KR980005849A - 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법 - Google Patents

포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법 Download PDF

Info

Publication number
KR980005849A
KR980005849A KR1019960023990A KR19960023990A KR980005849A KR 980005849 A KR980005849 A KR 980005849A KR 1019960023990 A KR1019960023990 A KR 1019960023990A KR 19960023990 A KR19960023990 A KR 19960023990A KR 980005849 A KR980005849 A KR 980005849A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pattern
photoresist
interlayer insulating
entire surface
insulating film
Prior art date
Application number
KR1019960023990A
Other languages
English (en)
Inventor
노병혁
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019960023990A priority Critical patent/KR980005849A/ko
Publication of KR980005849A publication Critical patent/KR980005849A/ko

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법에 관한 것이다. 본 발명의 평탄화방법은 패턴이 없는 넓은 부분과 좁은 패턴과 넓은 패턴으로 이루어진 반도체기판 전면에 층간 절연막을 형성하는 단계, 상기 층간 절연막 전면의 패턴이 없는 넓은 부분과 상기 좁은 패턴사이를 한전하는 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계, 상기 포토레지스트 패턴을 리플로우 하여 상기 패턴이 넓은 부분에 형성된 상기 층간절연막과 같은 높이로 평탄화하는 단계 및 상기 좁은 패턴이 형성된 영역과 패턴이 없는 영역의 리플로우된 포토레지스트 패턴 및 패턴이 넓은 영역의 전면에 형성된 층간절연막과 전면을 1:1 식각비를 갖는 조건으로 에치백하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 포토레지스트 패턴의 리플로우와 이어서 CMP를 이용함으로써, 전체적으로 균일한 평탄화를 이룰 수 있고, 따라서 후속공정으로 콘택이나 사진식각공정등을 큰 편차없이 수행할 수 있다.

Description

포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 내지 제5도는 본 발명에 의한 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화 방법을 단계별로 나타낸 도면들이다.

Claims (1)

  1. 패턴이 없는 넓은 부분과 좁은 패턴과 넓은 패턴으로 이루어진 반도체기판 전면에 층간 절연막을 형성하는 단계; 상기 층간 절연막 전면의 패턴이 없는 넓은 부분과 상기 좁은 패턴사이를 한정하는 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계; 상기 포토레지스트 패턴을 리플로우 하여 상기 패턴이 넓은 부분에 형성된 상기 층간절연막과 같은 높이로 평탄화하는 단계; 및 상기 좁은 패턴이 형성된 영역과 패턴이 없는 영역의 리플로우된 포토레지스트 패턴 및 패턴이 넓은 영역의 전면에 형성된 층간절연막 전면을 1:1 식각비를 갖는 조건으로 에치백하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 포토레지스트를 이용하는 반도체장치의 평탄화방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960023990A 1996-06-26 1996-06-26 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법 KR980005849A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960023990A KR980005849A (ko) 1996-06-26 1996-06-26 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960023990A KR980005849A (ko) 1996-06-26 1996-06-26 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR980005849A true KR980005849A (ko) 1998-03-30

Family

ID=66287690

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960023990A KR980005849A (ko) 1996-06-26 1996-06-26 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR980005849A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020053435A (ko) * 2000-12-27 2002-07-05 한신혁 반도체 소자의 평탄화 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020053435A (ko) * 2000-12-27 2002-07-05 한신혁 반도체 소자의 평탄화 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940022801A (ko) 반도체소자의 콘택 형성방법
KR980005849A (ko) 포토레지스트를 이용한 반도체장치의 평탄화방법
KR970052570A (ko) 반도체 장치의 평탄화방법
KR980005592A (ko) 자기 정렬 콘택 홀 형성 방법
KR970052386A (ko) 반도체 장치의 금속 배선 형성 방법
KR960019537A (ko) 더미패턴을 이용한 평탄화 공정방법
KR970030639A (ko) 평탄화된 필드절연막을 갖는 반도체 장치 및 그 제조방법
KR970052369A (ko) 반도체 장치의 콘택홀 형성방법
KR970023630A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR970072086A (ko) 반도체 소자의 금속 배선 형성 방법
KR960043118A (ko) 반도체 장치의 비트라인 형성방법
KR920015582A (ko) 반도체 장치의 평탄화방법
KR950021118A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR970052841A (ko) 반도체장치 제조방법
KR890007361A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR970077521A (ko) 반도체소자의 금속배선구조 및 이의 형성방법
KR960019569A (ko) 반도체소자 제조방법
TW430924B (en) Method for forming contact hole in semiconductor device
KR980005631A (ko) 콘택홀 형성방법
KR950014970A (ko) 반도체 소자의 층간 절연막 평탄화 방법
KR970024309A (ko) 박막트랜지스터 액정표시장치(tft-lcd)의 제조방법
KR960005791A (ko) 반도체소자의 콘택홀 형성방법
KR970052780A (ko) 반도체 소자 제조 방법
KR980003817A (ko) 반도체소자의 패턴 형성방법
KR960002649A (ko) 다층절연막 구조를 갖는 반도체 장치 및 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination