KR970052839A - 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 - Google Patents
반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970052839A KR970052839A KR1019950058459A KR19950058459A KR970052839A KR 970052839 A KR970052839 A KR 970052839A KR 1019950058459 A KR1019950058459 A KR 1019950058459A KR 19950058459 A KR19950058459 A KR 19950058459A KR 970052839 A KR970052839 A KR 970052839A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- interlayer insulating
- insulating film
- semiconductor device
- forming
- metal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Local Oxidation Of Silicon (AREA)
Abstract
본 발명은 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성방법에 관한 것으로, 금속층의 들뜸 현상을 방지하기 위하여 인장 응력이 큰 금속층 및 압축 응력을 갖는 금속층간 절연막의 사이에 인장 응력을 가지는 금속층간 절연막을 형성하므로써 금속층 및 금속층간 절연막간의 열팽창 계수 차이가 감소된다. 그러므로 상기 금속층의 인장 응력 감소로 금속층의 들뜸이 방지되므로써 소자의 전기적 특성 및 수율이 향상될 수 있도록 한 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법에 관한 것이다.
※선택도 : 제2C도.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 내지 제2C도는 본 발명에 따른 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법을 설명하기 위한 소자의 단면도.
Claims (4)
- 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법에 있어서, 절연층이 형성된 실리콘 기판상에 금속층을 형성한 후 상기 금속층 상에 제1금속층간 절연막을 형성하는 단계와, 상기 단계로부터 상기 제1금속층간 절연막 및 상부에 형성될 금속층간의 열팽창 계수 차이를 감소시키기 위하여 상기 제1금속층간 절연막상에 인장 응력을 가지는 제2금속층간 절연막을 형성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1금속층간 절연막은 산화막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제2금속층간 절연막은 PSG막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제2금속층간 절연막은 BSG막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950058459A KR970052839A (ko) | 1995-12-27 | 1995-12-27 | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950058459A KR970052839A (ko) | 1995-12-27 | 1995-12-27 | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970052839A true KR970052839A (ko) | 1997-07-29 |
Family
ID=66619456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950058459A KR970052839A (ko) | 1995-12-27 | 1995-12-27 | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR970052839A (ko) |
-
1995
- 1995-12-27 KR KR1019950058459A patent/KR970052839A/ko not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR920005312A (ko) | 반도체 장치의 제조 방법 | |
KR980005441A (ko) | 반도체 소자의 제조 방법 | |
KR950015787A (ko) | 반도체 기억장치 및 그 제조방법 | |
KR960035967A (ko) | 다층 금속배선의 층간 절연막 형성 방법 | |
KR970052839A (ko) | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 | |
KR960026585A (ko) | 반도체소자의 소자분리 산화막의 제조방법 | |
KR960002744A (ko) | 반도체 소자의 소자분리막 형성방법 | |
KR980005807A (ko) | 반도체 소자의 보호막 형성 방법 | |
KR970052885A (ko) | 반도체 소자의 보호막 형성 방법 | |
KR970053555A (ko) | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 | |
KR970053475A (ko) | 반도체소자의 소자분리막 제조방법 | |
KR930014802A (ko) | 상, 하부 도전층 사이의 층간절연층 제조방법 | |
KR970052515A (ko) | 반도체 소자의 제조방법 | |
KR890007397A (ko) | 금속막의 힐록 생성억제를 위한 반도체 장치의 제조방법 | |
KR970052875A (ko) | 반도체 소자의 평탄화 방법 | |
KR970052855A (ko) | 반도체 소자의 평탄화 방법 | |
KR980005474A (ko) | 반도체 소자 제조방법 | |
KR970052921A (ko) | 반도체 소자의 금속층 형성 방법 | |
KR960043123A (ko) | 반도체 장치의 폴리사이드 간의 층간접속방법 | |
KR970053480A (ko) | 반도체소자 및 그 제조방법 | |
KR930014799A (ko) | 반도체 소자의 다층금속 배선층간 절연막 성장방법 | |
KR960035962A (ko) | 소자분리막 형성방법 | |
KR960015855A (ko) | 에스오아이(soi)구조와 그 제조방법 | |
KR970024293A (ko) | Mosfet 및 그 제조방법 | |
KR960002648A (ko) | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |