KR910007223A - 전압증배회로 - Google Patents
전압증배회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR910007223A KR910007223A KR1019900003936A KR900003936A KR910007223A KR 910007223 A KR910007223 A KR 910007223A KR 1019900003936 A KR1019900003936 A KR 1019900003936A KR 900003936 A KR900003936 A KR 900003936A KR 910007223 A KR910007223 A KR 910007223A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- voltage
- mos transistor
- summing point
- stage
- transistor
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of dc power input into dc power output
- H02M3/02—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
- H02M3/04—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
- H02M3/06—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
- H02M3/07—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of dc power input into dc power output
- H02M3/02—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
- H02M3/04—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
- H02M3/06—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
- H02M3/07—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
- H02M3/073—Charge pumps of the Schenkel-type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 전압증배회로 실시예의 회로도,
제3도는 클럭신호 φ와 φB의 파형도,
제4도는 중간전압을 분리하기 위한 회로의 실시예,
제5도는 본 발명에 따른 전압증배회로의 또다른 실시예의 회로도.
Claims (12)
- 각각 제1 및 제2MOS 트랜지스터(T1,NT2,N)와 제1 및 제2캐패시터(CNTB,N)를 포함한 다수단(HN)으로 구성된 전압증배회로에 있어서, 상기 제1캐패시터(CN)를 통해 제1클럭신호를 공급하는 제1클럭선(L1,N)에 연결되고, 상기 제1MOS 트랜지스터(T1,N)의 전원전극에 직접 연결된 제1서밍 포인트(X1,N)와, 상기 제2캐패시터(CB,N)를 통해 제2클럭신호를 공급하는 제1클럭선(L2,N)에 연결되고, 상기 제1MOS 트랜지스터(T1,N)의 게이트 전극을 직접 상기 제2MOS 트랜지스터(T2,N)의 드레인 전극에 연결시킨 제2서밍 포인트(X2,N)와, 한단(HN+1)의 제1서밍 포인트(X1,X+1)를 통해 또다른 단(HN)의 상기 제1MOS 트랜지스터(T1,N)의 드레인 전극에 연결된 이웃단(HN, HN+1)으로 구성되어지고, 상기 단(HN+1)의 상기 제2MOS 트랜지스터(T2,N+1)의 게이트 전극의 또다른 단(HN)의 상기 제1MOS 트랜지스터(T1,N)의 게이트 전극에 연결되어 있고, 상기 제1MOS 트랜지스터(T1,N)을 블로킹하기 위한 각단(HN)이 문턱 전압과 문턱 전압 추이의 합과 같거나 바로 아래인 값으로 MOS 트랜지스터의 게이트/소오스 전압을 설정하는 수단(T3,N, CK,N)을 갖는 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제1항에 있어서, 상기 수단이 제3MOS 트랜지스터(T3,N)와 제3캐패시터(CK,N)로 구성되는 것과, 상기 제3MOS 트랜지스터(T3,N)의 소오스 전극이 제1서밍 포인트(X1,N)에 연결되고 게이트 전극이 제2서밍 포인트(X2,N)에 연결되고 드레인 전극이 제3서밍 포인트(X3,N)를 통하여 제2MOS 트랜지스터(T3,N)의 소오스 전극에 연결되는 것과, 상기 제3서밍 포인트(X3,N)가 상기 제3캐패시터(CK,N)를 통하여 정정 신호선(LK,N)에 연결되는 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제2항에 있어서, 정정신호선(LK,N)에 일정한 동작 전압(VDD)이 인가되는 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제2항에 있어서, 정정신호선(LK,N)이 제1클럭신호선(L1,N)에 연결되고 제1캐패시터(CN)를 트리거하는 클럭신호에 대해 위상이 반대인 제1클럭신호(φ)인가되는 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제2항에 있어서, 적절한 단이 전압증배회로에 걸린 중간 전압을 분기시키기 위해 제4MOS 트랜지스터(T4,N)를 가지고, 상기 제4MOS 트랜지스터(T4,N)의 소오스 전극이 제1서밍 포인트(X1,N)에 연결되고, 게이트 전극이 제2서밍 포인트(X2,N)에 연결되고, 중간 전압이 상기 제4MOS 트랜지스터(T4,N)의 드레인 전극으로부터 분기 가능한 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제1항에 있어서, MOS 트랜지스터(T1,N, T2,N과 T3)가 p-챈널형인 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제1항에 있어서, MOS 트랜지스터(T1,N, T2,N과 T3)가 n-챈널형인 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 다수단(HN)을 가진 전압증배회로에 있어서, 제1과 제2MOS 트랜지스터(T1,N, T2,N)와 제1과 제2캐패시터(CN, TB,N)로 구성된 각 단이, 제1클럭신호|를 공급하는 제1클럭선(L1,N)에 상기 제1캐피시터(CN)를 통하여 연결되어지는 상기 제1MOS 트랜지스터(T1,N)의 드레인 전극에 대해 직접 연결되는 제1서밍 포인트(X1,N)와, 제2클럭신호를 공급하는 제2클럭선(L2,N)에 상기 제2캐패시터(CB,N)를 통하여 연결되는 상기 제2MOS 트랜지스터(T2,N)의 드레인 전극에 대해 직접 연결되는 제1MOS 트랜지스터(T1,N)의 게이트 전극이 연결되는 제2서밍 포인트(X2,N)와, 또다른 단(HN)의 상기 제1MOS 트랜지스터(T1,N)의 드레인 전극에 대해 한단(HN+1)의 제1서밍 포인트(X1,N+1)를 통하여 인접단(HN, HN+1)으로 구성되고, 상기 (HN)단의 제2MOS 트랜지스터(T2,N)의 게이트 전극이 상기 제1서밍 포인트(X1,4)에 연결되어지는 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제8항에 있어서, MOS 트랜지스터(T1,N, T2,N)가 n-챈널형인 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제8항에 있어서, MOS 트랜지스터(T1,N, T2,N)가 p-챈널형인 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제9항에 있어서, 제1단에 제6항에 따라 p-챈널형의 MOS 트랜지스터가 제공되는 것과 최종단에 제8항에 따라 n-챈널형의 MOS-트랜지스터가 제공되는 것을 특징으로 하는 전압증배회로.
