBピン→プリント回路板本体1のTDIピン→IC4−1のTDIピン→IC4−1のTDOピン→・・・→IC4−4のTDIピン→IC4−4のTDOピン→プリント回路板本体1のTDOピン→アダプタ6のTDOBピン→アダプタ6のTDOAピン→試験装置本体5のTDOピンからなるパスで形成されている。
【0012】
図11は図9に示す従来のプリント回路板試験装置を使用して図8に示す従来のバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図である。
【0013】
図11中、7、8はバウンダリ・スキャンIC4−1のTDOピンとバウンダリ・スキャンIC4−4のTDIピンとを電気的に接続するために、バウンダリ・スキャンIC実装箇所2−2、2−3のTDIピン・TDOピン間に半田付けされたジャンパ線である。
【0014】
図11に示す例の場合、バウンダリ・スキャン・チェーンは、試験装置本体5のTDIピン→アダプタ6のTDIAピン→アダプタ6のTDIBピン→プリント回路板本体1のTDIピン→IC4−1のTDIピン→IC4−1のTDOピン→ジャンパ線7→ジャンパ線8→IC4−4のTDIピン→IC4−4のTDOピン→プリント回路板本体1のTDOピン→アダプタ6のTDOBピン→アダプタ6のTDOAピン→試験装置本体5のTDOピンからなるパスで形成されている。
【0015】
図6に示す従来のプリント回路板においては、バウンダリ・スキャンIC実装箇所2−1〜2−4にバウンダリ・スキャンIC4−1〜4−4をフル実装しない場合には、バウンダリ・スキャン・チェーンを形成するために、たとえば、図11に示すようにジャンパ線7、8を必要とするが、ジャンパ線を追加する場合には、ジャンパ線の半田付けによるプリント回路板上の電極間にショートのおそれ等が発生することによる信頼性の低下や、製品として見栄えが悪くなるという問題点があった。
【0016】
また、ジャンパ線の追加は、人手による半田付けにより行わざるを得ないが、超高密度プリント回路板やMCM(マルチ・チップ・モジュール)においては、バウンダリ・スキャンIC実装箇所に設けられる電極の間隔が超微細となっていることから、ジャンパ線の追加そのものが困難となっている。
【0017】
そこで、ジャンパ線を使用せずに、プリント回路板にあらかじめコネクタを設置しておくことが考えられるが、このようにすると、実装面積の増大、部品代の増加、製造工程の増加などにより、価格の上昇を招いてしまうという問題点があった。
【0018】
そこで、また、従来、図12に示すようなプリント回路板が提案されている。図12中、9はプリント回路板本体、10−1〜10−4はバウンダリ・スキャンIC実装箇所、P1〜Pnは一般信号ピン、11は一般信号配線群である。
【0019】
また、TCKはテスト・クロック・ピン、12はテスト・クロック配線、TMSはテスト・モード選択信号ピン、13はテスト・モード選択信号配線である。
【0020】
また、TDI1、TDO1、14−1及び15−1は、それぞれ、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−1に実装されるバウンダリ・スキャンIC用の入力テスト・データ・ピン、出力テスト・データ・ピン、入力テスト・データ配線及び出力テスト・データ配線である。
【0021】
また、TDI2、TDO2、14−2及び15−2は、それぞれ、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−2に実装されるバウンダリ・スキャンIC用の入力テスト・データ・ピン、出力テスト・データ・ピン、入力テスト・データ配線及び出力テスト・データ配線である。
【0022】
また、TDI3、TDO3、14−3及び15−3は、それぞれ、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−3に実装されるバウンダリ・スキャンIC用の入力テスト・データ・ピン、出力テスト・データ・ピン、入力テスト・データ配線及び出力テスト・データ配線である。
【0023】
また、TDI4、TDO4、14−4及び15−4は、それぞれ、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−4に実装されるバウンダリ・スキャンIC用の入力テスト・データ・ピン、出力テスト・データ・ピン、入力テスト・データ配線及び出力テスト・データ配線である。
【0024】
図12に示す従来のプリント回路板は、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−1〜10−4の1箇所以上の任意箇所にバウンダリ・スキャンICを実装したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板を製造する場合に使用されるものである。
【0025】
図13は図12に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の一例を示す概念図であり、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−1〜10−4にバウンダリ・スキャンIC16−1〜16−4を実装したオプション品を示している。なお、B1〜B8はバウンダリ・スキャンIC16−1〜16−4に搭載されているバウンダリ・スキャン・セルを示している。
【0026】
図14は図12に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の他の例を示す概念図であり、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−1、10−4にバウンダリ・スキャンIC16−1、16−4を実装したオプション品を示している。
【0027】
ここに、図12に示す従来のプリント回路板においては、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−1〜10−4に実装可能とされたバウンダリ・スキャンIC16−1〜16−4の各々に対応させてTDI1ピン〜TDI4ピン及びTDO1ピン〜TDO4ピンを備えている。
【0028】
したがって、図12に示す従来のプリント回路板を使用してバウンダリ・スキャンICの実装個数及び実装箇所が異なるバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板を製造する場合であっても、TDI1ピン〜TDI4ピン及びTDO1ピン〜TDO4ピンの中から必要なTDIピン及びTDOピンを選択し、選択したTDIピン及びTDOピンを個々に外部で電気的に接続する場合には、バウンダリ・スキャン試験に必要なバウンダリ・スキャン・チェーンを形成することができる。
【0029】
たとえば、図13に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板においては、TDO1ピンとTDI2ピンとの間、TDO2ピンとTDI3ピンとの間及びTDO3ピンとTDI4ピンとの間を、それぞれ、外部で電気的に接続する場合には、TDI1ピンとTDO4ピンとの間に、バウンダリ・スキャン試験するために必要なバウンダリ・スキャン・チェーンを形成することができる。
【0030】
また、図14に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板においては、TDO1ピンとTDI4ピンとの間を外部で電気的に接続する場合には、TDI1ピンとTDO4ピンとの間に、バウンダリ・スキャン試験するために必要なバウンダリ・スキャン・チェーンを形成することができる。
【0031】
したがって、図12に示す従来のプリント回路板によれば、バウンダリ・スキャンIC実装箇所10−1〜10−4にバウンダリ・スキャンIC16−1〜16−4をフル実装しない場合であっても、ジャンパ線の追加などの特別な作業を必要とせず、プリント回路板本体9はそのままの状態でバウンダリ・スキャン試験を行うことができる。
【0032】
【発明が解決しようとする課題】
ここに、図12に示す従来のプリント回路板を使用して構成したバウンダリ・スキャンICの実装個数及び実装箇所が異なるバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板ごとに、内部配線の異なるアダプタを用意する場合には、図9に示す試験装置本体5を使用してバウンダリ・スキャン試験を行うことができる。
【0033】
しかし、このようにする場合には、バウンダリ・スキャンICの実装個数及び実装箇所が異なるバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板ごとに、構成の複雑なアダプタを用意しなければならないという問題点があった。
【0034】
本発明は、かかる点に鑑み、複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所を有すると共に、複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所の各々のTDIピン及びTDOピンと1対1の関係で接続された外部接続用の複数のTDIピン及びTDOピンを有するプリント回路板の複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所の1以上の任意箇所にバウンダリ・スキャンICが実装されたバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験するプリント回路板試験装置であって、試験装置本体以外の部分を簡単な構成とすることができるようにしたプリント回路板試験装置を提供することを目的とする。
【0035】
【課題を解決するための手段】
本発明のプリント回路板試験装置は、複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所を有すると共に、複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所の各々のTDIピン及びTDOピンと1対1の関係で接続された外部接続用の複数のTDIピン及びTDOピンを有するプリント回路板の複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所の1以上の任意箇所にバウンダリ・スキャンICが実装されたバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験するプリント回路板試験装置であって、外部接続用のTDIピン及びTDOピンを有し、バウンダリ・スキャン試験が可能とされた試験装置本体と、試験装置本体とバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板との間に介在させるアダプタと、バウンダリ・スキャンICの実装個数及び実装箇所が異なるバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板ごとに用意され、試験するバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板に対応する1個が前記アダプタに接続されて使用される複数の選択ユニットとを有しているというものである。
【0036】
ここに、アダプタは、試験装置本体の外部接続用のTDIピン及びTDOピン並びにバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の外部接続用の複数のTDIピン及びTDOピンを選択ユニットの接続ピンに電気的に接続するための接続ピンを有するものである。
【0037】
また、複数の選択ユニットは、それぞれ、アダプタに接続された場合、試験するバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板に実装されているバウンダリ・スキャンICを使用したバウンダリ・スキャン・チェーンが形成できるように所定の接続ピン間が電気的に接続されているものである。
【0038】
本発明によれば、試験するバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験するために必要なバウンダリ・スキャン・チェーンを形成することができる選択ユニットを選択して使用することにより、試験するバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験することができる。
【0039】
【発明の実施の形態】
図1は本発明の一実施形態を示す概念図である。図1中、18は試験装置本体であり、図9に示す試験装置本体5と同一の従来周知のものである。
【0040】
また、19は試験装置本体18と図12示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板との間に介在させるためのアダプタである。
