KR960002590A - 반도체 소자의 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체소자의 제조방법에 관한 것으로, 종래 기술에서 노광 및 현상공정을 이용한 감광막패턴 형성공정시 상기 감광막패턴의 손상을 방지하기 위하여, 감광막 상부에 보호막을 증착하고 노광 및 현상공정을 실시함으로써 균일한 감광막패턴을 형성하여 반도체소자의 신뢰성 및 생산성을 향상시킬 수 있는 기술이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2B도는 본 발명의 실시예에 의한 반도체소자의 제조공정을 도시한 단면도.
Claims (5)
- 반도체소자의 제조방법에 있어서, 반도체기판 상부에 하부물질층을 형성하고 그 상부에 감광막과 보호막을 순차적으로 도포하는 공정과, 노광후 현상공정을 실시하여 상기 보호막을 제거하고 감광막패턴을 형성하는 공정을 포함하는 반도체소자의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 보호막은 폴리비닐아세테이트로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 제조방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 보호막의 두께는 λ/4n(n:굴절률, λ:파장)으로 하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 제조방법.
- 제2항에 있어서, 상기 폴리비닐아세테이트는 평균분자량이 1000-10000인 것을 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 제조방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 보호막은 스핀코팅 방법으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019940014579A KR100323443B1 (ko) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 반도체소자의제조방법 |
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KR1019940014579A KR100323443B1 (ko) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 반도체소자의제조방법 |
Publications (2)
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KR960002590A true KR960002590A (ko) | 1996-01-26 |
KR100323443B1 KR100323443B1 (ko) | 2002-05-13 |
Family
ID=37460808
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019940014579A KR100323443B1 (ko) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 반도체소자의제조방법 |
Country Status (1)
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KR (1) | KR100323443B1 (ko) |
-
1994
- 1994-06-24 KR KR1019940014579A patent/KR100323443B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
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KR100323443B1 (ko) | 2002-05-13 |
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