KR102272479B1 - 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 복수의 화소, 상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 데이터선, 상기 복수의 데이터선에 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부, 및 상기 데이터 전압의 검사하기 위해 상기 복수의 데이터선 중 어느 하나에 연결되어 있는 제1 테스트 패드부를 포함하고, 상기 제1 테스트 패드부는 데이터선과 2중으로 전기적으로 분리되어 있는 테스트 패드를 포함한다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 구동 IC의 출력 신호를 측정할 수 있는 표시 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD), 유기 발광 표시 장치(organic light emitting diode display) 등의 표시 장치는 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 게이트선 및 복수의 데이터선을 포함한다. 복수의 화소는 게이트선과 데이터선의 교차점에 형성된다. 복수의 게이트선에 게이트 온 전압의 게이트 신호가 순차적으로 인가될 때, 게이트 온 전압의 게이트 신호에 대응하여 복수의 데이터선에 데이터 전압이 인가되어 복수의 화소에 영상 데이터가 기입된다.
게이트 신호 및 데이터 전압이 정상적인 파형으로 출력되지 않게 되면, 복수의 화소에 원하지 않는 영상 데이터가 기입되게 되고, 화질 불량이 발생하게 된다. 따라서, 표시 장치의 생산 과정에서 데이터 전압 및 게이트 신호가 정상적인 파형으로 출력되는지 여부를 검사할 필요가 있다. 또한, 표시 장치의 생산 후에도 표시 장치의 고장 원인을 찾기 위해 데이터 전압 및 게이트 신호의 출력을 검사할 필요가 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 구동 IC의 출력 신호를 측정할 수 있는 표시 장치를 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소, 상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 데이터선, 상기 복수의 데이터선에 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부, 및 상기 데이터 전압의 검사하기 위해 상기 복수의 데이터선 중 어느 하나에 연결되어 있는 제1 테스트 패드부를 포함하고, 상기 제1 테스트 패드부는 데이터선과 2중으로 전기적으로 분리되어 있는 테스트 패드를 포함한다.
상기 제1 테스트 패드부는, 상기 테스트 패드에 연결되어 있는 제1 배선, 상기 제1 배선과 이격되어 마주하는 스테핑부, 상기 스테핑부와 이격되어 마주하고, 상기 데이터선에 연결되어 있는 제2 배선, 상기 제1 배선과 상기 스테핑부 위에 배치되는 제1 브릿지부, 및 상기 스테핑부 및 상기 제2 배선 위에 배치되는 제2 브릿지부를 포함할 수 있다.
상기 제1 배선은 상기 테스트 패드에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함할 수 있다.
상기 제2 배선은 상기 데이터선에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함할 수 있다.
상기 제1 테스트 패드부는, 상기 제1 배선의 타단, 상기 스테핑부 및 상기 제2 배선의 타단의 위에 배치되어 있는 절연막을 더 포함할 수 있다.
상기 제1 브릿지부는 상기 절연막 위에서 상기 제1 배선의 타단 및 상기 스테핑부의 위에 중첩하여 배치될 수 있다.
상기 제2 브릿지부는 상기 절연막 위에서 상기 스테핑부 및 상기 제2 배선의 타단의 위에 중첩하여 배치될 수 있다.
상기 제1 배선의 타단과 상기 제1 브릿지부가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제1 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제1 관통홀을 통해 상기 제1 배선과 상기 제1 브릿지부가 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 스테핑부와 상기 제1 브릿지가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제2 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제2 관통홀을 통해 상기 스테핑부와 상기 제1 브릿지부가 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 스테핑부와 상기 제2 브릿지가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제3 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제3 관통홀을 통해 상기 스테핑부와 상기 제2 브릿지부가 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제2 배선의 타단과 상기 제2 브릿지가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제4 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제4 관통홀을 통해 상기 제2 배선과 상기 제2 브릿지부가 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 테스트 패드, 상기 제1 배선, 상기 스테핑부, 상기 제2 배선, 상기 제1 브릿지부 및 상기 제2 브릿지부 중 적어도 어느 하나는 알루미늄, 은, 구리, 몰리브덴, 크롬, 탄탈륨, 티타늄 등의 금속으로 마련될 수 있다.
상기 제1 테스트 패드부는 복수개로 마련되어 서로 다른 데이터선에 연결될 수 있다.
상기 제1 테스트 패드부는 상기 데이터 구동부의 출력단에 인접하여 배치되어 상기 복수의 데이터선 중 어느 하나에 연결될 수 있다.
상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 게이트선에 게이트 신호를 인가하는 게이트 구동부, 및 상기 게이트 신호를 검사하기 위해 상기 복수의 게이트선 중 어느 하나에 연결되어 있는 제2 테스트 패드부를 더 포함하고, 상기 제2 테스트 패드부는 게이트선과 2중으로 전기적으로 분리되어 있는 테스트 패드를 포함할 수 있다.
상기 제2 테스트 패드부는, 상기 테스트 패드에 연결되어 있는 제1 배선, 상기 제1 배선과 이격되어 마주하는 스테핑부, 상기 스테핑부와 이격되어 마주하고, 상기 데이터선에 연결되어 있는 제2 배선, 상기 제1 배선과 상기 스테핑부 위에 배치되는 제1 브릿지부, 및 상기 스테핑부 및 상기 제2 배선 위에 배치되는 제2 브릿지부를 포함할 수 있다.
상기 제1 배선은 상기 테스트 패드에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함할 수 있다.
상기 제2 배선은 상기 데이터선에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함할 수 있다.
상기 제2 테스트 패드부는, 상기 제1 배선의 타단, 상기 스테핑부 및 상기 제2 배선의 타단의 위에 배치되어 있는 절연막을 더 포함할 수 있다.
상기 제2 테스트 패드부는 상기 게이트 구동부의 출력단에 인접하여 배치되어 상기 복수의 게이트선 중 어느 하나에 연결될 수 있다.
테스트 패드를 통해 구동 IC의 출력 신호를 측정할 수 있다. 그리고 정전기가 유입되어 발생하는 테스트 패드의 쇼트 불량으로 구동 IC의 출력 신호에 간섭이 발생하지 않도록 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 패드부를 나타내는 평면도이다.
도 3은 도 2의 III-III 선을 따라 자른 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 물리적 전기적으로 연결 처리한 테스트 패드부를 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 4의 V-V 선을 따라 자른 단면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
또한, 여러 실시예들에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적으로 일 실시예에서 설명하고, 그 외의 실시예에서는 일 실시예와 다른 구성에 대해서만 설명하기로 한다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
이제, 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치에 대하여 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치는 신호 제어부(100), 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300), 계조 전압 생성부(400), 표시부(600) 및 테스트 패드부(510, 520)를 포함한다.
표시부(600)는 복수의 게이트선(S1~Sn), 복수의 데이터선(D1~Dm) 및 복수의 화소(PX)를 포함한다. 복수의 화소(PX)는 복수의 게이트선(S1~Sn) 및 복수의 데이터선(D1~Dm)에 연결되어 대략 행렬의 형태로 배열된다. 복수의 게이트선(S1~Sn)은 대략 행 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행하다. 복수의 데이터선(D1~Dm)은 대략 열 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행하다. 표시부(600)에는 복수의 화소(PX)의 구동을 위한 전압(Vcom)이 인가될 수 있다.
신호 제어부(100)는 영상 신호(R, G, B) 및 입력 제어 신호를 수신한다. 영상 신호(R, G, B)는 복수의 화소의 휘도(luminance) 정보를 담고 있다. 휘도는 정해진 수효, 예를 들어, 1024(=210), 256(=28) 또는 64(=26)개의 계조(gray)를 가지고 있다. 입력 제어 신호는 데이터 인에이블 신호(DE), 수평 동기 신호(Hsync), 수직 동기 신호(Vsync) 및 메인 클록 신호(MCLK)를 포함한다.
신호 제어부(100)는 영상 신호(R, G, B), 데이터 인에이블 신호(DE), 수평 동기 신호(Hsync), 수직 동기 신호(Vsync) 및 메인 클록 신호(MCLK)에 따라 게이트 제어신호(CONT1), 데이터 제어신호(CONT2) 및 영상 데이터 신호(DAT)를 생성한다. 신호 제어부(100)는 수직 동기 신호(Vsync)에 따라 프레임 단위로 영상 신호(R, G, B)를 구분하고, 수평 동기 신호(Hsync)에 따라 게이트 라인 단위로 영상 신호(R, G, B)를 구분하여 영상 데이터 신호(DAT)를 생성한다.
신호 제어부(100)는 영상 데이터 신호(DAT) 및 데이터 제어신호(CONT2)를 데이터 구동부(300)에 제공한다. 데이터 제어신호(CONT2)는 데이터 구동부(300)의 동작을 제어하는 신호로써, 영상 데이터 신호(DAT)의 전송 시작을 알리는 수평 동기 시작 신호(STH), 데이터선(D1~Dm)에 데이터 신호의 출력을 지시하는 로드 신호(LOAD) 및 데이터 클록 신호(HCLK)를 포함한다.
신호 제어부(100)는 게이트 제어신호(CONT1)를 게이트 구동부(200)에 제공한다. 게이트 제어신호(CONT1)는 게이트 구동부(200)에서의 주사 시작 신호(STV) 및 게이트 온 전압의 출력을 제어하는 적어도 하나의 클록 신호를 포함한다. 게이트 제어신호(CONT1)는 게이트 온 전압의 지속 시간을 한정하는 출력 인에이블 신호(OE)를 더 포함할 수 있다.
게이트 구동부(200)는 표시부(600)의 복수의 게이트선(S1~Sn)에 연결되어 있다. 게이트 구동부(200)는 게이트 제어신호(CONT1)에 따라 게이트 온 전압과 게이트 오프 전압의 조합으로 이루어진 게이트 신호를 복수의 게이트선(S1~Sm)에 인가한다.
데이터 구동부(300)는 표시부(600)의 복수의 데이터선(D1~Dm)에 연결되어 있다. 데이터 구동부(300)는 계조 전압 생성부(400)로부터의 계조 전압을 선택한다. 데이터 구동부(300)는 선택한 계조 전압을 데이터 전압으로서 데이터선(D1~Dm)에 인가한다. 계조 전압 생성부(400)는 모든 계조에 대한 전압을 제공하지 않고 정해진 수의 기준 계조 전압만을 제공할 수 있다. 이때, 데이터 구동부(300)는 기준 계조 전압을 분압하여 전체 계조에 대한 계조 전압을 생성하고, 이 중에서 데이터 전압을 선택할 수 있다.
1 수평 주기를 단위로 하여 복수의 게이트선(S1~Sm)에 순차적으로 게이트 온 전압의 게이트 신호가 인가되고, 게이트 온 전압의 게이트 신호에 대응하여 복수의 데이터선(D1~Dm)에 데이터 전압이 인가됨으로써, 모든 화소(PX)에 데이터 전압이 인가되어 한 프레임의 영상이 표시된다. 1 수평 주기는 '1H'라고도 쓰며, 수평 동기 신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신호(DE)의 한 주기와 동일하다.
테스트 패드부(510, 520)는 복수의 데이터선(D1~Dm) 중 어느 하나에 연결되어 있는 제1 테스트 패드부(510) 및 복수의 게이트선(S1~Sn) 중 어느 하나에 연결되어 있는 제2 테스트 패드부(520)를 포함한다. 제1 테스트 패드부(510)는 데이터 구동부(300)의 출력단에 인접하여 배치되어 어느 하나의 데이터선(D1~Dm)에 연결될 수 있다. 이에 따라, 제1 테스트 패드부(510)는 데이터 구동부(300)에 출력되는 데이터 전압을 최대한 왜곡 없이 검사할 수 있다. 제2 테스트 패드부(520)는 게이트 구동부(200)의 출력단에 인접하여 배치되어 어느 하나의 게이트선(S1~Sn)에 연결될 수 있다. 이에 따라, 제2 테스트 패드부(520)는 게이트 구동부(200)에서 출력되는 게이트 신호를 최대한 왜곡 없이 검사할 수 있다.제1 테스트 패드부(510)는 복수개로 마련되어 서로 다른 데이터선(D1~Dm)에 연결되어 있을 수 있다. 제2 테스트 패드부(520)는 복수개로 마련되어 서로 다른 게이트선(S1~Sn)에 연결되어 있을 수 있다. 제1 테스트 패드부(510)를 통해 데이터 구동부(300)에서 출력되는 데이터 전압을 검사할 수 있다. 제2 테스트 패드부(520)를 통해 게이트 구동부(200)에서 출력되는 게이트 신호를 검사할 수 있다.
상술한 신호 제어부(100), 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300) 및 계조 전압 생성부(400) 각각은 적어도 하나의 집적 회로(IC) 칩의 형태로 표시부(600) 위에 직접 장착될 수 있다. 또는 신호 제어부(100), 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300) 및 계조 전압 생성부(400) 각각은 가요성 인쇄 회로막(flexible printed circuit film)(미도시) 위에 장착되거나 TCP(tape carrier package)의 형태로 표시부(600)에 부착되거나, 별도의 인쇄 회로 기판(printed circuit board)(미도시) 위에 장착될 수 있다. 또는 신호 제어부(100), 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300) 및 계조 전압 생성부(400)는 신호선(S1~Sn, D1~Dm)과 함께 표시부(600)에 집적될 수도 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 패드부를 나타내는 평면도이다. 도 3은 도 2의 III-III 선을 따라 자른 단면도이다. 여기서는 제1 테스트 패드부(510)의 구성에 대하여 설명한다. 제2 테스트 패드부(520)는 제1 테스트 패드부(510)와 동일하게 구성될 수 있으므로, 제2 테스트 패드부(520)의 구성에 대한 설명은 생략한다.
도 2 및 3을 참조하면, 제1 테스트 패드부(510)는 테스트 패드(511), 테스트 패드(511)에 일단이 연결되어는 제1 배선(512), 제1 배선(512)과 이격되어 마주하는 스테핑(stepping)부(513), 스테핑부(513)와 이격되어 마주하는 제2 배선(514), 제1 배선(512)과 스테핑부(513) 위에 배치되는 제1 브릿지부(515) 및 스테핑부(513)와 제2 배선(514) 위에 배치되는 제2 브릿지부(516)를 포함한다.
테스트 패드(511), 제1 배선(512), 스테핑부(513) 및 제2 배선(514)은 절연 기판(110)위에 배치된다. 절연 기판(110)은 투명한 유리 또는 플라스틱으로 이루어질 수 있다. 테스트 패드(511), 제1 배선(512), 스테핑부(513) 및 제2 배선(514) 중 적어도 어느 하나는 알루미늄(Al)이나 알루미늄 합금 등 알루미늄 계열 금속, 은(Ag)이나 은 합금 등 은계열 금속, 구리(Cu)나 구리 합금 등 구리 계열 금속, 몰리브덴(Mo)이나 몰리브덴 합금 등 몰리브덴 계열 금속, 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta) 및 티타늄(Ti) 따위로 만들어질 수 있다. 또는 테스트 패드(511), 제1 배선(512), 스테핑부(513) 및 제2 배선(514) 중 적어도 어느 하나는 물리적 성질이 다른 적어도 두 개의 도전막을 포함하는 다중막 구조를 가질 수도 있다. 테스트 패드(511), 제1 배선(512), 스테핑부(513) 및 제2 배선(514)은 동일한 재질로 동시에 형성될 수 있다. 스테핑부(513)는 제1 배선(512) 및 제2 배선(514)과 전기적으로 분리되어 있다.
제1 배선(512)은 테스트 패드(511)에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단(512e)을 포함한다. 제1 배선(512)의 타단(512e)은 스테핑부(513)와 마주한다.
제2 배선(514)은 데이터선(D1~Dm)에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단(514e)을 포함한다. 제2 테스트 패드부(520)의 경우, 제2 배선(514)의 일단은 게이트선(S1~Sn)에 연결되어 있다. 제2 배선(514)의 타단(514e)은 스테핑부(513)와 마주한다.
제1 배선(512)의 타단(512e), 스테핑부(513) 및 제2 배선(514)의 타단(514e)의 위에는 절연막(517)이 배치된다. 절연막(517)은 질화규소(SiNx) 또는 산화규소(SiOx) 등으로 이루어질 수 있다. 절연막(517)은 물리적 성질이 다른 적어도 두 개의 절연층을 포함하는 다층막 구조를 가질 수도 있다.
절연막(517) 위에 제1 브릿지부(515) 및 제2 브릿지부(516)가 배치된다. 제1 브릿지부(515)는 제1 배선(512)의 타단(512e)과 스테핑부(513)의 위에 중첩하여 배치된다. 제2 브릿지부(516)는 스테핑부(513) 및 제2 배선(514)의 타단(514e)의 위에 중첩하여 배치된다. 제1 브릿지부(515)와 제2 브릿지부(516)는 서로 이격되어 전기적으로 분리되어 있다. 제1 브릿지부(515) 및 제2 브릿지부(516) 중 적어도 어느 하나는 알루미늄(Al)이나 알루미늄 합금 등 알루미늄 계열 금속, 은(Ag)이나 은 합금 등 은계열 금속, 구리(Cu)나 구리 합금 등 구리 계열 금속, 몰리브덴(Mo)이나 몰리브덴 합금 등 몰리브덴 계열 금속, 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta) 및 티타늄(Ti) 따위로 만들어질 수 있다. 또는 제1 브릿지부(515) 및 제2 브릿지부(516) 중 적어도 어느 하나는 물리적 성질이 다른 적어도 두 개의 도전막을 포함하는 다중막 구조를 가질 수도 있다. 제1 브릿지부(515) 및 제2 브릿지부(516)는 동일한 재질로 동시에 형성될 수 있다.
이와 같이, 구성된 제1 테스트 패드부(510)를 이용하여 데이터선(D1~Dm)에 인가되는 데이터 전압을 측정하고자 하는 경우, 제1 배선(512)의 타단(512e)과 제1 브릿지부(515)를 전기적으로 연결하고, 제1 브릿지부(515)와 스테핑부(513)를 전기적으로 연결하고, 스테핑부(513)와 제2 브릿지부(516)를 전기적으로 연결하고, 제2 브릿지부(516)와 제2 배선(514)의 타단(514e)을 전기적으로 연결한 후 테스트 패드(511)를 통해 데이터 전압을 측정할 수 있다. 레이저 등을 이용하여 제1 브릿지부(515)와 절연막(517)을 관통하는 관통홀 및 제2 브릿지부(516)와 절연막(517)을 관통하는 관통홀을 형성하게 되면 제1 브릿지부(515) 및 제2 브릿지부(516)가 녹아서 관통홀을 통해 아래의 제1 배선의 타단(512e), 스테핑부(513) 및 제2 배선의 타단(514e)에 물리적으로 연결됨으로써 전기적 연결이 이루어질 수 있다.
일반적으로, 모든 표시 장치에 대한 데이터 전압 및 게이트 신호의 출력이 검사되지 않는다. 따라서, 표시 장치에서 제1 테스트 패드부(510) 및 제2 테스트 패드부(520)는 도 2 및 3에서 도시한 구조로 생산되게 된다.
상술한 바와 같이, 제1 테스트 패드부(510)는 스테핑부(513), 제1 브릿지부(515) 및 제2 브릿지부(516)에 의해 데이터선(D1~Dm)과 2중으로 전기적으로 분리되어 있는 테스트 패드(511)를 포함한다. 이에 따라, 정전기가 유입되어 제1 브릿지부(515)와 제1 배선(512) 간에 쇼트 불량 또는 제2 브릿지부(516)와 제2 배선(514) 간에 쇼트 불량이 발생하더라도 테스트 패드(511)와 데이터선(D1~Dm)은 전기적으로 분리된 상태를 유지할 수 있게 된다. 따라서, 제1 테스트 패드부(510)의 쇼트 불량으로 데이터 구동부(300)의 출력 신호에 간섭이 발생하는 불량을 줄일 수 있다. 마찬가지로, 제2 테스트 패드부(520)의 쇼트 불량으로 게이트 구동부(200)의 출력 신호에 간섭이 발생하는 불량을 줄일 수 있다.
이하, 도 4 및 5를 참조하여 제1 테스트 패드부(510)를 전기적으로 연결한 구성에 대하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 물리적 전기적으로 연결 처리한 테스트 패드부를 나타내는 평면도이다. 도 5는 도 4의 V-V 선을 따라 자른 단면도이다.
