KR950015748A - 반도체메모리장치의 승압레벨 감지회로 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체메모리장치에서 특히 전원전압 Vcc를 소망만큼 전압상승시킨 승압전압 Vpp의 전압레벨을 정확하게 감지하도록 하는 승압레벨 감지회로에 관한 것으로, 본 발명에 의한 승압레벨 감지회로는 풀엎 경로에 승압전압에 의해 스위칭동작이 제어되는 풀엎트랜지스터와, 풀다운 경로상에 상기 승압전압에 의해 스위칭동작이 제어되는 풀다운트랜지스터를 구비하는 구성을 개시하고 있다, 이로부터 본 발명에 의한승압레벨 감지회로는 승압전압 Vpp의 전압레벨을 정확하게 검출하고 예컨대 승압전압 Vpp가 가변적으로 입력되어도 이에 대한 대응능력이 우수한 효과가 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 의한 승압레벨 감지회로의 실시예를 보여주는 회로도.
Claims (2)
- 전원전압보다 전압 레벨이 높은 승압전압을 출력하는 승압회로를 가지는 반도체메모리장치에 있어서, 풀엎 경로상에 상기 승압전압에 의해 스위칭동작이 제어되는 풀엎트랜지스터와, 풀다운경로상에 상기 승압전압에 의해 스위칭동작이 제어되는 풀다운트랜지스터를 구비함을 특징으로 하는 승압레벨 감지회로.
- 제1항에 있어서, 상기 승압레벨 감지회로가, 전원전압단자에 소오스단자가 접속되어 전류소오스역할을 하는 피모오스트랜지스터와, 상기 피모오스트랜지스터의 드레인단자와 출력노드사이에 채널이 접속되고 상기 승압전압에 게이트접속되는 상기 풀엎트랜지스터와, 상기 전원전압단자에 게이트접속되고 상기 출력노드에 드레인단자가 접속된 저항으로서의 앤모오스트랜지스터와, 상기 앤모오스트랜지스터의 소오스단자와 접지전압단자와의 사이에 채널이 접속되고 상기 승압전압에 게이트접속되는 상기 풀다운트랜지스터와, 상기 출력노드에 입력단자가 접속된 인버터로 이루어짐을 특징으로 하는 승압레벨 감지회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019930024669A KR0124046B1 (ko) | 1993-11-18 | 1993-11-18 | 반도체메모리장치의 승압레벨 감지회로 |
US08/341,108 US5742197A (en) | 1993-11-18 | 1994-11-18 | Boosting voltage level detector for a semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019930024669A KR0124046B1 (ko) | 1993-11-18 | 1993-11-18 | 반도체메모리장치의 승압레벨 감지회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950015748A true KR950015748A (ko) | 1995-06-17 |
KR0124046B1 KR0124046B1 (ko) | 1997-11-25 |
Family
ID=19368454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019930024669A KR0124046B1 (ko) | 1993-11-18 | 1993-11-18 | 반도체메모리장치의 승압레벨 감지회로 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5742197A (ko) |
KR (1) | KR0124046B1 (ko) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69632022D1 (de) * | 1996-01-24 | 2004-05-06 | St Microelectronics Srl | Spannungspegelregler |
KR100308197B1 (ko) * | 1999-04-27 | 2001-10-29 | 윤종용 | 반도체 장치의 전압 부스팅 회로 |
KR100361656B1 (ko) | 1999-09-17 | 2002-11-21 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리 장치의 고전압 발생회로 |
KR100748555B1 (ko) * | 2005-06-28 | 2007-08-10 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 기판 바이어스 전압 발생 회로 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3914702A (en) * | 1973-06-01 | 1975-10-21 | Rca Corp | Complementary field-effect transistor amplifier |
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-
1993
- 1993-11-18 KR KR1019930024669A patent/KR0124046B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1994
- 1994-11-18 US US08/341,108 patent/US5742197A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5742197A (en) | 1998-04-21 |
KR0124046B1 (ko) | 1997-11-25 |
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