KR970052506A - 반도체 소자의 콘택홀 형성 방법 - Google Patents
반도체 소자의 콘택홀 형성 방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 반도체 소자의 콘택홀 형성방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 노광 한계보다 적은 미세한 직경을 갖는 콘택홀 형성할 수 있는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법에 관한 것으로, 본 발명에 의하면, 별도의 추가 장비 없이 기존의 사진 식각 공정에 의하여 미세한 직경을 갖는 콘택홀을 형성하여 금속 배선을 형성하므로써, 고집적 소자에 대응할 수 있는 금속 배선을 형성할 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도의 (가) 내지 (라)는 본 발명의 [실시예1]에 따른 반도체 소자의 콘택홀 형성방법을 설명하기 위한 단면도.
Claims (3)
- 반도체 회로를 이루는 전극부가 형성된 반도체 기판상부에 제1절연막을 형성하는 단계; 상기 제1절연막 상부에 콘택홀 형성용 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 마스크 패턴의 형태로 하부의 제1절연막을 일정 깊이로 식각하는 단계; 상기 마스크 패턴을 제거하는 단계; 상기 결과물 상부에 제2절연막을 형성하는 단계; 상기 제2절연막을 블랭킷 식각하여 스페이서를 형성하는 단계; 및 상기 스페이서를 마스크로 하여 잔존하는 제1절연막을 식각하여 콘택홀을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제2절연막은 TEOS 산화막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
- 반도체 회로를 이루는 전극부가 형성된 반도체 기판상부에 제1절연막을 형성하는 단계; 상기 제1절연막 상부에 콘택홀 형성용 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 마스크 패턴의 형태로 하부의 제1절연막을 일정 깊이로 식각하는 단계; 상기 마스크 패턴을 제거하는 단계; 상기 결과물 상부에 폴리실리콘을 형성하는 단계; 상기 폴리실리콘을 산화하여 산화막을 형성하는 단계; 상기 산화막을 블랭킷 식각하여 스페이서를 형성하는 단계; 및 상기 스페이서를 마스크로 하여 잔존하는 제1절연막을 식각하여 콘택홀을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950069545A KR970052506A (ko) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | 반도체 소자의 콘택홀 형성 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
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KR1019950069545A KR970052506A (ko) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | 반도체 소자의 콘택홀 형성 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR970052506A true KR970052506A (ko) | 1997-07-29 |
Family
ID=66639916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019950069545A KR970052506A (ko) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | 반도체 소자의 콘택홀 형성 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR970052506A (ko) |
-
1995
- 1995-12-30 KR KR1019950069545A patent/KR970052506A/ko not_active Application Discontinuation
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