KR20210112419A - Metal plate, metal plate production method, and method for producing vapor deposition mask using metal plate - Google Patents

Metal plate, metal plate production method, and method for producing vapor deposition mask using metal plate Download PDF

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Abstract

신장차율이 작은 금속판을 제공하는 것을 목적으로 한다. 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 신장차율이 10×10-5 이하로 되어 있다. 또한, 금속판의 폭 방향의 단부에서의 신장차율이 20×10-5 이하로 되어 있다. 또한, 금속판의 폭 방향의 단부에서의 신장차율이 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 신장차율의 최댓값보다 크게 되어 있다. An object of the present invention is to provide a metal plate having a small elongation difference. The elongation difference ratio in the central portion in the width direction of the metal plate is 10×10 −5 or less. Moreover, the elongation difference ratio at the edge part of the width direction of a metal plate is 20x10 -5 or less. Moreover, the elongation difference ratio in the edge part of the width direction of a metal plate is larger than the maximum value of the elongation difference ratio in the center part of the width direction of a metal plate.

Description

금속판, 금속판의 제조 방법, 및 금속판을 사용해서 증착 마스크를 제조하는 방법 {METAL PLATE, METAL PLATE PRODUCTION METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING VAPOR DEPOSITION MASK USING METAL PLATE}A metal plate, the manufacturing method of a metal plate, and the method of manufacturing a deposition mask using a metal plate {METAL PLATE, METAL PLATE PRODUCTION METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING VAPOR DEPOSITION MASK USING METAL PLATE}

본 발명은 복수의 관통 구멍을 형성해서 증착 마스크를 제조하기 위해 사용되는 금속판에 관한 것이다. 또한 본 발명은 금속판의 제조 방법에 관한 것이다. 또한 본 발명은, 원하는 패턴으로 증착을 행하기 위해 사용되는 증착 마스크를, 금속판을 사용해서 제조하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a metal plate used for manufacturing a deposition mask by forming a plurality of through holes. The present invention also relates to a method for manufacturing a metal plate. Moreover, this invention relates to the method of manufacturing using a metal plate, the vapor deposition mask used in order to vapor-deposit in a desired pattern.

최근 들어, 스마트폰이나 태블릿 PC 등의 운반 가능한 디바이스에서 사용되는 표시 장치에 대하여, 고해상도일 것, 예를 들어 화소 밀도가 300ppi 이상일 것이 요구되고 있다. 또한, 운반 가능한 디바이스에 있어서도, 풀 하이비전에 대응하는 것에의 수요가 높아지고 있으며, 이 경우, 표시 장치의 화소 밀도가 예를 들어 450ppi 이상일 것이 요구된다. In recent years, display devices used in portable devices such as smartphones and tablet PCs are required to have high resolution, for example, a pixel density of 300 ppi or more. Moreover, also in a portable device, the demand for the thing corresponding to full hi-vision is increasing, and in this case, it is calculated|required that the pixel density of a display apparatus is 450 ppi or more, for example.

응답성이 좋은 점이나 소비 전력의 낮음 때문에, 유기 EL 표시 장치가 주목받고 있다. 유기 EL 표시 장치의 화소를 형성하는 방법으로서, 원하는 패턴으로 배열된 관통 구멍을 포함하는 증착 마스크를 사용하여, 원하는 패턴으로 화소를 형성하는 방법이 알려져 있다. 구체적으로는, 우선, 유기 EL 표시 장치용의 기판에 대하여 증착 마스크를 밀착시키고, 이어서 밀착시킨 증착 마스크 및 기판을 모두 증착 장치에 투입하여, 유기 재료 등의 증착을 행한다. 증착 마스크는 일반적으로, 포토리소그래피 기술을 사용한 에칭에 의해 금속판에 관통 구멍을 형성함으로써 제조될 수 있다(예를 들어, 특허문헌 1). 예를 들어, 우선, 금속판 위에 레지스트막을 형성하고, 이어서 레지스트막에 노광 마스크를 밀착시킨 상태에서 레지스트막을 노광해서 레지스트 패턴을 형성하고, 그 후, 레지스트 패턴을 마스크로 해서 금속판을 에칭함으로써 관통 구멍이 형성된다.Because of good responsiveness and low power consumption, organic EL display devices are attracting attention. As a method of forming a pixel of an organic EL display device, a method of forming a pixel in a desired pattern using a deposition mask including through holes arranged in a desired pattern is known. Specifically, first, a vapor deposition mask is brought into close contact with a substrate for an organic EL display device, and then, both the vapor deposition mask and the substrate that are in close contact are put into the vapor deposition apparatus, and vapor deposition of an organic material or the like is performed. A deposition mask can be generally manufactured by forming a through hole in a metal plate by etching using a photolithography technique (for example, patent document 1). For example, first, a resist film is formed on a metal plate, and then the resist film is exposed in a state in which an exposure mask is in close contact with the resist film to form a resist pattern, and then, a through hole is formed by etching the metal plate using the resist pattern as a mask. is formed

(특허문헌 1) 일본 특허 공개 제2004-39319호 공보(Patent Document 1) Japanese Patent Laid-Open No. 2004-39319

증착 마스크를 사용해서 증착 재료를 기판 위에 성막하는 경우, 기판뿐만 아니라 증착 마스크에도 증착 재료가 부착된다. 예를 들어, 증착 재료 중에는, 증착 마스크의 법선 방향에 대하여 크게 경사진 방향을 따라서 기판을 향하는 것도 존재하는데, 그러한 증착 재료는, 기판에 도달하기도 전에 증착 마스크의 관통 구멍의 벽면에 도달해서 부착된다. 이 경우, 기판 중 증착 마스크의 관통 구멍의 벽면의 근방에 위치하는 영역에는 증착 재료가 부착되기 어려워지고, 그 결과, 부착되는 증착 재료의 두께가 다른 부분에 비해 작아져버리거나, 증착 재료가 부착되지 않은 부분이 발생해버리거나 하는 경우를 생각할 수 있다. 즉, 증착 마스크의 관통 구멍의 벽면의 근방에서의 증착이 불안정해져버리는 경우를 생각할 수 있다. 따라서, 유기 EL 표시 장치의 화소를 형성하기 위해서 증착 마스크가 사용되는 경우, 화소의 치수 정밀도나 위치 정밀도가 저하되어버리고, 그 결과, 유기 EL 표시 장치의 발광 효율이 저하되어버리게 된다. When a vapor deposition material is formed into a film on a board|substrate using a vapor deposition mask, a vapor deposition material adheres not only to a board|substrate but also to a vapor deposition mask. For example, some of the vapor deposition materials face the substrate along a direction that is largely inclined with respect to the normal direction of the deposition mask. Such deposition materials reach and adhere to the wall surface of the through hole of the deposition mask even before reaching the substrate. . In this case, it becomes difficult for the deposition material to adhere to the region of the substrate located near the wall surface of the through hole of the deposition mask. It is possible to think of a case in which a part that does not occur occurs. That is, the case where vapor deposition in the vicinity of the wall surface of the through-hole of a vapor deposition mask becomes unstable is conceivable. Therefore, when a vapor deposition mask is used to form the pixel of an organic electroluminescent display, the dimensional accuracy and positional precision of a pixel fall, As a result, the luminous efficiency of an organic electroluminescent display falls.

이와 같은 과제를 해결하기 위해서, 증착 마스크를 제조하기 위해 사용되는 금속판의 두께를 작게 하는 것을 생각할 수 있다. 왜냐하면, 금속판의 두께를 작게 함으로써, 증착 마스크의 관통 구멍의 벽면의 높이를 작게 할 수 있고, 이에 의해, 증착 재료 중 관통 구멍의 벽면에 부착되는 것의 비율을 낮게 할 수 있기 때문이다. 그러나, 두께가 작은 금속판을 얻기 위해서는, 모재를 압연해서 금속판을 제조할 때의 압연율을 크게 할 필요가 있다. 여기서 압연율이란, (모재의 두께-금속판)/(모재의 두께)에 의해 산출되는 값이다. 압연 후에 어닐 등의 열처리를 실시한 경우에도, 통상 압연율이 클수록, 압연에 기초하는 변형의 불균일함 정도가 커진다. 예를 들어, 폭 방향(모재의 반송 방향에 직교하는 방향)의 위치에 따라서 금속판의 신장률이 상이하며, 그 결과, 금속판에 물결 형상이 나타나는 것으로 알려져 있다. 구체적으로는, 귀 발생이라고 불리는, 폭 방향의 단부에서의 물결 형상이나, 중앙 신장이라고 불리는, 폭 방향의 중앙부에서의 물결 형상을 들 수 있다. 이러한 물결 형상이 나타나면, 금속판 위의 레지스트막에 대하여 노광 마스크를 충분히 밀착시킬 수 없으며, 그 결과, 금속판에 형성되는 관통 구멍의 위치 정밀도나 치수 정밀도가 저하되어버리는 경우를 생각할 수 있다. 관통 구멍의 위치 정밀도나 치수 정밀도가 저하되면, 증착 마스크를 사용함으로써 얻어지는 유기 EL 표시 장치의 화소의 치수 정밀도나 위치 정밀도가 저하되어버린다. In order to solve such a subject, it is possible to make the thickness of the metal plate used in order to manufacture a vapor deposition mask small. This is because, by reducing the thickness of the metal plate, the height of the wall surface of the through hole of the vapor deposition mask can be reduced, and thereby, the proportion of the vapor deposition material adhering to the wall surface of the through hole can be reduced. However, in order to obtain a metal plate with small thickness, it is necessary to increase the rolling ratio at the time of rolling a base material and manufacturing a metal plate. Here, a rolling rate is a value computed by (thickness of a base material - metal plate)/(thickness of a base material). Even when heat treatment, such as annealing, is performed after rolling, the degree of nonuniformity of the deformation|transformation based on rolling becomes large, so that a rolling rate is normally large. For example, it is known that the elongation rate of a metal plate differs according to the position in the width direction (direction orthogonal to the conveyance direction of a base material), As a result, a wave shape appears in a metal plate. Specifically, a wave shape at the end in the width direction called ear generation and a wave shape at the center part in the width direction called central elongation are mentioned. When such a wave shape appears, the exposure mask cannot be sufficiently brought into close contact with the resist film on the metal plate, and as a result, the positional accuracy and dimensional accuracy of the through hole formed in the metal plate may be deteriorated. When the positional accuracy and dimensional accuracy of a through hole fall, the dimensional accuracy and positional accuracy of the pixel of the organic electroluminescent display obtained by using a vapor deposition mask will fall.

또한, 증착 마스크의 제조 비용을 삭감하기 위해서, 우선, 하나의 유기 EL 표시 장치에 대응하는 복수의 관통 구멍을 포함하는 유효 영역을, 금속판의 전역에 걸쳐 복수 형성하고, 그 후, 금속판의 길이 방향을 따라서 금속판을 복수로 절단하고, 이에 의해, 가늘고 긴 형상의 복수의 증착 마스크를 한번에 제작하는 것이 알려져 있다. 그러나, 폭 방향의 위치에 따라서 금속판의 신장률이 상이한 경우, 절단 후에 얻어지는 복수의 가늘고 긴 형상의 증착 마스크의 길이가 상이하게 되어버린다. 이 경우, 증착 마스크의 유효 영역의 각 관통 구멍의 피치가, 증착 마스크마다 상이하게 되어버리고, 그 결과, 증착 마스크를 사용함으로써 얻어지는 유기 EL 표시 장치의 화소의 치수나 위치가 개체에 따라 변동되는 경우도 생각할 수 있다.In addition, in order to reduce the manufacturing cost of the deposition mask, first, a plurality of effective regions including a plurality of through holes corresponding to one organic EL display device are formed over the entire metal plate, and then in the longitudinal direction of the metal plate. It is known to cut a plurality of metal plates along the slab and thereby produce a plurality of deposition masks having an elongated shape at once. However, when the elongation rate of a metal plate differs according to the position of the width direction, the length of the some elongate vapor deposition mask obtained after cutting|disconnection will differ. In this case, the pitch of each through-hole in the effective area of the deposition mask is different for each deposition mask, and as a result, the dimensions and positions of pixels of the organic EL display device obtained by using the deposition mask fluctuate depending on the individual. can also think

본 발명은 이와 같은 과제를 효과적으로 해결할 수 있는 금속판, 금속판의 제조 방법 및 증착 마스크의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a metal plate, a method for manufacturing a metal plate, and a method for manufacturing a deposition mask, which can effectively solve such problems.

제1 본 발명은 복수의 관통 구멍을 형성해서 증착 마스크를 제조하기 위해 사용되는 금속판의 제조 방법이며, 상기 증착 마스크의 상기 관통 구멍은, 상기 금속판을 에칭함으로써 형성되는 것이며, 상기 금속판의 제조 방법은, 모재를 압연해서 상기 금속판을 얻는 압연 공정과, 상기 금속판의 폭 방향에서의 양단을 소정 범위에 걸쳐 잘라내는 절단 공정을 구비하고, 상기 절단 공정 후의 상기 금속판은, 그 길이 방향에서의 길이가 그 폭 방향의 위치에 따라서 상이한 것에 기인하는 물결 형상을 적어도 부분적으로 갖고 있으며, 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 상기 길이의 최솟값을 기준 길이라 칭하고, 상기 기준 길이에 대한, 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 폭 방향의 각 위치에서의 상기 금속판의 상기 길이의 차의 비율을 신장차율이라 칭하는 경우, 이하의 조건 (1) 내지 (3)이 만족되어 있고,A first aspect of the present invention is a method for manufacturing a metal plate used for manufacturing a deposition mask by forming a plurality of through holes, wherein the through holes of the deposition mask are formed by etching the metal plate, the method for manufacturing the metal plate comprising: a rolling step of rolling a base material to obtain the metal plate, and a cutting step of cutting both ends of the metal plate in a width direction over a predetermined range, wherein the metal plate after the cutting step has a length in the longitudinal direction thereof It has at least partly a wavy shape resulting from being different depending on the position in the width direction, and the minimum value of the length of the metal plate after the cutting step is referred to as a reference length, and the width of the metal plate after the cutting step with respect to the reference length When the ratio of the difference in the length of the metal plate at each position in the direction is referred to as the elongation difference ratio, the following conditions (1) to (3) are satisfied,

(1) 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 상기 신장차율이 10×10-5 이하일 것; (1) the elongation difference ratio at the central portion in the width direction of the metal plate after the cutting step is 10×10 -5 or less;

(2) 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 폭 방향의 단부에서의 상기 신장차율이 20×10-5 이하일 것; 및 (2) the elongation difference ratio at the end of the metal plate in the width direction after the cutting step is 20×10 -5 or less; and

(3) 상기 단부에서의 상기 신장차율이 상기 중앙 부분에서의 상기 신장차율의 최댓값보다 클 것; (3) the elongation difference ratio at the end portion is greater than the maximum value of the elongation difference ratio at the central portion;

상기 중앙 부분은, 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 폭 방향의 중앙부를 포함하는, 상기 금속판의 폭의 40%를 차지하는 부분인 금속판의 제조 방법이다.The said central part is a manufacturing method of the metal plate which is a part which occupies 40% of the width of the said metal plate including the central part of the width direction of the said metal plate after the said cutting process.

본 발명에 의한 금속판의 제조 방법은, 상기 압연 공정에 의해 얻어진 상기 금속판을 어닐하여, 상기 금속판의 내부 응력을 제거하는 어닐 공정을 더 구비하고 있어도 된다. The manufacturing method of the metal plate by this invention may further be equipped with the annealing process of annealing the said metal plate obtained by the said rolling process, and removing the internal stress of the said metal plate.

본 발명에 의한 금속판의 제조 방법에 있어서, 상기 어닐 공정은, 상기 금속판을 길이 방향으로 인장하면서 실시되어도 된다. In the manufacturing method of the metal plate by this invention, the said annealing process may be implemented, pulling the said metal plate in a longitudinal direction.

본 발명에 의한 금속판의 제조 방법에 있어서, 상기 어닐 공정은, 상기 금속판이 코어에 권취된 상태에서 실시되어도 된다. In the manufacturing method of the metal plate by this invention, the said annealing process may be performed in the state in which the said metal plate was wound around the core.

본 발명에 의한 금속판의 제조 방법에 있어서, 바람직하게는 상기 모재의 열팽창 계수가, 상기 금속판으로부터 제조된 증착 마스크를 개재해서 증착 재료가 성막되는 기판의 열팽창 계수와 동등하게 되어 있다. In the manufacturing method of the metal plate by this invention, Preferably, the thermal expansion coefficient of the said base material becomes equal to the thermal expansion coefficient of the board|substrate on which the vapor deposition material is formed into a film via the vapor deposition mask manufactured from the said metal plate.

본 발명에 의한 금속판의 제조 방법에 있어서, 상기 모재가 인바(invar)재로 구성되어 있어도 된다. In the manufacturing method of the metal plate by this invention, the said base material may be comprised with the invar material.

제2 본 발명은, 복수의 관통 구멍을 형성해서 증착 마스크를 제조하기 위해 사용되는 금속판이며, 상기 금속판은, 그 길이 방향에서의 길이가 그 폭 방향의 위치에 따라 상이한 것에 기인하는 물결 형상을 적어도 부분적으로 갖고 있으며, 상기 금속판의 상기 길이의 최솟값을 기준 길이라 칭하고, 상기 기준 길이에 대한, 상기 금속판의 폭 방향의 각 위치에서의 상기 금속판의 상기 길이의 차의 비율을 신장차율이라 칭하는 경우, 이하의 조건 (1) 내지 (3)이 만족되어 있고, A second aspect of the present invention is a metal plate used for manufacturing a vapor deposition mask by forming a plurality of through holes, wherein the metal plate has at least a wavy shape resulting from the fact that the length in the longitudinal direction differs depending on the position in the width direction. The minimum value of the length of the metal plate is called a reference length, and the ratio of the difference between the length of the metal plate at each position in the width direction of the metal plate to the reference length is called the elongation difference ratio, The following conditions (1) to (3) are satisfied,

(1) 상기 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 상기 신장차율이 10×10-5 이하일 것; (1) the elongation difference ratio at the central portion in the width direction of the metal plate is 10×10 -5 or less;

(2) 상기 금속판의 폭 방향의 단부에서의 상기 신장차율이 20×10-5 이하일 것; 및 (2) the elongation difference ratio at the end of the metal plate in the width direction is 20×10 -5 or less; and

(3) 상기 단부에서의 상기 신장차율이 상기 중앙 부분에서의 상기 신장차율의 최댓값보다 클 것; (3) the elongation difference ratio at the end portion is greater than the maximum value of the elongation difference ratio at the central portion;

상기 중앙 부분은, 상기 금속판의 폭 방향의 중앙부를 포함하는, 상기 금속판의 폭의 40%를 차지하는 부분인 금속판이다. The said central part is a metal plate which is a part which occupies 40% of the width of the said metal plate, including the central part of the width direction of the said metal plate.

본 발명에 의한 금속판의 열팽창 계수는, 바람직하게는 상기 금속판으로부터 제조된 증착 마스크를 개재해서 증착 재료가 성막되는 기판의 열팽창 계수와 동등한 값으로 되어 있다. The coefficient of thermal expansion of the metal plate according to the present invention is preferably a value equal to the coefficient of thermal expansion of the substrate on which the deposition material is formed through a deposition mask manufactured from the metal plate.

본 발명에 의한 금속판은, 인바재로 구성되어 있어도 된다. The metal plate by this invention may be comprised from the invar material.

제3 본 발명은 복수의 관통 구멍이 형성된 유효 영역과, 상기 유효 영역의 주위에 위치하는 주위 영역을 구비하는 증착 마스크를 제조하는 방법이며, 금속판이며, 그 길이 방향에서의 길이가 그 폭 방향의 위치에 따라서 상이한 것에 기인하는 물결 형상을 적어도 부분적으로 갖는 금속판을 준비하는 공정과, 상기 금속판 위에 레지스트 패턴을 형성하는 레지스트 패턴 형성 공정과, 상기 레지스트 패턴을 마스크로 해서 상기 금속판을 에칭하여, 상기 유효 영역을 이루게 되는 상기 금속판의 영역 내에, 상기 관통 구멍을 구획 형성하게 되는 오목부를 형성하는 에칭 공정을 구비하고, 상기 금속판의 상기 길이의 최솟값을 기준 길이라 칭하고, 상기 기준 길이에 대한, 상기 금속판의 폭 방향의 각 위치에서의 상기 금속판의 상기 길이의 차의 비율을 신장차율이라 칭하는 경우, 이하의 조건 (1) 내지 (3)이 만족되어 있고,A third aspect of the present invention is a method for manufacturing a deposition mask comprising an effective region in which a plurality of through holes are formed and a peripheral region positioned around the effective region, the metal plate having a length in its longitudinal direction equal to its width in its width direction. A step of preparing a metal plate at least partially having a wavy shape due to a different position depending on a position; a resist pattern forming step of forming a resist pattern on the metal plate; an etching step of forming a concave portion for partitioning the through hole in the region of the metal plate constituting the region, the minimum value of the length of the metal plate is referred to as a reference length, When the ratio of the difference in the length of the metal plate at each position in the width direction is referred to as the elongation difference ratio, the following conditions (1) to (3) are satisfied,

(1) 상기 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 상기 신장차율이 10×10-5 이하일 것; (1) the elongation difference ratio at the central portion in the width direction of the metal plate is 10×10 -5 or less;

(2) 상기 금속판의 폭 방향의 단부에서의 상기 신장차율이 20×10-5 이하일 것; 및 (2) the elongation difference ratio at the end of the metal plate in the width direction is 20×10 -5 or less; and

(3) 상기 단부에서의 상기 신장차율이 상기 중앙 부분에서의 상기 신장차율의 최댓값보다 클 것; (3) the elongation difference ratio at the end portion is greater than the maximum value of the elongation difference ratio at the central portion;

상기 중앙 부분은, 상기 금속판의 폭 방향의 중앙부를 포함하는, 상기 금속판의 폭의 40%를 차지하는 부분인 증착 마스크의 제조 방법이다. The said central part is a manufacturing method of the vapor deposition mask which is a part which occupies 40% of the width of the said metal plate, including the central part of the width direction of the said metal plate.

본 발명에 의한 증착 마스크의 제조 방법에 있어서, 상기 레지스트 패턴 형성 공정은, 상기 금속판 위에 레지스트막을 형성하는 공정과, 상기 레지스트막에 노광 마스크를 진공 밀착시키는 공정과, 상기 노광 마스크를 개재해서 상기 레지스트막을 소정의 패턴으로 노광하는 공정을 갖고 있어도 된다. In the method for manufacturing a deposition mask according to the present invention, the resist pattern forming step includes: forming a resist film on the metal plate; You may have a process of exposing a film|membrane in a predetermined pattern.

본 발명에 의한 증착 마스크의 제조 방법에 있어서, 바람직하게는 상기 금속판의 열팽창 계수가, 상기 금속판으로부터 제조된 증착 마스크를 개재해서 증착 재료가 성막되는 기판의 열팽창 계수와 동등한 값으로 되어 있다. In the method for manufacturing a deposition mask according to the present invention, preferably, the coefficient of thermal expansion of the metal plate is a value equal to the coefficient of thermal expansion of the substrate on which the deposition material is formed through the deposition mask manufactured from the metal plate.

본 발명에 의한 증착 마스크의 제조 방법에 있어서, 상기 금속판이 인바재로 구성되어 있어도 된다. In the manufacturing method of the vapor deposition mask by this invention, the said metal plate may be comprised with the invar material.

본 발명에 따르면, 물결 형상의 정도가 작고, 또한 유효 영역의 각 관통 구멍의 피치의 변동도 작은 증착 마스크를 얻을 수 있다. 이로 인해, 기판 위에 부착되는 증착 재료의 치수 정밀도나 위치 정밀도를 높일 수 있다.According to the present invention, it is possible to obtain a vapor deposition mask having a small degree of wavy shape and a small variation in pitch of each through hole in the effective area. For this reason, the dimensional accuracy and positional precision of the vapor deposition material adhering on a board|substrate can be raised.

도 1은 본 발명의 일 실시 형태를 설명하기 위한 도면이며, 증착 마스크를 포함하는 증착 마스크 장치의 일례를 나타내는 개략 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시하는 증착 마스크 장치를 사용해서 증착하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 도 1에 도시된 증착 마스크를 나타내는 부분 평면도이다.
도 4는 도 3의 IV-IV선을 따른 단면도이다.
도 5는 도 3의 V-V선을 따른 단면도이다.
도 6은 도 3의 VI-VI선을 따른 단면도이다.
도 7의 (a)는 모재를 압연하여, 원하는 두께를 갖는 금속판을 얻는 공정을 도시하는 도면이며, 도 7의 (b)는 압연에 의해 얻어진 금속판을 어닐하는 공정을 도시하는 도면이다.
도 8은 도 7의 (a), (b)에 나타내는 공정에 의해 얻어진 금속판을 도시하는 사시도이다.
도 9의 (a), (b), (c), (d)는 각각 도 8의 a-a선, b-b선, c-c선 및 d-d선을 따른 단면도이다.
도 10은 금속판의 폭 방향의 각 위치에서의 신장차율을 도시하는 도면이다.
도 11은 도 1에 도시하는 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 전체적으로 설명하기 위한 모식도이다.
도 12는 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 금속판 위에 레지스트막을 형성하는 공정을 도시하는 단면도이다.
도 13은 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 레지스트막에 노광 마스크를 밀착시키는 공정을 도시하는 단면도이다.
도 14는 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 법선 방향을 따른 단면에 있어서 긴 금속판을 도시하는 도면이다.
도 15는 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 법선 방향을 따른 단면에 있어서 긴 금속판을 도시하는 도면이다.
도 16은 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 법선 방향을 따른 단면에 있어서 긴 금속판을 도시하는 도면이다.
도 17은 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 법선 방향을 따른 단면에 있어서 긴 금속판을 도시하는 도면이다.
도 18은 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 법선 방향을 따른 단면에 있어서 긴 금속판을 도시하는 도면이다.
도 19는 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 법선 방향을 따른 단면에 있어서 긴 금속판을 도시하는 도면이다.
도 20은 증착 마스크의 제조 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이며, 법선 방향을 따른 단면에 있어서 긴 금속판을 도시하는 도면이다.
도 21은 정반에 적재된 제1 샘플을 도시하는 평면도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a figure for demonstrating one Embodiment of this invention, and is a schematic plan view which shows an example of the vapor deposition mask apparatus containing a vapor deposition mask.
FIG. 2 is a diagram for explaining a method of vapor deposition using the deposition mask apparatus shown in FIG. 1 .
FIG. 3 is a partial plan view illustrating the deposition mask shown in FIG. 1 .
FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. 3 .
FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line VV of FIG. 3 .
FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line VI-VI of FIG. 3 .
Fig. 7(a) is a view showing a process of obtaining a metal plate having a desired thickness by rolling a base material, and Fig. 7(b) is a diagram showing a process of annealing the metal plate obtained by rolling.
Fig. 8 is a perspective view showing a metal plate obtained by the steps shown in Figs. 7A and 7B.
9(a), (b), (c), and (d) are cross-sectional views taken along lines aa, bb, cc, and dd of FIG. 8, respectively.
It is a figure which shows the elongation difference rate at each position in the width direction of a metal plate.
It is a schematic diagram for demonstrating an example of the manufacturing method of the vapor deposition mask shown in FIG. 1 as a whole.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is sectional drawing which shows the process of forming a resist film on a metal plate.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is sectional drawing which shows the process of making an exposure mask closely_contact|adherent to a resist film.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is a figure which shows an elongate metal plate in the cross section along the normal line direction.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is a figure which shows an elongate metal plate in the cross section along the normal line direction.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is a figure which shows the elongate metal plate in the cross section along the normal line direction.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is a figure which shows the elongate metal plate in the cross section along the normal line direction.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is a figure which shows the elongate metal plate in the cross section along the normal line direction.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is a figure which shows the elongate metal plate in the cross section along the normal line direction.
It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of a vapor deposition mask, and is a figure which shows an elongate metal plate in the cross section along the normal line direction.
Fig. 21 is a plan view showing the first sample loaded on the surface plate.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시 형태에 대해서 설명한다. 또한, 본건 명세서에 첨부하는 도면에서는, 도시와 이해의 용이함의 편의상, 적절히 축척 및 종횡의 치수비 등을, 실물의 그것으로부터 변경하여 과장하였다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, one Embodiment of this invention is described with reference to drawings. In addition, in the drawings attached to this specification, for convenience of illustration and comprehension, the scale and the aspect ratio of the aspect ratio and the like are appropriately exaggerated by changing them from those of the real thing.

도 1 내지 도 20은 본 발명에 의한 일 실시 형태를 설명하기 위한 도면이다. 이하의 실시 형태 및 그 변형예에서는, 유기 EL 표시 장치를 제조할 때 유기 재료를 원하는 패턴으로 기판 위에 패터닝하기 위해 사용되는 증착 마스크의 제조 방법을 예로 들어 설명한다. 단, 이러한 적용에 한정되지 않고, 다양한 용도에 사용되는 증착 마스크의 제조 방법에 대하여 본 발명을 적용할 수 있다. 1 to 20 are diagrams for explaining an embodiment according to the present invention. In the following embodiment and its modifications, a manufacturing method of a vapor deposition mask used for patterning an organic material onto a substrate in a desired pattern when manufacturing an organic EL display device will be described as an example. However, the present invention is not limited to this application, and the present invention can be applied to a method for manufacturing a deposition mask used for various purposes.

또한, 본 명세서에 있어서, 「판」, 「시트」, 「필름」의 용어는, 호칭의 차이만을 기초로 하여 서로 구별되는 것은 아니다. 예를 들어, 「판」은, 시트나 필름이라고 불릴 수 있는 부재도 포함하는 개념이며, 따라서, 예를 들어 「금속판」은, 「금속 시트」나 「금속 필름」이라고 불리는 부재와 호칭의 차이만으로 구별될 수 없다. In addition, in this specification, the terms "plate", "sheet", and "film" are not distinguished from each other based only on the difference in names. For example, "plate" is a concept that also includes members that can be called sheets and films, and therefore, for example, "metal plate" is only a difference in name from a member called "metal sheet" or "metal film" cannot be distinguished

또한, 「판면(시트면, 필름면)」이란, 대상이 되는 판상(시트 형상, 필름 형상)의 부재를 전체적이면서 또한 대국적으로 본 경우에 있어서 대상이 되는 판상 부재(시트 형상 부재, 필름 형상 부재)의 평면 방향과 일치하는 면을 가리킨다. 또한, 판상(시트 형상, 필름 형상)의 부재에 대하여 사용하는 법선 방향이란, 당해 부재의 판면(시트면, 필름면)에 대한 법선 방향을 가리킨다. In addition, "plate surface (sheet surface, film surface)" refers to a target plate-shaped member (sheet-shaped member, film-shaped member) when the target plate-shaped member (sheet-shaped, film-shaped) is viewed as a whole and on a large scale. ) that coincides with the plane direction. In addition, the normal line direction used with respect to a plate-shaped (sheet shape, film shape) member points out the normal line direction with respect to the plate surface (sheet surface, film surface) of the said member.

또한, 본 명세서에서 사용하는, 형상이나 기하학적 조건 및 물리적 특성 및 그것들의 정도를 특정하는, 예를 들어 「평행」, 「직교」, 「동일」, 「동등」 등의 용어나 길이나 각도 및 물리적 특성의 값 등에 대해서는, 엄밀한 의미에 묶이지 않고, 마찬가지의 기능을 기대할 수 있는 정도의 범위를 포함해서 해석하기로 한다. In addition, as used herein, terms such as "parallel", "orthogonal", "same", "equivalent", length, angle and physical Regarding the values of characteristics, etc., it is decided not to be bound by a strict meaning, but to include the range of the extent to which the same function can be expected.

(증착 마스크 장치) (Deposition mask device)

먼저, 제조 방법 대상이 되는 증착 마스크를 포함하는 증착 마스크 장치의 일례에 대해서, 주로 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명한다. 여기서, 도 1은 증착 마스크를 포함하는 증착 마스크 장치의 일례를 나타내는 평면도이며, 도 2는 도 1에 도시하는 증착 마스크 장치의 사용 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 3은 증착 마스크를 제1 면 측에서 도시하는 평면도이며, 도 4 내지 도 6은 도 3의 각 위치에서의 단면도이다. First, an example of a deposition mask apparatus including a deposition mask used as a manufacturing method object will be mainly described with reference to FIGS. 1 to 6 . Here, FIG. 1 is a plan view showing an example of a deposition mask device including a deposition mask, and FIG. 2 is a diagram for explaining a method of using the deposition mask device shown in FIG. 1 . 3 is a plan view showing the deposition mask from the first surface side, and FIGS. 4 to 6 are cross-sectional views at each position in FIG. 3 .