도 4 및 5를 참조하면, 제1 배선(512)의 타단(512e)과 제1 브릿지부(515)가 중첩하는 부분에 절연막(517)을 관통하는 제1 관통홀(512H)이 형성된다. 제1 관통홀(512H)이 형성되는 과정에서 제1 브릿지부(515)의 일부가 녹아서 제1 관통홀(512H)을 채우게 되고, 제1 관통홀(512H)을 통해 제1 배선(512)과 제1 브릿지부(515)가 물리적 전기적으로 연결되게 된다.
스테핑부(513)와 제1 브릿지부(515)가 중첩하는 부분에 절연막(517)을 관통하는 제2 관통홀(513Ha)이 형성된다. 제2 관통홀(513Ha)이 형성되는 과정에서 제1 브릿지부(515)의 일부가 녹아서 제2 관통홀(513Ha)을 채우게 되고, 제2 관통홀(513Ha)을 통해 스테핑부(513)와 제1 브릿지부(515)가 물리적 전기적으로 연결되게 된다.
스테핑부(513)와 제2 브릿지부(516)가 중첩하는 부분에 절연막(517)을 관통하는 제3 관통홀(513Hb)이 형성된다. 제3 관통홀(513Hb)이 형성되는 과정에서 제2 브릿지부(516)의 일부가 녹아서 제3 관통홀(513Hb)을 채우게 되고, 제3 관통홀(513Hb)을 통해 스테핑부(513)와 제2 브릿지부(516)가 물리적 전기적으로 연결되게 된다.
제2 배선(514)의 타단(514e)과 제2 브릿지부(516)가 중첩하는 부분에 절연막(517)을 관통하는 제4 관통홀(514H)이 형성된다. 제4 관통홀(514H)이 형성되는 과정에서 제2 브릿지부(516)의 일부가 녹아서 제4 관통홀(514H)을 채우게 되고, 제4 관통홀(514H)을 통해 제2 배선(514)과 제2 브릿지부(516)가 물리적 전기적으로 연결되게 된다.
이에 따라, 테스트 패드(511)는 제1 배선(512), 제1 브릿지부(515), 스테핑부(513), 제2 브릿지부(516) 및 제2 배선(514)을 통해 데이터선(D1~Dm)에 전기적으로 연결된다. 마찬가지 방법으로, 제2 테스트 패드부(520)의 테스트 패드도 게이트선(S1~Sn)에 전기적으로 연결될 수 있다.
한편, 제1 테스트 패드부(510) 및 제2 테스트 패드부(520)를 통해 데이터 전압 및 게이트 신호의 출력을 검사한 후에는 제1 배선(512) 및 제2 배선(514)을 단선하여 데이터 전압 및 게이트 신호에 간섭이 발생하지 않도록 할 수 있다.
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100 : 신호 제어부
200 : 게이트 구동부
300 : 데이터 구동부
400 : 계조 전압 생성부
510 : 제1 테스트 패드부
520 : 제2 테스트 패드부
600 : 표시부

Claims (20)

  1. 복수의 화소;
    상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 데이터선;
    상기 복수의 데이터선에 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부; 및
    상기 데이터 전압의 검사하기 위해 상기 복수의 데이터선 중 어느 하나에 연결되어 있는 제1 테스트 패드부를 포함하고,
    상기 제1 테스트 패드부는 데이터선과 2중으로 전기적으로 분리되어 있는 테스트 패드를 포함하고,
    상기 제1 테스트 패드부는,
    상기 테스트 패드에 연결되어 있는 제1 배선;
    상기 제1 배선과 이격되어 마주하는 스테핑부;
    상기 스테핑부와 이격되어 마주하고, 상기 데이터선에 연결되어 있는 제2 배선;
    상기 제1 배선과 상기 스테핑부 위에 배치되고 상기 제1 배선 및 상기 스테핑부와 전기적으로 연결되어 있는 제1 브릿지부; 및
    상기 스테핑부 및 상기 제2 배선 위에 배치되고, 상기 제2 배선 및 상기 스테핑부와 전기적으로 연결되어 있는 제2 브릿지부를 포함하는 표시 장치.
  2. 삭제
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 배선은 상기 테스트 패드에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함하는 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 제2 배선은 상기 데이터선에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함하는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 테스트 패드부는,
    상기 제1 배선의 타단, 상기 스테핑부 및 상기 제2 배선의 타단의 위에 배치되어 있는 절연막을 더 포함하는 표시 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 제1 브릿지부는 상기 절연막 위에서 상기 제1 배선의 타단 및 상기 스테핑부의 위에 중첩하여 배치되는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제2 브릿지부는 상기 절연막 위에서 상기 스테핑부 및 상기 제2 배선의 타단의 위에 중첩하여 배치되는 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 제1 배선의 타단과 상기 제1 브릿지부가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제1 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제1 관통홀을 통해 상기 제1 배선과 상기 제1 브릿지부가 전기적으로 연결되는 표시 장치.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 스테핑부와 상기 제1 브릿지가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제2 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제2 관통홀을 통해 상기 스테핑부와 상기 제1 브릿지부가 전기적으로 연결되는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 스테핑부와 상기 제2 브릿지가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제3 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제3 관통홀을 통해 상기 스테핑부와 상기 제2 브릿지부가 전기적으로 연결되는 표시 장치.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 제2 배선의 타단과 상기 제2 브릿지가 중첩하는 부분에 상기 절연막을 관통하는 제4 관통홀이 형성되어 있고, 상기 제4 관통홀을 통해 상기 제2 배선과 상기 제2 브릿지부가 전기적으로 연결되는 표시 장치.
  12. 제1 항에 있어서,
    상기 테스트 패드, 상기 제1 배선, 상기 스테핑부, 상기 제2 배선, 상기 제1 브릿지부 및 상기 제2 브릿지부 중 적어도 어느 하나는 알루미늄, 은, 구리, 몰리브덴, 크롬, 탄탈륨, 티타늄 등의 금속으로 마련되는 표시 장치.
  13. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 테스트 패드부는 복수개로 마련되어 서로 다른 데이터선에 연결되어 있는 표시 장치.
  14. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 테스트 패드부는 상기 데이터 구동부의 출력단에 인접하여 배치되어 상기 복수의 데이터선 중 어느 하나에 연결되는 표시 장치.
  15. 제1 항에 있어서,
    상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 게이트선에 게이트 신호를 인가하는 게이트 구동부; 및
    상기 게이트 신호를 검사하기 위해 상기 복수의 게이트선 중 어느 하나에 연결되어 있는 제2 테스트 패드부를 더 포함하고,
    상기 제2 테스트 패드부는 게이트선과 2중으로 전기적으로 분리되어 있는 테스트 패드를 포함하고,
    상기 제2 테스트 패드부는,
    상기 테스트 패드에 연결되어 있는 제1 배선;
    상기 제1 배선과 이격되어 마주하는 스테핑부;
    상기 스테핑부와 이격되어 마주하고, 상기 게이트선에 연결되어 있는 제2 배선;
    상기 제1 배선과 상기 스테핑부 위에 배치되고 상기 제1 배선 및 상기 스테핑부와 전기적으로 연결되어 있는 제1 브릿지부; 및
    상기 스테핑부 및 상기 제2 배선 위에 배치되고, 상기 제2 배선 및 상기 스테핑부와 전기적으로 연결되어 있는 제2 브릿지부를 포함하는 표시 장치.
  16. 삭제
  17. 제15 항에 있어서,
    상기 제2 테스트 패드부의 상기 제1 배선은 상기 제2 테스트 패드부의 상기 테스트 패드에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함하는 표시 장치.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 제2 테스트 패드부의 상기 제2 배선은 상기 게이트선에 연결되어 있는 일단 및 전기적 접속을 위해 넓게 형성되어 있는 타단을 포함하는 표시 장치.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 제2 테스트 패드부는,
    상기 제2 테스트 패드부의 상기 제1 배선의 타단, 상기 제2 테스트 패드부의 상기 스테핑부 및 상기 제2 테스트 패드부의 상기 제2 배선의 타단의 위에 배치되어 있는 절연막을 더 포함하는 표시 장치.
  20. 제15 항에 있어서,
    상기 제2 테스트 패드부는 상기 게이트 구동부의 출력단에 인접하여 배치되어 상기 복수의 게이트선 중 어느 하나에 연결되는 표시 장치.
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