KR910016002A - 정적 등속 호출 메모리 셀의 출력을 감지하기 위한 감지 증폭기 및 방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 감지 증폭기를 사용하여 정적 등속 호출 메모리부의 기능적 블럭도, 제2도는 본 발명에 따른 감지 증폭기의 전기적인 개략도.
Claims (21)
- 상보형 출력들을 갖고 있는 등속 호출 메모리 셀과 함께 사용학 위한 감지 증폭기에 있어서, 상기 메모리 셀의 제1상보형 출력으로부터의 제1전류를 제1차동전압 신호로 변환하기 위한 제1전치증폭기, 상기 메모리 셀의 제2상보형 출력으로부터의 제2 전류를 제2차동전압 신호로 변환하기 위한 제2 전치증폭기, 상기 제1 및 제2 차동전압 신호들을 증폭시키기 위한 차동 증폭기, 및 상기 제1및 제2 차동 전압 신호를 출력시키기 위한 제1 및 제2 감지 증폭기 상보형 출력들을 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제1항에 있어서, 상기 제1상보형 출력과 상기 제1전치 증폭기 사이에 귀환 경로를 제공하는 제1 귀환회로, 및 상기 제2상보형 출력과 상기 제2전치 증폭기 사이에 귀환 경로를 제공하는 제2귀환 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제1항에 있어서, 상기 제1상보형 출력과 상기 제2전치 증폭기 사이에 귀환 경로를 제공하는 제1 귀환 회로, 및 상기 제2상보형 출력과 상기 제1전치 증폭기 사이에 귀환 경로를 제공하는 제2귀환 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2전치 증폭기들이 제1및 제2 캐스코드 트랜지스터들을 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제1항에 있어서, 상기 차동 증폭기가 제1 및 제2 에미터 결합 증폭 트랜지스터들을 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 열 내의 각각의 셀이 각각의 열을 형성하는 비트라인 쌍의 개개의 비트라인에 접속되는 상보형 출력 쌍을 갖고 있는 메모리 셀들을 열과 함께 사용하기 위한 감지 증폭기에 있어서, 메모리 셀들의 열의 제1비트라인에 결합되는 제1전치 증폭기 트랜지스터, 메모리 셀들의 열의 제2비트라인에 결합되는 제2전치 증폭기 트랜지스터, 제1 증폭기 트랜지스터가 상기제1 전치증폭기 트랜지스터에 결합되고 제2 증폭기 트랜지스터가 상기 제2 전치증폭기 트랜지스터에 결합되는, 차동 증폭기를 구성하는 제1 및 제2 에미터 결합 증폭기 트랜지스터, 제1 및 제2 감지증폭기 출력들을 포함하는 증폭기 트랜지스터, 상기 감지 증폭기 출력으로부터 상기 제1 전치증폭기 트랜지스터까지 제1 귀환 경로를 제공하는 제1귀환 회로, 및 상기 다른 감지 증폭기 출력으로부터 상기 제2 전치증폭기 트랜지스터까지 제2귀환 경로를 제공하는 제2귀환 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제6항에 있어서, 상기 전치증폭기 트랜스터의 에미터가 상기 제1 비트라인에 결합되고, 상기 제2전치 증폭기 트랜지스터에 에미터가 상기 제2비트라인에 결합되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제7항에 있어서, 상기 제1 전치증폭기 트랜지스터의 콜렉터가 상기 제1 증폭기 트랜지스터의 베이스에 결합되고, 상기 제2 전치증폭기 트랜지스터의 콜렉터가 상기 제2 증폭기 트랜지스터의 콜렉터에 결합되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제8항에 있어서, 상기 제1 증폭기 트랜지스터의 베이스가 상기 제1 증폭기 트랜지스터의 콜렉터에 결합되고, 상기 제2 증폭기 트랜지스터의 베이스가 상기 제2 증폭기 트랜지스터의 콜렉터에 결합되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제8항에 있어서, 상기 제1 전치증폭기 트랜지스터의 베이스가 상기 제2 증폭기 트랜지스터의 콜렉터에 결합되고, 상기 제2 전치증폭기 트랜지스터의 베이스가 상기 제1 증폭기 트랜지스터의 콜렉터에 결합되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제8항에 