도 1 및 도 2에 도시된 증착 마스크 장치(10)는, 대략 직사각 형상의 금속판(21)을 포함하는 복수의 증착 마스크(20)와, 복수의 증착 마스크(20)의 주연부에 설치된 프레임(15)을 구비하고 있다. 각 증착 마스크(20)에는, 서로 대향하는 제1 면(21a) 및 제2 면(21b)을 갖는 금속판(21)을 적어도 제1 면(21a)으로부터 에칭함으로써 형성된 관통 구멍(25)이, 다수 형성되어 있다. 이 증착 마스크 장치(10)는, 도 2에 도시한 바와 같이, 증착 마스크(20)가 증착 대상물인 기판, 예를 들어 유리 기판(92)의 하면에 대면하도록 해서 증착 장치(90) 내에 지지되어, 기판에의 증착 재료의 증착에 사용된다. The deposition mask apparatus 10 shown in FIGS. 1 and 2 includes a plurality of deposition masks 20 including a substantially rectangular metal plate 21 , and a frame 15 provided at the periphery of the plurality of deposition masks 20 . ) is provided. Each deposition mask 20 has a plurality of through holes 25 formed by etching a metal plate 21 having a first surface 21a and a second surface 21b opposite to each other from at least the first surface 21a. is formed As shown in Fig. 2, the deposition mask apparatus 10 is supported in the deposition apparatus 90 such that the deposition mask 20 faces the lower surface of the substrate to be deposited, for example, a glass substrate 92. , used for deposition of deposition materials on substrates.

증착 장치(90) 내에서는, 도시하지 않은 자석으로부터의 자력에 의해, 증착 마스크(20)와 유리 기판(92)이 밀착되게 된다. 증착 장치(90) 내에는, 증착 마스크 장치(10)의 하방에, 증착 재료(일례로서, 유기 발광 재료)(98)를 수용하는 도가니(94)와, 도가니(94)를 가열하는 히터(96)가 배치되어 있다. 도가니(94) 내의 증착 재료(98)는, 히터(96)로부터의 가열에 의해, 기화 또는 승화해서 유리 기판(92)의 표면에 부착되게 된다. 상술한 바와 같이, 증착 마스크(20)에는 다수의 관통 구멍(25)이 형성되어 있고, 증착 재료(98)는 이 관통 구멍(25)을 통해서 유리 기판(92)에 부착된다. 그 결과, 증착 마스크(20)의 관통 구멍(25)의 위치에 대응한 원하는 패턴으로, 증착 재료(98)가 유리 기판(92)의 표면에 성막된다. In the vapor deposition apparatus 90, the vapor deposition mask 20 and the glass substrate 92 come into close_contact with the magnetic force from a magnet (not shown). In the vapor deposition apparatus 90 , below the vapor deposition mask apparatus 10 , a crucible 94 accommodating a vapor deposition material (eg, an organic light emitting material) 98 , and a heater 96 heating the crucible 94 . ) is placed. The vapor deposition material 98 in the crucible 94 is vaporized or sublimed by heating from the heater 96 and adheres to the surface of the glass substrate 92 . As described above, a plurality of through holes 25 are formed in the deposition mask 20 , and the deposition material 98 is attached to the glass substrate 92 through the through holes 25 . As a result, the deposition material 98 is formed on the surface of the glass substrate 92 in a desired pattern corresponding to the position of the through hole 25 of the deposition mask 20 .

상술한 바와 같이, 본 실시 형태에서는, 관통 구멍(25)이 각 유효 영역(22)에서 소정의 패턴으로 배치되어 있다. 또한, 컬러 표시를 행하고 싶은 경우에는, 관통 구멍(25)의 배열 방향(상술한 일 방향)을 따라 증착 마스크(20)(증착 마스크 장치(10))와 유리 기판(92)을 조금씩 상대 이동시켜서, 적색용의 유기 발광 재료, 녹색용의 유기 발광 재료 및 청색용의 유기 발광 재료를 순서대로 증착시켜 나가도 된다. As described above, in the present embodiment, the through holes 25 are arranged in a predetermined pattern in each effective area 22 . In addition, when color display is desired, the deposition mask 20 (evaporation mask apparatus 10) and the glass substrate 92 are relatively moved little by little along the arrangement direction of the through-holes 25 (one direction described above). , an organic light emitting material for red, an organic light emitting material for green, and an organic light emitting material for blue may be deposited in order.

또한, 증착 마스크 장치(10)의 프레임(15)은, 직사각 형상의 증착 마스크(20)의 주연부에 설치되어 있다. 프레임(15)은, 증착 마스크(20)가 휘어버리는 일이 없도록 증착 마스크를 붙인 상태로 유지한다. 증착 마스크(20)와 프레임(15)은, 예를 들어 스폿 용접에 의해 서로에 대하여 고정되어 있다. In addition, the frame 15 of the vapor deposition mask apparatus 10 is provided in the periphery of the rectangular vapor deposition mask 20. As shown in FIG. The frame 15 holds the deposition mask in a state in which the deposition mask 20 is not warped. The deposition mask 20 and the frame 15 are fixed to each other by, for example, spot welding.

증착 처리는, 고온 분위기가 되는 증착 장치(90)의 내부에서 실시된다. 따라서, 증착 처리하는 동안에, 증착 장치(90)의 내부에 유지되는 증착 마스크(20), 프레임(15) 및 기판(92)도 가열된다. 이때, 증착 마스크, 프레임(15) 및 기판(92)은, 각각의 열팽창 계수에 기초한 치수 변화의 거동을 나타내게 된다. 이 경우, 증착 마스크(20)나 프레임(15)과 기판(92)의 열팽창 계수가 크게 상이하면, 그것들의 치수 변화의 차이에 기인한 위치 어긋남이 발생하고, 그 결과, 기판(92) 위에 부착되는 증착 재료의 치수 정밀도나 위치 정밀도가 저하되어버린다. 이와 같은 과제를 해결하기 위해서, 증착 마스크(20) 및 프레임(15)의 열팽창 계수가, 기판(92)의 열팽창 계수와 동등한 값인 것이 바람직하다. 예를 들어, 기판(92)으로서 유리 기판(92)이 사용되는 경우, 증착 마스크(20) 및 프레임(15)의 재료로서, 철에 36%의 니켈을 첨가한 합금인 인바재를 사용할 수 있다. The vapor deposition process is performed inside the vapor deposition apparatus 90 used as a high-temperature atmosphere. Therefore, during the deposition process, the deposition mask 20, the frame 15 and the substrate 92 held inside the deposition apparatus 90 are also heated. At this time, the deposition mask, the frame 15 and the substrate 92 exhibit a dimensional change behavior based on their respective coefficients of thermal expansion. In this case, when the thermal expansion coefficients of the deposition mask 20 or the frame 15 and the substrate 92 are significantly different, a positional shift due to the difference in their dimensional changes occurs, and as a result, adhesion on the substrate 92 occurs. The dimensional precision and positional precision of the vapor deposition material used will fall. In order to solve such a subject, it is preferable that the thermal expansion coefficient of the vapor deposition mask 20 and the flame|frame 15 is a value equivalent to the thermal expansion coefficient of the board|substrate 92. As shown in FIG. For example, when a glass substrate 92 is used as the substrate 92 , an invar material which is an alloy obtained by adding 36% nickel to iron can be used as the material for the deposition mask 20 and the frame 15 . .

(증착 마스크) (Deposition Mask)

*이어서, 증착 마스크(20)에 대해서 상세하게 설명한다. 도 1에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서, 증착 마스크(20)는, 금속판(21)을 포함하고, 평면에서 보아 대략 사각형 형상, 또한 정확하게는 평면에서 보아 대략 직사각 형상의 윤곽을 갖고 있다. 증착 마스크(20)의 금속판(21)은, 규칙적인 배열로 관통 구멍(25)이 형성된 유효 영역(22)과, 유효 영역(22)을 둘러싸는 주위 영역(23)을 포함하고 있다. 주위 영역(23)은, 유효 영역(22)을 지지하기 위한 영역이며, 기판에 증착되는 것이 의도된 증착 재료가 통과하는 영역은 아니다. 예를 들어, 유기 EL 표시 장치용의 유기 발광 재료의 증착에 사용되는 증착 마스크(20)에 있어서는, 유효 영역(22)은, 유기 발광 재료가 증착되어 화소를 형성하게 되는 기판(유리 기판(92)) 위의 구역, 즉, 제작된 유기 EL 표시 장치용 기판의 표시면을 이루게 되는 기판 위의 구역에 대면하는, 증착 마스크(20) 내의 영역이다. 단, 다양한 목적으로, 주위 영역(23)에 관통 구멍이나 오목부가 형성되어 있어도 된다. 도 1에 도시된 예에서, 각 유효 영역(22)은, 평면에서 보아 대략 사각형 형상, 또한 정확하게는 평면에서 보아 대략 직사각 형상의 윤곽을 갖고 있다. * Next, the deposition mask 20 will be described in detail. As shown in FIG. 1 , in this embodiment, the deposition mask 20 includes a metal plate 21 and has a substantially rectangular shape in plan view, and more precisely, a substantially rectangular shape in plan view. . The metal plate 21 of the deposition mask 20 includes an effective region 22 in which through holes 25 are formed in a regular arrangement, and a peripheral region 23 surrounding the effective region 22 . The peripheral region 23 is a region for supporting the effective region 22 and is not a region through which a deposition material intended to be deposited on the substrate passes. For example, in the vapor deposition mask 20 used for vapor deposition of an organic light emitting material for an organic EL display device, the effective region 22 is a substrate (a glass substrate 92 ) on which an organic light emitting material is deposited to form a pixel. )) above, that is, a region within the deposition mask 20 facing the region above the substrate which will constitute the display surface of the fabricated substrate for an organic EL display device. However, for various purposes, a through hole or a recess may be formed in the peripheral region 23 . In the example shown in Fig. 1, each effective area 22 has a substantially rectangular shape in plan view, and more precisely, a substantially rectangular shape in plan view.

도시된 예에서, 증착 마스크(20)의 복수의 유효 영역(22)은, 증착 마스크(20)의 길이 방향과 평행한 일 방향을 따라서 소정의 간격을 두고 일렬로 배열되어 있다. 도시된 예에서는, 하나의 유효 영역(22)이 하나의 유기 EL 표시 장치에 대응하도록 되어 있다. 즉, 도 1에 도시된 증착 마스크 장치(10)(증착 마스크(20))에 의하면, 다면식 증착이 가능하게 되어 있다. In the illustrated example, the plurality of effective regions 22 of the deposition mask 20 are arranged in a line at a predetermined interval along one direction parallel to the longitudinal direction of the deposition mask 20 . In the illustrated example, one effective area 22 is adapted to correspond to one organic EL display device. That is, according to the vapor deposition mask apparatus 10 (evaporation mask 20) shown in FIG. 1, multi-sided vapor deposition is possible.

도 3에 도시한 바와 같이, 도시된 예에서, 각 유효 영역(22)에 형성된 복수의 관통 구멍(25)은, 당해 유효 영역(22)에 있어서, 서로 직교하는 두 방향을 따라서 각각 소정의 피치로 배열되어 있다. 이 금속판(21)에 형성된 관통 구멍(25)의 일례에 대해서, 도 3 내지 도 6을 주로 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. As shown in FIG. 3 , in the illustrated example, the plurality of through holes 25 formed in each effective area 22 have a predetermined pitch along two directions orthogonal to each other in the effective area 22 , respectively. are arranged as An example of the through hole 25 formed in the metal plate 21 will be described in more detail with reference mainly to FIGS. 3 to 6 .

도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 복수의 관통 구멍(25)은, 증착 마스크(20)의 법선 방향을 따른 한쪽 측이 되는 제1 면(20a)과, 증착 마스크(20)의 법선 방향을 따른 다른 쪽 측이 되는 제2 면(20b)의 사이를 뻗어나가, 증착 마스크(20)를 관통하고 있다. 도시된 예에서는, 후에 상세하게 설명하는 바와 같이, 증착 마스크의 법선 방향에서의 한쪽 측이 되는 금속판(21)의 제1 면(21a) 측으로부터 금속판(21)에 제1 오목부(30)가 에칭에 의해 형성되고, 금속판(21)의 법선 방향에서의 다른 쪽 측이 되는 제2 면(21b) 측으로부터 금속판(21)에 제2 오목부(35)가 형성되고, 이 제1 오목부(30) 및 제2 오목부(35)에 의해 관통 구멍(25)이 형성되어 있다. As shown in FIGS. 4 to 6 , the plurality of through holes 25 have a first surface 20a on one side along the normal direction of the deposition mask 20 , and the normal direction of the deposition mask 20 . It extends between the second surfaces 20b on the other side along , and penetrates through the deposition mask 20 . In the illustrated example, the first concave portion 30 is formed in the metal plate 21 from the side of the first surface 21a of the metal plate 21 serving as one side in the normal direction of the deposition mask, as will be described in detail later. A second concave portion 35 is formed in the metal plate 21 from the side of the second surface 21b formed by etching, which is the other side in the normal direction of the metal plate 21, and this first concave portion ( 30) and the second recessed portion 35, a through hole 25 is formed.

도 3 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 증착 마스크(20)의 제1 면(20a) 측으로부터 제2 면(20b) 측을 향해, 증착 마스크(20)의 법선 방향을 따른 각 위치에서의 증착 마스크(20)의 판면을 따른 단면에서의 각 제1 오목부(30)의 단면적은, 점차 작아지게 된다. 도 3에 도시한 바와 같이, 제1 오목부(30)의 벽면(31)은, 그 전체 영역에서 증착 마스크(20)의 법선 방향에 대해 교차하는 방향으로 연장되어 있고, 증착 마스크(20)의 법선 방향을 따른 한쪽 측을 향해서 노출되어 있다. 마찬가지로, 증착 마스크(20)의 법선 방향을 따른 각 위치에서의 증착 마스크(20)의 판면을 따른 단면에서의 각 제2 오목부(35)의 단면적은, 증착 마스크(20)의 제2 면(20b) 측으로부터 제1 면(20a) 측을 향해, 점차 작아지게 되어 있어도 된다. 제2 오목부(35)의 벽면(36)은, 그 전체 영역에서 증착 마스크(20)의 법선 방향에 대해 교차하는 방향으로 연장되어 있고, 증착 마스크(20)의 법선 방향을 따른 다른 쪽 측을 향해서 노출되어 있다. 3 to 6 , from the first surface 20a side of the deposition mask 20 toward the second surface 20b side, deposition at each position along the normal direction of the deposition mask 20 . The cross-sectional area of each of the first concave portions 30 in the cross-section along the plate surface of the mask 20 becomes gradually smaller. As shown in FIG. 3 , the wall surface 31 of the first concave portion 30 extends in a direction intersecting with the normal direction of the deposition mask 20 in its entire area, and It is exposed toward one side along the normal direction. Similarly, the cross-sectional area of each second concave portion 35 in the cross section along the plate surface of the deposition mask 20 at each position along the normal direction of the deposition mask 20 is the second surface ( You may become gradually small toward the 1st surface 20a side from the 20b) side. The wall surface 36 of the second concave portion 35 extends in a direction intersecting the normal direction of the deposition mask 20 in its entire area, and extends on the other side along the normal direction of the deposition mask 20 . exposed towards

또한, 도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 제1 오목부(30)의 벽면(31)과, 제2 오목부(35)의 벽면(36)은, 둘레 형상의 접속부(41)를 통해서 접속되어 있다. 접속부(41)는, 증착 마스크의 법선 방향에 대하여 경사진 제1 오목부(30)의 벽면(31)과, 증착 마스크의 법선 방향에 대하여 경사진 제2 오목부(35)의 벽면(36)이 합류하는 돌출부의 능선에 의해, 구획 형성되어 있다. 그리고, 접속부(41)는, 증착 마스크(20)의 평면에서 보아 가장 관통 구멍(25)의 면적이 작아지는 관통부(42)를 구획 형성한다. Further, as shown in FIGS. 4 to 6 , the wall surface 31 of the first concave portion 30 and the wall surface 36 of the second concave portion 35 are connected via a circumferential connecting portion 41 . connected. The connecting portion 41 includes a wall surface 31 of the first concave portion 30 inclined with respect to the normal direction of the deposition mask, and a wall surface 36 of the second concave portion 35 inclined with respect to the normal line direction of the deposition mask. A division is formed by the ridge line of the protrusion that joins. Then, the connecting portion 41 partitions the through portion 42 in which the area of the through hole 25 is the smallest in the planar view of the deposition mask 20 .

도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 증착 마스크의 법선 방향을 따른 다른 쪽 측의 면, 즉, 증착 마스크(20)의 제2 면(20b) 위에서, 인접하는 2개의 관통 구멍(25)은, 증착 마스크의 판면을 따라 서로 이격되어 있다. 즉, 후술하는 제조 방법과 같이, 증착 마스크(20)의 제2 면(20b)에 대응하게 되는 금속판(21)의 제2 면(21b)측으로부터 당해 금속판(21)을 에칭해서 제2 오목부(35)를 제작하는 경우, 인접하는 2개의 제2 오목부(35)의 사이에 금속판(21)의 제2 면(21b)이 잔존하게 된다.4 to 6 , on the other side of the deposition mask in the normal direction, that is, on the second surface 20b of the deposition mask 20 , the two adjacent through holes 25 are , are spaced apart from each other along the plate surface of the deposition mask. That is, like the manufacturing method mentioned later, the said metal plate 21 is etched from the 2nd surface 21b side of the metal plate 21 corresponding to the 2nd surface 20b of the deposition mask 20, and the 2nd recessed part When manufacturing (35), the 2nd surface 21b of the metal plate 21 remains between two adjacent 2nd recessed parts 35. As shown in FIG.

한편, 도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 증착 마스크의 법선 방향을 따른 한쪽 측, 즉, 증착 마스크(20)의 제1 면(20a) 측에 있어서, 인접하는 2개의 제1 오목부(30)가 접속되어 있다. 즉, 후술하는 제조 방법과 같이, 증착 마스크(20)의 제1 면(20a)에 대응하게 되는 금속판(21)의 제1 면(21a)측으로부터 당해 금속판(21)을 에칭해서 제1 오목부(30)를 형성하는 경우, 인접하는 2개의 제1 오목부(30)의 사이에, 금속판(21)의 제1 면(21a)이 잔존하지 않게 된다. 즉, 금속판(21)의 제1 면(21a)은, 유효 영역(22)의 전역에 걸쳐 에칭되어 있다. 이러한 제1 오목부(30)에 의해 형성되는 증착 마스크(20)의 제1 면(20a)에 의하면, 도 2에 도시한 바와 같이 증착 마스크(20)의 제1 면(20a)이 증착 재료(98)에 대면하도록 해서 이 증착 마스크(20)를 사용한 경우에, 증착 재료(98)의 이용 효율을 효과적으로 개선할 수 있다. On the other hand, as shown in FIGS. 4 to 6 , on one side along the normal direction of the deposition mask, that is, on the side of the first surface 20a of the deposition mask 20, two adjacent first recesses ( 30) is connected. That is, like the manufacturing method mentioned later, the said metal plate 21 is etched from the 1st surface 21a side of the metal plate 21 corresponding to the 1st surface 20a of the deposition mask 20, and the 1st recessed part When forming 30, the 1st surface 21a of the metal plate 21 does not remain|survive between the adjacent two 1st recessed parts 30. As shown in FIG. That is, the first surface 21a of the metal plate 21 is etched over the entire effective region 22 . According to the first surface 20a of the deposition mask 20 formed by the first concave portion 30, the first surface 20a of the deposition mask 20 is formed of a deposition material ( 98), when this deposition mask 20 is used, the utilization efficiency of the deposition material 98 can be effectively improved.

도 2에 도시하는 바와 같이 해서 증착 마스크 장치(10)가 증착 장치(90)에 수용된 경우, 도 4에 이점 쇄선으로 나타낸 바와 같이, 증착 마스크(20)의 제1 면(20a)이 증착 재료(98)를 유지한 도가니(94)측에 위치하고, 증착 마스크(20)의 제2 면(20b)이 유리 기판(92)에 대면한다. 따라서, 증착 재료(98)는, 점차 단면적이 작아져 가는 제1 오목부(30)를 통과해서 유리 기판(92)에 부착된다. 도 4에 화살표로 나타낸 바와 같이, 증착 재료(98)는, 도가니(94)로부터 유리 기판(92)을 향해서 유리 기판(92)의 법선 방향을 따라 이동할 뿐만 아니라, 유리 기판(92)의 법선 방향에 대하여 크게 경사진 방향으로 이동하기도 한다. 이때, 증착 마스크(20)의 두께가 크면, 비스듬히 이동하는 증착 재료(98)의 대부분은, 관통 구멍(25)을 통해서 유리 기판(92)에 도달하기도 전에, 제1 오목부(30)의 벽면(31)에 도달해서 부착된다. 또한, 유리 기판(92) 위의 관통 구멍(25)에 대면하는 영역 내에는, 증착 재료(98)가 도달하기 쉬운 영역과 도달하기 어려운 부분이 발생해버린다. 따라서, 증착 재료의 이용 효율(성막 효율: 유리 기판(92)에 부착되는 비율)을 높여서 고가의 증착 재료를 절약하고, 또한 고가의 증착 재료를 사용한 성막을 원하는 영역 내에 안정적으로 균일하게 실시하기 위해서는, 비스듬히 이동하는 증착 재료(98)를 가능한 한 유리 기판(92)에 도달시키도록 증착 마스크(20)를 구성하는 것이 중요해진다. 즉, 증착 마스크(20)의 시트면에 직교하는 도 4 내지 도 6의 단면에 있어서, 관통 구멍(25)의 최소 단면적을 갖는 부분이 되는 접속부(41)와, 제1 오목부(30)의 벽면(31)의 다른 임의의 위치를 통과하는 직선(L1)이, 증착 마스크(20)의 법선 방향에 대하여 이루는 최소 각도(θ1)(도 4 참조)를 충분히 크게 하는 것이 유리해진다. As shown in FIG. 2, when the deposition mask apparatus 10 is accommodated in the deposition apparatus 90, as shown by the dashed-dotted line in FIG. 4, the first surface 20a of the deposition mask 20 is formed of a deposition material ( 98 , the second surface 20b of the deposition mask 20 faces the glass substrate 92 . Therefore, the vapor deposition material 98 passes through the 1st recessed part 30 whose cross-sectional area becomes small gradually, and adheres to the glass substrate 92. As shown in FIG. As indicated by the arrow in FIG. 4 , the vapor deposition material 98 not only moves along the normal direction of the glass substrate 92 from the crucible 94 toward the glass substrate 92 , but also moves in the normal direction of the glass substrate 92 . It may move in a direction that is largely inclined with respect to At this time, when the thickness of the deposition mask 20 is large, most of the deposition material 98 that moves obliquely goes through the through hole 25 and reaches the glass substrate 92 before reaching the wall surface of the first recess 30 . (31) is reached and attached. Moreover, in the area|region which faces the through-hole 25 on the glass substrate 92, the area|region which the vapor deposition material 98 is easy to reach, and the part which is hard to reach will generate|occur|produce. Therefore, in order to increase the utilization efficiency of the deposition material (film formation efficiency: the ratio of adhesion to the glass substrate 92) to save the expensive deposition material, and to stably and uniformly form a film using the expensive deposition material in the desired area, , it becomes important to configure the deposition mask 20 so that the deposition material 98 moving obliquely reaches the glass substrate 92 as much as possible. That is, in the cross-sections of FIGS. 4 to 6 orthogonal to the sheet surface of the deposition mask 20 , the connecting portion 41 serving as a portion having the minimum cross-sectional area of the through hole 25 and the first concave portion 30 It is advantageous that the minimum angle θ1 (refer to FIG. 4 ) formed by the straight line L1 passing through another arbitrary position of the wall surface 31 with respect to the normal direction of the deposition mask 20 is sufficiently large.

각도(θ1)를 크게 하기 위한 방법의 하나로서, 증착 마스크(20)의 두께를 작게 하고, 이에 의해, 제1 오목부(30)의 벽면(31)이나 제2 오목부(35)의 벽면(36)의 높이를 작게 하는 것을 생각할 수 있다. 즉, 증착 마스크(20)를 구성하기 위한 금속판(21)으로서, 증착 마스크(20)의 강도를 확보할 수 있는 범위 내에서 가능한 한 두께가 작은 금속판(21)을 사용하는 것이 바람직하다고 할 수 있다. As one of the methods for increasing the angle θ1, the thickness of the deposition mask 20 is reduced, whereby the wall surface 31 of the first concave portion 30 or the wall surface of the second concave portion 35 ( 36) can be considered to be small. That is, as the metal plate 21 for constituting the deposition mask 20, it can be said that it is preferable to use the metal plate 21 having a thickness as small as possible within a range that can ensure the strength of the deposition mask 20. .

각도(θ1)를 크게 하기 위한 그 밖의 방법으로서, 제1 오목부(30)의 윤곽을 최적화하는 것도 생각할 수 있다. 예를 들어 본 실시 형태에 의하면, 인접하는 2개의 제1 오목부(30)의 벽면(31)이 합류함으로써, 다른 오목부와 합류하고 있지 않은 점선으로 나타난 벽면(윤곽)을 갖는 오목부와 비교하여, 이 각도(θ1)를 대폭 크게 할 수 있다. 이하, 그 이유에 대해서 설명한다. As another method for increasing the angle [theta]1, it is also conceivable to optimize the outline of the first concave portion 30 . For example, according to the present embodiment, when the wall surfaces 31 of the two adjacent first concave portions 30 join, it is compared with a concave portion having a wall surface (contour) indicated by a dotted line that does not merge with other concave portions. Accordingly, the angle θ1 can be greatly increased. Hereinafter, the reason is demonstrated.

제1 오목부(30)는, 후에 상세하게 설명한 바와 같이, 금속판(21)의 제1 면(21a)을 에칭함으로써 형성된다. 에칭에 의해 형성되는 오목부의 벽면은, 일반적으로, 침식 방향을 향해서 볼록해지는 곡면 형상이 된다. 따라서, 에칭에 의해 형성된 오목부의 벽면(31)은, 에칭의 개시측이 되는 영역에서 가파르게 솟아 있고, 에칭의 개시측과는 반대측이 되는 영역, 즉 오목부의 가장 깊은 측에서는, 금속판(21)의 법선 방향에 대하여 비교적 크게 경사지게 된다. 한편, 도시된 증착 마스크(20)에서는, 인접하는 2개의 제1 오목부(30)의 벽면(31)이, 에칭의 개시측에서 합류하고 있으므로, 2개의 제1 오목부(30)의 벽면(31)의 선단부 테두리(32)가 합류하는 부분(43)의 외측 윤곽이, 가파르게 솟은 형상이 아니라, 모따기된 형상으로 되어 있다. 이로 인해, 관통 구멍(25)의 대부분을 이루는 제1 오목부(30)의 벽면(31)을, 증착 마스크의 법선 방향에 대하여 효과적으로 경사지게 할 수 있다. 즉, 각도(θ1)를 크게 할 수 있다. 이에 의해, 증착 재료(98)의 이용 효율을 효과적으로 개선하면서, 원하는 패턴으로의 증착을 고정밀도로 안정되게 실시할 수 있다.The first concave portion 30 is formed by etching the first surface 21a of the metal plate 21 as described in detail later. Generally, the wall surface of the recessed part formed by etching turns into a curved-surface shape which becomes convex toward an erosion direction. Therefore, the wall surface 31 of the concave portion formed by etching rises steeply in the region serving as the etching start side, and in the region opposite to the etching start side, that is, the deepest side of the concave portion, the normal of the metal plate 21 . relatively large inclination with respect to the direction. On the other hand, in the illustrated deposition mask 20, since the wall surfaces 31 of the two adjacent first recesses 30 are joined at the etching start side, the wall surfaces of the two first recesses 30 ( The outer contour of the portion 43 where the tip edge 32 of 31) joins is not a steeply raised shape, but a chamfered shape. For this reason, the wall surface 31 of the 1st recessed part 30 which forms most of the through-hole 25 can be made to incline effectively with respect to the normal line direction of a deposition mask. That is, the angle θ1 can be increased. Thereby, while effectively improving the utilization efficiency of the vapor deposition material 98, vapor deposition in a desired pattern can be performed stably with high precision.

그런데, 두께가 작은 금속판(21)을 얻기 위해서는, 모재를 압연해서 금속판(21)을 제조할 때의 압연율을 크게 할 필요가 있다. 그러나, 압연율이 클수록, 압연에 기초하는 변형의 불균일함의 정도가 커진다. 예를 들어, 폭 방향(모재의 반송 방향에 직교하는 방향)의 위치에 따라서 금속판(21)의 신장률이 상이하며, 그 결과, 상술한 물결 형상이 금속판(21)에 나타나는 경우가 있다. 여기서, 도 1에 도시하는 각 증착 마스크(20)가 각각, 모재를 압연함으로써 얻어진 금속판을 그 길이 방향을 따라서 절단함으로써 얻어지는 가늘고 긴 형상의 금속판으로 구성되어 있는 경우에 대해서 생각한다. 이 경우, 각 증착 마스크(20)의 길이가 상이하기 때문에, 각 증착 마스크(20)의 유효 영역(22)의 각 관통 구멍(25)의 피치가, 증착 마스크(20)마다 상이하며, 그 결과, 증착의 위치 정밀도가 저하되어, 증착 재료의 이용 효율이 저하되어버리는 경우를 생각할 수 있다. 따라서, 각 증착 마스크(20)의 유효 영역(22)의 각 관통 구멍(25)의 피치의 변동을 억제하고, 이에 의해, 화소의 치수나 위치의 변동이 작은 유기 EL 표시 장치를 얻기 위해서는, 후술하는 바와 같이, 신장률의 차가 작은 금속판(21)을 선별해서 사용하는 것이 중요해진다.By the way, in order to obtain the metal plate 21 with small thickness, it is necessary to make large the rolling ratio at the time of rolling a base material and manufacturing the metal plate 21. As shown in FIG. However, the greater the rolling ratio, the greater the degree of non-uniformity of deformation based on rolling. For example, the elongation rate of the metal plate 21 differs according to the position in the width direction (direction orthogonal to the conveyance direction of a base material), As a result, the above-mentioned wave shape may appear in the metal plate 21. Here, consider the case where each vapor deposition mask 20 shown in FIG. 1 is comprised from the metal plate of an elongate shape obtained by respectively cutting|disconnecting the metal plate obtained by rolling a base material along the longitudinal direction. In this case, since the length of each deposition mask 20 is different, the pitch of each through hole 25 of the effective area 22 of each deposition mask 20 is different for each deposition mask 20, as a result. , the positional precision of vapor deposition is reduced, and the case where the utilization efficiency of vapor deposition material falls is considered. Accordingly, in order to obtain an organic EL display device in which the variation in the pitch of each through-hole 25 in the effective region 22 of each deposition mask 20 is suppressed and thereby the size or position of the pixel is small, it will be described later. Thus, it becomes important to select and use the metal plate 21 with a small difference in elongation rate.

이어서, 이러한 구성을 포함하는 본 실시 형태와 그 작용 및 효과에 대해서 설명한다. 여기에서는, 우선, 증착 마스크를 제조하기 위해 사용되는 금속판의 제조 방법에 대해서 설명한다. 이어서, 얻어진 금속판을 사용해서 증착 마스크를 제조하는 방법에 대해서 설명한다. 그 후, 얻어진 증착 마스크를 사용해서 기판 위에 증착 재료를 증착시키는 방법에 대해서 설명한다. Next, the present embodiment including such a configuration and its action and effect will be described. Here, first, the manufacturing method of the metal plate used in order to manufacture a vapor deposition mask is demonstrated. Next, the method of manufacturing a vapor deposition mask using the obtained metal plate is demonstrated. Then, the method of vapor-depositing vapor deposition material on a board|substrate using the obtained vapor deposition mask is demonstrated.

(금속판의 제조 방법) (Method for manufacturing metal plate)

우선 도 7의 (a), (b), 도 8, 도 9의 (a), (b), (c), (d) 및 도 10을 참조하여, 금속판의 제조 방법에 대해서 설명한다. 도 7의 (a)는 모재를 압연하여, 원하는 두께를 갖는 금속판을 얻는 공정을 도시하는 도면이며, 도 7의 (b)는 압연에 의해 얻어진 금속판을 어닐하는 공정을 도시하는 도면이다.First, with reference to FIGS. 7(a), (b), FIG. 8, (a), (b), (c), (d), and FIG. 10, the manufacturing method of a metal plate is demonstrated. Fig. 7(a) is a view showing a process of obtaining a metal plate having a desired thickness by rolling a base material, and Fig. 7(b) is a diagram showing a process of annealing the metal plate obtained by rolling.