- 제10항에 있어서, 제1단에 제10항에 따라 n-챈널형의 MOS-트랜지스터가 제공되는 것과 최종단에 제7항에 따라 p-챈널형의 MOS 트랜지스터가 제공되는 것을 특징으로 하는 전압증배회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3909945 | 1989-03-25 | ||
DEP3931596.7 | 1989-09-22 | ||
DE3931596A DE3931596A1 (de) | 1989-03-25 | 1989-09-22 | Spannungsvervielfacherschaltung |
DEP3909945.8 | 1989-09-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910007223A true KR910007223A (ko) | 1991-04-30 |
KR0133061B1 KR0133061B1 (ko) | 1998-04-20 |
Family
ID=25879247
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900003936A KR0133061B1 (ko) | 1989-03-25 | 1990-03-23 | 전압증배회로 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5029063A (ko) |
EP (1) | EP0389846B1 (ko) |
JP (1) | JP2528196B2 (ko) |
KR (1) | KR0133061B1 (ko) |
DE (2) | DE3931596A1 (ko) |
Families Citing this family (73)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5059815A (en) * | 1990-04-05 | 1991-10-22 | Advanced Micro Devices, Inc. | High voltage charge pumps with series capacitors |
DE69226627T2 (de) * | 1992-05-15 | 1998-12-24 | Sgs Thomson Microelectronics | Generator für Signale mit höher Frequenz und nicht-überlappenden Phasen |
US5280420A (en) * | 1992-10-02 | 1994-01-18 | National Semiconductor Corporation | Charge pump which operates on a low voltage power supply |
US5347171A (en) * | 1992-10-15 | 1994-09-13 | United Memories, Inc. | Efficient negative charge pump |
US5412257A (en) * | 1992-10-20 | 1995-05-02 | United Memories, Inc. | High efficiency N-channel charge pump having a primary pump and a non-cascaded secondary pump |
US5335200A (en) * | 1993-01-05 | 1994-08-02 | Texas Instruments Incorporated | High voltage negative charge pump with low voltage CMOS transistors |
TW271011B (ko) * | 1994-04-20 | 1996-02-21 | Nippon Steel Corp | |
KR0149220B1 (ko) * | 1994-12-27 | 1998-12-01 | 김주용 | 챠지 펌프 회로 |
US5606491A (en) * | 1995-06-05 | 1997-02-25 | Analog Devices, Inc. | Multiplying and inverting charge pump |
US5587680A (en) * | 1995-06-30 | 1996-12-24 | Mts Systems Corporation | Pulse generator with charge pump |
US5856918A (en) * | 1995-11-08 | 1999-01-05 | Sony Corporation | Internal power supply circuit |
JP2830807B2 (ja) * | 1995-11-29 | 1998-12-02 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ装置 |
US6218882B1 (en) * | 1995-12-23 | 2001-04-17 | Nec Corporation | Diode circuit for clamping the signals on a transmission line to a predetermined potential |
JP3488587B2 (ja) * | 1997-01-09 | 2004-01-19 | 株式会社東芝 | 昇圧回路及びこれを備えたicカード |
US6768165B1 (en) | 1997-08-01 | 2004-07-27 | Saifun Semiconductors Ltd. | Two bit non-volatile electrically erasable and programmable semiconductor memory cell utilizing asymmetrical charge trapping |
US6078212A (en) * | 1997-08-18 | 2000-06-20 | Micron Technology, Inc. | VT cancellation in output stage of charge pump |
US5886566A (en) * | 1997-08-21 | 1999-03-23 | Integrated Silicon Solution, Inc. | High voltage charge transfer stage |
DE19748577C1 (de) * | 1997-11-04 | 1999-01-21 | Bosch Gmbh Robert | Ladungspumpe |
KR100268887B1 (ko) * | 1998-06-17 | 2000-10-16 | 김영환 | 차아지 펌프 회로 |
JP3554497B2 (ja) * | 1998-12-08 | 2004-08-18 | シャープ株式会社 | チャージポンプ回路 |
US6320797B1 (en) | 1999-02-24 | 2001-11-20 | Micron Technology, Inc. | Method and circuit for regulating the output voltage from a charge pump circuit, and memory device using same |
US6160723A (en) * | 1999-03-01 | 2000-12-12 | Micron Technology, Inc. | Charge pump circuit including level shifters for threshold voltage cancellation and clock signal boosting, and memory device using same |
US6570435B1 (en) * | 1999-11-18 | 2003-05-27 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit with current limited charge pump and method |
KR100377698B1 (ko) * | 1999-12-08 | 2003-03-29 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 차지펌프 회로 |
TW494631B (en) * | 2000-01-26 | 2002-07-11 | Sanyo Electric Co | Charge pump circuit |
JP3991568B2 (ja) * | 2000-09-07 | 2007-10-17 | セイコーエプソン株式会社 | 昇圧回路 |
US6275395B1 (en) | 2000-12-21 | 2001-08-14 | Micrel, Incorporated | Accelerated turn-off of MOS transistors by bootstrapping |
US7023259B1 (en) * | 2001-02-26 | 2006-04-04 | Cypress Semiconductor Corp. | High voltage switch with no latch-up hazards |
US6584017B2 (en) | 2001-04-05 | 2003-06-24 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method for programming a reference cell |
US6791396B2 (en) * | 2001-10-24 | 2004-09-14 | Saifun Semiconductors Ltd. | Stack element circuit |
US6700818B2 (en) | 2002-01-31 | 2004-03-02 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method for operating a memory device |
US6661278B1 (en) | 2002-07-08 | 2003-12-09 | Impinj, Inc. | High voltage charge pump circuit |
US6917544B2 (en) | 2002-07-10 | 2005-07-12 | Saifun Semiconductors Ltd. | Multiple use memory chip |
AU2003275479A1 (en) * | 2002-10-08 | 2004-05-04 | Impinj, Inc. | Use of analog-valued floating-gate transistors to match the electrical characteristics of interleaved and pipelined |
US7187237B1 (en) * | 2002-10-08 | 2007-03-06 | Impinj, Inc. | Use of analog-valued floating-gate transistors for parallel and serial signal processing |
US7136304B2 (en) | 2002-10-29 | 2006-11-14 | Saifun Semiconductor Ltd | Method, system and circuit for programming a non-volatile memory array |
US7148739B2 (en) * | 2002-12-19 | 2006-12-12 | Saifun Semiconductors Ltd. | Charge pump element with body effect cancellation for early charge pump stages |
US20040151032A1 (en) * | 2003-01-30 | 2004-08-05 | Yan Polansky | High speed and low noise output buffer |
US7178004B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-02-13 | Yan Polansky | Memory array programming circuit and a method for using the circuit |
US6885244B2 (en) | 2003-03-24 | 2005-04-26 | Saifun Semiconductors Ltd. | Operational amplifier with fast rise time |
US7142464B2 (en) | 2003-04-29 | 2006-11-28 | Saifun Semiconductors Ltd. | Apparatus and methods for multi-level sensing in a memory array |
US6906966B2 (en) | 2003-06-16 | 2005-06-14 | Saifun Semiconductors Ltd. | Fast discharge for program and verification |
US7123532B2 (en) | 2003-09-16 | 2006-10-17 | Saifun Semiconductors Ltd. | Operating array cells with matched reference cells |
WO2005043733A1 (en) * | 2003-11-03 | 2005-05-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus serving as high voltage charge pump and circuit based thereon |
US7050319B2 (en) * | 2003-12-03 | 2006-05-23 | Micron Technology, Inc. | Memory architecture and method of manufacture and operation thereof |
US8339102B2 (en) * | 2004-02-10 | 2012-12-25 | Spansion Israel Ltd | System and method for regulating loading on an integrated circuit power supply |
US7176728B2 (en) * | 2004-02-10 | 2007-02-13 | Saifun Semiconductors Ltd | High voltage low power driver |
US7652930B2 (en) | 2004-04-01 | 2010-01-26 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method, circuit and system for erasing one or more non-volatile memory cells |
US7187595B2 (en) * | 2004-06-08 | 2007-03-06 | Saifun Semiconductors Ltd. | Replenishment for internal voltage |
US7190212B2 (en) * | 2004-06-08 | 2007-03-13 | Saifun Semiconductors Ltd | Power-up and BGREF circuitry |
US7256438B2 (en) * | 2004-06-08 | 2007-08-14 | Saifun Semiconductors Ltd | MOS capacitor with reduced parasitic capacitance |
US7317633B2 (en) | 2004-07-06 | 2008-01-08 | Saifun Semiconductors Ltd | Protection of NROM devices from charge damage |
US7095655B2 (en) * | 2004-08-12 | 2006-08-22 | Saifun Semiconductors Ltd. | Dynamic matching of signal path and reference path for sensing |
US7638850B2 (en) | 2004-10-14 | 2009-12-29 | Saifun Semiconductors Ltd. | Non-volatile memory structure and method of fabrication |
EP1686592A3 (en) | 2005-01-19 | 2007-04-25 | Saifun Semiconductors Ltd. | Partial erase verify |
US8053812B2 (en) | 2005-03-17 | 2011-11-08 | Spansion Israel Ltd | Contact in planar NROM technology |
US8400841B2 (en) | 2005-06-15 | 2013-03-19 | Spansion Israel Ltd. | Device to program adjacent storage cells of different NROM cells |
US7184313B2 (en) | 2005-06-17 | 2007-02-27 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method circuit and system for compensating for temperature induced margin loss in non-volatile memory cells |
US7804126B2 (en) | 2005-07-18 | 2010-09-28 | Saifun Semiconductors Ltd. | Dense non-volatile memory array and method of fabrication |
US7668017B2 (en) | 2005-08-17 | 2010-02-23 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method of erasing non-volatile memory cells |
US7221138B2 (en) | 2005-09-27 | 2007-05-22 | Saifun Semiconductors Ltd | Method and apparatus for measuring charge pump output current |
US7233274B1 (en) | 2005-12-20 | 2007-06-19 | Impinj, Inc. | Capacitive level shifting for analog signal processing |
US7352627B2 (en) | 2006-01-03 | 2008-04-01 | Saifon Semiconductors Ltd. | Method, system, and circuit for operating a non-volatile memory array |
US7808818B2 (en) | 2006-01-12 | 2010-10-05 | Saifun Semiconductors Ltd. | Secondary injection for NROM |
US8253452B2 (en) | 2006-02-21 | 2012-08-28 | Spansion Israel Ltd | Circuit and method for powering up an integrated circuit and an integrated circuit utilizing same |
US7760554B2 (en) | 2006-02-21 | 2010-07-20 | Saifun Semiconductors Ltd. | NROM non-volatile memory and mode of operation |
US7692961B2 (en) | 2006-02-21 | 2010-04-06 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method, circuit and device for disturb-control of programming nonvolatile memory cells by hot-hole injection (HHI) and by channel hot-electron (CHE) injection |
US7638835B2 (en) | 2006-02-28 | 2009-12-29 | Saifun Semiconductors Ltd. | Double density NROM with nitride strips (DDNS) |
US7701779B2 (en) | 2006-04-27 | 2010-04-20 | Sajfun Semiconductors Ltd. | Method for programming a reference cell |
US7605579B2 (en) | 2006-09-18 | 2009-10-20 | Saifun Semiconductors Ltd. | Measuring and controlling current consumption and output current of charge pumps |
US20080068068A1 (en) * | 2006-09-19 | 2008-03-20 | Sridhar Yadala | Method and system for charge pumps |
US7936023B1 (en) | 2006-09-26 | 2011-05-03 | Cypress Semiconductor Corporation | High voltage diode |
EP2220754A4 (en) * | 2007-11-21 | 2012-10-03 | Univ Arizona State | UP / DOWN SWITCHED CAPACITOR DC CURRENT TRANSFORMER WITH ADAPTIVE GAIN FACTOR |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1593863A (en) * | 1977-03-25 | 1981-07-22 | Plessey Co Ltd | Circuit arrangements |
DE2821418A1 (de) * | 1978-05-16 | 1979-11-22 | Siemens Ag | Taktgesteuerter gleichspannungswandler |
US4208595A (en) * | 1978-10-24 | 1980-06-17 | International Business Machines Corporation | Substrate generator |
US4734599A (en) * | 1985-04-30 | 1988-03-29 | Hughes Aircraft Company | Circuit for multiplying a pump clock voltage |
US4628214A (en) * | 1985-05-22 | 1986-12-09 | Sgs Semiconductor Corporation | Back bias generator |
US4621315A (en) * | 1985-09-03 | 1986-11-04 | Motorola, Inc. | Recirculating MOS charge pump |
JP2501590B2 (ja) * | 1987-07-29 | 1996-05-29 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置の駆動回路 |
-
1989
- 1989-09-22 DE DE3931596A patent/DE3931596A1/de active Granted
-
1990
- 1990-02-07 US US07/476,336 patent/US5029063A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-09 EP EP90104501A patent/EP0389846B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-09 DE DE59005864T patent/DE59005864D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-23 KR KR1019900003936A patent/KR0133061B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-03-26 JP JP2073592A patent/JP2528196B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0133061B1 (ko) | 1998-04-20 |
DE59005864D1 (de) | 1994-07-07 |
DE3931596C2 (ko) | 1991-05-02 |
EP0389846B1 (de) | 1994-06-01 |
JPH02285959A (ja) | 1990-11-26 |
DE3931596A1 (de) | 1990-10-04 |
EP0389846A2 (de) | 1990-10-03 |
US5029063A (en) | 1991-07-02 |
JP2528196B2 (ja) | 1996-08-28 |
EP0389846A3 (de) | 1991-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR910007223A (ko) | 전압증배회로 | |
KR980005030A (ko) | 승압된 백게이트 바이어스를 갖는 다단 승압 회로 | |
KR890010920A (ko) | 샘플된 아날로그 전기 신호를 처리하기 위한 회로장치. | |
US3937982A (en) | Gate circuit | |
KR940006345A (ko) | 부스트 전압 발생 회로 | |
KR950030149A (ko) | 반도체 승압회로 | |
KR910006732A (ko) | 전류검출회로 | |
KR960701510A (ko) | 차동전력 공급기를 사용한 집적회로 동작방법(integrated circuit oper-ating from different power supplies) | |
KR870007509A (ko) | 집적회로에서의 버퍼회로 | |
KR960032669A (ko) | 반도체 집적 회로 및 편차 보상 시스템 | |
KR900002558A (ko) | 출력회로 | |
KR960701515A (ko) | 반도체 장치 | |
KR860007783A (ko) | 개선된 출력특성을 갖는 비교기 회로 | |
KR910008863A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR900011152A (ko) | 전원전압 강하검파 및 초기화회로 재설정 회로 | |
US3937984A (en) | Shift registers | |
KR940024629A (ko) | 통신회로시스템 | |
KR940003011A (ko) | 출력전압에 있어 전계효과트랜지스터의 한계치전압의 손실이 생기지 않는 전압발생회로 | |
KR920009078A (ko) | 이중전압원 인터페이스회로 | |
KR880013173A (ko) | 주승압회로의 출력전압승압용 부승압회로 | |
KR930011274A (ko) | 입력회로 | |
KR890004495A (ko) | 리셋트신호 발생회로 | |
KR920001845A (ko) | 전하전송소자의 입력바이어스회로 | |
KR950012459A (ko) | 다(多)비트 출력 메모리 회로용 출력 회로 | |
KR960042746A (ko) | 반도체 메모리장치의 다이나믹 레벨 컨버터 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20021126 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |