KR970071820A - 감지 증폭기 - Google Patents

감지 증폭기 Download PDF

Info

Publication number
KR970071820A
KR970071820A KR1019960012701A KR19960012701A KR970071820A KR 970071820 A KR970071820 A KR 970071820A KR 1019960012701 A KR1019960012701 A KR 1019960012701A KR 19960012701 A KR19960012701 A KR 19960012701A KR 970071820 A KR970071820 A KR 970071820A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
sense
level
sense amplifier
node
Prior art date
Application number
KR1019960012701A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100205530B1 (ko
Inventor
서용석
임흥수
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019960012701A priority Critical patent/KR100205530B1/ko
Priority to TW086103218A priority patent/TW464867B/zh
Priority to JP10695097A priority patent/JPH1069787A/ja
Priority to US08/845,270 priority patent/US5856748A/en
Publication of KR970071820A publication Critical patent/KR970071820A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100205530B1 publication Critical patent/KR100205530B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/08Control thereof
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/062Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

1. 청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
반도체 메모리 장치의 감지 증폭기에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
데이타 독출시 감지 속도 및 감도를 향상시킬 수 있는 감지 증폭기를 제공함에 있다.
3. 발명의 해결방법의 요지
입력전압이 유기되는 감지라인과, 상기 입력전압과 비교될 기준전압이 유기되는 기준라인을 구비하여 상기 입력전압과 상기 기준전압을 비교하여 증폭하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기에 있어서; 상기 감지라인과 상기 기준라인에 각기 연결된 제1, 2부하트랜지스터를 동일전압레벨로 제어하여 대응되는 상기 감지라인과 상기 기준라인에 일정레벨의 전압을 제공하는 것을 특징으로 한다.
4. 발명의 중요한 용도
반도체 메모리 장치에 적합하게 사용된다.

Description

감지 증폭기
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 제1실시예에 따라 구성된 감지 증폭기의 구체적인 회로도, 제5도는 본 발명의 제2실시예에 따라 구성된 감지 증폭기의 구체적인 회로도.

Claims (14)

  1. 입력전압이 유기되는 감지라인과, 상기 입력전압과 비교될 기준전압이 유기되는 기준라인을 구비하여 상기 입력전압과 상기 기준전압을 비교하여 증폭하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기에 있어서; 상기 감지라인과 상기 기준라인에 각기 연결된 제1,2부하트랜지스터를 동일전압레벨로 제어하여 대응되는 상기 감지라인과 상기 기준라인에 일정레벨의 전압을 제공하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  2. 제1항에 있어서, 상기 입력전압은 상기 감지라인에 접속되고 독출동작시 인에이블되는 제어신호에 응답하는 제1제어부에 의해 상기 일정레벨의 전압을 미리 설정된 제1전압만큼 레벨다운된 전압임을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1제어부는 상기 감지라인에 접속되고 상기 제어신호에 응답하여 선택적으로 전류 경로를 형성하는 제1트랜지스터그룹과, 상기 제1트랜지스터그룹에 접속되어 상기 제1전압만큼 레벨다운시키는 제1로딩부로 구성됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1트랜지스터그룹은 상기 제어신호에 응답하는 인버어터와, 상기 감지라인과 상기 로딩부 사이에 채널이 직렬로 접속되고 상기 인버어터의 출력신호에 응답하는 제1트랜지스터와, 상기 인버어터의 출력단과 접지전압 사이에 채널이 직렬로 접속되고 게이트는 상기 제1트랜지스터의 소오스에 접속되는 제2트랜지스터로 구성됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  5. 제2항에 있어서, 상기 기준전압은 상기 기준라인에 접속되고 상기 제어신호에 응답하는 제2제어부에 의해 상기 일정레벨의 전압을 미리 설정된 제2전압만큼 레벨다운된 전압임을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제2제어부는 상기 감지라인에 접속되고 상기 제어신호에 응답하여 선택적으로 전류 경로를 형성하는 제2트랜지스터그룹과, 상기 제2트랜지스터그룹에 접속되어 상기 제2전압만큼 레벨다운시키는 제2로딩부로 구성됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제2트랜지스터그룹은 상기 제어신호에 응답하는 인버어터와, 상기 감지라인과 상기 제2로딩부 사이에 채널이 직렬로 접속되고 상기 인버어터의 출력신호에 응답하는 제1트랜지스터와, 상기 인버어터의 출력단과 접지전압 사이에 채널이 직렬로 접속되고 게이트는 상기 제1트랜지스터의 소오스에 접속되는 제2트랜지스터로 구성됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  8. 제5항에 있어서, 상기 제1전압의 레벨은 상기 제1전압레벨의 2배 이상의 전압레벨임을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  9. 제1항에 있어서, 상기 동일전압레벨은 상기 기준전압에 의해 결정되는 전압레벨임을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  10. 제1항에 있어서, 상기 동일전압레벨은 상기 입력전압에 의해 결정되는 전압레벨임을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기.
  11. 기준노드와 감지노드를 가지는 감지 증폭기에 있어서; 상기 감지노드와 상기 기준노드에 각기 접속되고, 동일레벨의 제어전압에 응답하여 대응되는 상기 감지노드와 상기 기준노드에 일정레벨의 전압을 제공하는 제1, 2부하트랜지스터와; 상기 감지노드에 접속되어 미리 설정된 제1전압만큼 레벨다운시키기 위한 제1제어부와; 상기 기준노드에 접속되어 미리 설정된 제2전압만큼 레벨다운시키기 위한 제2제어부와; 상기 감지노드와 상기 기준노드에 접속되고, 상기 감지노드와 상기 기준 노드에 인가되는 전압의 레벨차를 감지하여 증폭하는 차동 증폭기를 적어도 구비함을 특징으로 하는 감지 증폭기.
  12. 제11항에 있어서, 상기 제1전압은 상기 제2전압의 2배 이상의 전압임을 특징으로 하는 감지 증폭기.
  13. 제11항에 있어서, 상기 동일레벨의 제어전압은 상기 기준노드에 인가되는 전압임을 특징으로 하는 감지 증폭기.
  14. 제11항에 있어서, 상기 동일레벨의 제어전압은 상기 감지노드에 인가되는 전압임을 특징으로 하는 감지 증폭기.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960012701A 1996-04-24 1996-04-24 감지 증폭기 KR100205530B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960012701A KR100205530B1 (ko) 1996-04-24 1996-04-24 감지 증폭기
TW086103218A TW464867B (en) 1996-04-24 1997-03-14 Sensing amplifier
JP10695097A JPH1069787A (ja) 1996-04-24 1997-04-24 感知増幅器
US08/845,270 US5856748A (en) 1996-04-24 1997-04-24 Sensing amplifier with current mirror

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960012701A KR100205530B1 (ko) 1996-04-24 1996-04-24 감지 증폭기

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970071820A true KR970071820A (ko) 1997-11-07
KR100205530B1 KR100205530B1 (ko) 1999-07-01

Family

ID=19456576

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960012701A KR100205530B1 (ko) 1996-04-24 1996-04-24 감지 증폭기

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5856748A (ko)
JP (1) JPH1069787A (ko)
KR (1) KR100205530B1 (ko)
TW (1) TW464867B (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100320889B1 (ko) * 1998-05-19 2002-02-04 가네꼬 히사시 여분의 패드 또는 단자없이도 불휘발성 반도체 기억 장치를 트리밍할 수 있는 방법 및 장치
KR100781984B1 (ko) * 2006-11-03 2007-12-06 삼성전자주식회사 셀프 레퍼런스를 갖는 센스앰프 회로 및 그에 의한 센싱방법

