KR840005751A - 화학 증착 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

내용 없음

Description

화학 증착 장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 상부 하우징(housing)및 저부가 돔형(domed) 구조로 된 본 발명의 화학 증착 장치(CVD 장치)의 횡단면도.
제2도는 제1도에 도시한 CVD 장치의 플랜지(flange) 구조를 상세하게 도시한 부분 횡단면도.
제3도는 제1도 및 제2도의 선 A-A를 따라 절취하여 도시한 횡단면도.
제4도는 돔형 상부 하우징 및 평평한 저부구조를 갖고 있는 본 발명의DVD 장치의 다른 실시예의 횡단면도.
제5도는 저부와 반응실 사이의 진공실내에 배치된 복사 가열원을 갖고 있는 본 발명의 CVD 장치의 또 다른 실시예의 도시한 도면.
제6도는 방사 가열 램프 원을 포함하는 본 발명의 다른 실시예의 횡단면도.
제7도는 돔형 상부 하우징 및 저부 구조를 갖고 있는 본 발명의 CVD장치의 또 다른 실시예를 도시한 도면.
제8도는 제7도에 도시한 장치의 플랜지 구조를 상세하게 도시한 부분 횡단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
2 : 진공실 4 : 돔형 하우징
6 : 돔형 저부 8, 10 : 저항 가열 소자
12 : 절연 물질 14 : 상부 케이싱
16 : 저부 케이싱 18 : 반응실
20 : 돔형 반응실 벽 22 : 개스 수집기
24 : 기질 지지로드(rod) 26 : 기질
28 : 반응 개스 분배기 30 : 도관
32 : 개스 시스템 케이싱 34 : 정화 개스 입구
36 : 환상 플랜지 링(ring) 조립체 37 : 돌출부
38, 62, 66 : 냉각액 입구 39 : 러그(lug) 돌출부
42 : 상부 플랜지링 44 : 중간 플랜지 링
48 : 돔형 저부 플랜지 50, 52, 54 : 미리봉 부재(seal)
58 : 저부 플랜지 링 60 : 가스켓(gasket)
64, 68 : 냉각제 통로(channel) 70 : 정화개스 입구 통로
72 : 냉각액 입구 도관 74 : 통로
75 : 진공 배기 통로 76 : 냉각액 출구 도관

Claims (16)

  1. 내부 증착 반응실내에 정확히 제어된 온도조건을 제공 하기 위해 내부 증착 반응실을 둘러싸고 있는 복사 가열장치, 개스를 내부 반응실내로 유입시키고 이 반응실로부터 개스를 제거하기 위한 개스 분배 장치를 갖고 있는 내부 증착 반응실 및 내부 증착 반응실내에 중간 진공을 유지하기 위해 내부 증착 반응실을 둘러 싸고 이 내부 증착 반응실의 벽으로부터 떨어져 있는 진공실 장치로 구성된 온도 제어 중착 장치을 특징으로 하는 화학 중착 장치.
  2. 제1항에 있어서, 진공실 장치가 돔형 하우징 및 이 하우징과 결합되는 저부로 구성되고, 돔형 하우징 및 저부를 형성하는 물질이 복사선을 투과시키며, 상기 복사 가열 장치가 반응실내에 정확히 제어된 온도를 제공하기 위해 돔형 하우징 및 저부의 외부 표면상에 배치되는 것을 특징으로 하는 화학 증착 장치.
  3. 제2항에 있어서, 저부가 돔형 벽부분을 포함하는 것을 특징으로 하는 화학 중착 장치.
  4. 제1항에 있어서, 진공실 장치가 돔형 하우징 및 이 하우징과 결합되는 저부를 포함하고, 돔형 하우징 및 저부의 물질이 복사선을 투과시키며, 상기 복사 가열 장치가 반응실내에 정확히 제어된 온도를 제공하기 위해 돔형 하우징의 외부 표면상 및 저부와 반응실 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 화학 증착 장치.
  5. 제1항에 있어서, 내부 증착 반응실이 상기 진공실 장치로부터 격설되어 있고 복사선을 투과시키는 물질로 된 내부 벽들로 형성되는 것을 특징으로 하는 화학 증착 장치.
  6. 제5항에 있어서, 개스 분배 장치가 기질을 수용하기 위해 기질 피막 지역의 대향 측면상에서 개스 분배기 및 개스 수집기를 포함하는 것을 특징으로 하는 화학 증착 장치.
  7. 제6항에 있어서, 개스 분배기 및 개스 수집기가 수직 배향기질의 기질 표면에 평행한 단일 통로로 반응물 개스를 보내기 위한 장치를 구성함으로써 반응물 개스 혼합물내의 변화가 최소화되는 것을 특징으로 하는 화학 증착 장치.
  8. 제5항에 있어서, 정압 정화 개스 압력 장치가 내부 반응실로부터 가스성 성분이 빠져나가는 것을 방지하기 위해 진공실과 내부 반응실 벽 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 화학 증착 장치.
  9. 제2항에 있어서, 하우징과 저부 사이를 효율적으로 진공 밀봉시키기 위해 하우징 및 저부와 결합되고, 밀봉 부재가 열에의해 손상되는 것을 방지하기 위한 순환 유체 냉각 장치를 갖고 있는 밀봉 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 화학 증착 장치.
  10. 250 내지 1300℃의 온도 및 750mmHg 이하의 압력을 갖고 있는 온도 제어 반응 지역내에서 기질 표면에 평행한 방향으로 흐르는 반응물 개스와이 기질 표면을 접촉시키는 수단을 포함하고, 반응지역 전체에 걸친 온도차가 선정된 온도보다 2℃ 이내이고, 중착 개스는 단일 기질 표면상을 통과한 후 제거되는 것을 특징으로 하는 기질 표면상의 온도 제어 착화 증착 방법.
  11. 제10항에 있어서, 반응 지역이 등은 반응 지역이고, 반응 지역 전체에 걸친 온도편차가 2℃ 이하인 것을 특징으로 하는 방법.
  12. 제10항에 있어서, 다수의 기질들이 온도 제어 반응실내의 평면내의 수직으로 배향되고, 반응물 개스는 수직 방향으로 기질 표면상을 흐르는 것을 특징으로 하는 방법.
  13. 제12항에 있어서, 반응실 내의 제어된 온도가 반응실을 둘러싸는 복사 가열원으로부터의 복사선으로 이 반응실을 가열시킴으로써 얻어지고, 반응실 벽들은 복사선을 투과시키는 물질로 구성된 것을 특징으로 하는 방법.
  14. 제13항에 있어서, 반응실이 반응실 벽으로부터 격설되어 있는 진공실 하우징에 의해 둘러싸여 있고, 진공실의 벽들은 복사선을 투과시키는 물질로 구성되며, 복사선은 진공실 하우징을 둘러싸는 복사 가열 장치로 부터 나오는 것을 특징으로 하는 방법.
  15. 제14항에 있어서, 반응물 개스와 겸용할 수 있는 정화 개스가 진공실 하우징과 반응실 사이의 공간내로 유입되고, 반응실 외부가 되는 진공실내의 압력이 반응실 내부의 개스압력보다 높으므로써, 반응실 및 진공실 하우징 상의 최종 증착으로부터의 반응물 개스 누설이 방지되는 것을 특징으로 하는 방법.
  16. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Families Citing this family (72)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6097622A (ja) * 1983-11-01 1985-05-31 Toshiba Mach Co Ltd エピタキシヤル装置
US4539933A (en) * 1983-08-31 1985-09-10 Anicon, Inc. Chemical vapor deposition apparatus
DE3502592A1 (de) * 1985-01-26 1986-07-31 Rotring-Werke Riepe Kg, 2000 Hamburg Roehrchenschreibgeraet
CA1251100A (en) * 1985-05-17 1989-03-14 Richard Cloutier Chemical vapor deposition
FR2589168B1 (fr) * 1985-10-25 1992-07-17 Solems Sa Appareil et son procede d'utilisation pour la formation de films minces assistee par plasma
DE3539981C1 (de) * 1985-11-11 1987-06-11 Telog Systems Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von Halbleitermaterialien
US4965515A (en) * 1986-10-15 1990-10-23 Tokyo Electron Limited Apparatus and method of testing a semiconductor wafer
DE8704734U1 (ko) * 1987-03-31 1987-05-14 Plasma-Electronic Gmbh + Co, 7024 Filderstadt, De
US4975561A (en) * 1987-06-18 1990-12-04 Epsilon Technology Inc. Heating system for substrates
FR2618799B1 (fr) * 1987-07-27 1989-12-29 Inst Nat Rech Chimique Reacteur de depot en phase vapeur
EP0307608B1 (de) * 1987-09-16 1992-05-13 Siemens Aktiengesellschaft Anordnung zur Durchführung eines Ausheilprozesses an einer Halbleiterscheibe und Verfahren zum Ausheilen einer Halbleiterscheibe
US5169478A (en) * 1987-10-08 1992-12-08 Friendtech Laboratory, Ltd. Apparatus for manufacturing semiconductor devices
US4854266A (en) * 1987-11-02 1989-08-08 Btu Engineering Corporation Cross-flow diffusion furnace
KR890008922A (ko) * 1987-11-21 1989-07-13 후세 노보루 열처리 장치
US4914276A (en) * 1988-05-12 1990-04-03 Princeton Scientific Enterprises, Inc. Efficient high temperature radiant furnace
KR0155545B1 (ko) * 1988-06-27 1998-12-01 고다까 토시오 기판의 열처리 장치
KR0152260B1 (ko) * 1988-07-08 1998-12-15 고다까 토시오 프로우브 장치
US4931306A (en) * 1988-11-25 1990-06-05 Vapor Technologies Inc. High penetration deposition process and apparatus
US5059770A (en) * 1989-09-19 1991-10-22 Watkins-Johnson Company Multi-zone planar heater assembly and method of operation
US5108792A (en) * 1990-03-09 1992-04-28 Applied Materials, Inc. Double-dome reactor for semiconductor processing
US5071670A (en) * 1990-06-11 1991-12-10 Kelly Michael A Method for chemical vapor deposition under a single reactor vessel divided into separate reaction chambers each with its own depositing and exhausting means
US5179677A (en) * 1990-08-16 1993-01-12 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for substrate heating utilizing various infrared means to achieve uniform intensity
US5085887A (en) * 1990-09-07 1992-02-04 Applied Materials, Inc. Wafer reactor vessel window with pressure-thermal compensation
US5320680A (en) * 1991-04-25 1994-06-14 Silicon Valley Group, Inc. Primary flow CVD apparatus comprising gas preheater and means for substantially eddy-free gas flow
US5461214A (en) * 1992-06-15 1995-10-24 Thermtec, Inc. High performance horizontal diffusion furnace system
US5580388A (en) * 1993-01-21 1996-12-03 Moore Epitaxial, Inc. Multi-layer susceptor for rapid thermal process reactors
US5444217A (en) * 1993-01-21 1995-08-22 Moore Epitaxial Inc. Rapid thermal processing apparatus for processing semiconductor wafers
WO1995010639A1 (en) * 1993-10-13 1995-04-20 Materials Research Corporation Vacuum seal of heating window to housing in wafer heat processing machine
US5575856A (en) * 1994-05-11 1996-11-19 Sony Corporation Thermal cycle resistant seal and method of sealing for use with semiconductor wafer processing apparatus
US6093252A (en) 1995-08-03 2000-07-25 Asm America, Inc. Process chamber with inner support
WO1997008356A2 (en) * 1995-08-18 1997-03-06 The Regents Of The University Of California Modified metalorganic chemical vapor deposition of group iii-v thin layers
US5782980A (en) * 1996-05-14 1998-07-21 Advanced Micro Devices, Inc. Low pressure chemical vapor deposition apparatus including a process gas heating subsystem
US6024393A (en) 1996-11-04 2000-02-15 Applied Materials, Inc. Robot blade for handling of semiconductor substrate
US5960158A (en) * 1997-07-11 1999-09-28 Ag Associates Apparatus and method for filtering light in a thermal processing chamber
US6780464B2 (en) * 1997-08-11 2004-08-24 Torrex Equipment Thermal gradient enhanced CVD deposition at low pressure
US5930456A (en) * 1998-05-14 1999-07-27 Ag Associates Heating device for semiconductor wafers
US5970214A (en) * 1998-05-14 1999-10-19 Ag Associates Heating device for semiconductor wafers
US6210484B1 (en) 1998-09-09 2001-04-03 Steag Rtp Systems, Inc. Heating device containing a multi-lamp cone for heating semiconductor wafers
US6771895B2 (en) * 1999-01-06 2004-08-03 Mattson Technology, Inc. Heating device for heating semiconductor wafers in thermal processing chambers
US6281141B1 (en) 1999-02-08 2001-08-28 Steag Rtp Systems, Inc. Process for forming thin dielectric layers in semiconductor devices
