KR930015095A - 박막트랜지스터 - Google Patents
박막트랜지스터 Download PDFInfo
- Publication number
- KR930015095A KR930015095A KR1019910025176A KR910025176A KR930015095A KR 930015095 A KR930015095 A KR 930015095A KR 1019910025176 A KR1019910025176 A KR 1019910025176A KR 910025176 A KR910025176 A KR 910025176A KR 930015095 A KR930015095 A KR 930015095A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- drain
- thin film
- film transistor
- oxynitride film
- nitride film
- Prior art date
Links
Abstract
본 발명은 박막트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 그래스기판(11)위에 게이트 메탈을 증착한 후 선택적으로 습식 에칭하여 게이트 전극(12)을 패턴닝한후, 게이트 전극(12)위에 산화질화막(17), 질화막(13), 산화질화막(18)을 차례로 증착 형성하고, 질화막(13)위에 a-Si:H(14) 를 형성하며, 드레인 및 소오스 전극과의 오믹접촉을 위해 n--a-Si:H(15)를 증착한 형성한후, 이어서 a-Si:H(14) 및 n+-a-Si:H(15)를 선잭적으로 건식에칭하고, 드레인 및 소오스 전극(16) 사이의 n+-a-Si:H(15)를 건식에칭하여 드레인과 소오스 전극(16)을 분리형성함을 특징으로 하고 있다. 이러한 본 발명은 질화막의 양쪽에 기계적 응력(stress)이 작고 SiO2에 비해 습기 방지력이 뛰어난 산화질화막을 형성하였으므로 박막트랜지스터의 계면 특성을 향상하고 I-V특성 뿐아니라 온,오프 특성을 향하는 효과가 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 박막트랜지스터의 제조공정도.
Claims (3)
- 그래스기판(11)위에 게이트 메탈을 증착한후 선택적으로 습식에칭하여 게이트 전극(12)을 패터닝한 후, 게이트 전극(12)위에 산화질화막(17), 질화막(13), 산화질화막(18)을 차례로 증착 형성하고, 질화막(13) 위에 a-Si:H(14) 를 형성하며, 드레인 및 소오스 전극과의 오믹접촉을 위해 n+-a-Si:H(15)를 증착한 형성한후, 이어서 a-Si:H(14) 및 n+-a-Si:H(15)를 선택적으로 건식에칭하고, 드레인 및 소오스 전극(16)을 형성하며, 드레인과 소오스 전극(16) 사이의 n+-a-Si:H(15)를 건식에칭하여 드레인과 소오스 전극(16)을 분리형성함을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 산화질화막(17)(18)은 SiH4, NH3, N2O 가스를 사용하여 PECVD법으로 증착형성함을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
- 제2항에 있어서, 상기 산화질화막(17)(18)은 200Å 정도로 형성되고, 상기 질화막(13)은 3000Å 정도로 형성되는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019910025176A KR930015095A (ko) | 1991-12-30 | 1991-12-30 | 박막트랜지스터 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019910025176A KR930015095A (ko) | 1991-12-30 | 1991-12-30 | 박막트랜지스터 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR930015095A true KR930015095A (ko) | 1993-07-23 |
Family
ID=67345957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019910025176A KR930015095A (ko) | 1991-12-30 | 1991-12-30 | 박막트랜지스터 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR930015095A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100400253B1 (ko) * | 2001-09-04 | 2003-10-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자의 박막 트랜지스터 제조방법 |
-
1991
- 1991-12-30 KR KR1019910025176A patent/KR930015095A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100400253B1 (ko) * | 2001-09-04 | 2003-10-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자의 박막 트랜지스터 제조방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR910019260A (ko) | 반도체장치및 그의 제조방법 | |
KR930015095A (ko) | 박막트랜지스터 | |
KR960032776A (ko) | 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR890003042A (ko) | 전계 효과 트랜지스터 및 그 제조공정 | |
KR900015371A (ko) | 이중 게이트형 아몰퍼스 실리콘 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR920003534A (ko) | 박막트랜지스터의 제조방법 | |
KR950026037A (ko) | 박막트랜지스터 | |
KR950025868A (ko) | 반도체 소자의 비트라인 형성방법 | |
KR940012653A (ko) | 박막트랜지스터 제조방법 | |
KR960012386A (ko) | 박막트랜지스터 제조방법 | |
KR960000383B1 (ko) | 박막트랜지스터의 구조 | |
KR870011706A (ko) | 액정표시소자 구동용 비정실 실리콘 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 | |
KR930005239A (ko) | Tft의 제조방법 | |
KR910005467A (ko) | 박막 트랜지스터의 제조 방법 및 구조 | |
KR960039215A (ko) | 박막트랜지스터 오믹콘택형성방법 | |
KR900017150A (ko) | 다중 게이트 박막 트랜지스터 제조방법 | |
KR930001488A (ko) | Mos 장치 및 그 제조방법 | |
KR910010636A (ko) | 비정질실리콘 박막 트랜지스터의 제조방법 | |
KR900015350A (ko) | 비정질 규소 박막 트랜지스터 | |
KR930024211A (ko) | 박막트랜지스터의 제조방법 및 그 구조 | |
KR930015068A (ko) | 단차를 가진 게이트 절연막을 사용한 tft 제조방법 | |
KR960006080A (ko) | 박막트랜지스터 제조방법 | |
KR870004327A (ko) | 액정표시소자용 박막 트랜지스터의 제조방법 | |
KR960002571A (ko) | 반도체소자의 게이트전극 형성방법 | |
KR920005373A (ko) | 수직모스 트랜지스터 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |