KR910020493A - 레지스트의 이중 도포에 의한 이중 노광방법 - Google Patents

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KR910020493A
KR910020493A KR1019900006473A KR900006473A KR910020493A KR 910020493 A KR910020493 A KR 910020493A KR 1019900006473 A KR1019900006473 A KR 1019900006473A KR 900006473 A KR900006473 A KR 900006473A KR 910020493 A KR910020493 A KR 910020493A
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최영남
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문정환
금성일렉트론 주식회사
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

레지스트의 이중 도포에 의한 이중 노광방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제조공정을 나타낸 단면도.

Claims (2)

  1. 기판(1)위에 하층레지스트(2)와 상층레지스트(3)를 형성하는 방법에 있어서, 기판(1)위에 하층레지스트(2)를 형성하고, 이어 상기 하층레지스트(2)의 특정부위(2a)에만 빛을 받게한 후 하측 레지스트(2)와 동종의 상층 레지스트(3)를 형성하며, 블랭크 마스크를 사용하여 상층레지스트(3)에서의 전면노광을 실시함을 특징으로 하는 레지스트의 이중도포에 의한 이중 노광방법.
  2. 제1항에 있어서, 하층 레지스트(2)와 상층레지스트(3)를 숏 스핀 시간 도포공정으로 형성하여 토포리지 단차에 의한 레지스트의 두께를 감소시키게함을 특징으로하는 레지스트의 이중도포에 의한 이중 노광방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019900006473A 1990-05-08 1990-05-08 레지스트의 이중 도포에 의한 이중 노광방법 KR920003811B1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100575001B1 (ko) * 2004-12-10 2006-04-28 삼성전자주식회사 상호 결합 없는 이중 포토 리소그라피 방법

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