KR920015566A - 메모리 셀 제조방법 - Google Patents

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KR920015566A
KR920015566A KR1019910000288A KR910000288A KR920015566A KR 920015566 A KR920015566 A KR 920015566A KR 1019910000288 A KR1019910000288 A KR 1019910000288A KR 910000288 A KR910000288 A KR 910000288A KR 920015566 A KR920015566 A KR 920015566A
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KR1019910000288A
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Inventor
장성진
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B12/00Dynamic random access memory [DRAM] devices

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

메모리 셀 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도 (A) 내지 (G)는 본 발명의 제조공정 단면도, 제2도는 (H)는 본 발명의 공정특성 설명도.

Claims (1)

  1. 기판상에 제1기초산화막과 제1질화막을 형성하고 포토/에치 공정을 거쳐 액티브영역의 상기 제1질화막을 제거하는 단계, 상기 액티브영역에 산화를 행하여 산화막을 형성한 다음 이를 제거하여 필드영역과 단자가 형성되도록 하고 제2초기산화막과 제2질화막을 형성하고 포토/에치공정을 거쳐 필드 영역의 것을 제거하는 단계, 필드영역에 필드산화막을 형성하고 통상의 방법으로 필드산화막과 액티브영역상에 트랜지스터를 형성하는 단계, 전체적으로 절연용산화막과 스택용 폴리실리콘막을 형성한 다음 포토/에치 공정을 거쳐 각 게이트 사이에 메몰 콘택트를 형성하는 단계, 포토/에치 공정을 거쳐 액티브 영역의 게이트 상에만 상기 절연용산화막과 스택용 폴리 실리콘막을 남기고 나머지는 제거하는 단계, 통상의 방법으로 커패시터를 형성하는 단계가 차례로 포함됨을 특징으로 하는 메모리 셀 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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