KR940016288A - 반도체메모리 및 그 선별방법 - Google Patents

반도체메모리 및 그 선별방법 Download PDF

Info

Publication number
KR940016288A
KR940016288A KR1019930028568A KR930028568A KR940016288A KR 940016288 A KR940016288 A KR 940016288A KR 1019930028568 A KR1019930028568 A KR 1019930028568A KR 930028568 A KR930028568 A KR 930028568A KR 940016288 A KR940016288 A KR 940016288A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
time
timer
sorting
semiconductor memory
period
Prior art date
Application number
KR1019930028568A
Other languages
English (en)
Inventor
가쓰야 나까시마
슘페이 고리
Original Assignee
오가 노리오
소니 가부시기가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 오가 노리오, 소니 가부시기가이샤 filed Critical 오가 노리오
Publication of KR940016288A publication Critical patent/KR940016288A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/025Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in signal lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/027Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in fuses
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/028Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters with adaption or trimming of parameters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
    • G11C29/50012Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing of timing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
    • G11C2029/5006Current

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

선별시에 내부신호의 타이밍여유를 엄격하게 하는 것이 가능한 반도체메모리 및 그 선별방법을 제공한다.
선별시에 p채널트랜지스터 Q1의 게이트를 "L"레벨로 함으로써, ATD펄스(리세트펄스)를 Q2에 넣음으로써 용량 C에 정전류원(定電流源) D1, D2으로부터 전하가 짧은 시간에 축적된다. 이 타이머를 사용하여 워드선구동펄스를 짧게 하여, 엄격한 조건에서의 독출특성을 검지하는 것이 가능해진다.

Description

반도체메모리 및 그 선별방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명의 실시예 1 에 사용한 PWL 타이머를 나타낸 회로도, 제 2 도는 본 발명의 실시예 1 의 타이밍차트, 제 3 도는 본 발명의 실시예 2 의 지연수단을 나타낸 회로도, 제 4 도는 SRAM의 요부를 나타낸 회로도.

Claims (6)

  1. 워드선펄스구동을 규정하는 타이머를 구비한 반도체메모리에 있어서, 상기 타이머가 워드선이 "H"레벨로 되는 기간을 선별시용의 짧은 기간과 출하시용의 긴 기간을 선택가능하게 한 것을 특징으로 하는 반도체메모리.
  2. 워드선펄스구동방식을 이용한 반도체메모리의 선별방법에 있어서, 워드선이 "H"레벨로 되는 기간을 선별시만 짧게 설정하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리의 선별방법.
  3. 센스앰프의 입출력을 타이머에 따라서 이퀄라이즈하는 반도체메모리에 있어서, 상기 타이머가 센스앰프의 출력을 이퀄라이즈하는 기간을 출하시와 선별시에서 상이한 기간을 선택가능한 것을 특징으로 하는 반도체메모리.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 타이머는 출하시의 센스앰프의 출력의 이퀄라이즈기간을 결정하는 출하용타이머와, 출하시의 이퀄라이즈기간보다 짧은 선별시의 이퀄라이즈기간을 결정하는 선별용타이머를 구비하고, 상기 양타이머는 선택가능한 것을 특징으로 하는 반도체메모리.
  5. 센스앰프의 입출력을 이퀄라이즈하는 반도체메모리의 선별방법에 있어서, 입력의 이퀄라이즈해방과, 출력의 이퀄라이즈해방과의 타이밍 여유를 선별시에 작게하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리의 선별방법.
  6. 메모리셀의 리페어용 퓨즈를 가진 반도체메모리의 선별방법에 있어서, 상기 리페어용 퓨즈의 절단을 검출하는 리세트펄스를 선별시에 넣지 않는 것을 특징으로 하는 반도체메모리의 선별방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930028568A 1992-12-25 1993-12-20 반도체메모리 및 그 선별방법 KR940016288A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP92-345777 1992-12-25
JP34577792 1992-12-25

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR940016288A true KR940016288A (ko) 1994-07-22

Family

ID=26578104

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930028568A KR940016288A (ko) 1992-12-25 1993-12-20 반도체메모리 및 그 선별방법

Country Status (2)

Country Link
US (3) US5615157A (ko)
KR (1) KR940016288A (ko)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940016288A (ko) * 1992-12-25 1994-07-22 오가 노리오 반도체메모리 및 그 선별방법
US6081465A (en) * 1998-04-30 2000-06-27 Hewlett-Packard Company Static RAM circuit for defect analysis
US6452915B1 (en) 1998-07-10 2002-09-17 Malibu Networks, Inc. IP-flow classification in a wireless point to multi-point (PTMP) transmission system
US6543015B1 (en) 1999-06-21 2003-04-01 Etron Technology, Inc. Efficient data compression circuit for memory testing
US7293477B2 (en) * 2003-12-23 2007-11-13 Millipore Corporation Disposable, pre-sterilized fluid receptacle sampling device
US20060041798A1 (en) * 2004-08-23 2006-02-23 On-Chip Technologies, Inc. Design techniques to increase testing efficiency
KR101229521B1 (ko) * 2005-12-28 2013-02-05 삼성전자주식회사 디바이스 메모리의 무결성 확인 방법 및 장치
KR102168115B1 (ko) * 2014-01-21 2020-10-20 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 및 이를 포함하는 메모리 시스템
KR20160000626A (ko) 2014-06-25 2016-01-05 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 장치
US10491430B2 (en) * 2017-09-25 2019-11-26 Micron Technology, Inc. Memory decision feedback equalizer testing

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2854305B2 (ja) * 1988-10-07 1999-02-03 株式会社日立製作所 半導体記憶装置と半導体記憶装置の動作方法
EP0384673B1 (en) * 1989-02-18 1995-05-24 Sony Corporation Memory devices
US4969125A (en) * 1989-06-23 1990-11-06 International Business Machines Corporation Asynchronous segmented precharge architecture
JPH0346193A (ja) * 1989-07-13 1991-02-27 Mitsubishi Electric Corp スタティック型半導体記憶装置
GB9007788D0 (en) * 1990-04-06 1990-06-06 Foss Richard C Dynamic memory bitline precharge scheme
US5309446A (en) * 1990-07-31 1994-05-03 Texas Instruments Incorporated Test validation method for a semiconductor memory device
JP3084759B2 (ja) * 1991-01-29 2000-09-04 日本電気株式会社 ダイナミックランダムアクセスメモリ装置
JP2960982B2 (ja) * 1991-05-29 1999-10-12 富士通株式会社 バーンイン方式
KR960009033B1 (en) * 1991-07-17 1996-07-10 Toshiba Kk Semiconductor memory
US5550394A (en) * 1993-06-18 1996-08-27 Texas Instruments Incorporated Semiconductor memory device and defective memory cell correction circuit
KR940016288A (ko) * 1992-12-25 1994-07-22 오가 노리오 반도체메모리 및 그 선별방법
JPH0757466A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Toshiba Corp 半導体集積回路
JPH08167285A (ja) * 1994-12-07 1996-06-25 Toshiba Corp 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5896333A (en) 1999-04-20
US5757708A (en) 1998-05-26
US5615157A (en) 1997-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4751681A (en) Dynamic differential amplifier
KR870008439A (ko) 반도체장치의 시간지연회로
KR920009082A (ko) 천이에 의해 래치하는 어드레스 버퍼 회로와 그 버퍼링을 제어하는 방법
EP0176203A2 (en) Self refresh control circuit for dynamic semiconductor memory device
IE813069L (en) Buffer circuit
US4656608A (en) Semiconductor memory device
KR940016288A (ko) 반도체메모리 및 그 선별방법
US4733112A (en) Sense amplifier for a semiconductor memory device
GB2232516A (en) Sense amplifier driver for semiconductor memory
JPH0520840B2 (ko)
KR980011453A (ko) 출력버퍼회로
KR870007512A (ko) 어드레스 신호변화를 검출하는 회로를 지닌 반도체 집적회로
US4618786A (en) Precharge circuit for enhancement mode memory circuits
JP3059737B2 (ja) 半導体記憶装置
US4398270A (en) Self-loading bootstrap circuit
US4682048A (en) Output circuit with improved timing control circuit
US4807193A (en) Semiconductor memory device with a detection circuit to detect word line potential
US4571503A (en) Supply voltage level independent clock generator
US5199002A (en) SRAM-address-change-detection circuit
KR920018754A (ko) 반도체 메모리 회로
EP0444707A2 (en) Dynamic random access memory device having static column mode of operation without destruction of data bit
JPS6344400A (ja) 半導体記憶装置
JP2557337B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS62285296A (ja) 出力バツフア回路
JPH05314762A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application