KR970013421A - 박막트랜지스터 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 박막트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 박막트랜지스터 제조시 게이트전극으로 사용하는 텅스텐 실리사이드이 고온 열처리 공정시 발생하는 크랙을 방지하기 위한 것이다. 본 발명은 박막트랜지스터의 제조방법에 있어서, 기판상에 폴리실리콘/WSi/WSiN의 적층구조를 연속적으로 증착하여 형성한 후, 패터닝하여 게이트전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조방법을 제공한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
첨부된 도면은 본 발명에 의한 박막트랜지스터 제조방법을 도시한 공정순서도.
Claims (1)
- 박막트랜지스터의 제조방법에 있어서, 기판상에 폴리실리콘/WSi/WSiN의 적층구조를 연속적으로 증착하여 형성한 후, 패터닝하여 게이트전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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KR1019950027195A KR0156216B1 (ko) | 1995-08-29 | 1995-08-29 | 박막트랜지스터 제조방법 |
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US6103607A (en) * | 1998-09-15 | 2000-08-15 | Lucent Technologies | Manufacture of MOSFET devices |
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1995
- 1995-08-29 KR KR1019950027195A patent/KR0156216B1/ko not_active IP Right Cessation
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