KR970016722A - 반도체장치 및 이것을 사용한 액정표시장치 - Google Patents
반도체장치 및 이것을 사용한 액정표시장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970016722A KR970016722A KR1019960041010A KR19960041010A KR970016722A KR 970016722 A KR970016722 A KR 970016722A KR 1019960041010 A KR1019960041010 A KR 1019960041010A KR 19960041010 A KR19960041010 A KR 19960041010A KR 970016722 A KR970016722 A KR 970016722A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- region
- semiconductor
- thin film
- semiconductor element
- liquid crystal
- Prior art date
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract 84
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 28
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 19
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims abstract 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000010408 film Substances 0.000 claims 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1251—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs comprising TFTs having a different architecture, e.g. top- and bottom gate TFTs
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13454—Drivers integrated on the active matrix substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/70—Bipolar devices
- H01L29/72—Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
- H01L29/739—Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals controlled by field-effect, e.g. bipolar static induction transistors [BSIT]
- H01L29/7393—Insulated gate bipolar mode transistors, i.e. IGBT; IGT; COMFET
- H01L29/7394—Insulated gate bipolar mode transistors, i.e. IGBT; IGT; COMFET on an insulating layer or substrate, e.g. thin film device or device isolated from the bulk substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78606—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with supplementary region or layer in the thin film or in the insulated bulk substrate supporting it for controlling or increasing the safety of the device
- H01L29/78618—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with supplementary region or layer in the thin film or in the insulated bulk substrate supporting it for controlling or increasing the safety of the device characterised by the drain or the source properties, e.g. the doping structure, the composition, the sectional shape or the contact structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78651—Silicon transistors
- H01L29/7866—Non-monocrystalline silicon transistors
- H01L29/78663—Amorphous silicon transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78651—Silicon transistors
- H01L29/7866—Non-monocrystalline silicon transistors
- H01L29/78672—Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
본 발명은 간략한 공정에 의해 제조 가능하고, 또한 저소비전력의 반도체장치 및 액정표시장치를 제공하는 것을 목적으로 한 것이며, 그 구성에 있어서, 기판(10)에 표시영역(40)과, 이 표시영역(40)을 구동하기 위하여 그 주변에 형성된 주변 회로영역을 가지고, 주변 회로영역에는 단극성(T2), (T4) 및 양극성(T1), (T3)의 박막 반도체 소자가 형성되고, 표시영역(40)에는 단극성(T2), (T4) 또는 양극성(T1), (T3)의 박막 반도체 소자가 형성된 액정표시장치로서, 상기 단극성(T2), (T4) 및 양극성(T1), (T3)의 박막 반도체 소자의 반도체막 속에는 n형의 불순물을 고농도로 함유한 n+영역(135)와, P형의 불순물을 고농도로 함유한 P+영역(136)의 양쪽의 형성되는 것을 특징으로 한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1도는 본 발명의 실시예인 양극성 및 단극성의 박막 트랜지스터의 단면 구조를 표시한 도면,
제 11도는 주변회로내장형 액정표시장치의 평면도.
Claims (25)
- 적어도 한쪽이 투명한 1쌍의 기판과, 상기 1쌍의 기판 사이에 액정 조성물이 봉입된 액정층을 가지고, 상기 1쌍의 기판의 한쪽의 기판에는, 매트릭스 상에 배치되어 복수의 제 1반도체 소자를 가진 표시 영역과, 상기 표시 영역의 주변에 배치되어 복수의 제 2반도체 소자를 가지고 상기 복수의 제 1반도체 소자를 구동하기 위한 주변회로 영역이 형성되고, 상기 주변회로 영역 내의 복수의 제 2반도체 소자는, 단극성 및 양극성의 반도체 소자를 가진 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 단극성 및 양극성의 반도체 소자는 인버터를 구성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 2항에 있어서, 상기 인버터는 시프트레지스터를 구성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 표시 영역에 형성되는 제 1반도체 소자의 반도체층은 비정질실리콘으로 구성되고, 상기 주변회로영역에 형성되는 제 2반도체 소자의 반도체층은 다결정실리콘에 의해 구성을 이루는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2반도체 소자는 박막 반도체 소자인 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 5항에 있어서, 상기 제 2반도체 소자를 구성하는 단극성 및 양극성의 박막 반도체 소자는 상기 기판 위에 형성된 게이트 전극과, 이 게이트 전극 위에 절연막을 개재해서 형성된 반도체층을 가지고, 이 반도체층의 양쪽의 각각에는 P+영역 및 n+영역이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 6항에 있어서, 상기 양극성의 박막 반도체 소자의 반도체층의 상기 P+영역 및 n+영역은 상기 기판의 수직 방향에서 본 게미트 전극의 영역의 범위 내에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 양극성의 박막 반도체 소자의 P영역 상에 상기 n+영역이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 8항에 있어서, 상기 양극성의 박막 반도체 소자의 상기 n+영역은 상기 반도체층의 채널영역 상에 오버랩 하고 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 6항에 있어서, 상기 단극성의 박막 반도체 소자의 반도체층의 P+영역 및 n+영역의 어느 것이든 한쪽은 상기 기판의 수직 방향에서 본 게이트 전극의 영역의 범위 외에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 10항에 있어서, 상기 단극성의 박막 반도체소자의 반도체층의 P+영역 및 n+영역의 어느 것이든 한쪽은 상기 반도체층의 채널영역 상에 오버랩 하고 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 11항에 있어서, 상기 단극성의 박막 반도체 소자의 p+영역은 상기 기판의 수직 쪽에서 본 게이트 전극의 영역의 범위 외에 위치하고, 상기 n+영역은 상기 반도체층의 채널영역 상에 오버랩하고 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 4항에 있어서, 상기 표시영역에 형성되는 박막 반도체 소자의 반도체층은 비정질실리콘으로 구성되고, 상기 주변회로 영역에 형성되는 박막 반도체층은 다결정 실리콘으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 표시영역의 제 1반도체 소자는 단극성의 반도체 소자인 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 14항에 있어서, 상기 단극성의 반도체 소자는 박막 반도체 소자이고, 이 박막 반도체 소자는, 상기 기판 위에 형성된 게이트 전극과, 이 게이트 전극 위에 절연막을 개재해서 형성된 반도체층을 가지고, 상기 반도체층의 양쪽의 각각에는 P+영역 및 n+영역이 형성되고, 상기 반도체층의 P+영역 및 n+영역의 어느 것이든 한쪽은, 상기 기판의 수직 방향에서 본 게이트 영역의 범위외에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 표시영역의 제 1반도체 소자는 양극성의 반도체 소자인 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제 16항에 있어서, 상기 양극성의 반도체 소자는 박막 반도체 소자이고, 이 박막 반도체 소자는 상기 기판 위에 형성된 게이트 전극과, 이 게이트 전극 위에 절연막을 개재해서 형성된 반도체층을 가지고, 상기 반도체층의 양쪽의 각각에는 P+영역 및 N+영역이 형성되고, 상기 반도체층의 P+영역 및 n+영역은 상기 기판의 수직 바양에서 본 게이트 전극의 영역의 범위 내에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 특허청구의 범위 제 1항에 규정된 액정표시장치와, 이 액정표시장치의 주변회로 영역에 제어신호를 공급하기 위한 제어부와, 이 제어부에 외부로부터의 신호를 공급하기 위한 통신부를 가진 것을 특징으로 하는 정보처리장치.
- 기판과 이 기판 위에 형성된 단극성 및 양극성의 박막 반도체 소자를 가진 반도체 장치로서, 상기 단극성과 양극성의 박막 반도체 소자는 각각 상기 기판상에 형성된 게이트 전극과, 이 게이트 전극 위에 절연막을 개재해서 형성된 반도체층을 가지고, 이 반도체층의 양쪽의 각각에는 P+영역 및 n+영역이 형성되고, 상기 단극성의 박막 반도체 소자의 반도체층의 P+영역 및 n+영역의 어느 쪽이든 한쪽은, 상기 기판의 수직 방향에서 본 게이트 전극의 영역의 범위 외에 위치하고, 상기 양극성의 박막 반도체 소자의 반도체층의 상기 P+영역 및 n+영역은 상기 기판의 수직 방향에서 본 게이트 전극의 영역의 범위 내에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 제 19항에 있어서, 상기 단극성의 박막 반도체 소자의 반도체층의 P+영역 및 n+영역의 어느 쪽이든 한쪽은, 상기 반도체층의 채널 영역상에 오버랩하고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 제 20항에 있어서, 상기 단극성의 박막 반도체 소자의 P+영역은 상기 기판의 수직 쪽에서 본 게이트 전극의 영역의 범위 외에 위치하고, 상기 n+영역은 상기 반도체층의 채널영역 상에 오버랩하고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 제 19항에 있어서, 상기 양극성의 박막 반도체 소자의 반도체층의 P+영역상에 상기 n+영역이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 제 22항에 있어서, 상기 양극성의 박막 반도체 소자의 반도체층의 상기 n+영역은 상기 반도체층의 채널 영역상에 오버랩하고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 복수의 박막 반도체 소자를 가진 반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 게이트 전극형성 공정과, 표면에 제 1형의 고불순물농도 영역을 가진 반도체막을 형성하는 공정과, 상기 반도체막을 섬 형상으로 가공하는 공정과, 섬 형상으로 가공한 상기 반도체막의 측면의 벽에 상기 제 1고불순물농도영역과 다른 형의 제 2고불순물농도영역을 형성하는 공정과, 상기 제 1 및 제 2고농도불순물영역에 접하도록 소스 드레인 전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조 방법.
- 제 24항에 있어서, 적어도 1개의 박막 반도체 소자의 제 2고불순물농도영역이 평면도 있어서 게이트 전극과 떨어진 위치에 형성하고, 적어도 1개의 박막 트랜지스터에 있어서는, 제 2고불순물농도영역의 적어도 일부가 게이트 전극과 겹치도록 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP95-241227 | 1995-09-20 | ||
JP7241227A JPH0982978A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 半導体装置及びこれを用いた液晶表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970016722A true KR970016722A (ko) | 1997-04-28 |
Family
ID=17071100
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960041010A KR970016722A (ko) | 1995-09-20 | 1996-09-20 | 반도체장치 및 이것을 사용한 액정표시장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5851440A (ko) |
JP (1) | JPH0982978A (ko) |
KR (1) | KR970016722A (ko) |
TW (1) | TW388800B (ko) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5849601A (en) | 1990-12-25 | 1998-12-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method for manufacturing the same |
KR950013784B1 (ko) * | 1990-11-20 | 1995-11-16 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 겐큐쇼 | 반도체 전계효과 트랜지스터 및 그 제조방법과 박막트랜지스터 |
US7081938B1 (en) * | 1993-12-03 | 2006-07-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method for manufacturing the same |
JP4090569B2 (ja) * | 1997-12-08 | 2008-05-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、液晶表示装置及びel表示装置 |
JP2000039628A (ja) * | 1998-05-16 | 2000-02-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体表示装置 |
JP2000039624A (ja) * | 1998-07-22 | 2000-02-08 | Hitachi Ltd | 画像表示装置及びその製造方法 |
US6579749B2 (en) * | 1998-11-17 | 2003-06-17 | Nec Corporation | Fabrication method and fabrication apparatus for thin film transistor |
JP4789369B2 (ja) | 2001-08-08 | 2011-10-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置及び電子機器 |
JP4464078B2 (ja) * | 2003-06-20 | 2010-05-19 | 株式会社 日立ディスプレイズ | 画像表示装置 |
US8004043B2 (en) | 2006-12-19 | 2011-08-23 | Intel Corporation | Logic circuits using carbon nanotube transistors |