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3968818B2 (ja) * 1997-05-26 2007-08-29 富士通株式会社 アンプ
KR100267012B1 (ko) * 1997-12-30 2000-10-02 윤종용 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
US6222592B1 (en) * 1998-01-13 2001-04-24 Samsung Electronics Co., Ltd. TV receiver equalizer storing channel characterizations for each TV channel between times of reception therefrom
DE69827109D1 (de) * 1998-02-13 2004-11-25 St Microelectronics Srl Abfühlverstärker für nichtflüchtigen Speicher mit niedriger Spannung
US6433590B1 (en) * 1998-12-18 2002-08-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Current mirror type sense amplifier circuits for semiconductor memory devices and methods of operating same
US6956779B2 (en) * 1999-01-14 2005-10-18 Silicon Storage Technology, Inc. Multistage autozero sensing for a multilevel non-volatile memory integrated circuit system
US7139196B2 (en) * 1999-01-14 2006-11-21 Silicon Storage Technology, Inc. Sub-volt sensing for digital multilevel flash memory
US7031214B2 (en) * 1999-01-14 2006-04-18 Silicon Storage Technology, Inc. Digital multilevel memory system having multistage autozero sensing
US6975539B2 (en) * 1999-01-14 2005-12-13 Silicon Storage Technology, Inc. Digital multilevel non-volatile memory system
KR100336840B1 (ko) * 1999-06-10 2002-05-16 윤종용 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
US6232801B1 (en) 1999-08-04 2001-05-15 Vlsi Technology, Inc. Comparators and comparison methods
KR100347067B1 (ko) * 1999-12-06 2002-08-03 삼성전자 주식회사 안정된 읽기 동작을 수행하는 반도체 메모리 장치
DE10053374C2 (de) * 2000-10-27 2002-11-07 Infineon Technologies Ag Bipolarer Komparator
JP2002237193A (ja) * 2001-02-13 2002-08-23 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置
KR100382734B1 (ko) * 2001-02-26 2003-05-09 삼성전자주식회사 전류소모가 작고 dc전류가 작은 반도체 메모리장치의입출력라인 감지증폭기
US6707715B2 (en) * 2001-08-02 2004-03-16 Stmicroelectronics, Inc. Reference generator circuit and method for nonvolatile memory devices
US6940772B1 (en) * 2002-03-18 2005-09-06 T-Ram, Inc Reference cells for TCCT based memory cells
US7123508B1 (en) 2002-03-18 2006-10-17 T-Ram, Inc. Reference cells for TCCT based memory cells
US6850096B2 (en) * 2002-05-10 2005-02-01 Yoshio Nishida Interpolating sense amplifier circuits and methods of operating the same
TW583677B (en) * 2002-07-25 2004-04-11 Ememory Technology Inc Flash memory with sensing amplifier using load transistors driven by coupled gate voltages
EP1453061B1 (en) * 2003-02-27 2006-04-26 eMemory Technology Inc. Flash memory with sensing amplifier using load transistors driven by coupled gate voltages
JP2005141827A (ja) * 2003-11-06 2005-06-02 Sanyo Electric Co Ltd 半導体記憶装置およびその不揮発性メモリ検証方法、マイクロコンピュータおよびその不揮発性メモリ制御方法
DE602004018687D1 (de) * 2004-02-19 2009-02-05 Spansion Llc Strom-spannungs-umsetzungsschaltung und steuerverfahren dafür
US7312641B2 (en) * 2004-12-28 2007-12-25 Spansion Llc Sense amplifiers with high voltage swing
TWI275243B (en) * 2005-09-14 2007-03-01 Princeton Technology Corp Voltage controlled amplifier for a signal processing system
CN101042923B (zh) * 2006-03-24 2010-05-12 财团法人工业技术研究院 读出放大器
WO2008047416A1 (fr) * 2006-10-18 2008-04-24 Spansion Llc Circuit de détection de tension
US7477076B2 (en) * 2006-12-04 2009-01-13 International Business Machines Corporation Low-voltage, low-power-consumption, and high-speed differential current-sense amplification
US7382305B1 (en) * 2007-02-26 2008-06-03 Analog Devices, Inc. Reference generators for enhanced signal converter accuracy
CN101369450B (zh) * 2007-08-17 2011-03-16 财团法人工业技术研究院 相变存储器的感测电路及其感测方法
US20090102610A1 (en) * 2007-10-22 2009-04-23 The Stanley Works Rfid antenna selection system and method
JP2010055679A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Toshiba Corp 半導体記憶装置及びその検査方法
KR20100098954A (ko) * 2009-03-02 2010-09-10 삼성전자주식회사 레벨 검출기 및 이를 구비하는 전압 발생기
US20120235708A1 (en) * 2011-03-16 2012-09-20 Mark Slamowitz Method and System for High Speed Differential Synchronous Sense Amplifier
US8378716B2 (en) * 2011-07-08 2013-02-19 National Tsing Hua University Bulk-driven current-sense amplifier and operating method thereof
CN103383857B (zh) * 2012-05-04 2016-03-16 北京兆易创新科技股份有限公司 灵敏放大器电路
CN103854698B (zh) * 2012-11-29 2017-05-31 华邦电子股份有限公司 闪存存储器的感测放大器
US10783066B2 (en) * 2016-02-24 2020-09-22 Micro Focus Llc Application content display at target screen resolutions
KR102508532B1 (ko) * 2016-05-02 2023-03-09 삼성전자주식회사 감지 증폭기 및 이를 포함하는 메모리 장치
US11978518B2 (en) * 2021-06-18 2024-05-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Sense amplifier control

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4670675A (en) * 1986-02-07 1987-06-02 Advanced Micro Devices, Inc. High gain sense amplifier for small current differential
JPS62197996A (ja) * 1986-02-24 1987-09-01 Toshiba Corp 半導体メモリのセンスアンプ
US5638322A (en) * 1995-07-19 1997-06-10 Cypress Semiconductor Corp. Apparatus and method for improving common mode noise rejection in pseudo-differential sense amplifiers

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100320889B1 (ko) * 1998-05-19 2002-02-04 가네꼬 히사시 여분의 패드 또는 단자없이도 불휘발성 반도체 기억 장치를 트리밍할 수 있는 방법 및 장치
KR100781984B1 (ko) * 2006-11-03 2007-12-06 삼성전자주식회사 셀프 레퍼런스를 갖는 센스앰프 회로 및 그에 의한 센싱방법

Also Published As

Publication number Publication date
TW464867B (en) 2001-11-21
US5856748A (en) 1999-01-05
KR100205530B1 (ko) 1999-07-01
JPH1069787A (ja) 1998-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970071820A (ko) 감지 증폭기
KR920006991A (ko) 반도체메모리 장치의 고전압발생회로
KR940020579A (ko) 반도체기억장치(Semicondutor Memory Device)
KR930008859A (ko) 직류 전류를 제거한 데이타 출력 버퍼
KR920020507A (ko) 반도체 집적 회로 장치
KR930001226A (ko) 고속 센싱 동작을 수행하는 센스 앰프
KR960032900A (ko) 반도체 집적회로용 입력 버퍼 회로
KR920017116A (ko) 전류 감지 증폭회로
KR970055264A (ko) 차동 증폭기
KR960706173A (ko) 비휘발성 반도체 메모리에 대한 감지 증폭기(Sense amplifier for non-volatile semiconductor memory)
KR920020497A (ko) 센스 앰프 회로를 갖는 반도체 ic장치
JP2784023B2 (ja) Mos・ep romメモリにおけるマトリックスセルの状態を検知するための回路
KR950004527A (ko) 반도체 메모리 장치
KR970063273A (ko) 반도체 메모리의 번인 감지 회로
KR850005171A (ko) 저소비 전력 구성의 반도체 집적회로 장치
KR970063248A (ko) 반도체메모리, 디바이스, 신호의 증폭방법, 패스 트랜지스터를 제어하기 위한 방법 및 장치
KR940004640A (ko) 반도체 메모리장치의 전류센싱회로
KR940026953A (ko) 반도체 메모리 장치
KR870011703A (ko) 집적 회로
KR100422820B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 감지 증폭기
KR980004951A (ko) 오판독 동작을 방지할 수 있는 감지 증폭기 회로
KR950012703A (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 입력 버퍼
KR970023402A (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 고속 전송회로
KR980005006A (ko) Vcc 검출수단을 이용한 비트라인 전압 보상회로
KR920006989A (ko) 불휘발성 반도체기억장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment
FPAY Annual fee payment
EXPY Expiration of term