KR970018034A - 접촉창 형성방법 - Google Patents

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KR970018034A
KR970018034A KR1019950029325A KR19950029325A KR970018034A KR 970018034 A KR970018034 A KR 970018034A KR 1019950029325 A KR1019950029325 A KR 1019950029325A KR 19950029325 A KR19950029325 A KR 19950029325A KR 970018034 A KR970018034 A KR 970018034A
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KR
South Korea
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insulating layer
interlayer insulating
contact window
forming
semiconductor substrate
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KR1019950029325A
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Inventor
강창진
이수웅
민경진
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

접촉창 형성방법에 대해 기재되어 있다. 이는, 반도체기판 상에 층간절연층을 형성하는 제1단계, 층간절연층을 부분적으로 식각함으로써 반도체기판을 노출시키는 접촉창을 형성하는 제2단계 및 스텝 커버리지가 불량한 도포방법으로, 스페이서용 질화막을, 접촉창의 측벽 및 층간절연층 상에 도포하는 제2단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 접촉장의 접촉실패 및 접촉저항 증가를 줄일 수 있다.

Description

접촉창 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 방법에 의해 형성된 접촉창을 도시한 단면도이다.

Claims (3)

  1. 반도체기판 상에 층간절연층을 형성하는 제1단계; 상기 층간절연층을 부분적으로 식각함으로써 상기 반도체기판을 노출시키는 접촉창을 형성하는 제2단계; 및 스텝 커버리지가 불량한 도포방법으로, 스페이서용 질화막을, 상기 접촉창의 측벽 및 층간절연층 상에 도포하는 제2단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 접촉창 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 스페이서용 질화막은 플라즈마 화학기상 증착방식(PE-CVD) 및 저압 화학기상증착방식(LP-CVD) 중 어느 한 방법으로 도포되는 것을 특징으로 하는 접촉창 형성방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 스페이서용 질화막은 500Å 이하의 두께로 도포되는 것을 특징으로 하는 접촉창 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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