KR920015567A - 반도체 메모리 셀 제조방법 - Google Patents
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- H01L21/02274—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase deposition by decomposition or reaction of gaseous or vapour phase compounds, i.e. chemical vapour deposition in the presence of a plasma [PECVD]
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 2 도는 본 발명의 공정 단면도.
Claims (2)
- 반도체 집적회로의 메모리 셀 제조방법에 있어서, 통상의 플레이트 폴리실리콘 위에 스텝 커버리지가 낮은 보호 산화막을형성하고 건식 식각하여 플레이트 폴리실리콘의 톱 및 측벽에 보호 산화막이 형성되게 하며 이를 마스크로 하여 스토리지노드 폴리실리콘을 건식 식각하고 패터닝함으로 플레이트와 노드 사이의 간격을 일정하게 유지시킬 수 있게 함을 특징으로 하는 반도체 메모리 셀 제조방법.
- 제 1 항에 있어서, 보호 산화막은 상압 화학 증착법 또는 플라즈마 화학 증착법을 이용하여 600℃ 이하에서 톱 부분을 보톰부분보다 두껍게 형성함을 특징으로 하는 반도체 메모리 셀 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019910000292A KR930008072B1 (ko) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 반도체 메모리 셀 제조방법 |
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KR1019910000292A KR930008072B1 (ko) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 반도체 메모리 셀 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR920015567A true KR920015567A (ko) | 1992-08-27 |
KR930008072B1 KR930008072B1 (ko) | 1993-08-25 |
Family
ID=19309623
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019910000292A KR930008072B1 (ko) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 반도체 메모리 셀 제조방법 |
Country Status (1)
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KR (1) | KR930008072B1 (ko) |
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1991
- 1991-01-10 KR KR1019910000292A patent/KR930008072B1/ko not_active IP Right Cessation
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KR930008072B1 (ko) | 1993-08-25 |
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