KR940012849A - 온-칩 전압강하 변환기를 갖는 집적회로용 스트레스 모드 회로 - Google Patents
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Abstract
기준전압과 동일하거나 외부전 (VCCEXT)에 비례하는 전압을 발생시키기 위해 스트레스 모드회로가 마련된다. 상기 회로는 그 비례전압을 제공하기 위해 2개의 분압회로를 구비한다. 상기 비례전압과 기준전압의 비교결과에 따라 출력들을 발생시키기 위해 2개의 차동증폭기들이 마련된다. 상기 차동증폭기들의 출력은 상기 기준전압 또는 비례전압을 출력단자에 결합시키는 스위치들을 동작시킨다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 블록도,
제4도는 제3도의 상세도.
Claims (17)
- 입력 전압들을 입력하도록 결합되며 상기 입력 전압들의 비교결과에 따라서 출력을 발생시키기 위한 비교회로와; 상기 비교회로의 상기 출력을 입력하도록 결합된 복수의 스위치들과, 출력단자를 가지며, 상기 복수의 스위치들이 상기 출력단자에 최소한 하나의 전압을 선택적으로 결합시키는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 최소 하나의 전압은 상기 입력전압들중 하나인 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제1항에 있어서, 내부 전압을 공급하기 위해 상기 출력단자에 결합된 전압변환기를 아울러 구비하는 것을 특징으로 한 스트레스 모드 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 복수의 입력 전압들중 하나를 발생시키기 위해 전압 발생기를 아울러 구비하는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제4항에 있어서, 상기 전압발생기는 최소 하나의 분압회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 비교 회로는 상기 복수의 입력 전압들의 비교결과에 따라서 상반되는 레벨의 출력들을 발생시키기 위해 상기 복수의 입력 전압들을 입력하도록 결합된 최소한 2개의 차동증폭기를 구비하는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제6항에 있어서, 상기 복수의 스위치들은 상기 복수의 입력 전압들을 상기 출력단자에 응답식으로 결합시키기 위해 상기 차동증폭기들의 출력에 결합된 최소한 2개이 스위치들로 이루어지는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제1 및 제2출력을 각각 발생시키기 위한 제1 및 제2전압 발생 회로와; 제1 및 제2입력단자와 출력단자를 각각 갖는 제1 및 제2비교회로를 구비하는데, 상기 제1비교회로의 상기 제1입력단자와 상기 제2비교회로의 상기 제2입력단자는 기준전압을 수신하도록 결합되고, 상기 제1비교회로의 상기 제2입력단자와 상기 제2비교회로의 상기 제1입력단자는 상기 제1전압발생회로의 상기 출력을 입력하도록 결합되며; 제1 및 제2스위치들을 구비하는데, 상기 제1스위치는 상기 제1비교회로의 상기 출력에 따라서 상기 기준전압을 출력단자에 선택적으로 결합시키기 위해 상기 기준전압 및 상기 제1비교회로의 상기 출력을 수신하도록 결합되고, 상기 제2스위치는 상기 제2비교회로의 상기출력에 따라서 상기 제2전압발생회로의 상기 출력을 상기 출력단자에 선택적으로 결합시키기 위해 상기 제2전압발생회로의 상기 출력과 상기 제2비교회로의 상기 출력을 수신하도록 결합되는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제8항에 있어서, 내부전압을 공급하기 위해 상기 출력단자에 결합된 전압변환기를 아울러 구비하는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 전압발생회로중 최소한 하나는 분압회로인 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 비교 회로중 최소한 하나는 차동증폭기인 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제11항에 있어서, 상기 차동증폭기는 복수의 트랜지스터를 구비하는데, 상기 복수의 트랜지스터들 중 최소한 하나는 상기 복수의 트랜지스터들 중 최소한 다른 두개의 양단의 큰 전압강하를 방지하기 위해 상기 최소한 다른 두개 사이에 결합되는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제12항에 있어서, 상기 최소하나의 트랜지스터에 병렬로 결합되는 전원 상승트랜지스터를 아울러 구비하는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 스위치들중 최소하나는 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 스트레스 모드 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 스트레스 모드회로는 집적회로인 것을 특징으로 한 스트레스 모드 회로.
- 기준전압을 또다른 전압과 비교하는 단계와; 상기 전압들의 비교결과에따라서 최소한 하나의 출력을 발생시키는 단계와, 상기 최소한 하나의 출력에 따라서 상기 전압들 중 하나를 출력하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 스트레스 모드회로를 동작시키는 방법.
- 제16항에 있어서, 상기 또다른 전압을 발생시키는 단계를 아울러 구비하는 것을 특징으로 하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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US5187396A (en) * | 1991-05-22 | 1993-02-16 | Benchmarq Microelectronics, Inc. | Differential comparator powered from signal input terminals for use in power switching applications |
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