KR940018978A - 반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 구조 및 제조방법 - Google Patents

반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 구조 및 제조방법 Download PDF

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KR940018978A
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문정환
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    • H01L28/00Passive two-terminal components without a potential-jump or surface barrier for integrated circuits; Details thereof; Multistep manufacturing processes therefor
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Abstract

본 발명은 반도체 장치에서 저장용 캐패시터 노드의 구조 및 제조방법에 관한 것으로 특히 집적도 향상에 적당하도록 한 "크라운" 구조와 "T"형 구조를 형성하여 캐패시터 용량을 증가 시킬 수 있도록 한 반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 구조 및 제조방법에 관한 것이다.
이를 위하여 캐패시터 노드 콘택홀이 형성되고, 상기 콘택홀의 측벽에 측벽 산화막이 형성된 반도체 장치의 메모리 캐패시터 노드 제조방법에 있어서, 질화막과 폴리실리콘 증착한 후 상기 폴리실리콘을 에치백하여 콘택홀에 폴리 플러그를 형성하는 단계와, 제1절연막을 전면에 증착하고 상기 제1절연막에 크라운 구조의 노드 형성을 위해 크라운 노드 영역을 에치 한 후 전면에 제1노드폴리와 제2절연막을 증착하는 단계와, 상기 단계 후 제1노드폴리와 제1절연막을 에치백 하여 크라운 구조의 노드를 형성하는 단계와, 제3절연막을 전면에 증착하고 "T"형 노드를 형성하기 위해 제2폴리실리콘 플러그를 중심으로 하여 소정 넓이만큼 제3 및 제1 절연막과 질화막을 에치하여 노드 콘택을 형성하는 단계와, 제2노드폴리를 증착하고 소정 부분을 에치하여 제2노드폴리를 "T"형 구조로 형성하는 단계로 이루어진 반도체 장치의 메모리 캐패시터 노드 제조방법인 것이다.

Description

반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 구조 및 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 제조공정도, 제4도는 본 발명에 따른 캐패시터 노드의 입체도, 제5도는 본 발명에 따른 다른 실시예의 구조도 및 입체도.

Claims (4)

  1. 반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 구조에 있어서, 반도체 메모리셀 형성시 노드 콘택 홀이 형성된 후 하나건너 하나씩의 노드 콘택 홀위에 크라운 구조의 제1노드 폴리를 형성하고, 상기 크라운 구조의 제1노드 폴리 사이마다 “T”형 구조의 제2노드 폴리를 형성하여 두가지 형태의 캐패시터 노드가 존재하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 구조.
  2. 제1항에 있어서, 상기 크라운 구조의 캐패시터 노드에 “T”형 구조의 일측 캐패시터 노드가 서로 소정 부분만 중첩되는 형태로 이루어지도록 한 것을 특징으로 하는 캐패시터의 구조.
  3. 제1항에 있어서, 상기 “T”형 캐패시터의 일측 노드가 크라운 구조의 캐패시터 노드위에 완전히 중첩되도록 한 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 구조.
  4. 반도체기판에 캐패시터 노드 콘택홀을 형성하고, 상기 콘택홀의 측벽에 측벽 산화막을 형성하는 단계와,폴리실리콘을 증착한 후 상기 폴리실리콘을 에치백하여 콘택홀에 폴리실리콘 플러그를 형성하는 단계와, 제1절연막을 전면에 증착하고 상기 제1절연막에 크라운 구조의 노드 형성을 위해 크라운 노드 영역을 에치한 후 전면에 제1노드 폴리와 제2절연막을 증착하는 단계와, 상기 단계 후 제1노드 폴리와 제1절연막을 에치백하여 크라운 구조의 노드를 형성하는 단계와, 제3절연막을 전면에 증착하고 “T”형 노드를 형성하기 위해 제2폴리실리콘 플러그를 중심으로 하여 소정 넓이만큼 제3 및 제1절연막을 에치하여 노드 콘택을 형성하는 단계와, 제2노드 폴리를 증착하고 소정 부분을 에치하여 제2노드 폴리를 “T”형 구조로 형성하는 단계로 이루어진 반도체 장치의 저장용 캐패시터 노드 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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