〔압연 공정〕 [Rolling process]

우선, 도 7의 (a)에 도시한 바와 같이, 인바재로 구성된 모재(55)를 준비하고, 이 모재(55)를, 한 쌍의 압연롤(56a, 56b)을 포함하는 압연 장치(56)를 향해서, 화살표 D1로 나타내는 반송 방향을 따라 반송한다. 한 쌍의 압연롤(56a, 56b)의 사이에 도달한 모재(55)는, 한 쌍의 압연롤(56a, 56b)에 의해 압연되고, 그 결과, 모재(55)는, 그 두께가 저감됨과 함께 반송 방향을 따라 신장된다. 이에 의해, 두께 t0의 긴 금속판(64)을 얻을 수 있다. 도 7의 (a)에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)을 코어(61)에 권취함으로써 권취체(62)를 형성해도 된다. 두께 t0의 구체적인 값은 특별히 한정되지는 않지만, 예를 들어 0.020mm 이상이면서 또한 0.100mm 이하의 범위 내로 되어 있다. First, as shown in Fig. 7(a), a base material 55 made of an invar material is prepared, and the base material 55 is used as a rolling device 56 including a pair of rolling rolls 56a and 56b. ) and conveyed along the conveyance direction shown by arrow D1. The base material 55 reached between the pair of rolling rolls 56a and 56b is rolled by the pair of rolling rolls 56a and 56b, and as a result, the thickness of the base material 55 is reduced and Together they are stretched along the conveying direction. Thereby, the elongate metal plate 64 of thickness t 0 can be obtained. As shown in FIG. 7A , the winding body 62 may be formed by winding the elongated metal plate 64 around the core 61 . Although the specific value of thickness t 0 is not specifically limited, For example, it is in the range of 0.020 mm or more and 0.100 mm or less.

〔어닐 공정〕 [annealing process]

그 후, 압연에 의해 긴 금속판(64) 내에 축적된 잔류 응력을 제거하기 위해서, 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이, 어닐 장치(57)를 사용해서 긴 금속판(64)을 어닐한다. 어닐 공정은, 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)을 반송 방향(길이 방향)으로 인장하면서 실시되어도 된다. 그 결과, 잔류 응력이 어느 정도 제거된, 두께 t0의 긴 금속판(64)을 얻을 수 있다. 또한 두께 t0은 통상, 증착 마스크(20)의 주위 영역(23) 내의 최대 두께(Tb)와 동등해진다. Then, in order to remove the residual stress accumulated in the elongate metal plate 64 by rolling, as shown in FIG.7(b), the elongate metal plate 64 is annealed using the annealing apparatus 57. As shown in FIG. The annealing process may be performed, pulling the elongate metal plate 64 in the conveyance direction (longitudinal direction), as shown in FIG.7(b). As a result, it is possible to obtain a long metal plate 64 having a thickness t 0 from which residual stress has been removed to some extent. Also, the thickness t 0 is usually equal to the maximum thickness Tb in the peripheral region 23 of the deposition mask 20 .

또한, 압연 공정 및 어닐 공정의 형태가, 도 7의 (a), (b)에 나타내는 형태에 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들어 압연 공정은, 복수의 쌍의 압연롤(56a, 56b)을 사용해서 실시되어도 된다. 또한, 압연 공정 및 어닐 공정을 복수회 반복함으로써, 두께 t0의 긴 금속판(64)을 제작해도 된다. 또한 도 7의 (b)에서는, 어닐 공정이, 긴 금속판(64)을 길이 방향으로 인장하면서 실시되는 예를 나타냈지만, 이것에 한정되지는 않고, 어닐 공정을, 긴 금속판(64)이 코어(61)에 권취된 상태에서 실시해도 된다. 또한, 긴 금속판(64)이 코어(61)에 권취된 상태에서 어닐 공정을 실시하는 경우, 긴 금속판(64)에, 권취체(62)의 권취 직경에 따른 휘는 경향이 생겨버리는 경우가 있다. 따라서, 권취체(62)의 권취 직경이나 모재(55)를 구성하는 재료에 따라서는, 긴 금속판(64)을 길이 방향으로 인장하면서 어닐 공정을 실시하는 것이 유리하다. In addition, the form of a rolling process and an annealing process is not specifically limited to the form shown to Fig.7 (a), (b). For example, a rolling process may be implemented using several pair of rolling roll 56a, 56b. Moreover, you may produce the elongate metal plate 64 of thickness t 0 by repeating a rolling process and an annealing process multiple times. 7B shows an example in which the annealing step is performed while pulling the elongated metal plate 64 in the longitudinal direction, but is not limited thereto. 61) may be carried out in the wound state. In addition, when an annealing process is performed in the state in which the elongate metal plate 64 is wound around the core 61, the bending tendency according to the winding diameter of the winding body 62 may arise in the elongate metal plate 64. Therefore, depending on the winding diameter of the winding body 62 and the material constituting the base material 55 , it is advantageous to perform the annealing step while pulling the elongated metal plate 64 in the longitudinal direction.

〔검사 공정〕 [Inspection process]

그 후, 얻어진 긴 금속판(64)의 신장의 차의 정도를 검사하는 검사 공정을 실시한다. 도 8은, 도 7의 (a), (b)에 나타내는 공정에 의해 얻어진 금속판을 도시하는 사시도이다. 도 8에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)은, 그 길이 방향(D1)에서의 길이가 그 폭 방향(D2)의 위치에 따라서 상이한 것에 기인하는 물결 형상을 적어도 부분적으로 갖고 있다. 여기서 길이 방향(D1)은, 모재(55)를 압연할 때의 반송 방향에 평행한 방향이며, 폭 방향(D2)은, 길이 방향(D1)에 직교하는 방향이다. 도 8에서, 긴 금속판(64)의 폭 방향(D2)의 단부가 부호 64e로 표현되어 있다.Then, the inspection process which test|inspects the grade of the difference in elongation of the obtained elongate metal plate 64 is implemented. 8 : is a perspective view which shows the metal plate obtained by the process shown to Fig.7 (a), (b). As shown in FIG. 8 , the elongated metal plate 64 has, at least in part, a wavy shape due to the length in the longitudinal direction D1 being different depending on the position in the width direction D2 . Here, the longitudinal direction D1 is a direction parallel to the conveyance direction at the time of rolling the base material 55, and the width direction D2 is a direction orthogonal to the longitudinal direction D1. In FIG. 8, the edge part of the width direction D2 of the elongate metal plate 64 is represented by the code|symbol 64e.

긴 금속판(64)에 나타나 있는 물결 형상에 대해서 설명한다. 도 9의 (a), (b), (c), (d)는 각각, 도 8의 a-a선, b-b선, c-c선 및 d-d선을 따른 단면도이다. 도 8의 a-a선은, 긴 금속판(64)의 폭 방향의 중앙부(64c)를 따라 긴 방향으로 연장되는 선이며, 따라서, 도 9의 (a)는, 긴 금속판(64)의 폭 방향의 중앙부(64c)에서의 긴 금속판(64)의 단면을 나타내고 있다. 또한 도 8의 d-d선은, 긴 금속판(64)의 폭 방향의 단부(64e)를 따라 긴 방향으로 연장되는 선이며, 따라서, 도 9의 (d)는, 긴 금속판(64)의 폭 방향의 단부(64e)에서의 긴 금속판(64)의 단면을 나타내고 있다. 본 실시 형태에 의한 긴 금속판(64)에는 중앙 신장이 나타나 있고, 이 때문에, 폭 방향의 중앙부(64c)에서 긴 금속판(64)에 나타나는 물결 형상의 정도는, 중앙부(64c)로부터 약간 떨어진 위치, 예를 들어 도 8의 b-b선의 위치에서 긴 금속판(64)에 나타나는 물결 형상의 정도보다 크게 되어 있다. 또한 본 실시 형태에 의한 긴 금속판(64)에는 귀 발생도 나타나 있어, 이 때문에, 폭 방향의 단부(64e)에서 긴 금속판(64)에 나타나는 물결 형상의 정도는, 단부(64e)로부터 약간 떨어진 위치, 예를 들어 도 8의 c-c선의 위치에서 긴 금속판(64)에 나타나는 물결 형상의 정도보다 크게 되어 있다. The wave shape shown in the elongate metal plate 64 is demonstrated. 9(a), (b), (c), and (d) are cross-sectional views taken along lines a-a, b-b, c-c and d-d of FIG. 8, respectively. The line aa in FIG. 8 is a line extending in the longitudinal direction along the central portion 64c in the width direction of the elongated metal plate 64 , and accordingly, FIG. The cross section of the elongate metal plate 64 in (64c) is shown. In addition, the line dd in FIG. 8 is a line extending in the longitudinal direction along the edge part 64e of the width direction of the elongate metal plate 64. Therefore, FIG. 9(d) is the width direction of the elongate metal plate 64. The cross section of the elongate metal plate 64 at the edge part 64e is shown. Central elongation appears in the elongated metal plate 64 according to the present embodiment, and for this reason, the degree of wave shape appearing in the elongated metal plate 64 in the central portion 64c in the width direction is at a position slightly distant from the central portion 64c, For example, it is larger than the degree of the wave shape shown in the elongate metal plate 64 at the position of line bb in FIG. Moreover, ear generation is also shown in the elongate metal plate 64 by this embodiment, and for this reason, the degree of the wave shape which appears in the elongate metal plate 64 at the edge part 64e of the width direction is a position slightly distant from the edge part 64e. , for example, is larger than the degree of wave shape appearing on the elongated metal plate 64 at the position of the line cc in Fig. 8 .

검사 공정에서는, 우선, 폭 방향(D2)의 각 위치에서, 길이 방향(D1)의 소정 범위 내에서의 긴 금속판(64)의 길이를 산출한다. 여기서 「길이」란, 긴 금속판(64)에 나타나 있는 물결 형상을 따른, 길이 방향(D1)에서의 긴 금속판(64)의 표면(제1 면(64a) 또는 제2 면(64b))의 윤곽의 길이를 말한다. 구체적으로는, 도 9의 (a), (b), (c), (d)에 도시한 바와 같이, 도 8의 a-a선, b-b선, c-c선 및 d-d선에 의해 나타내는 위치에서의 긴 금속판(64)의 길이(la, lb, lc 및 ld)는, 긴 금속판(64)에 나타나 있는 물결 형상도 고려해서 측정된다. 긴 금속판(64)의 길이를 산출하기 위한 방법은 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들어, 중앙부(64c)에서의 긴 금속판(64)의 길이(la)를 산출하는 경우, 우선, 대상물과의 사이의 거리를 측정할 수 있는 측거 장치를, 폭 방향(D2)의 중앙부(64c)에서 긴 금속판(64)의 길이 방향(D1)을 따라 긴 금속판(64) 위에서 주사하고, 이에 의해, 긴 금속판(64)의 표면의 높이 위치를 길이 방향(D1)을 따라 소정의 간격으로 측정한다. 이 간격은, 예를 들어 1mm 이상 또한 5mm 이하의 범위 내이다. 이어서, 각 측정점의 사이를 매끄럽게 연결하는 곡선을 그리고, 그 후, 이 곡선의 길이를 산출한다. 이에 의해, 중앙부(64c)에서의 긴 금속판(64)의 길이(la)를 얻을 수 있다. 또한, 이러한 측정을, 폭 방향(D2)에서의 위치를 바꾸면서 반복함으로써, 폭 방향(D2)의 각 위치에서의 긴 금속판(64)의 길이를 얻을 수 있다. At a test|inspection process, first, the length of the elongate metal plate 64 within the predetermined range of the longitudinal direction D1 is computed at each position of the width direction D2. Here, "length" is the outline of the surface (first surface 64a or second surface 64b) of the elongated metal plate 64 in the longitudinal direction D1 along the wave shape shown in the elongated metal plate 64 . say the length of Specifically, as shown in FIGS. 9(a), (b), (c), and (d), the elongated metal plate at the position indicated by the aa line, the bb line, the cc line and the dd line in FIG. 8 . The lengths la, lb, lc, and ld of (64) are measured in consideration of the wave shape shown in the elongated metal plate 64 as well. The method for calculating the length of the elongate metal plate 64 is not specifically limited. For example, when calculating the length la of the elongated metal plate 64 in the central portion 64c, first, a ranging device capable of measuring the distance between the object and the central portion ( D2) in the width direction D2 In 64c), scanning is performed on the long metal plate 64 along the longitudinal direction D1 of the long metal plate 64, whereby the height position of the surface of the long metal plate 64 is set at predetermined intervals along the longitudinal direction D1. measure This space|interval exists in the range of 1 mm or more and 5 mm or less, for example. Next, a curve connecting each measurement point smoothly is drawn, and then, the length of the curve is calculated. Thereby, the length la of the elongate metal plate 64 in the center part 64c can be obtained. Moreover, the length of the elongate metal plate 64 in each position in the width direction D2 can be obtained by repeating such a measurement while changing the position in the width direction D2.