있어서, 상기 제1 귀환 회로가 상기 제1 전치 증폭기 트랜지스터에 에미터에 결합되고, 상기 제2귀환 회로가 제2 전치증폭기 트랜지스터의 에미터에 결합되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제11항에 있어서, 상기 제1 귀환 회로가, 상기 제1감지 증폭기 출력에 결합되는 구동 증폭기 트랜지스터 및 상기 제1 전치증폭기 트랜지스터의 에미터를 선택적으로 풀다운 하기 위해 상기 구동 증폭기 트랜지스터에 결합되는 귀환 트랜지스터를 포함하고, 상기 제2 귀환회로가, 상기 제2 감지 증폭기 출력에 결합되는 구동 증폭기 트랜지스터 및 상기 제2 전치증폭기 트랜지스터의 에미터를 선택적으로 풀다운하기 위해 상기 구동 증폭기에 결합되는 귀환 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제11항에 있어서, 상기 제1감지 증폭기 출력에 결합되는 구동 증폭기 트랜지스터, 및 상기 제2 전치증폭기 트랜지스터를 에미터를 선택적으로 풀다운 하기 위해 상기 구동 증폭기 트랜지스터에 결합되는 귀환 트랜지스터를 포함하고, 상기 제2귀환회로가, 상기 제2 감지 증폭기 출력에 결합되는 구동 증폭기 트랜지스터, 및 상기 제1 전치증폭기 트랜지스터의 에미터를 선택적으로 풀다운하기 위해 상기 구동 증폭기에 결합되는 귀환 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제7항에 있어서, 상기 제1 전치증폭기가 상기 제1비트라인에 스위치식으로 결합하고, 상기 제2 전치증폭기가 상기 제2 비트라인에 스위치식으로 결합되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제1 및 제2 상보형 출력들을 갖고 있는 메모리 셀과 함께 사용하기 위한 감지 증폭기에 있어서, 제1 전치증폭 트랜지스터의 에미터가 제1메모리 셀 상보형 출력에 접속되는 제1캐스코드 전치증폭 트랜지스터, 제2 전치증폭 트랜지스터의 에미터가 제2 메모리 셀 상보형 추력에 접속되는 제2캐소코드 전치 증폭 트랜지스터, 증폭 트랜지스터들, 즉 상기 제1 전치증폭 트랜지스터에 결합되는 상기 제1 증폭 트랜지스터, 및 상기 제2 전치증폭 트랜지스터에 결합되는 상기 제2 증폭 트랜지스터에 결합되는 제1 및 제2 에미터를 포함하는 차동 증폭기, 제1 및 제2 감지 증폭기 상보형 출력들, 상기 제1 감지 증폭기 상보형 출력과 상기 제1 전치증폭 트랜지스터의 에미터 사이에 귀환 경로를 제공하는 제1귀환 회로, 및 상기 제2 감지 증폭기 상보형 출력과 상기 제2 전치증폭 트랜지스터의 에미터 사이에 귀환 경로를 제공하는 제2귀환회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제15항에 있어서, 상기 제1 전치증폭 트랜지스터의 베이스가 상기 제1 증폭트랜지스터의 콜렉터에 결합되고, 상기 제2 전치증폭 트랜지스터의 베이스가 상기 제2 증폭트랜지스터의 콜렉터에 결합되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 제15항에 있어서, 상기 귀환 회로들 각각이, 개개의 감지증폭기 출력 상의 신호를 증폭하기 위한 구동 트랜지스터, 개개의 상기 전치증폭기 트랜지스터의 에미터를 선택적으로 풀다운하기 위해 상기 구동 트랜지스터에 접속되는 귀환 트랜지스터, 및 개개의 상기 전치증폭 트랜지스터의그라운드의 에미터 사이에 결합되는 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기.
- 등속 호출 메모리 셀의 상보형 출력을 감지하기 위한 방법에 있어서, 상기 메모리 셀의 제1상보형 출력 전류를 제1 전압 신호로 변환하는 단계, 상기 메모리 셀의 제2상보형 출력 전류를 제2전압 신호로 변환하는 단계, 및 제1 및 제2 출력 신호들을 제공하기 위해 상기 제1 및 제2 전압 신호들을 차동적으로 증폭하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제18항에 있어서, 원하는 상태로 상기 제1입력 신호를 래치시키기 위해 상기 제1 출력 신호로부터 제1귀환을 제공하는 단계, 및 원하는 상태로 상기 제2 입력 신호를 래치시키기 위해 상기 제2 출력 신호로부터 제2 귀환을 제공하는 단계를 더 포함하는 것으 특징으로 하는 방법.
- 각각의 열이 제1 및 제2 비트라인들을 갖고 있고 각각의 행이 워드라인을 갖고 있는 열 및 행내에 구성된 메모리 셀들을 배열내에서 선택된 메모리 셀의 상보형 출력을 감지하기 위한 방법에 잇어서, 행을 구성하는 워드 라인에 전압을 인가함으로써 선택된 셀을 포함하는 행을 선택하는 단계, 감지 증폭기에 제1 및 제2 비트라인들을 게이트함으로써 선택된 메모리 셀을 포함하는 열을 선택하는 단계, 상기 제1 비트라인 상의 전류를 제1 전압 신호로 변환하는 단계, 상기 제2비트라인 상의 전류를 제2 전압 신호로 변환하는 단계, 및 제1 및 제2 전압 신호들을 차동적으로 증폭하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제20항에 있어서, 상기 제1 전압 신호를 래치시키기 위해 증폭된 제1 전압 신호부를 귀환하는 단계, 및 상기 제2 전압 신호를 래치시키기 위해 증폭된 제2 전압 신호를 귀환하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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JP2616198B2 (ja) * | 1990-10-01 | 1997-06-04 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ回路 |
US5258948A (en) * | 1992-02-03 | 1993-11-02 | Motorola, Inc. | Memory cell sense technique |
JPH05347098A (ja) * | 1992-03-16 | 1993-12-27 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
JPH05303894A (ja) * | 1992-04-23 | 1993-11-16 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPH05327472A (ja) * | 1992-05-15 | 1993-12-10 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
US5287314A (en) * | 1992-05-26 | 1994-02-15 | Motorola, Inc. | BICMOS sense amplifier with reverse bias protection |
US5343428A (en) * | 1992-10-05 | 1994-08-30 | Motorola Inc. | Memory having a latching BICMOS sense amplifier |
US5347183A (en) * | 1992-10-05 | 1994-09-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Sense amplifier with limited output voltage swing and cross-coupled tail device feedback |
JP3029958B2 (ja) * | 1993-01-18 | 2000-04-10 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5394037A (en) * | 1993-04-05 | 1995-02-28 | Lattice Semiconductor Corporation | Sense amplifiers and sensing methods |
US5508643A (en) * | 1994-11-16 | 1996-04-16 | Intel Corporation | Bitline level insensitive sense amplifier |
US5550777A (en) * | 1994-11-30 | 1996-08-27 | Texas Instruments Incorporated | High speed, low power clocking sense amplifier |
US5610573A (en) * | 1995-09-13 | 1997-03-11 | Lsi Logic Corporation | Method and apparatus for detecting assertion of multiple signals |
US5585746A (en) * | 1995-09-28 | 1996-12-17 | Honeywell Inc. | Current sensing circuit |
KR100204315B1 (ko) * | 1996-05-11 | 1999-06-15 | 윤종용 | 반도체 메모리 장치의 감지증폭회로 |
US5748554A (en) * | 1996-12-20 | 1998-05-05 | Rambus, Inc. | Memory and method for sensing sub-groups of memory elements |
US5949256A (en) * | 1997-10-31 | 1999-09-07 | Hewlett Packard Company | Asymmetric sense amplifier for single-ended memory arrays |
US6088278A (en) * | 1998-07-23 | 2000-07-11 | Micron Technology, Inc. | Latching sense amplifier structure with pre-amplifier |
US6141235A (en) * | 1998-07-31 | 2000-10-31 | Texas Instruments Incorporated | Stacked cache memory system and method |
US6094393A (en) * | 1999-07-29 | 2000-07-25 | Texas Instruments Incorporated | Stacked sense-amp cache memory system and method |
US7500075B1 (en) | 2001-04-17 | 2009-03-03 | Rambus Inc. | Mechanism for enabling full data bus utilization without increasing data granularity |
US6847233B1 (en) * | 2001-07-12 | 2005-01-25 | Mediatek Inc. | Emitter coupled logic circuit with a data reload function |
US6825841B2 (en) * | 2001-09-07 | 2004-11-30 | Rambus Inc. | Granularity memory column access |
US7888962B1 (en) | 2004-07-07 | 2011-02-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Impedance matching circuit |
US8190808B2 (en) * | 2004-08-17 | 2012-05-29 | Rambus Inc. | Memory device having staggered memory operations |
US7280428B2 (en) | 2004-09-30 | 2007-10-09 | Rambus Inc. | Multi-column addressing mode memory system including an integrated circuit memory device |
US8595459B2 (en) | 2004-11-29 | 2013-11-26 | Rambus Inc. | Micro-threaded memory |
CN100395843C (zh) * | 2005-06-02 | 2008-06-18 | 复旦大学 | 高速低功耗电流灵敏放大器 |
US7439773B2 (en) * | 2005-10-11 | 2008-10-21 | Casic Corporation | Integrated circuit communication techniques |
US8036846B1 (en) | 2005-10-20 | 2011-10-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Variable impedance sense architecture and method |
US7313040B2 (en) * | 2005-10-28 | 2007-12-25 | Sony Corporation | Dynamic sense amplifier for SRAM |
US20070260841A1 (en) * | 2006-05-02 | 2007-11-08 | Hampel Craig E | Memory module with reduced access granularity |
US9268719B2 (en) | 2011-08-05 | 2016-02-23 | Rambus Inc. | Memory signal buffers and modules supporting variable access granularity |
US10586598B2 (en) | 2017-09-14 | 2020-03-10 | Silicon Storage Technology, Inc. | System and method for implementing inference engine by optimizing programming operation |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4264832A (en) * | 1979-04-12 | 1981-04-28 | Ibm Corporation | Feedback amplifier |
JPS57198594A (en) * | 1981-06-01 | 1982-12-06 | Hitachi Ltd | Semiconductor storage device |
US4553053A (en) * | 1983-10-03 | 1985-11-12 | Honeywell Information Systems Inc. | Sense amplifier |
US4785259A (en) * | 1988-02-01 | 1988-11-15 | Motorola, Inc. | BIMOS memory sense amplifier system |
JPH1155589A (ja) * | 1997-08-01 | 1999-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像表示装置 |
JPH1185006A (ja) * | 1997-09-05 | 1999-03-30 | Hitachi Denshi Ltd | フライトシミュレータ装置におけるプレイバック方法 |
-
1990
- 1990-02-08 US US07/477,088 patent/US4991141A/en not_active Expired - Lifetime
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