KR920015582A - 반도체 장치의 평탄화방법 - Google Patents

반도체 장치의 평탄화방법 Download PDF

Info

Publication number
KR920015582A
KR920015582A KR1019910000644A KR910000644A KR920015582A KR 920015582 A KR920015582 A KR 920015582A KR 1019910000644 A KR1019910000644 A KR 1019910000644A KR 910000644 A KR910000644 A KR 910000644A KR 920015582 A KR920015582 A KR 920015582A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
semiconductor device
photoresist film
planarization method
applying
film
Prior art date
Application number
KR1019910000644A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0179000B1 (ko
Inventor
박준영
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, 금성일렉트론 주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019910000644A priority Critical patent/KR0179000B1/ko
Publication of KR920015582A publication Critical patent/KR920015582A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0179000B1 publication Critical patent/KR0179000B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

반도체 장치의 평탄화방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도 (a) - (g)는 본 발명에 따른 평탄화공정도이다.

Claims (1)

  1. 반도체장치의 제조공정에 있어서, 웨이퍼상의 유전체막, 제1포토레지스트막을 차례로 도포하는 공정과, 단차가 넓게 형성된 부분이외의 상기 제1포토레지스트막을 제거하는 공정과, 남아있는 상기 제1포토레지스트막에 자외선 큐어링을 실시하는 공정과, 전면에 제2포토레지스트막을 도포하는 공정과, 에치백하여 평탄화하는 공정으로 이루어진 반도체장치의 평탄화 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910000644A 1991-01-16 1991-01-16 반도체 장치의 평탄화방법 KR0179000B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910000644A KR0179000B1 (ko) 1991-01-16 1991-01-16 반도체 장치의 평탄화방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910000644A KR0179000B1 (ko) 1991-01-16 1991-01-16 반도체 장치의 평탄화방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920015582A true KR920015582A (ko) 1992-08-27
KR0179000B1 KR0179000B1 (ko) 1999-04-15

Family

ID=19309900

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910000644A KR0179000B1 (ko) 1991-01-16 1991-01-16 반도체 장치의 평탄화방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0179000B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100922074B1 (ko) * 2002-12-02 2009-10-16 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 소자의 소자 분리막 형성방법
CN106941075A (zh) * 2017-03-08 2017-07-11 扬州国宇电子有限公司 半导体芯片的沟槽肖特基表面平坦化加工工艺

Also Published As

Publication number Publication date
KR0179000B1 (ko) 1999-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920015582A (ko) 반도체 장치의 평탄화방법
KR970003620A (ko) 반도체 소자의 절연막 평탄화방법
KR920015504A (ko) 반도체 장치의 평탄화 방법
KR980005899A (ko) 포토레지스트의 스트리핑방법
KR950034673A (ko) 로우-케이 유전체를 사용하는 트랜지스터 분리 방법 및 장치
KR970052570A (ko) 반도체 장치의 평탄화방법
KR950034517A (ko) 반도체 장치에서 전도선의 형성 방법
KR930003384A (ko) 반도체 소자의 제조방법
KR920005348A (ko) 반도체 소자의 금속층간 평탄화 방법
KR960002550A (ko) 반도체 소자의 스페이서 형성방법
KR960005791A (ko) 반도체소자의 콘택홀 형성방법
KR970003518A (ko) 반도체 소자의 접촉창 형성 방법
KR920013720A (ko) 폴리마이드를 이용한 반도체 메모리소자의 커패시터 제조방법
KR920022507A (ko) 반도체 메모리 소자의 제조방법
KR950012848A (ko) 반도체 소자의 제조 방법
KR970053419A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR970077215A (ko) 반도체 장치의 비트라인 형성방법
KR940009760A (ko) 콘택 접속을 위한 패드 폴리실리콘 형성 방법
KR970077456A (ko) 반도체 소자의 콘택 홀 형성 방법
KR890011058A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR940022717A (ko) 게이트 전극 형성 방법
KR910001468A (ko) 자외선을 이용한 포토레지스트 평탄화 공정방법
KR970054601A (ko) 반도체 디바이스 제조공정의 금속층 패터닝(Patterning) 방법
KR970077692A (ko) 반도체장치의 게이트 형성방법
KR940002664A (ko) 감광막 패턴 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20081027

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee