KR20210135385A - 게이트 검사부 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents
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Abstract
게이트 검사부는 제1 방향으로 연장되고 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 배치되는 복수의 게이트 라인들과 전기적으로 연결된 복수의 복합 패드들을 포함한다. 복합 패드들 각각은 정전기 방지 패드, 정전기 방지 패드와 이격하고 각각의 게이트 라인들로 게이트 검사 신호를 제공하는 제1 검사 패드, 및 정전기 방지 패드 및 제1 검사 패드와 중첩하고 정전기 방지 패드 및 제1 검사 패드를 전기적으로 연결시키는 제2 검사 패드를 포함한다.
Description
본 발명은 게이트 검사부 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 복합 패드들을 포함하는 게이트 검사부 및 상기 게이트 검사부를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 표시 장치는 영상을 표시하는 표시 패널 및 상기 표시 패널에 신호를 제공하는 패널 구동부를 포함한다. 상기 표시 패널은 상기 신호를 전달하는 라인을 포함할 수 있다. 상기 표시 장치의 수율을 증가시키기 위해, 상기 표시 장치를 제조하는 과정에서 상기 라인이 불량인지 여부를 검사하는 검사 공정이 추가될 수 있다. 상기 검사 공정을 수행하기 위해, 상기 표시 장치에는 검사부가 추가로 배치될 수 있다. 또한, 정전기가 상기 표시 장치의 제조 공정에서 발생되거나, 또는 상기 표시 장치의 사용 중에 발생될 수 있다. 상기 정전기로 인한 과전류로부터 상기 표시 패널 및/또는 상기 패널 구동부를 보호하기 위해, 상기 표시 장치에는 정전기 방지부가 추가로 배치될 수 있다.
그러나, 상기 검사부 및 상기 정전기 방지부가 상기 표시 장치에 각각 배치됨에 따라, 상기 표시 장치의 표시 영역이 감소되고 비표시 영역이 증가되는 문제가 있다.
본 발명의 일 목적은 복합 패드들을 포함하는 게이트 검사부를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 게이트 검사부를 포함하는 표시 장치를 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
전술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 게이트 검사부는 제1 방향으로 연장되고 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 배치된 복수의 게이트 라인들과 전기적으로 연결되는 복수의 복합 패드들을 포함하며, 상기 복합 패드들 각각은 정전기 방지 패드, 상기 정전기 방지 패드와 이격하고, 각각의 상기 게이트 라인들로 게이트 검사 신호를 제공하는 제1 검사 패드 및 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드와 중첩하고, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드를 전기적으로 연결시키는 제2 검사 패드를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복합 패드들은 상기 게이트 라인들과 각각 연결될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복합 패드들은 상기 제2 방향을 따라 지그재그(zigzag) 형태로 배치될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 검사 패드는 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드 상에 배치될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드는 서로 동일한 물질을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 검사 패드의 상기 제1 방향으로의 길이는 100um이고, 상기 제2 검사 패드의 상기 제2 방향으로의 길이는 100um일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정전기 방지 패드의 면적은 상기 제1 검사 패드의 면적보다 작을 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정전기 방지 패드의 상기 제2 방향으로의 길이 및 상기 제1 검사 패드의 상기 제2 방향으로의 길이는 서로 동일할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정전기 방지 패드의 상기 제1 방향으로의 길이는 상기 제1 검사 패드의 상기 제1 방향으로의 길이보다 작을 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 검사 패드는 복수의 제1 콘택홀들을 통해 상기 정전기 방지 패드와 접촉하고, 하나의 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 검사 패드와 접촉할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 콘택홀들 각각의 면적은 상기 제2 콘택홀의 면적보다 작을 수 있다.
전술한 본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 게이트 라인들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널의 일측에 배치되고, 상기 게이트 라인들로 게이트 신호를 제공하는 게이트 구동부 및 상기 게이트 라인들과 전기적으로 연결되는 복수의 복합 패드들을 포함하는 게이트 검사부를 포함할 수 있다. 상기 복합 패드들 각각은 정전기 방지 패드, 상기 정전기 방지 패드와 이격하고, 각각의 상기 게이트 라인들로 게이트 검사 신호를 제공하는 제1 검사 패드 및 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드와 중첩하고, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드를 전기적으로 연결시키는 제2 검사 패드를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 게이트 검사부는 상기 표시 패널 및 상기 게이트 구동부 사이에 배치될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 상기 게이트 라인들 상에 배치되는 복수의 화소 전극들을 더 포함하고, 상기 제2 검사 패드는 상기 화소 전극들과 동일한 물질을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드는 상기 게이트 라인들과 동일한 물질을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 상기 게이트 라인들 상에 배치되는 활성층, 상기 활성층 상에 배치되는 소스 전극 및 상기 활성층 상에 배치되고, 상기 소스 전극과 이격하는 드레인 전극을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정전기 방지 패드의 면적은 상기 제1 검사 패드의 면적보다 작을 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 게이트 라인들은 제1 방향으로 연장되고, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 배치되며, 상기 정전기 방지 패드의 상기 제2 방향으로의 길이 및 상기 제1 검사 패드의 상기 제2 방향으로의 길이는 서로 동일할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 정전기 방지 패드의 상기 제1 방향으로의 길이는 상기 제1 검사 패드의 상기 제1 방향으로의 길이보다 작을 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 검사 패드는 복수의 제1 콘택홀들을 통해 상기 정전기 방지 패드와 접촉하고, 하나의 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 검사 패드와 접촉할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 게이트 검사부는 복합 패드들을 포함할 수 있다. 상기 복합 패드들 각각은 정전기 방지 패드, 제1 검사 패드 및 제2 검사 패드를 포함할 수 있다. 상기 제2 검사 패드는 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드와 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 검사 패드가 게이트 라인들과 각각 연결되고 상기 제2 검사 패드가 충분한 면적을 가짐으로써, 상기 게이트 검사부는 상기 게이트 라인들의 단락 여부 및/또는 단락 위치를 정확히 검사할 수 있다. 또한, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드가 서로 이격함으로써, 상기 게이트 검사부는 정전기로부터 표시 패널 및/또는 게이트 구동부를 보호할 수 있다. 또한, 상기 제2 검사 패드가 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드와 중첩함으로써, 상기 게이트 검사부를 포함하는 표시 장치의 비표시 영역이 감소될 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 평면도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 3 및 도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 검사부를 설명하기 위한 평면도들이다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 검사부 및 표시 패널을 설명하기 위한 단면도이다.
도 6은 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 라인들을 검사하는 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
도 7은 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널을 정전기로 인한 과전류로부터 보호하는 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 3 및 도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 검사부를 설명하기 위한 평면도들이다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 검사부 및 표시 패널을 설명하기 위한 단면도이다.
도 6은 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 라인들을 검사하는 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
도 7은 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널을 정전기로 인한 과전류로부터 보호하는 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면 상의 동일한 구성 요소에 대하여는 동일한 참조 부호를 사용하고 동일한 구성 요소에 대한 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 평면도이고, 도 2는 도 1의 표시 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 1 및 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 표시 영역(DA)에 배치되는 표시 패널(10) 및 비표시 영역(NDA)에 배치되는 패널 구동부를 포함할 수 있다. 상기 패널 구동부는 게이트 구동부(20), 데이터 구동부(30), 타이밍 제어부(40) 및 게이트 검사부(50)를 포함할 수 있다. 상기 패널 구동부는 상기 표시 패널(10)로 전압 및 신호를 제공할 수 있고, 상기 표시 패널(10)은 상기 전압 및 상기 신호를 제공받아 영상을 표시할 수 있다.
상기 비표시 영역(NDA)은 평면 상에서 상기 표시 영역(DA)을 둘러싸며 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 비표시 영역(NDA)은 상기 표시 영역(DA)의 좌단(left egde), 우단(right edge) 및 하단(bottom edge)을 둘러싸며 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 표시 영역(DA)의 상기 좌단 및/또는 상기 우단에는 상기 게이트 구동부(20) 및 상기 게이트 검사부(50)가 배치될 수 있다. 본 발명의 표시 장치(1000)가 복수의 복합 패드들을 포함하는 상기 게이트 검사부(50)를 포함함으로써, 상기 게이트 검사부(50)의 면적이 종래에 비해 감소될 수 있다. 그에 따라, 상기 표시 장치(1000)는 상기 표시 패널(10)의 면적을 확보할 수 있다. 또는, 상기 표시 장치(1000)의 표시 품질을 개선하기 위해, 상기 표시 장치(1000)는 상기 게이트 구동부(20)의 면적을 확보하거나 상기 비표시 영역(NDA)에 별도의 구성을 추가할 수 있다.
상기 표시 패널(10)은 복수의 게이트 라인들(GL), 복수의 데이터 라인들(DL), 및 복수의 화소들(PX)을 포함할 수 있다. 상기 화소들(PX)은 상기 게이트 라인들(GL) 및 상기 데이터 라인들(DL)과 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 라인들(GL)은 제1 방향(D1)으로 연장되고, 상기 제1 방향(D1)과 교차하는 제2 방향(D2)을 따라 배치될 수 있다. 상기 데이터 라인들(DL)은 상기 제2 방향(D2)으로 연장되고, 상기 제1 방향(D1)을 따라 배치될 수 있다. 상기 화소들(PX)은 상기 게이트 라인들(GL) 및 상기 데이터 라인들(DL)이 교차하는 지점에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 표시 패널(10)은 LCD(liquid crystal display) 패널일 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 표시 패널(10)은 OLED(organic light emitting display) 패널이거나, 또는 다른 임의의 표시 패널일 수 있다.
상기 게이트 구동부(20)는 상기 타이밍 제어부(40)로부터 게이트 제어 신호(GCTRL)를 제공받을 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 제어 신호(GCTRL)는 수직 개시 신호 및 스캔 클록 신호를 포함할 수 있다. 상기 게이트 구동부(20)는 상기 게이트 제어 신호(GCTRL)에 기초하여 게이트 신호(GS)를 생성할 수 있다. 상기 게이트 신호(GS)는 상기 게이트 라인들(GL)을 통해 상기 화소들(PX)에 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 구동부(20)는 상기 게이트 라인들(GL)에 상기 게이트 신호(GS)를 행 단위로 순차적으로 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 게이트 구동부(20)는 상기 비표시 영역(NDA)에 집적 또는 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 구동부(20)는 상기 표시 패널(10)의 상기 좌단 및 상기 우단에 인접하여 배치될 수 있다. 또는, 상기 게이트 구동부(20)는 상기 표시 패널(10)의 상기 좌단에만 인접하여 배치될 수 있다.
상기 데이터 구동부(30)는 상기 타이밍 제어부(40)로부터 데이터 제어 신호(DCTRL) 및 출력 영상 데이터(ODAT)를 제공받을 수 있다. 예를 들어, 상기 데이터 제어 신호(DCTRL)는 수평 개시 신호, 출력 데이터 인에이블 신호 및 로드 신호를 포함할 수 있다. 상기 데이터 구동부(30)는 상기 데이터 제어 신호(DCTRL) 및 상기 출력 영상 데이터(ODAT)에 기초하여 데이터 전압(DS)을 생성할 수 있다. 상기 데이터 전압(DS)은 상기 데이터 라인들(DL)을 통해 상기 화소들(PX)에 제공될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 데이터 구동부(30)는 제1 인쇄 회로 기판(30') 상에 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 인쇄 회로 기판(30')은 가요성 인쇄 회로 기판(flexible printed circuit board)일 수 있다. 상기 제1 인쇄 회로 기판(30')은 상기 표시 영역(DA)의 상기 하단에 인접하여 배치될 수 있고, 벤딩될 수 있다.
상기 타이밍 제어부(40)는 외부로부터 제어 신호(CTRL) 및 입력 영상 데이터(IDAT)를 제공받을 수 있다. 예를 들어, 상기 제어 신호(CTRL)는 수직 동기 신호, 마스터 클록 신호, 수평 동기 신호 및 입력 데이터 인에이블 신호를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 입력 영상 데이터(IDAT)는 적색 영상 데이터, 녹색 영상 데이터 및 청색 영상 데이터를 포함하는 RGB 영상 데이터일 수 있다. 상기 타이밍 제어부(40)는 상기 제어 신호(CTRL) 및 상기 입력 영상 데이터(IDAT)에 기초하여 상기 게이트 구동부(20) 및 상기 데이터 구동부(30)를 제어할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 타이밍 제어부(40)는 제2 인쇄 회로 기판(40') 상에 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 인쇄 회로 기판(40')은 상기 제1 인쇄 회로 기판(30')과 접촉할 수 있다. 상기 제1 인쇄 회로 기판(30')이 벤딩됨에 따라, 상기 제2 인쇄 회로 기판(40')은 상기 표시 패널(10)의 배면과 대향할 수 있다.
상기 게이트 검사부(50)는 상기 비표시 영역(NDA)에서 상기 표시 패널(10) 및 상기 게이트 구동부(20) 사이에 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 표시 패널(10) 및 상기 표시 패널(10)의 상기 좌단에 인접하는 상기 게이트 구동부(20) 사이에 배치될 수 있고, 상기 표시 패널(10) 및 상기 표시 패널(10)의 상기 우단에 인접하는 상기 게이트 구동부(20) 상에 배치될 수 있다.
상기 게이트 검사부(50)는 상기 표시 패널(10)과 상기 게이트 구동부(20)를 전기적으로 연결시킬 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 게이트 구동부(20)에서 생성된 상기 게이트 신호(GS)를 상기 게이트 라인들(GL)로 전달할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 게이트 라인들(GL) 각각의 불량 여부를 검사할 수 있다. 이에 대하여는 도 6을 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
일 실시예에서, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 표시 패널(10) 및/또는 상기 게이트 구동부(20)로 정전기로 인한 과전류가 유입되지 않도록 할 수 있다. 예를 들어, 상기 정전기는 상기 표시 장치(1000)의 제조 공정에서 발생되거나, 또는 상기 표시 장치(1000)의 사용 중에 발생될 수 있다. 이에 대하여는 도 7을 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
도 3 및 도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 검사부를 설명하기 위한 평면도들이다. 예를 들어, 도 3 및 도 4는 도 1의 A 영역을 확대한 확대도일 수 있다.
도 1, 3 및 4를 참조하면, 상기 표시 장치(1000)는 상기 표시 패널(10), 상기 표시 패널(10)의 상기 좌단 및/또는 상기 우단에 인접하여 배치되는 상기 게이트 구동부(20) 및 상기 표시 패널과 상기 게이트 구동부(20) 사이에 배치되는 상기 게이트 검사부(50)를 포함할 수 있다.
상기 게이트 검사부(50)는 복수의 복합 패드(CP)들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 복합 패드(CP)들은 제1 복합 패드(CP1) 및 제2 복합 패드(CP2)를 포함할 수 있다. 상기 복합 패드(CP)들은 상기 게이트 라인들(GL)과 각각 연결될 수 있다.
상기 표시 패널(10)은 상기 게이트 라인들(GL)을 포함할 수 있다. 각각의 상기 게이트 라인들(GL)은 상기 게이트 검사부(50)로부터 상기 게이트 신호(GS)를 전달받을 수 있다. 예를 들어, 상기 게이트 라인들(GL)은 제1 게이트 라인(310) 및 제2 게이트 라인(320)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 복합 패드(CP1)는 상기 제1 게이트 라인(310)과 연결될 수 있으며, 상기 제2 복합 패드(CP2)는 상기 제2 게이트 라인(320)과 연결될 수 있다. 상기 제1 게이트 라인(310)에는 제1 게이트 신호가 전달되고, 상기 제2 게이트 라인(320)에는 제2 게이트 신호가 전달될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 게이트 신호는 스토리지 전압일 수 있고, 상기 제2 게이트 신호는 턴온 레벨의 펄스 또는 턴오프 레벨의 펄스를 갖는 제어 신호일 수 있다.
상기 게이트 구동부(20)는 제1 라인(330) 및 제2 라인(340)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 라인(330)은 상기 제1 게이트 신호를 상기 제1 게이트 라인(310)으로 전달할 수 있고, 상기 제2 라인(340)은 상기 제2 게이트 신호를 상기 제2 게이트 라인(320)으로 전달할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 라인(330)은 상기 제1 라인(330)의 상부를 노출시키는 콘택홀들을 통해, 상기 제1 라인(330) 상에 배치되는 제1 연결 패턴(440)과 접촉할 수 있고, 상기 제1 연결 패턴(440)은 상기 제1 복합 패드(CP1)에 포함된 정전기 방지 패드(200)의 돌출부를 노출시키는 콘택홀들을 통해, 상기 정전기 방지 패드(200)의 상기 돌출부와 접촉할 수 있다. 상기 제2 라인(340)은 상기 제2 라인(340)의 상부를 노출시키는 콘택홀들을 통해, 상기 제2 라인(340) 상에 배치되는 제2 연결 패턴(450)과 접촉할 수 있고, 상기 제2 연결 패턴(450)은 상기 제2 복합 패드(CP2)에 포함된 정전기 방지 패드의 돌출부를 노출시키는 콘택홀들을 통해, 상기 정전기 방지 패드의 상기 돌출부와 접촉할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 및 제2 복합 패드들(CP1, CP2)은 상기 제2 방향을 따라 지그재그(zigzag) 형태로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 복합 패드(CP1)는 상기 제1 방향(D1)으로 서로 중첩하며 상기 제2 방향(D2)을 따라 반복하여 배치될 수 있다. 상기 제2 복합 패드(CP2)는 상기 제1 복합 패드(CP1)와 상기 제1 방향(D1)으로 비중첩할 수 있고, 상기 제1 방향(D1)으로 서로 중첩하며 상기 제2 방향(D2)을 따라 배치될 수 있다. 상기 제1 및 제2 복합 패드들(CP1, CP2)이 상기 지그재그 형태로 배치됨에 따라, 상기 게이트 검사부(50)의 상기 제2 방향(D2)으로의 길이가 감소될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 및 제2 복합 패드들(CP1, CP2)은 상기 제2 방향(D2)으로 부분적으로 중첩할 수 있다.
상기 제1 복합 패드(CP1)는 정전기 방지 패드(200), 제1 검사 패드(300) 및 제2 검사 패드(400)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 복합 패드(CP2)의 구조는 상기 제1 복합 패드(CP1)의 구조와 실질적으로 동일할 수 있으므로, 이하에서 상기 제2 복합 패드(CP2)의 구조에 대하여는 생략하기로 한다.
예를 들어, 상기 정전기 방지 패드(200), 상기 제2 검사 패드(400) 및 상기 제1 검사 패드(300)의 경로를 통해 전기적인 신호가 전달될 수 있다. 상기 전기적인 신호는 상기 제1 게이트 신호, 상기 게이트 검사 신호, 상기 정전기로 인한 상기 과전류 등을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 정전기 방지 패드(200)는 직사각형 형상일 수 있다. 예를 들어, 상기 정전기 방지 패드(200)는 상기 제1 방향(D1)으로의 제1 길이(201) 및 상기 제2 방향(D2)으로의 제2 길이(202)를 가질 수 있다. 상기 정전기 방지 패드(200)의 상기 제1 길이(201)는 상기 제2 길이(202)보다 작을 수 있으며, 상기 정전기 방지 패드(200)의 상기 제2 길이(202)는 상기 제1 복합 패드(CP1)의 상기 제2 방향(D2)으로의 제2 길이(402)와 실질적으로 동일할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 정전기 방지 패드(200)는 복수의 제1 콘택홀들(CNT1)을 통해 상기 제2 검사 패드(400)와 접촉할 수 있다. 상기 정전기 방지 패드(200)가 복수의 상기 제1 콘택홀들(CNT1)을 통해 상기 제2 검사 패드(400)와 접촉함으로써, 상기 전기적인 신호(예를 들어, 상기 제1 게이트 신호)의 손실이 방지될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 검사 패드(300)는 상기 정전기 방지 패드(200)와 이격하여 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 검사 패드(300)는 직사각형 형상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 검사 패드(300)는 상기 제1 방향(D1)으로의 제1 길이(301) 및 상기 제2 방향(D2)으로의 제2 길이(D2)를 가질 수 있다. 상기 제1 검사 패드(300)의 상기 제1 길이(301)는 상기 제2 길이(302)보다 작을 수 있고, 상기 제1 검사 패드(300)의 상기 제2 길이(302)는 상기 제1 복합 패드(CP1)의 상기 제2 길이(402)와 실질적으로 동일할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 정전기 방지 패드(200)의 면적은 상기 제1 검사 패드(300)의 면적보다 작을 수 있다. 예를 들어, 상기 정전기 방지 패드(200)의 상기 제1 길이(201)는 상기 제1 검사 패드(300)의 상기 제1 길이(301)보다 작을 수 있다. 상기 정전기 방지 패드(200)의 상기 제2 길이(202)는 상기 제1 검사 패드(300)의 상기 제2 길이(302)와 실질적으로 동일할 수 있다. 상기 제1 검사 패드(300)의 면적이 커짐에 따라, 후술할 제1 검사가 상대적으로 용이하게 수행될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 검사 패드(300)는 하나의 제2 콘택홀(CNT2)을 통해 상기 제2 검사 패드(400)와 접촉할 수 있다. 상기 제2 콘택홀(CNT2)의 면적은 상기 제1 콘택홀들(CNT1) 각각의 면적보다 클 수 있다. 그에 따라, 상기 전기적인 신호(예를 들어, 상기 게이트 검사 신호)의 손실이 방지될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 정전기 방지 패드(200) 및 상기 제1 검사 패드(300) 상에 배치되고, 상기 정전기 방지 패드(200) 및 상기 제1 검사 패드(300)와 중첩할 수 있다. 상술한 바와 같이, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 제1 콘택홀들(CNT1) 및 상기 제2 콘택홀(CNT2)을 통해 상기 정전기 방지 패드(200) 및 상기 제1 검사 패드(300)를 전기적으로 연결시킬 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제2 검사 패드(400)는 정사각형 형상일 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 제1 방향(D1)으로의 제1 길이(401) 및 상기 제2 방향(D2)으로의 제2 길이(402)를 가질 수 있고, 상기 제1 길이(401) 및 상기 제2 길이(402)는 실질적으로 동일할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제2 검사 패드(400)는 후술할 제2 검사를 수행하기 위해 일정한 크기 이상의 면적을 가질 수 있다. 반면, 상기 제2 검사 패드(400)의 면적이 증가할수록, 상기 게이트 검사부(50)의 면적이 증가하는 단점이 있다. 그에 따라, 상기 제2 검사 패드(400)의 제1 및 제2 길이들(401, 402)은 각각 약 100um 일 수 있다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 검사부 및 표시 패널을 설명하기 위한 단면도이다. 예를 들어, 도 5는 도 4의 I-I'선을 따라 절단한 단면도를 포함할 수 있다.
