KR970013421A - 박막트랜지스터 제조방법 - Google Patents

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KR970013421A
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김근호
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구자홍
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/40Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/43Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
    • H01L29/49Metal-insulator-semiconductor electrodes, e.g. gates of MOSFET
    • H01L29/4908Metal-insulator-semiconductor electrodes, e.g. gates of MOSFET for thin film semiconductor, e.g. gate of TFT

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Abstract

본 발명은 박막트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 박막트랜지스터 제조시 게이트전극으로 사용하는 텅스텐 실리사이드이 고온 열처리 공정시 발생하는 크랙을 방지하기 위한 것이다. 본 발명은 박막트랜지스터의 제조방법에 있어서, 기판상에 폴리실리콘/WSi/WSiN의 적층구조를 연속적으로 증착하여 형성한 후, 패터닝하여 게이트전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조방법을 제공한다.

Description

박막트랜지스터 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
첨부된 도면은 본 발명에 의한 박막트랜지스터 제조방법을 도시한 공정순서도.

Claims (1)

  1. 박막트랜지스터의 제조방법에 있어서, 기판상에 폴리실리콘/WSi/WSiN의 적층구조를 연속적으로 증착하여 형성한 후, 패터닝하여 게이트전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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US6103607A (en) * 1998-09-15 2000-08-15 Lucent Technologies Manufacture of MOSFET devices

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