US8330887B2 (en) * | 2007-07-27 | 2012-12-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device and electronic device |
KR100855406B1 (ko) * | 2007-12-27 | 2008-08-29 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지 센서 제조방법 |
JP5111167B2 (ja) * | 2008-03-06 | 2012-12-26 | 株式会社ジャパンディスプレイイースト | 液晶表示装置 |
JP2010040848A (ja) * | 2008-08-06 | 2010-02-18 | Hitachi Displays Ltd | 液晶表示装置 |
KR20130027188A (ko) * | 2011-09-07 | 2013-03-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
CN103268918B (zh) * | 2012-06-29 | 2016-06-29 | 上海天马微电子有限公司 | 双极性薄膜晶体管及其制造方法 |
CN103606558B (zh) * | 2013-11-15 | 2016-03-09 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 一种双极性薄膜晶体管 |
CN107077036B (zh) * | 2014-11-21 | 2020-12-15 | 夏普株式会社 | 有源矩阵基板及显示面板 |
TWI591524B (zh) * | 2015-06-05 | 2017-07-11 | 群創光電股份有限公司 | 顯示裝置 |
KR102494732B1 (ko) * | 2015-10-16 | 2023-02-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 |
KR102454087B1 (ko) * | 2015-10-27 | 2022-10-13 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3120237B2 (ja) * | 1990-01-10 | 2000-12-25 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | イメージセンサ |
EP0530972B1 (en) * | 1991-08-02 | 1997-11-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid crystal image display unit |
JPH0864824A (ja) * | 1994-08-24 | 1996-03-08 | Toshiba Corp | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
-
1995
- 1995-09-20 JP JP7241227A patent/JPH0982978A/ja active Pending
-
1996
- 1996-07-26 TW TW085109153A patent/TW388800B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-09-20 US US08/717,236 patent/US5851440A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-09-20 KR KR1019960041010A patent/KR970016722A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5851440A (en) | 1998-12-22 |
TW388800B (en) | 2000-05-01 |
JPH0982978A (ja) | 1997-03-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970016722A (ko) | 반도체장치 및 이것을 사용한 액정표시장치 | |
US5477073A (en) | Thin film semiconductor device including a driver and a matrix circuit | |
KR100195596B1 (ko) | 박막트랜지스터 반도체장치 및 액정표시장치 | |
JP4473235B2 (ja) | 漏洩電流を減少させる液晶表示素子及びその製造方法 | |
KR950015819A (ko) | 표시용 박막반도체장치 및 그 제조방법 | |
KR970011963A (ko) | 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
KR970011969A (ko) | 박막트랜지스터-액정표시장치 및 제조방법 | |
KR970059804A (ko) | 액티브 매트릭스 액정 패널 | |
KR970030914A (ko) | 반도체 장치 | |
KR970062785A (ko) | 액정표시장치 | |
JPH1126768A (ja) | 液晶表示装置用薄膜トランジスタ | |
KR970076021A (ko) | 박막 트랜지스터 소자 어레이 | |
KR20010058625A (ko) | 액정표시장치 | |
KR100209622B1 (ko) | 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
JPH01302768A (ja) | 逆スタガー型シリコン薄膜トランジスタ | |
JPH0385529A (ja) | 薄膜半導体表示装置 | |
JPH0564357B2 (ko) | ||
JP2005019627A (ja) | 液晶表示装置 | |
KR960019779A (ko) | 액정표시장치용 박막트랜지스터 및 그 제조방법 | |
JPH05249485A (ja) | スイッチング用薄膜トランジスタを備えたアクティブマトリックス液晶ディスプレイ | |
KR100194676B1 (ko) | 전송 게이트 장치 | |
KR100905475B1 (ko) | 액정 표시 장치 | |
KR960019778A (ko) | 액정표시장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR100336892B1 (ko) | Tft-lcd | |
KR930004349B1 (ko) | 액정 표시소자의 박막 트랜지스터 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |