KR970053542A - 반도체 소자의 비아 콘택 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 비아 콘택 형성방법 Download PDF

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semiconductor device
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KR1019950056957A
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윤학순
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체 소자의 비아 콘택 형성 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 비아홀 형성 후 제거되는 감광막의 선택비를 향상시킬수 있는 식각가스를 사용하는 반도체 소자의 비아 콘택 형성 방법에 관한 것이다. 본 발명은 기본 전극이 구비된 반도체 기판 상에 제1 금속 배선을 형성하는 단계; 상기 제1금속 배선 상부에 제1금속막 절연막, SOG 및 제2금속간 절연막을 순차적으로 적층하는 단계; 상기 제2금속간 절연막 상에 비아홀 식각을 위한 감광막 패턴을 형성하는 단계; 상기 감광막 패턴에 따라 제1금속간 절연막, SOG 및 제2금속간 절연막을 식각하여 비아 홀을 형성하는 단계; 상기 감광막 패턴을 제거하는 단계; 및 비아 홀이 형성된 반도체 기판 전면에 제2금속 배선을 형성하는 단계로 이루어지는 반도체 소자의 비아 콘택 형성 방법에 있어서, 상기 감광막 패턴을 제거하는 단계는 식각 가스로 O2/CHF3의 혼합비는 감광막과 SOG의 선택비가 10:1 정도 되도록 하는 것을 특징으로 한다.

Description

반도체 소자의 비아 콘택 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도 (가)내지 (라)는 본 발명의 반도체 소자의 비아 콘택 형성방법을 설명하기 위한 도면이다.

Claims (2)

  1. 기본 전극이 구비된 반도체 기판상에 제1금속 배선을 형성하는 단계; 상기 제1금속 배선 상부에 제1금속막 절연막, SOG 및 제2금속간 절연막을 순차적으로 적층하는 단계; 상기 제2금속간 절연막 상에 비아홀 식각을 위한 감광막 패턴을 형성하는 단계; 상기 감광막 패턴에 따라 제1금속간 절연막, SOG 및 제2금속간 절연막을 식각하여 비아 홀을 형성하는 단계; 상기 감광막 패턴을 제거하는 단계; 및 비아 홀이 형성된 반도체 기판 전면에 제2금속 배선을 형성하는 단계로 이루어지는 반도체 소자의 비아 콘택 형성 방법에 있어서, 상기 감광막 패턴을 제거하는 단계는 식각 가스로 C2/CHF3를 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 비아 콘택 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, O2/CHF3의 혼합비는 감광막과 SOG의 선택비가 10:1 정도 되도록 O2와 CHF3를 혼합하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 비아 콘택 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950056957A 1995-12-26 1995-12-26 반도체 소자의 비아 콘택 형성방법 KR970053542A (ko)

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