도 1, 3, 4, 및 5를 참조하면, 상기 표시 패널(10)은 기판(100), 상기 제1 게이트 라인(310), 상기 제2 게이트 라인(320), 제1 절연층(ILD1), 활성층(ACT), 제2 절연층(ILD2), 소스 전극(SE), 드레인 전극(DE), 비아 절연층(VIA), 화소 전극(410), 액정층(420), 대향 전극(430), 평탄화층(OC), 컬러 필터(CF), 블랙 매트릭스(BM) 및 윈도우(WIN)를 포함할 수 있다.
상기 기판(100)은 유리 기판, 석영 기판, 플라스틱 기판 등을 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 기판(100)이 상기 유리 기판을 포함하는 경우, 상기 표시 장치(1000)는 리지드(rigid) 표시 장치일 수 있다. 다른 예로, 상기 기판(100)이 상기 플라스틱 기판을 포함하는 경우, 상기 표시 장치(1000)는 플렉서블(flexible) 표시 장치일 수 있다. 이 경우, 상기 기판(100)은 적어도 하나의 유기 필름층 및 적어도 하나의 배리어층이 번갈아 가며 적층된 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 유기 필름층은 유기 물질을 포함하고, 상기 배리어층은 무기 물질을 포함할 수 있다.
상기 제1 및 제2 게이트 라인들(310, 320)은 상기 기판(100) 상에 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 게이트 라인(310)에는 상기 스토리지 전압이 제공되고, 상기 제2 게이트 라인(320)에는 상기 제어 신호가 제공될 수 있다. 상기 제1 및 제2 게이트 라인들(310, 320)은 금속, 합금, 도전 금속 산화물, 투명 도전 물질 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 및 제2 게이트 라인들(310, 320)은 은(Ag), 은을 함유하는 합금, 몰리브데늄(Mo), 몰리브데늄을 함유하는 합금, 알루미늄(Al), 알루미늄을 함유하는 합금, 알루미늄 질화물(AlN), 텅스텐(W), 텅스텐 질화물(WN), 구리(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 크롬 질화물(CrN), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta), 백금(Pt), 스칸듐(Sc), 인듐 주석 산화물(ITO), 인듐 아연 산화물(IZO) 등을 포함할 수 있다.
상기 제1 절연층(ILD1)은 상기 제1 및 제2 게이트 라인들(310, 320)을 덮으며, 상기 기판(100) 상에 배치될 수 있다. 상기 제1 절연층(ILD1)은 절연 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 절연층(ILD1)은 실리콘 산화물, 실리콘 질화물, 티타늄 산화물, 탄탈륨 산화물 등을 포함할 수 있다.
상기 활성층(ACT)은 상기 제1 절연층(ILD1) 상에 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 활성층(ACT)은 비정질 실리콘, 다결정 실리콘, 산화물 반도체 등을 포함할 수 있다. 상기 활성층(ACT)에는 이온이 선택적으로 주입될 수 있다. 예를 들어, 상기 활성층(ACT)의 영역들 중 상기 제2 게이트 라인(320)과 중첩하는 영역에는 상기 이온이 주입되지 않을 수 있고, 상기 제2 게이트 라인(320)과 중첩하지 않는 영역에는 상기 이온이 주입될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제2 절연층(ILD2)은 상기 활성층(ACT)을 덮으며, 상기 제1 절연층(ILD1) 상에 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 절연층(ILD2)은 절연 물질을 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 제2 절연층(ILD2)은 생략될 수도 있다.
상기 소스 전극(SE) 및 상기 드레인 전극(DE)은 상기 제2 절연층(ILD2) 상에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 소스 및 드레인 전극들(SE, DE)은 상기 제2 절연층(ILD2)에 형성되는 콘택홀들을 통해 상기 활성층(ACT)과 각각 접촉할 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 제2 절연층(ILD2)이 생략되고, 상기 소스 및 상기 드레인 전극들(SE, DE)은 상기 활성층(ACT)과 직접적으로 접촉할 수 있다. 상기 소스 및 드레인 전극들(SE, DE)은 금속, 합금, 도전 금속 산화물, 투명 도전 물질 등을 포함할 수 있다.
상기 제2 게이트 라인(320), 상기 활성층(ACT), 상기 소스 전극(SE) 및 상기 드레인 전극(DE)은 트랜지스터를 구성할 수 있다. 예를 들어, 상기 데이터 전압(DS)은 상기 소스 전극(SE)으로 제공될 수 있고, 상기 제2 게이트 라인(320)에 제공된 상기 제어 신호에 따라 상기 활성층(ACT) 및 상기 드레인 전극(DE)으로 전달될 수 있다.
상기 비아 절연층(VIA)은 상기 소스 및 드레인 전극들(SE, DE)을 덮으며, 상기 제2 절연층(ILD2) 상에 배치될 수 있다. 상기 비아 절연층(VIA)은 실질적으로 평탄한 상면을 가질 수 있다. 이를 위해, 상기 비아 절연층(VIA)은 유기 절연 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 비아 절연층(VIA)은 포토레지스트, 폴리아크릴계 수지, 폴리이미드계 수지, 아크릴계 수지 등을 포함할 수 있다.
상기 화소 전극(410)은 상기 비아 절연층(VIA) 상에 배치될 수 있다. 상기 화소 전극(410)은 상기 비아 절연층(VIA)에 형성되는 콘택홀을 통해 상기 드레인 전극(DE)과 접촉할 수 있다. 그에 따라, 상기 화소 전극(410)은 상기 데이터 전압(DS)을 제공받을 수 있다. 상기 화소 전극(410)은 금속, 합금, 도전 금속 산화물, 투명 도전 물질 등을 포함할 수 있다.
상기 액정층(420)은 상기 화소 전극(410) 상에 배치될 수 있다. 상기 액정층(420)의 내부에는 복수의 액정(liquid crystal) 분자들이 배치될 수 있다. 상기 화소 전극(410) 및 상기 대향 전극(430)에 의해 형성되는 전계에 따라 상기 액정 분자들 각각의 배열이 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 전계가 형성되지 않는 경우, 상기 액정 분자들 각각은 수직 방향으로 배열될 수 있다. 반면, 상기 전계가 형성되는 경우, 상기 액정 분자들 각각은 수평 방향으로 배열될 수 있다.
상기 대향 전극(430)은 상기 액정층(420) 상에 배치될 수 있다. 상기 대향 전극(430)은 공통 전압을 제공받을 수 있으며, 그에 따라 상기 화소 전극(410) 및 상기 대향 전극(430) 사이에 상기 전계가 형성될 수 있다. 상기 대향 전극(430)은 금속, 합금, 도전 금속 산화물, 투명 도전 물질 등을 포함할 수 있다.
상기 평탄화층(OC)은 상기 대향 전극(430) 상에 배치될 수 있다. 상기 평탄화층(OC)은 실질적으로 평탄한 상면을 가질 수 있다. 그에 따라, 상기 평탄화층(OC)은 상술한 구성들에 의해 생성된 단차를 제거할 수 있다.
상기 컬러 필터(CF) 및 상기 블랙 매트릭스(BM)은 상기 평탄화층(OC) 상에 배치될 수 있다. 상기 컬러 필터(CF)는 일정한 파장을 갖는 빛을 선택적으로 투과할 수 있다. 상기 블랙 매트릭스(BM)는 빛을 차단할 수 있다. 상기 컬러 필터(CF) 및 상기 블랙 매트릭스(BM)는 상기 표시 영역(DA)의 발광 영역 및 비발광 영역에 각각 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 블랙 매트릭스(BM)가 상기 트랜지스터와 중첩하도록 배치됨으로써, 상기 트랜지스터는 사용자에게 시인되지 않도록 할 수 있다.
상기 윈도우(WIN)는 상기 컬러 필터(CF) 및 상기 블랙 매트릭스(BM) 상에 배치될 수 있다. 상기 윈도우(WIN)는 상기 표시 장치(1000)의 내부로 이물 및/또는 수분이 침투하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 윈도우(WIN)는 상기 표시 장치(1000)의 내부로 외부 충격이 전달되지 않도록 할 수 있다. 예를 들어, 상기 윈도우(WIN)는 강성을 갖는 유리로 형성될 수 있다.
상기 게이트 구동부(50)는 상기 기판(100), 상기 제1 복합 패드(CP1), 상기 평탄화층(OC), 상기 블랙 매트릭스(BM) 및 상기 윈도우(WIN)를 포함할 수 있다. 상기 제1 복합 패드(CP1)는 상기 정전기 방지 패드(200), 상기 제1 검사 패드(300) 및 상기 제2 검사 패드(400)를 포함할 수 있다.
상기 정전기 방지 패드(200) 및 상기 제1 검사 패드(300)는 상기 기판(100) 상에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 정전기 방지 패드(200) 및 상기 제1 검사 패드(300)는 상기 제1 및 제2 게이트 라인들(310, 320)과 동일한 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 정전기 방지 패드(200) 및 상기 제1 검사 패드(300)는 상기 제1 및 제2 게이트 라인들(310, 320)과 함께 형성될 수 있다.
상기 제2 검사 패드(400)는 상기 비아 절연층(VIA) 상에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 화소 전극(410)과 동일한 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 화소 전극(410)과 함께 형성될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제2 검사 패드(400)는 인듐 주석 산화물(ITO)을 포함할 수 있다. 그에 따라, 상기 제2 검사 패드(400)의 전기 저항이 상대적으로 작아질 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 제1 콘택홀들(CNT1)을 통해 상기 정전기 방지 패드(200)와 접촉할 수 있다. 상기 제1 콘택홀들(CNT1)은 상기 제1 절연층(ILD1), 상기 제2 절연층(ILD2) 및 상기 비아 절연층(VIA)에 형성되며, 상기 정전기 방지 패드(200)의 상면을 노출시킬 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 제2 콘택홀(CNT2)을 통해 상기 제1 검사 패드(300)와 접촉할 수 있다. 상기 제2 콘택홀(CNT2)은 상기 제1 절연층(ILD1), 상기 제2 절연층(ILD2) 및 상기 비아 절연층(VIA)에 형성되며, 상기 제1 검사 패드(300)의 상면을 노출시킬 수 있다.
한편, 상기 표시 패널(10) 및 상기 게이트 구동부(50)의 단면 구조는 도 5에 도시된 단면 구조에 한정되지 않을 수 있다. 예를 들어, 상기 표시 패널(10)은 상기 대향 전극(430) 상에 배치되며 산소 및 수분의 침투를 방지하는 박막 봉지층(thin film encapsulation), 상기 대향 전극(430) 상에 배치되며 사용자의 터치 및 접근을 감지하는 감지 구조물 등을 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 화소 전극(410)과 상이한 층에 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 검사 패드(400)는 상기 소스 및 드레인 전극들(SE, DE)과 함께 형성될 수 있다.
도 6은 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 라인들을 검사하는 방법을 설명하기 위한 평면도이고, 도 7은 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널을 정전기로 인한 과전류로부터 보호하는 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
도 1 및 6을 참조하면, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 게이트 라인들(GL)을 검사할 수 있다. 예를 들어, 상기 검사는 상기 게이트 라인들(GL) 각각의 단락(short) 여부를 검사하는 제1 검사 및 상기 단락이 발생된 위치를 검사하는 제2 검사를 포함할 수 있다. 각각의 상기 게이트 라인들(GL)에는 상기 검사를 수행하기 위한 게이트 검사 신호(TS)가 제공될 수 있다. 상기 게이트 검사 신호(TS)는 상기 제1 검사를 수행하기 위한 제1 게이트 검사 신호 및 상기 제2 검사를 수행하기 위한 제2 게이트 검사 신호를 포함할 수 있다.
상기 제1 검사의 경우, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 표시 패널(10)의 상기 좌단에 인접하는 상기 게이트 검사부(50)는 각각의 상기 게이트 라인들(GL)로 상기 제1 게이트 검사 신호를 제공할 수 있고, 상기 표시 패널(10)의 상기 우단에 인접하는 상기 게이트 검사부(50)는 상기 제1 게이트 검사 신호를 수신할 수 있다. 상기 제1 게이트 검사 신호의 수신 여부에 따라, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 게이트 라인들(GL) 각각의 상기 단락 여부를 검사할 수 있다.
상기 제2 검사의 경우, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 표시 패널(10)의 상기 좌단에 인접하는 상기 게이트 검사부(50)는 상기 제1 검사를 통해 불량으로 판정된 게이트 라인으로 상기 제2 게이트 검사 신호를 제공할 수 있다.
상기 검사를 정확하게 수행하기 위해 검사 급전 센서(TS_P) 및 검사 수전 센서(TS_S)가 이용될 수 있다. 이 경우, 상기 복합 패드(CP)로 상기 검사 신호(TS)를 제공하는 상기 검사 급전 센서(TS_P)는 상기 복합 패드(CP)와 접촉할 수 있다. 상기 검사 급전 센서(TS_P)가 상기 복합 패드(CP)와 접촉함으로써, 상기 검사 신호(TS)가 안정적으로 제공될 수 있다. 특히, 상기 제2 검사를 수행하는 경우, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 단락이 발생된 위치를 검사해야 하기 때문에, 상기 검사 신호(TS)가 안정적으로 제공될 필요가 있다. 상기 표시 장치(1000)는 상기 검사 급전 센서(TS_P)가 접촉할 수 있는 면적을 갖는 상기 복합 패드(CP)를 포함함으로써, 상기 검사를 정확하게 수행할 수 있다.
도 1 및 7을 참조하면, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 표시 패널(10) 및/또는 상기 게이트 구동부(20)를 상기 정전기로 인한 상기 과전류로부터 보호할 수 있다. 예를 들어, 상기 정전기는 상기 표시 장치(1000)의 제조 공정에서 발생되거나, 또는 상기 표시 장치(1000)의 사용 중에 발생될 수 있다. 상기 정전기로 인해 상기 과전류가 발생될 수 있다. 한편, 전류는 상기 정전기 방지 패드(200), 상기 제2 검사 패드(400) 및 상기 제1 검사 패드(300)의 경로를 통해 상기 표시 패널(10)로 제공될 수 있다. 그러나, 상기 과전류가 상기 경로를 통해 전달되는 경우, 상기 제2 검사 패드(400)가 파손됨으로써, 상기 과전류는 상기 표시 패널(10)로 제공되지 않을 수 있다. 따라서, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 표시 패널(10)을 상기 과전류로부터 보호할 수 있다. 이 경우, 상기 제2 검사 패드(400)는 상대적으로 전기 저항이 낮은 금속 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 검사 패드(400)는 인듐 주석 산화물(ITO)을 포함할 수 있다. 유사한 방법으로, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 게이트 구동부(20)를 보호할 수 있다.
본 발명의 표시 장치(1000)는 상기 복합 패드(CP)들을 포함하는 상기 게이트 검사부(50)를 포함할 수 있다. 상기 복합 패드(CP)는 상기 정전기 방지 패드(200), 상기 제1 검사 패드(300) 및 상기 제2 검사 패드(400)를 포함할 수 있다. 그에 따라, 상기 게이트 검사부(50)는 상기 게이트 라인들(GL)의 단락 여부 및/또는 단락 위치를 검사할 수 있고, 상기 표시 패널(10) 및/또는 상기 게이트 구동부(20)를 상기 정전기로 인한 상기 과전류로부터 보호할 수 있다. 또한, 상기 제2 검사 패드(400)가 상기 정전기 방지 패드(200) 및 상기 제1 검사 패드(100)와 중첩함으로써, 상기 게이트 검사부(50)를 포함하는 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)이 감소될 수 있다.
상술한 바에서는, 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 고해상도 스마트폰, 휴대폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿 PC, 차량용 네비게이션 시스템, 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
1000: 표시 장치
10: 표시 패널
20: 게이트 구동부 30: 데이터 구동부
40: 타이밍 제어부 50: 게이트 검사부
DA: 표시 영역 NDA: 비표시 영역
GL: 게이트 라인들 DL: 데이터 라인들
200: 정전기 방지 패드 300: 제1 검사 패드
400: 제2 검사 패드 CP: 복합 패드
CNT1: 제1 콘택홀 CNT2: 제2 콘택홀
20: 게이트 구동부 30: 데이터 구동부
40: 타이밍 제어부 50: 게이트 검사부
DA: 표시 영역 NDA: 비표시 영역
GL: 게이트 라인들 DL: 데이터 라인들
200: 정전기 방지 패드 300: 제1 검사 패드
400: 제2 검사 패드 CP: 복합 패드
CNT1: 제1 콘택홀 CNT2: 제2 콘택홀
Claims (20)
- 제1 방향으로 연장되고 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 배치된 복수의 게이트 라인들과 전기적으로 연결되는 복수의 복합 패드들을 포함하며,
상기 복합 패드들 각각은
정전기 방지 패드;
상기 정전기 방지 패드와 이격하고, 각각의 상기 게이트 라인들로 게이트 검사 신호를 제공하는 제1 검사 패드; 및
상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드와 중첩하고, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드를 전기적으로 연결시키는 제2 검사 패드를 포함하는 게이트 검사부. - 제1 항에 있어서, 상기 복합 패드들은 상기 게이트 라인들과 각각 연결되는 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제2 항에 있어서, 상기 복합 패드들은 상기 제2 방향을 따라 지그재그(zigzag) 형태로 배치되는 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제1 항에 있어서, 상기 제2 검사 패드는 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제1 항에 있어서, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드는 서로 동일한 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제1 항에 있어서, 상기 제2 검사 패드의 상기 제1 방향으로의 길이는 100um이고, 상기 제2 검사 패드의 상기 제2 방향으로의 길이는 100um인 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제1 항에 있어서, 상기 정전기 방지 패드의 면적은 상기 제1 검사 패드의 면적보다 작은 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제7 항에 있어서, 상기 정전기 방지 패드의 상기 제2 방향으로의 길이 및 상기 제1 검사 패드의 상기 제2 방향으로의 길이는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제7 항에 있어서, 상기 정전기 방지 패드의 상기 제1 방향으로의 길이는 상기 제1 검사 패드의 상기 제1 방향으로의 길이보다 작은 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 제1 항에 있어서, 상기 제2 검사 패드는
복수의 제1 콘택홀들을 통해 상기 정전기 방지 패드와 접촉하고, 하나의 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 검사 패드와 접촉하는 것을 특징으로 하는 게이트 검사부. - 제10 항에 있어서, 상기 제1 콘택홀들 각각의 면적은 상기 제2 콘택홀의 면적보다 작은 것을 특징으로 하는 게이트 검사부.
- 복수의 게이트 라인들을 포함하는 표시 패널;
상기 표시 패널의 일측에 배치되고, 상기 게이트 라인들로 게이트 신호를 제공하는 게이트 구동부; 및
상기 게이트 라인들과 전기적으로 연결되는 복수의 복합 패드들을 포함하는 게이트 검사부를 포함하고,
상기 복합 패드들 각각은
정전기 방지 패드;
상기 정전기 방지 패드와 이격하고, 각각의 상기 게이트 라인들로 게이트 검사 신호를 제공하는 제1 검사 패드; 및
상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드와 중첩하고, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드를 전기적으로 연결시키는 제2 검사 패드를 포함하는 표시 장치. - 제12 항에 있어서, 상기 게이트 검사부는 상기 표시 패널 및 상기 게이트 구동부 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
- 제12 항에 있어서,
상기 표시 패널은 상기 게이트 라인들 상에 배치되는 복수의 화소 전극들을 더 포함하고,
상기 제2 검사 패드는 상기 화소 전극들과 동일한 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치. - 제14 항에 있어서, 상기 정전기 방지 패드 및 상기 제1 검사 패드는 상기 게이트 라인들과 동일한 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
- 제14 항에 있어서, 상기 표시 패널은
상기 게이트 라인들 상에 배치되는 활성층;
상기 활성층 상에 배치되는 소스 전극; 및
상기 활성층 상에 배치되고, 상기 소스 전극과 이격하는 드레인 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치. - 제12 항에 있어서, 상기 정전기 방지 패드의 면적은 상기 제1 검사 패드의 면적보다 작은 것을 특징으로 하는 표시 장치.
- 제17 항에 있어서, 상기 게이트 라인들은 제1 방향으로 연장되고, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 배치되며,
상기 정전기 방지 패드의 상기 제2 방향으로의 길이 및 상기 제1 검사 패드의 상기 제2 방향으로의 길이는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 표시 장치. - 제18 항에 있어서, 상기 정전기 방지 패드의 상기 제1 방향으로의 길이는 상기 제1 검사 패드의 상기 제1 방향으로의 길이보다 작은 것을 특징으로 하는 표시 장치.
- 제12 항에 있어서, 상기 제2 검사 패드는
복수의 제1 콘택홀들을 통해 상기 정전기 방지 패드와 접촉하고, 하나의 제2 콘택홀을 통해 상기 제1 검사 패드와 접촉하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal |