KR970052506A - 반도체 소자의 콘택홀 형성 방법 - Google Patents

반도체 소자의 콘택홀 형성 방법 Download PDF

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KR970052506A
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etching
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안종팔
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체 소자의 콘택홀 형성방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 노광 한계보다 적은 미세한 직경을 갖는 콘택홀 형성할 수 있는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법에 관한 것으로, 본 발명에 의하면, 별도의 추가 장비 없이 기존의 사진 식각 공정에 의하여 미세한 직경을 갖는 콘택홀을 형성하여 금속 배선을 형성하므로써, 고집적 소자에 대응할 수 있는 금속 배선을 형성할 수 있다.

Description

반도체 소자의 콘택홀 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도의 (가) 내지 (라)는 본 발명의 [실시예1]에 따른 반도체 소자의 콘택홀 형성방법을 설명하기 위한 단면도.

Claims (3)

  1. 반도체 회로를 이루는 전극부가 형성된 반도체 기판상부에 제1절연막을 형성하는 단계; 상기 제1절연막 상부에 콘택홀 형성용 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 마스크 패턴의 형태로 하부의 제1절연막을 일정 깊이로 식각하는 단계; 상기 마스크 패턴을 제거하는 단계; 상기 결과물 상부에 제2절연막을 형성하는 단계; 상기 제2절연막을 블랭킷 식각하여 스페이서를 형성하는 단계; 및 상기 스페이서를 마스크로 하여 잔존하는 제1절연막을 식각하여 콘택홀을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제2절연막은 TEOS 산화막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
  3. 반도체 회로를 이루는 전극부가 형성된 반도체 기판상부에 제1절연막을 형성하는 단계; 상기 제1절연막 상부에 콘택홀 형성용 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 마스크 패턴의 형태로 하부의 제1절연막을 일정 깊이로 식각하는 단계; 상기 마스크 패턴을 제거하는 단계; 상기 결과물 상부에 폴리실리콘을 형성하는 단계; 상기 폴리실리콘을 산화하여 산화막을 형성하는 단계; 상기 산화막을 블랭킷 식각하여 스페이서를 형성하는 단계; 및 상기 스페이서를 마스크로 하여 잔존하는 제1절연막을 식각하여 콘택홀을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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