KR970052921A - 반도체 소자의 금속층 형성 방법 - Google Patents

반도체 소자의 금속층 형성 방법 Download PDF

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KR970052921A
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heat treatment
plasma
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KR1019950046300A
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Inventor
이우봉
오세준
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체 소자의 금속층 형성 방법에 관한 것으로, 금속층과 SOG막의 접촉으로 인한 불순물의 침투를 방지하며, 금속 층간 절연막 및 SOG막 형성시 상기 금속층으로 스트레스가 가해지는 것을 방지하기 위하여 금속층을 형성한 후 플라즈마 처리를 이용하여 상기 금속층의 표면에 일정 두께의 보호막을 형성하므로써 금속층의 도전 특성을 향상시키며 변형을 방지하여 소자의 전기적 특성이 향상될 수 있도록 한 반도체 소자의 금속층 형성 방법에 관한 것이다.
선택도 : 제2B도

Description

반도체 소자의 금속층 형성 방법.
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 내지 제2C도는 본 발명에 따른 반도체 소자의 금속층 형성 방법을 설명하기 위한 소자의 단면도.

Claims (13)

  1. 반도체 소자의 금속층 형성 방법에 있어서, 접합부가 형성된 실리콘기판상에 절연막을 형성한 후 상기 접합부가 노출되도록 상기 절연막을 패터닝하여 콘택홀을 형성하는 단계와, 상기 단계로부터 전체 상부면에 금속층을 형성한 후 불순물의 침투 및 스트레스를 방지하기 위하여 상기 금속층의 표면에 일정 두께의 보호막을 형성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 금속층은 알루미늄이 중착된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 보호막은 AlXOY막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 AlXOY막은 자연적으로 생성된 알루미늄 산화막보다 산소 성분이 많이 함유된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  5. 제3항에 있어서, 상기 AlXOY막은 산소 플라즈마를 이용한 열처리에 의해 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 보호막은 AlXOYNZ막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 AlXOYNZ막의 두께는 100 내지 500Å인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  8. 제6항에 있어서, 상기 AlXOYNZ막은 자연적으로 성장된 알루미늄 산화막보다 질소 성분이 많이 함유된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 AlXOYNZ막은 질소 플라즈마를 이용한 열처리에 의해 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 플라즈마를 이용한 열처리시 반응로의 온도는 200 내지 500℃인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  11. 제6항에 있어서, 상기 AlXOYNZ막은 자연적으로 성장된 알루미늄 산화막보다 질소 성분이 많이 함유된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 AlXOYNZ막은 산화질소 플라즈마를 이용한 열처리에 의해 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 플라즈마를 이용한 열처리시 반응로의 온도는 200 내지 500℃인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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