KR920020524A - Lsi의 시험방법 및 lsi - Google Patents

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마사시 히라노
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아오이 죠이치
가부시키가이샤 도시바
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Abstract

내용 없음

Description

LSI의 시험방법 및 LSI
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 LSI의 구성예를 나타낸 블럭도,
제2도는 제1도의 변형예를 나타낸 블럭도,
제3도는 제1도의 다른 변형예를 나타낸 블럭도,
제4도는 클럭공급회로의 다른 구성예를 나타낸 도면이다.

Claims (5)

  1. 고속, 고성능의 LSI 내부에 그 LSI의 시험에 필요한 고속클럭을 발생시키는 고속클럭 발생회로(4,12)를 설채해 놓고, 상기 LSI의 시험시에 상기 고속클럭 발생회로(4,12)로부터 발생되는 고속클럭을 이용해서 상기 LSI의 내부회로(2)를 시험 및 평가하도록 된 것을 특징으로 하는 LSI의 시험방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 고속클럭 발생회로(4)는 소정의 고속클럭을 스스로 발생시키도록 된 것을 특징으로 하는 LSI의 시험방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 고속클럭 발생회로(12)는 비교적 저주파의 가변 외부클럭신호에 동기해서 고속클럭을 발생시키도록 된 것을 특징으로 하는 LSI의 시험방법.
  4. 고속, 고성능의 LSI내부에 그 LSI의 시험에 필요한 고속클럭을 발생시키는 고속클럭 발생회로(4,12)를 설치한 것을 특징으로 하는 LSI.
  5. 제4항에 있어서, 상기 LSI에는 상기 고속클럭 발생회로와 더불어 시험시에 상기 LSI의 내부회로를 동작시키기 위한 프로그램을 기억하고 있는 프로그램 기억용 메모리(9A)가 내장된 것을 특징으로 하는 LSI.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920006645A 1991-04-30 1992-04-21 Lsi의 시험방법 및 lsi KR960003365B1 (ko)

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