KR900012103A - 집적 모놀리식 디지탈 회로 및 그의 정지 전류 측정용 장치 - Google Patents
집적 모놀리식 디지탈 회로 및 그의 정지 전류 측정용 장치 Download PDFInfo
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Abstract
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- 정지 전류 측정용 전류 센서로서의 트랜지스터를 가지는데, 상기 전류 센서는 집적 모놀리식 회로의 공급단자에 결합하기 위한 제1 연결 단자와, 공급 단자에 결합하기 위한 제2 연결단자로 제공되는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치에 있어서, 제1 연결 단자에서의 전압 안정용 전압 안정수단과, 상기 전압 안정수단에 결합되어 정지 전류의 신호를 처리하는 신호처리 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제1항에 있어서, 전압 안정 수단은, 제1 입력이 제1 연결 단자에 결합되고, 제2 입력이 제2 연결 단자, 또는 기준 전압원에 연결하기 위한 연결 단자에 결합되며, 그리고 출력이 트랜지스터의 게이트 전극에 결합되는 차동 증폭기를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제1 또는 2항에 있어서, 차동 증폭기의 출력은 정지 전류 측정 주기 외부 또는 집적 모놀리식 회로의 정지 전류 측정외부의 전류 센서의 동작을 수정하는 수정 회로를 통해 게이트 전극에 결합되는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제3항에 있어서, 트랜지스터형의 전류 센서가 완전히 전도되게 하는 수정 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제1,2,3 또는 4항에 있어서, 신호처리 수단은 정지 전류의 미러 영상인 전류를 제1 트랜지스터의 출력전극을 통해 공급하도록 설계된 전류 미러 구성을 트랜지스터형의 전류 센서로 구성하는 제1트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제5항에 있어서, 신호처리 수단은 제1 입력을 통해 제1 연결 단자에 결합되고, 제2 입력을 통해 제1트랜지스터의 출력 전극에 결합되며, 출력을 통해 제2 트랜지스터의 게이트 전극에 결합되는데, 상기 제2 트랜지스터는 제1출력 전극을 통해 제1 트랜지스터의 출력 전극에 결합되는 반면에, 제2 트랜지스터의 제2 출력 전극은 다른 처리된 정지 전류를 공급하는 차동 증폭기를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제5 또는 6항에 있어서, 신호처리 수단은 서로 다른 처리된 정지 전류를 성취하기 위해 신호처리 수단의 트랜지스터가 서로 다른 기하학적 크기를 가질시에 전류 미러 구성을 전류 센서로 구성한 다른 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 전술한 어느 한항에 있어서, 신호처리 수단에 결합되어, 처리된 정지 전류를 적어도 하나의 기준 전류 또는 기준 전압과 비교하며, 기준 전류 또는 기준 전압이 초과할 시기를 표시하도록 설계된 비교 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제8항에 있어서, 상기 비교 수단은 처리된 정지 전류를 공급하는 제1 입력, 기준 전압을 공급하는 제2입력 및, 기준 전류에 관한 처리된 정지 전류에 의존하여 제각기 제1 및 제2 값을 추정하는 디지탈 출력을 가지 적어도 하나의 전류 미러 구성을 가지는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제8항에 있어서, 비교 수단은 아나로그 전압 비교 수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제8,9 또는 10항에 있어서, 비교 수단의 출력은 주사 체인에 결합되는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 제8,9 또는 10항에 있어서, 비교 수단의 출력은 자체-검사 회로에 결합되는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 장치.
- 적어도 하나의 하부 회로를 가진 집적 모놀리식 디지탈 회로에 있어서, 집적 모놀리식 회로는 하부 회로, 그의 조합부 또는 모든 하부 회로의 정지 전류를 측정하기 위해 전술한 어느 한항에서 청구된 바와같이 적어도 하나의 장치 또는 적어도 그의 일부를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로.
- 제1 내지 10항의 어느 한항에서 청구된 바와 같은 장치와, 인쇄 회로 기판상에서 집적회로를 검사하기 위한 경계 주사 논리 회로를 구비하며, 정지 전류 측정장치 및 경계주사 논리 회로는 서로 결합되는 것을 특징으로 하는 집적 모놀리식 디지탈 회로.
- 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 검사 장치에 있어서, 제1 내지 10항의 어느 한항에서 청구된 바와 같은 적어도 일부의 장치를 구비하는 것을 특징으로 집적 모놀리식 디지탈 회로의 정지 전류 측정용 검사장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Families Citing this family (82)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5321354A (en) * | 1990-07-23 | 1994-06-14 | Seiko Epson Corporation | Method for inspecting semiconductor devices |
US5498972A (en) * | 1990-08-15 | 1996-03-12 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Device for monitoring the supply voltage on integrated circuits |
US5254942A (en) * | 1991-04-25 | 1993-10-19 | Daniel D'Souza | Single chip IC tester architecture |
US5420522A (en) * | 1991-12-04 | 1995-05-30 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for fault testing integrated circuits using a light source |
ES2046136B1 (es) * | 1992-07-03 | 1996-12-16 | Inelcom Ingenieria Electronica | Circuito electronico detector de corrientes en multiples entradas. |
US5325054A (en) * | 1992-07-07 | 1994-06-28 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for screening reliability of semiconductor circuits |
DE4237122C2 (de) * | 1992-11-03 | 1996-12-12 | Texas Instruments Deutschland | Schaltungsanordnung zur Überwachung des Drainstromes eines Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistors |
US5392293A (en) * | 1993-02-26 | 1995-02-21 | At&T Corp. | Built-in current sensor for IDDQ testing |
US5483170A (en) * | 1993-08-24 | 1996-01-09 | New Mexico State University Technology Transfer Corp. | Integrated circuit fault testing implementing voltage supply rail pulsing and corresponding instantaneous current response analysis |
JPH07159496A (ja) * | 1993-10-12 | 1995-06-23 | At & T Global Inf Solutions Internatl Inc | 集積回路の検査のための装置及びその方法 |
EP0685073A1 (en) * | 1993-12-16 | 1995-12-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Separate i ddq-testing of signal path and bias path in an ic |
GB2285516B (en) * | 1994-01-05 | 1997-07-30 | Hewlett Packard Co | Quiescent current testing of dynamic logic systems |
EP0672911A1 (en) * | 1994-02-25 | 1995-09-20 | ALCATEL BELL Naamloze Vennootschap | Quiescent supply current test device |
US5731700A (en) * | 1994-03-14 | 1998-03-24 | Lsi Logic Corporation | Quiescent power supply current test method and apparatus for integrated circuits |
DE69531597T2 (de) * | 1994-07-05 | 2004-06-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Testmethode und flipflop mit mutter- und tochtereinheit umfassender elektronischer schaltkreis |
JP3157683B2 (ja) * | 1994-08-30 | 2001-04-16 | 株式会社 沖マイクロデザイン | 半導体集積回路の静止時電流測定法、半導体集積回路 |
US5519333A (en) * | 1994-09-09 | 1996-05-21 | Sandia Corporation | Elevated voltage level IDDQ failure testing of integrated circuits |
DE4434792C1 (de) * | 1994-09-29 | 1996-05-23 | Telefunken Microelectron | Integrierte, in einem ersten und einem zweiten Betriebsmodus betreibbare Schaltungsanordnung |
TW280869B (en) * | 1995-07-17 | 1996-07-11 | Philips Electronics Nv | IDDQ-testing of bias generator circuit |
JP3233559B2 (ja) * | 1995-08-14 | 2001-11-26 | シャープ株式会社 | 半導体集積回路のテスト方法および装置 |
US5670892A (en) * | 1995-10-20 | 1997-09-23 | Lsi Logic Corporation | Apparatus and method for measuring quiescent current utilizing timeset switching |
US5917331A (en) * | 1995-10-23 | 1999-06-29 | Megatest Corporation | Integrated circuit test method and structure |
US5652524A (en) * | 1995-10-24 | 1997-07-29 | Unisys Corporation | Built-in load board design for performing high resolution quiescent current measurements of a device under test |
US5721495A (en) * | 1995-10-24 | 1998-02-24 | Unisys Corporation | Circuit for measuring quiescent current |
KR970029758A (ko) * | 1995-11-09 | 1997-06-26 | 리 패치 | 저전압 cmos 회로용 누설 전류 제어 시스템 및 그 방법 |
US6144214A (en) * | 1995-11-15 | 2000-11-07 | University Of South Florida | Method and apparatus for use in IDDQ integrated circuit testing |
US5990699A (en) * | 1996-01-16 | 1999-11-23 | Intel Corporation | Method for detecting opens through time variant current measurement |
US5760598A (en) * | 1996-02-12 | 1998-06-02 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for testing quiescent current in integrated circuits |
US8290721B2 (en) | 1996-03-28 | 2012-10-16 | Rosemount Inc. | Flow measurement diagnostics |
US7630861B2 (en) | 1996-03-28 | 2009-12-08 | Rosemount Inc. | Dedicated process diagnostic device |
US7949495B2 (en) | 1996-03-28 | 2011-05-24 | Rosemount, Inc. | Process variable transmitter with diagnostics |
US7623932B2 (en) | 1996-03-28 | 2009-11-24 | Fisher-Rosemount Systems, Inc. | Rule set for root cause diagnostics |
JPH09292438A (ja) * | 1996-04-30 | 1997-11-11 | Toshiba Corp | Cmos集積回路装置、その検査方法及び検査装置 |
ATE300741T1 (de) * | 1996-06-05 | 2005-08-15 | Imec Inter Uni Micro Electr | Hochauflösendes stromversorgungsprüfsystem |
US5889408A (en) * | 1996-06-27 | 1999-03-30 | Intel Corporation | Delta IDDQ testing |
US5808476A (en) * | 1996-07-29 | 1998-09-15 | National Science Council | Built-in current sensor for IDDQ monitoring |
US5869977A (en) * | 1996-09-26 | 1999-02-09 | Intel Corporation | Defect insertion testability mode for IDDQ testing methods |
US5742177A (en) * | 1996-09-27 | 1998-04-21 | Intel Corporation | Method for testing a semiconductor device by measuring quiescent currents (IDDQ) at two different temperatures |
US5757203A (en) * | 1996-10-16 | 1998-05-26 | Hewlett-Packard Company | Multiple on-chip IDDQ monitors |
US6141243A (en) * | 1996-11-12 | 2000-10-31 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. | Sensor element |
US6031403A (en) * | 1996-11-13 | 2000-02-29 | International Business Machines Corporation | Pull-up and pull-down circuits |
US6175244B1 (en) | 1997-04-25 | 2001-01-16 | Carnegie Mellon University | Current signatures for IDDQ testing |
DE19782246B4 (de) * | 1997-11-20 | 2008-04-10 | Advantest Corp. | IC-Testgerät |
US6307406B1 (en) | 1998-09-25 | 2001-10-23 | Lucent Technologies, Inc. | Current comparator for current mode circuits |
US6239605B1 (en) * | 1998-09-29 | 2001-05-29 | Intel Corporation | Method to perform IDDQ testing in the presence of high background leakage current |
ATE240532T1 (de) | 1998-11-13 | 2003-05-15 | Broadcom Corp | Dynamisches register mit der fähigkeit zur prüfung der ruhestromaufnahme (iddq) |
DE19918042C2 (de) * | 1999-04-21 | 2001-05-31 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Unterstromerkennung an einem MOS-Leistungstransistor |
US6531885B1 (en) | 1999-05-11 | 2003-03-11 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum (Imec Vzw) | Method and apparatus for testing supply connections |
US6496028B1 (en) | 1999-05-11 | 2002-12-17 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum | Method and apparatus for testing electronic devices |
US6859058B2 (en) | 1999-05-11 | 2005-02-22 | Interuniversitair Microelektronica Centrum (Imec Uzw) | Method and apparatus for testing electronic devices |
US7010459B2 (en) | 1999-06-25 | 2006-03-07 | Rosemount Inc. | Process device diagnostics using process variable sensor signal |
EP1089082A1 (en) * | 1999-09-30 | 2001-04-04 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw | A method and apparatus for testing supply connections |
EP1107013B1 (en) * | 1999-09-22 | 2006-06-07 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum | A method and an apparatus for testing supply connections |
DE10050561B4 (de) * | 2000-10-12 | 2005-04-28 | Dialog Semiconductor Gmbh | Integrierte Schaltung mit Schaltungsteilen mit unterschiedlicher Versorgungsspannung |
US6970003B2 (en) * | 2001-03-05 | 2005-11-29 | Rosemount Inc. | Electronics board life prediction of microprocessor-based transmitters |
US20030222672A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-04 | Paul Winer | Testing optical displays |
EP1635183B1 (en) | 2002-07-03 | 2007-11-21 | Q-Star Test N.V. | Device for monitoring quiescent current of an electronic device |
US20040156731A1 (en) * | 2003-02-06 | 2004-08-12 | Bond James R. | Straight-cut motor shaft with pinned eccentric |
US7079963B2 (en) * | 2003-04-14 | 2006-07-18 | Lsi Logic Corporation | Modified binary search for optimizing efficiency of data collection time |
US6954705B2 (en) * | 2003-06-23 | 2005-10-11 | Lsi Logic Corporation | Method of screening defects using low voltage IDDQ measurement |
JP4624351B2 (ja) | 2003-07-18 | 2011-02-02 | ローズマウント インコーポレイテッド | プロセス診断法 |
US7018800B2 (en) * | 2003-08-07 | 2006-03-28 | Rosemount Inc. | Process device with quiescent current diagnostics |
US7627441B2 (en) | 2003-09-30 | 2009-12-01 | Rosemount Inc. | Process device with vibration based diagnostics |
US7523667B2 (en) | 2003-12-23 | 2009-04-28 | Rosemount Inc. | Diagnostics of impulse piping in an industrial process |
EP1706751B1 (en) * | 2003-12-23 | 2008-02-20 | Nxp B.V. | High sensitivity magnetic built-in current sensor |
US7046180B2 (en) * | 2004-04-21 | 2006-05-16 | Rosemount Inc. | Analog-to-digital converter with range error detection |
US8112565B2 (en) | 2005-06-08 | 2012-02-07 | Fisher-Rosemount Systems, Inc. | Multi-protocol field device interface with automatic bus detection |
US20070068225A1 (en) | 2005-09-29 | 2007-03-29 | Brown Gregory C | Leak detector for process valve |
US7274203B2 (en) * | 2005-10-25 | 2007-09-25 | Freescale Semiconductor, Inc. | Design-for-test circuit for low pin count devices |
US7953501B2 (en) | 2006-09-25 | 2011-05-31 | Fisher-Rosemount Systems, Inc. | Industrial process control loop monitor |
US8788070B2 (en) | 2006-09-26 | 2014-07-22 | Rosemount Inc. | Automatic field device service adviser |
WO2008042290A2 (en) | 2006-09-29 | 2008-04-10 | Rosemount Inc. | Magnetic flowmeter with verification |
US7321846B1 (en) | 2006-10-05 | 2008-01-22 | Rosemount Inc. | Two-wire process control loop diagnostics |
US8330483B2 (en) * | 2006-11-29 | 2012-12-11 | Nec Corporation | Semiconductor device to detect abnormal leakage current caused by a defect |
US8898036B2 (en) | 2007-08-06 | 2014-11-25 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with acceleration sensor |
US7590511B2 (en) | 2007-09-25 | 2009-09-15 | Rosemount Inc. | Field device for digital process control loop diagnostics |
US9121885B2 (en) * | 2010-08-16 | 2015-09-01 | Infineon Technologies Ag | Sensor package and method of manufacturing thereof |
US9207670B2 (en) | 2011-03-21 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Degrading sensor detection implemented within a transmitter |
CN102759657B (zh) * | 2011-04-28 | 2015-04-08 | 上海西门子线路保护系统有限公司 | 一种耦合电流检测系统和检测方法 |
US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
US9602122B2 (en) | 2012-09-28 | 2017-03-21 | Rosemount Inc. | Process variable measurement noise diagnostic |
CN118671572B (zh) * | 2024-08-20 | 2024-12-24 | 苏州萨沙迈半导体有限公司 | 芯片的静态电流测试电路、芯片以及电子设备 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5896259A (ja) * | 1981-12-04 | 1983-06-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路の電源電流等の測定方法 |
US4637020A (en) * | 1983-08-01 | 1987-01-13 | Fairchild Semiconductor Corporation | Method and apparatus for monitoring automated testing of electronic circuits |
JPS60247942A (ja) * | 1984-05-23 | 1985-12-07 | Advantest Corp | 半導体メモリ試験装置 |
JPS6170777U (ko) * | 1984-10-15 | 1986-05-14 | ||
NL8503394A (nl) * | 1985-12-10 | 1987-07-01 | Philips Nv | Stroomaftastschakeling voor een vermogenshalfgeleiderinrichting, in het bijzonder geintegreerde intelligente vermogenshalfgeleiderschakelaar voor met name automobieltoepassingen. |
IT1213415B (it) * | 1986-12-17 | 1989-12-20 | Sgs Microelettronica Spa | Circuito per la misura lineare della corrente circolante su un carico. |
-
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