US6383330B1 (en) 1999-09-10 2002-05-07 Asm America, Inc. Quartz wafer processing chamber
WO2002049395A2 (en) * 2000-12-12 2002-06-20 Tokyo Electron Limited Rapid thermal processing lamp and method for manufacturing the same
US7378127B2 (en) * 2001-03-13 2008-05-27 Micron Technology, Inc. Chemical vapor deposition methods
TW564498B (en) * 2001-08-20 2003-12-01 Asml Us Inc Apparatus and method for insulating a seal in a process chamber
KR100431657B1 (ko) * 2001-09-25 2004-05-17 삼성전자주식회사 웨이퍼의 처리 방법 및 처리 장치, 그리고 웨이퍼의 식각방법 및 식각 장치
US7390366B2 (en) * 2001-11-05 2008-06-24 Jusung Engineering Co., Ltd. Apparatus for chemical vapor deposition
JP3984820B2 (ja) * 2001-11-16 2007-10-03 株式会社神戸製鋼所 縦型減圧cvd装置
KR100453014B1 (ko) * 2001-12-26 2004-10-14 주성엔지니어링(주) Cvd 장치
JP2003213421A (ja) * 2002-01-21 2003-07-30 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
US7229666B2 (en) * 2002-01-22 2007-06-12 Micron Technology, Inc. Chemical vapor deposition method
US6787185B2 (en) * 2002-02-25 2004-09-07 Micron Technology, Inc. Deposition methods for improved delivery of metastable species
JP4157718B2 (ja) * 2002-04-22 2008-10-01 キヤノンアネルバ株式会社 窒化シリコン膜作製方法及び窒化シリコン膜作製装置
US7468104B2 (en) * 2002-05-17 2008-12-23 Micron Technology, Inc. Chemical vapor deposition apparatus and deposition method
US6887521B2 (en) * 2002-08-15 2005-05-03 Micron Technology, Inc. Gas delivery system for pulsed-type deposition processes used in the manufacturing of micro-devices
US20040052969A1 (en) * 2002-09-16 2004-03-18 Applied Materials, Inc. Methods for operating a chemical vapor deposition chamber using a heated gas distribution plate
US6946033B2 (en) * 2002-09-16 2005-09-20 Applied Materials Inc. Heated gas distribution plate for a processing chamber
KR100481874B1 (ko) * 2003-02-05 2005-04-11 삼성전자주식회사 집적회로 제조에 사용되는 확산로 및 확산로의 냉각방법
DE10320597A1 (de) * 2003-04-30 2004-12-02 Aixtron Ag Verfahren und Vorrichtung zum Abscheiden von Halbleiterschichten mit zwei Prozessgasen, von denen das eine vorkonditioniert ist
US20040244949A1 (en) * 2003-05-30 2004-12-09 Tokyo Electron Limited Temperature controlled shield ring
US20050098107A1 (en) * 2003-09-24 2005-05-12 Du Bois Dale R. Thermal processing system with cross-flow liner
US7169233B2 (en) 2003-11-21 2007-01-30 Asm America, Inc. Reactor chamber
US7615061B2 (en) 2006-02-28 2009-11-10 Arthrocare Corporation Bone anchor suture-loading system, method and apparatus
KR20090110863A (ko) * 2007-02-01 2009-10-22 윌라드 앤드 켈시 솔라 그룹, 엘엘씨 유리 시트 반도체 코팅을 위한 시스템과 방법
US20090191031A1 (en) * 2008-01-28 2009-07-30 Willard & Kelsey Solar Group, Llc System and method for cooling semiconductor coated hot glass sheets
US9169554B2 (en) * 2008-05-30 2015-10-27 Alta Devices, Inc. Wafer carrier track
JP5043776B2 (ja) * 2008-08-08 2012-10-10 株式会社日立国際電気 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
JP2012521094A (ja) 2009-03-16 2012-09-10 アルタ デバイセズ,インコーポレイテッド ウエハキャリアトラック
US8338210B2 (en) 2010-06-14 2012-12-25 Asm International N.V. Method for processing solar cell substrates
JP5541274B2 (ja) * 2011-12-28 2014-07-09 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体
US20130196053A1 (en) * 2012-01-10 2013-08-01 State of Oregon acting by and through the State Board of Higher Education on behalf of Oregon Stat Flow cell design for uniform residence time fluid flow
US10100409B2 (en) 2015-02-11 2018-10-16 United Technologies Corporation Isothermal warm wall CVD reactor
DE102015220127A1 (de) * 2015-10-15 2017-04-20 Wacker Chemie Ag Vorrichtung zur Isolierung und Abdichtung von Elektrodenhalterungen in CVD Reaktoren

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1245334B (de) * 1962-08-30 1967-07-27 Siemens Ag Vorrichtung zur Herstellung von Halbleitereinkristallen durch Abscheiden aus der Gasphase
DE1244733B (de) * 1963-11-05 1967-07-20 Siemens Ag Vorrichtung zum Aufwachsen einkristalliner Halbleitermaterialschichten auf einkristallinen Grundkoerpern
US3456616A (en) * 1968-05-08 1969-07-22 Texas Instruments Inc Vapor deposition apparatus including orbital substrate support
DE1929422B2 (de) * 1969-06-10 1974-08-15 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Vorrichtung zum epitaktischen Abscheiden von Halbleitermaterial
GB1331912A (en) * 1971-03-12 1973-09-26 Unisearch Ltd Furnaces for production of planar transistors and integrated circuits
FR2134220A1 (fr) * 1971-04-27 1972-12-08 Snecma Procede en phase vapeur pour le recouvrement de surfaces au moyen de derives du titane
US3830194A (en) * 1972-09-28 1974-08-20 Applied Materials Tech Susceptor support structure and docking assembly
GB1452076A (en) * 1972-11-29 1976-10-06 Applied Materials Inc Process and apparatus for preparing semiconductor wafers without crystallographic slip
US3913738A (en) * 1973-05-03 1975-10-21 Illinois Tool Works Multi container package and carrier
US4098923A (en) * 1976-06-07 1978-07-04 Motorola, Inc. Pyrolytic deposition of silicon dioxide on semiconductors using a shrouded boat
JPS5337186A (en) * 1976-09-17 1978-04-06 Hitachi Ltd Chemical gas phase accumulating method
JPS5821025B2 (ja) * 1976-10-20 1983-04-26 松下電器産業株式会社 気相化学蒸着装置
US4348580A (en) * 1980-05-07 1982-09-07 Tylan Corporation Energy efficient furnace with movable end wall
US4309240A (en) * 1980-05-16 1982-01-05 Advanced Crystal Sciences, Inc. Process for chemical vapor deposition of films on silicon wafers
GB2089840B (en) * 1980-12-20 1983-12-14 Cambridge Instr Ltd Chemical vapour deposition apparatus incorporating radiant heat source for substrate

Also Published As

Publication number Publication date
ES8607761A1 (es) 1986-06-01
DE3380823D1 (en) 1989-12-14
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PT77245B (en) 1986-02-12
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IN159736B (ko) 1987-06-06
IL69170A0 (en) 1983-11-30
YU175883A (en) 1986-04-30

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