KR920015386A - 동적 랜덤 억세스 메모리 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 따른 동적 랜덤 억세스 메모리 장치의 배열을 도시한 블럭도, 제7도는 본 발명에 따른 다른 동적 랜덤 억세스 메모리 장치의 필수 부분의 배열을 도시한 블럭도.
Claims (1)
- (a)행과 열로 배열되어 전하의 형태로 데이타 비트를 각각 저장하는 다수의 메모리 셀(M11-Mmn)과, (b)상기 다수의 메모리 셀의 열과 관련된 다수의 비트 라인쌍(BL1/BL2;BLm/BLn)과, (c)상기 다수의 메모리 셀의 행과 각각 관련되고, 데이타 비트가 상이한 전압의 형태로 상기 다수의 비트 라인 쌍으로 출력되도록 허용하기 위해 활설 레벨로 선택적으로 구동되는 다수의 워드 라인(WL1-WLm)과, (d)상기 데이타 비트를 나타내는 차동 전압레벨을 발생하도록 동작하는 감지 증폭기 유니트(16)와, (e)상기 다수의 비트 라인과 상기 감지 증폭기 유니트 사이에 결합되고 제어 신호 라인(TGo) 상의 활성 레벨의 제어 신호에 응답하여 상기 차동 전압을 상기 감지 증폭기 유니트에 전달하기 위한 다수의 전달 게이트(15)와, (f)상기 다수의 워드 라인 중 한 라인을 지정하도록 동작하는 행 어드레스 디코더 유니트(14)와, (g)상기 활성 레벨의 제어 신호를 상기 다수의 전달 게이트에 공급하기 위한 구동기 유니트(17)와, (h)상기 행 어드레스 디코더 유니트와 상기 구동기 유니트가 상기 워드 라인중 한 라인과 상기 제어 신호 라인을 상기 활성 레벨로 각각 상승시키도록 전력을 공급하는 동작을 하는 전원 시스템(21/22/23/24/25;22/24/29/31/32)을 포함하고 있으며, 반도체 칩(11)상에서 제조되어, 선택적으로 표준 동작모드와 진단 동작 모드로 들어가는 동적 랜덤 억세스 메모리에 있어서, (i)상기 진단 모드에서 다른 검사 동작으로 부터 상기 다수의 워드 라인과 상기 제어 신호 라인상의 제1검사 동작을 판별하고, 상기 전원 시스템으로 하여금 상기 행어드레스 디코더 유니트와 상기 구동기 유니트에 공급되는 상기 전력을 차단시키도록 동작하는 검사 동작 판별 유니트(26;30)를 특징으로 하는 동적 랜덤 억세스 메모리.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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