KR930006875A - 집적회로 - Google Patents
집적회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR930006875A KR930006875A KR1019920009119A KR920009119A KR930006875A KR 930006875 A KR930006875 A KR 930006875A KR 1019920009119 A KR1019920009119 A KR 1019920009119A KR 920009119 A KR920009119 A KR 920009119A KR 930006875 A KR930006875 A KR 930006875A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- voltage
- terminal
- signal input
- input terminal
- signal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
집적회로는 소정전압이 하나이상의 신호입력단자에 인가도리때 모드절환단자를 통하여 소정신호전압이 입력된 경우 절환되는 모드를 가진다.
상기 집적회로는 상기 신호입력단자와 상기 논리회로 사이에 배치되어 있되, 상기 모드절환단자를 통해 입력된 신호전압에 응답해서 접지전압에서 전원전압의 범위내에서의 어떤 전압을 받아들이기 위해 상기 신호입력단자를 설정하는 전압설정회로를 구비한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명의 집적회로의 내부구조를 보인 회로도,
제6도는 동일시각의 테스트모드에서 활성화하는 경우의 본 발명에 의한 복수의 회로들을 보인 배선도.
Claims (2)
- 소정의 전압에서 사용된 적어도 하나의 신호입력단자로 상기 소정전압이 인가될 때 모드절환 입력단자를 통하여 인가된 소정입력 신호전압에 응답해서 회로의 모드가 절환되게 하는 기능을 갖는 집적회로에 있어서, 상기 신호입력단자와 논리회로가 서로 접속하기 위해 그 사이에 배열되고 아울러 상기 모드절환 입력단자를 통해 입력된 신호전압에 의해 접지전압에서 전원전압의 범위내의 전압을 받아들이기 위해 상기 신호입력단자를 설정하는 전압설정회로를 구비한 것을 특징으로 하는 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 신호입력단자와 상기 논리회로 사이에 배치되어 접속하기 위한 상기 전압설정회로는 상기 모드절환 단자에 접속된 인버터와, 모드절환단다에 접속된 각 게이트와, 제1신호입력단자와 제3신호입력단자에 각기 접속된 각 드레인단자와, 전원 전압과 기준전압에 접속된 각 소오스를 갖는 제1 및 제3전계효과 트랜지스터와, 상기 인버터의 출력단자에 접속된 각 게이트와, 제2신호입력단자에 접속되어서 상기 제3전계효과 트랜지스터의 드레인단자와 공유된 각 드레인단자와, 상기 접지전압과 상기 기준전압에 각기 접속된 각 소오스를 갖는 제2 및 제4전계효과 트랜지스터를 구비하되, 상기 제3 및 제4전계효과 트랜지스터가 상기 제 3신호입력단자에 접속되는 것을 특징으로 하는 집적회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3254801A JP2827062B2 (ja) | 1991-09-04 | 1991-09-04 | 集積回路 |
JP91-254801 | 1991-09-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR930006875A true KR930006875A (ko) | 1993-04-22 |
KR970001839B1 KR970001839B1 (ko) | 1997-02-17 |
Family
ID=17270084
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920009119A KR970001839B1 (ko) | 1991-09-04 | 1992-05-28 | 집적회로 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5475330A (ko) |
EP (1) | EP0535776B1 (ko) |
JP (1) | JP2827062B2 (ko) |
KR (1) | KR970001839B1 (ko) |
DE (1) | DE69215184T2 (ko) |
TW (1) | TW222032B (ko) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5644251A (en) * | 1993-04-22 | 1997-07-01 | Lsi Logic Corporation | Switchable pull-ups and pull-downs for IDDQ testing of integrated circuits |
JP3415347B2 (ja) * | 1995-10-25 | 2003-06-09 | Necエレクトロニクス株式会社 | マイクロコンピュータの動作モード設定用入力回路 |
US5787096A (en) * | 1996-04-23 | 1998-07-28 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for testing an integrated circuit |
US5870408A (en) * | 1996-04-30 | 1999-02-09 | Sun Microsystems, Inc. | Method and apparatus for on die testing |
US5727001A (en) * | 1996-08-14 | 1998-03-10 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for testing an integrated circuit |
US5754559A (en) * | 1996-08-26 | 1998-05-19 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for testing integrated circuits |
FR2787912B1 (fr) | 1998-12-23 | 2001-03-02 | St Microelectronics Sa | Circuit electronique configurable |
DE10064478B4 (de) | 2000-12-22 | 2005-02-24 | Atmel Germany Gmbh | Verfahren zur Prüfung einer integrierten Schaltung und Schaltungsanordnung |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5578355A (en) * | 1978-12-08 | 1980-06-12 | Nec Corp | Semiconductor integrated circuit |
US4424460A (en) * | 1981-07-14 | 1984-01-03 | Rockwell International Corporation | Apparatus and method for providing a logical exclusive OR/exclusive NOR function |
JPS5899033A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-13 | Nec Corp | 集積回路装置 |
JPS59200456A (ja) * | 1983-04-27 | 1984-11-13 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
JPS61208315A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
JPS6337268A (ja) * | 1986-07-31 | 1988-02-17 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の試験装置 |
JPH01280923A (ja) * | 1988-05-07 | 1989-11-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
JPH02278171A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-14 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
JP2832994B2 (ja) * | 1989-04-21 | 1998-12-09 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
JPH0328781A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-02-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
-
1991
- 1991-09-04 JP JP3254801A patent/JP2827062B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-05-28 KR KR1019920009119A patent/KR970001839B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-05-29 TW TW081104225A patent/TW222032B/zh not_active IP Right Cessation
- 1992-05-29 DE DE69215184T patent/DE69215184T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-05-29 EP EP92304959A patent/EP0535776B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-06-23 US US08/264,770 patent/US5475330A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69215184D1 (de) | 1996-12-19 |
KR970001839B1 (ko) | 1997-02-17 |
EP0535776A1 (en) | 1993-04-07 |
TW222032B (ko) | 1994-04-01 |
JPH0560845A (ja) | 1993-03-12 |
US5475330A (en) | 1995-12-12 |
DE69215184T2 (de) | 1997-04-03 |
JP2827062B2 (ja) | 1998-11-18 |
EP0535776B1 (en) | 1996-11-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR860003664A (ko) | 칩온칩(Chip-on-Chip)반도체 장치 | |
KR920020521A (ko) | 반도체집적회로 | |
KR890013862A (ko) | 전압레벨 변환회로 | |
KR880012008A (ko) | 전원절환회로 | |
KR880012014A (ko) | Bimos 논리회로 | |
KR840008075A (ko) | 스위칭 제어신호 발생용 반도체 집적회로장치 | |
KR930001585A (ko) | 출력 회로 및 반도체 집적 회로 장치 | |
KR940027316A (ko) | 저전력 모드 및 클럭 증폭기 회로를 가진 집적 회로 | |
KR910002127A (ko) | 전원절환회로 | |
KR860007783A (ko) | 개선된 출력특성을 갖는 비교기 회로 | |
KR970063275A (ko) | 반도체집적회로 및 그것을 사용한 회로장치 | |
KR930006875A (ko) | 집적회로 | |
KR910016077A (ko) | 반도체집적회로 | |
KR920001523A (ko) | 검출 회로를 포함하는 반도체 집적회로 | |
KR970024162A (ko) | 풀업 또는 풀다운 저항을 갖는 반도체 장치(a semiconductor device having pull-up or pull-down resistance) | |
KR960702698A (ko) | 전자 회로(CMOS input with Vcc compensated dynamic threshold) | |
KR940020669A (ko) | 바이어스 회로(bias circuit) | |
KR970003924A (ko) | 반도체 장치 | |
KR950034763A (ko) | 반도체 집적회로 장치 | |
KR920003703A (ko) | 저 동적 임피던스를 갖는 단일-구동 레벨이동기 | |
KR950012459A (ko) | 다(多)비트 출력 메모리 회로용 출력 회로 | |
KR910001974A (ko) | 집적회로구조 | |
KR970017605A (ko) | 가변논리회로와 그것을 사용한 반도체집적회로장치 | |
KR970024538A (ko) | 아날로그 지연회로 | |
KR920005497A (ko) | 반도체 집적회로의 입력회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110617 Year of fee payment: 15 |
|
EXPY | Expiration of term |