KR970052839A - 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 - Google Patents

반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 Download PDF

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이창권
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)
  • Local Oxidation Of Silicon (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성방법에 관한 것으로, 금속층의 들뜸 현상을 방지하기 위하여 인장 응력이 큰 금속층 및 압축 응력을 갖는 금속층간 절연막의 사이에 인장 응력을 가지는 금속층간 절연막을 형성하므로써 금속층 및 금속층간 절연막간의 열팽창 계수 차이가 감소된다. 그러므로 상기 금속층의 인장 응력 감소로 금속층의 들뜸이 방지되므로써 소자의 전기적 특성 및 수율이 향상될 수 있도록 한 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법에 관한 것이다.
※선택도 : 제2C도.

Description

반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 내지 제2C도는 본 발명에 따른 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법을 설명하기 위한 소자의 단면도.

Claims (4)

  1. 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법에 있어서, 절연층이 형성된 실리콘 기판상에 금속층을 형성한 후 상기 금속층 상에 제1금속층간 절연막을 형성하는 단계와, 상기 단계로부터 상기 제1금속층간 절연막 및 상부에 형성될 금속층간의 열팽창 계수 차이를 감소시키기 위하여 상기 제1금속층간 절연막상에 인장 응력을 가지는 제2금속층간 절연막을 형성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1금속층간 절연막은 산화막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2금속층간 절연막은 PSG막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제2금속층간 절연막은 BSG막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950058459A 1995-12-27 1995-12-27 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 KR970052839A (ko)

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