【0041】
また、20は図13に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する場合にアダプタ19に装着する選択ユニット、21は図14に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する場合にアダプタ19に装着する選択ユニットである。
【0042】
また、試験装置本体18において、P1〜Pnは一般信号ピン、TCKはテスト・クロック・ピン、TMSはテスト・モード選択信号ピン、TDIは入力テスト・データ・ピン、TDOは出力テスト・データ・ピンである。
【0043】
また、アダプタ19において、P1A〜PnAは一般信号ピン、TCKAはテスト・クロック・ピン、TMSAはテスト・モード選択信号ピン、TDIAは入力テスト・データピン、TDOAは出力テスト・データ・ピンである。
【0044】
また、TDIB、TDI1A〜TDI4Aは入力テスト・データ・ピン、TDOB、TDO1A〜TDO4Aは出力テスト・データ・ピンである。
【0045】
また、P1B〜PnBは一般信号ピン、TCKBはテスト・クロック・ピン、TMSBはテスト・モード選択信号ピン、TDI1B〜TDI4Bは入力テスト・データ・ピン、TDO1B〜TDO4Bは出力テスト・データ・ピンである。
【0046】
また、選択ユニット20において、TDI、TDI1〜TDI4は入力テスト・データ・ピン、TDO、TDO1〜TDO4は出力テスト・データ・ピンであり、これら選択ユニット20のTDIピン、TDI1ピン〜TDI4ピン及びTDOピン、TDO1ピン〜TDO4ピンは、アダプタ19のTDIBピン、TDI1A〜TDI4A及びTDOBピン、TDO1Aピン〜TDO4Aピンと接続されるものである。
【0047】
また、22はTDIピンとTDI1ピンとを接続する配線、23はTDO1ピンとTDI2ピンとを接続する配線、24はTDO2ピンとTDI3ピンとを接続する配線、25はTDO3ピンとTDI4ピンとを接続する配線、26はTDO4ピンとTDOピンとを接続する配線である。
【0048】
また、選択ユニット21において、TDI、TDI1〜TDI4は入力テスト・データ・ピン、TDO、TDO1〜TDO4は出力テスト・データ・ピンであり、これら選択ユニット21のTDIピン、TDI1ピン〜TDI4ピン及びTDOピン、TDO1ピン〜TDO4ピンは、アダプタ19のTDIBピン、TDI1A〜TDI4A及びTDOBピン、TDO1Aピン〜TDO4Aピンと接続されるものである。
【0049】
また、27はTDIピンとTDI1ピンとを接続する配線、28はTDO1ピンとTDI4ピンとを接続する配線、29はTDO4ピンとTDOピンとを接続する配線である。
【0050】
図2は本発明の一実施形態を使用して図13に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図であり、この場合には、バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板用の選択ユニット20が使用されている。
【0051】
図2に示す例の場合、バウンダリ・スキャン・チェーンは、試験装置本体18のTDIピン→アダプタ19のTDIAピン→アダプタ19のTDIBピン→選択ユニット20のTDIピン→選択ユニット20のTDI1ピン→アダプタ19のTDI1Aピン→アダプタ19のTDI1Bピン→プリント回路板本体9のTDI1ピン→IC16−1のTDIピン→IC16−1のTDOピン→プリント回路板本体9のTDO1ピン→・・・→プリント回路板本体9のTDI4ピン→IC16−4のTDIピン→IC16−4のTDOピン→プリント回路板本体9のTDO4ピン→アダプタ19のTDO4Bピン→アダプタ19のTDO4Aピン→選択ユニット20のTDO4ピン→選択ユニット20のTDOピン→アダプタ19のTDOBピン→アダプタ19のTDOAピン→試験装置本体18のTDOピンからなるパスで形成されている。
【0052】
図3は本発明の一実施形態を使用して図14に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図であり、この場合には、バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板用の選択ユニット21が使用されている。
【0053】
図3に示す例の場合、バウンダリ・スキャン・チェーンは、試験装置本体18のTDIピン→アダプタ19のTDIAピン→アダプタ19のTDIBピン→選択ユニット21のTDIピン→選択ユニット21のTDI1ピン→アダプタ19のTDI1Aピン→アダプタ19のTDI1Bピン→プリント回路板本体9のTDI1ピン→IC16−1のTDIピン→IC16−1のTDOピン→プリント回路板本体9のTDO1ピン→・・・→プリント回路板本体9のTDI4ピン→IC16−4のTDIピン→IC16−4のTDOピン→プリント回路板本体9のTDO4ピン→アダプタ19のTDO4Bピン→アダプタ19のTDO4Aピン→選択ユニット21のTDO4ピン→選択ユニット21のTDOピン→アダプタ19のTDOBピン→アダプタ19のTDOAピン→試験装置本体18のTDOピンからなるパスで形成されている。
【0054】
ちなみに、図4は本発明の一実施形態の外観を示す概略的斜視図であり、図4中、31は被試験バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板(図13に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板)である。
【0055】
また、図5はアダプタ19及び選択ユニット20の内部配線を示す概略的断面図であり、図5中、アダプタ19において、32は試験装置本体18と被試験バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板とを電気的に接続するための配線、33は試験装置本体18と選択ユニット20(21)とを電気的に接続するための配線、34は被試験バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板31と選択ユニット20(21)とを電気的に接続するために選択的に使用される配線である。
【0056】
以上のように、本発明の一実施形態によれば、選択ユニット20を使用する場合には、図13に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験することができ、選択ユニット21を使用する場合には、図14に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験することができる。
【0057】
なお、本発明の一実施形態においては、選択ユニットとして、バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板用の選択ユニット20と、バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板用の選択ユニット21とを準備した場合について説明したが、その他、バウンダリ・スキャンIC16−1のみを実装したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板用の選択ユニットや、バウンダリ・スキャンIC16−1、16−2を実装したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板用の選択ユニット等、種々の選択ユニットを準備することは容易に行うことができる。
【0058】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、試験装置本体及び1個のアダプタを用意すると共に、バウンダリ・スキャンICの実装個数及び実装箇所が異なるバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板ごとに、構成の簡単な選択ユニットを用意すれば足りるので、試験装置本体以外の部分を簡単な構成とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示す概念図である。
【図2】本発明の一実施形態を使用して図13に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図である。
【図3】本発明の一実施形態を使用して図14に示すバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図である。
【図4】本発明の一実施形態の外観を示す概略的斜視図である。
【図5】本発明の一実施形態が備えるアダプタ及び選択ユニットの内部配線を示す概略的断面図である。
【図6】従来のプリント回路板の一例を示す概念図である。
【図7】図6に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の一例を示す概念図である。
【図8】図6に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の他の例を示す概念図である。
【図9】従来のプリント回路板試験装置の一例を示す概念図である。
【図10】図9に示す従来のプリント回路板試験装置を使用して図7に示す従来のバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図である。
【図11】図9に示す従来のプリント回路板試験装置を使用して図8に示す従来のバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験する状態を示す概念図である。
【図12】従来のプリント回路板の他の例を示す概念図である。
【図13】図12に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の一例を示す概念図である。
【図14】図12に示す従来のプリント回路板を使用したバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の他の例を示す概念図である。
【符号の説明】
(図1)
18 試験装置本体
19 アダプタ
20、21 選択ユニット
P1〜Pn 一般信号ピン
TCK テスト・クロック・ピン
TMS テスト・モード選択信号ピン
TDI 入力テスト・データ・ピン
TDO 出力テスト・データ・ピン
Claims (1)
- 複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所を有すると共に、前記複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所の各々のTDIピン及びTDOピンと1対1の関係で接続された外部接続用の複数のTDIピン及びTDOピンを有するプリント回路板の前記複数のバウンダリ・スキャンIC実装箇所の1以上の任意箇所にバウンダリ・スキャンICが実装されたバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板をバウンダリ・スキャン試験するプリント回路板試験装置であって、
外部接続用のTDIピン及びTDOピンを有し、バウンダリ・スキャン試験が可能とされた試験装置本体と、
前記試験装置本体と前記バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板との間に介在させるアダプタと、
バウンダリ・スキャンICの実装個数及び実装箇所が異なるバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板ごとに用意され、試験するバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板に対応する1個が前記アダプタに接続されて使用される複数の選択ユニットとを備え、
前記アダプタは、前記試験装置本体の外部接続用のTDIピン及びTDOピン並びに前記バウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板の外部接続用の複数のTDIピン及びTDOピンを前記選択ユニットの接続ピンに電気的に接続するための接続ピンを有し、
前記複数の選択ユニットは、それぞれ、前記アダプタに接続された場合、試験するバウンダリ・スキャンIC実装プリント回路板に実装されているバウンダリ・スキャンICを使用したバウンダリ・スキャン・チェーンが形成できるように所定の接続ピン間が電気的に接続されていることを特徴とするプリント回路板試験装置。
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