이어서, 폭 방향(D2)의 각 위치에서 얻어진 긴 금속판(64)의 길이의 최솟값을, 기준 길이로서 설정한다. 본 실시 형태에서는, 도 8의 b-b선에 의해 나타내는 위치에서의 긴 금속판(64)의 길이(lb)가, 기준 길이로서 설정된다. 그 후, 기준 길이(lb)에 대한, 폭 방향(D2)의 각 위치에서의 긴 금속판(64)의 길이의 차의 비율을, 신장차율로서 산출한다. 예를 들어 중앙부(64c)에서의 긴 금속판(64)의 신장차율은, (la-lb)/lb에 의해 유도된다. 도 10은 산출된 신장차율의 곡선(80)을 나타내는 그래프이다. 도 10에서는, 횡축이, 긴 금속판(64)의 폭 방향(D2)에서의 위치를 나타내고 있고, 종축이, 신장차율을 10-5의 오더로 나타내고 있다. 도 10의 횡축의 상단에는, 폭 방향(D2)의 중앙부(64c)를 원점으로 했을 경우의, 폭 방향(D2)에서의 위치가, mm의 오더로 적혀 있다. 또한 도 10의 횡축의 하단에는, 폭 방향(D2)에서의 위치의, 긴 금속판(64)의 전체 폭에 대한 비율이 %로 나타나 있다. 또한 도 10에서는, 증착 마스크(20)를 제조하기 위한 긴 금속판(64)으로서, 500mm의 전체 폭을 갖는 것이 사용되는 경우에 대해서 설명한다. 따라서, 예를 들어 폭 방향(D2)의 중앙부(64c)로부터 +100mm 이격된 위치에서의 비율은 +20%로 되어 있다. 또한 도 10에서는, 도 8의 a-a선, b-b선, c-c선 및 d-d선의 위치에서의 긴 금속판(64)의 신장차율이 각각 부호 A, B, C 및 D로 나타나 있다.Next, the minimum value of the length of the elongate metal plate 64 obtained at each position of the width direction D2 is set as reference length. In the present embodiment, the length lb of the elongated metal plate 64 at the position indicated by the line bb in FIG. 8 is set as the reference length. Then, the ratio of the difference of the length of the elongate metal plate 64 at each position in the width direction D2 with respect to the reference length lb is computed as elongation difference ratio. For example, the elongation difference ratio of the elongated metal plate 64 in the central portion 64c is derived by (la-lb)/lb. 10 is a graph showing a curve 80 of the calculated elongation difference ratio. In FIG. 10 , the horizontal axis indicates the position in the width direction D2 of the elongated metal plate 64 , and the vertical axis indicates the elongation difference ratio on the order of 10 −5 . In the upper end of the horizontal axis of FIG. 10 , the position in the width direction D2 when the central portion 64c in the width direction D2 is taken as the origin is written in the order of mm. Moreover, the ratio with respect to the full width of the elongate metal plate 64 of the position in the width direction D2 is shown by % at the lower end of the horizontal axis of FIG. In addition, in FIG. 10, as the elongate metal plate 64 for manufacturing the vapor deposition mask 20, the case where what has an overall width of 500 mm is used is demonstrated. Therefore, for example, the ratio in the position spaced|separated by +100 mm from the center part 64c of the width direction D2 is +20 %. Also, in Fig. 10, the elongation difference ratios of the elongated metal plate 64 at the positions of the lines aa, bb, cc and dd in Fig. 8 are indicated by symbols A, B, C, and D, respectively.

그 후, 얻어진 신장차율의 값에 기초하여, 긴 금속판(64)의 선별을 실시한다. 여기에서는, 이하의 조건 (1) 내지 (3)을 모두 만족하는 긴 금속판(64)만을, 후술하는 증착 마스크(20)의 제조 공정에서 사용한다는, 긴 금속판(64)의 선별을 실시한다.Then, the elongate metal plate 64 is sorted based on the value of the obtained elongation difference ratio. Here, the elongate metal plate 64 is selected to be used in the manufacturing process of the vapor deposition mask 20 mentioned later, only the elongate metal plate 64 which satisfies all of the following conditions (1) - (3).

(1) 긴 금속판(64)의 중앙 부분(R1)에서의 신장차율이 10×10-5 이하일 것;(1) the elongation difference ratio in the central portion R1 of the long metal plate 64 is 10×10 -5 or less;

(2) 긴 금속판(64)의 폭 방향(D2)의 단부(64e)에서의 신장차율이 20×10-5 이하일 것; 및 (2) the elongation difference ratio at the end 64e of the elongated metal plate 64 in the width direction D2 is 20×10 -5 or less; and

(3) 단부(64e)에서의 신장차율이 중앙 부분(R1)에서의 신장차율의 최댓값보다 클 것; (3) the elongation difference ratio at the end portion 64e is greater than the maximum value of the elongation difference ratio at the central portion R1;

이하, 상기 조건 (1) 내지 (3)에 대해서 각각 검토한다. 또한 도 10에서, 긴 금속판(64)의 중앙 부분이 부호 R1로 나타나 있고, 중앙 부분(R1)의 외측에 위치하는 주변 부분이 부호 R2로 나타나 있다. 본 실시 형태에 있어서, 중앙 부분(R1)은, 긴 금속판(64)의 폭 방향(D2)의 중앙부(64c)를 포함하는, 긴 금속판(64)의 전체 폭의 40%를 차지하는 부분으로서 정의된다. Hereinafter, each of the conditions (1) to (3) is examined. Also, in Fig. 10, a central portion of the elongated metal plate 64 is indicated by a reference symbol R1, and a peripheral portion located outside the central portion R1 is indicated by a reference symbol R2. In this embodiment, the central part R1 is defined as a part which occupies 40% of the total width of the elongate metal plate 64 including the central part 64c in the width direction D2 of the elongate metal plate 64. .

중앙 신장 및 귀 발생이 일어난 긴 금속판(64)에서는, 일반적으로, 도 10에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)의 폭 방향의 중앙부(64c) 근방에서, 신장차율의 극대값이 나타난다(점 A). 또한, 긴 금속판(64)의 폭 방향의 중앙부로부터 주변부측으로 약간 떨어진 위치에, 신장차율의 극소값이 나타난다(점 B). 또한, 점 B로부터 폭 방향의 주변부를 향함에 따라서 신장차율이 증가되어 간다(점 C), 그리고, 폭 방향의 단부에서 신장차율의 값이 최대가 된다(점 D). 따라서, 도 10에서 일점 쇄선으로 나타내는 바와 같이, 중앙 부분(R1)에서는 신장차율=10×10-5를 나타내고, 주변 부분(R2)에서는 신장차율=20×10-5를 나타내는 기준선(81)을 그렸을 경우, 신장차율의 곡선(80)이 기준선(81)보다 하방에 위치하는 것이, 상술한 조건 (1) 및 (2)가 만족되었음을 의미한다. 도 10에 도시하는 예에서는, 상술한 조건 (1) 및 (2)가 만족되어 있다. In the elongated metal plate 64 in which central elongation and ear generation have occurred, the maximum value of the elongation difference ratio appears in the vicinity of the central portion 64c in the width direction of the elongated metal plate 64 in general, as shown in Fig. 10 (point A). ). Further, the minimum value of the elongation difference ratio appears at a position slightly away from the central portion in the width direction of the elongated metal plate 64 toward the peripheral portion (point B). Further, the elongation difference ratio increases from the point B toward the periphery in the width direction (point C), and the value of the elongation difference ratio becomes the maximum at the edge portion in the width direction (point D). Therefore, as shown by the dashed-dotted line in FIG. 10 , in the central portion R1, the elongation difference ratio = 10×10 -5 , and in the peripheral portion R2, the reference line 81 indicating the elongation difference ratio = 20×10 -5. When drawn, the fact that the curve 80 of the elongation difference rate is located below the reference line 81 means that the above-described conditions (1) and (2) are satisfied. In the example shown in FIG. 10, the above-mentioned conditions (1) and (2) are satisfied.

조건 (3)에 대해서는, 폭 방향(D2)의 단부(64e)에서의 신장차율, 즉 점 D에서의 신장차율이 중앙 부분(R1)에서의 신장차율의 최댓값(도 10에 도시하는 예에서는 점 A에서의 신장차율)보다 큰지 여부를 판정한다. 도 10에 도시하는 예에서는, 상술한 조건 (3)이 만족되어 있다. For condition (3), the elongation difference ratio at the edge portion 64e in the width direction D2, that is, the elongation difference rate at the point D, is the maximum value of the elongation difference rate at the central portion R1 (in the example shown in Fig. 10, the point It is determined whether it is greater than the elongation difference ratio in A). In the example shown in FIG. 10, the above-mentioned condition (3) is satisfied.

이러한 선별을 실시함으로써, 긴 금속판(64)의 압연율이 큰 것에 기인해서 긴 금속판(64)에 물결 형상이 나타나 있는 경우에도, 그 물결 형상의 정도가, 후의 증착 마스크(20)의 제조 공정이나 유기 EL 표시 장치의 제조 공정에서 문제가 되는 것인지 여부를 미리 판단할 수 있다. 이에 의해, 동시에 제작되는 복수의 가늘고 긴 형상의 증착 마스크(20)의 길이의 상이의 정도를 허용 범위 내의 것으로 할 수 있다. 이 때문에, 제조되는 증착 마스크(20)의 유효 영역(22)의 각 관통 구멍(25)의 피치의 변동을 저감할 수 있고, 이에 의해, 유기 EL 표시 장치의 화소의 치수 정밀도나 위치 정밀도를 높일 수 있다. 또한, 증착 마스크(20)의 제조 공정에서의 수율을 향상시킬 수 있다. By performing this sorting, even when a wave shape appears in the elongated metal plate 64 due to the large rolling ratio of the elongated metal plate 64, the degree of the wave shape is determined by the subsequent manufacturing process of the deposition mask 20 or It can be determined in advance whether or not there is a problem in the manufacturing process of the organic EL display device. Thereby, it is possible to make the degree of difference in the lengths of the plurality of elongated vapor deposition masks 20 simultaneously produced within the permissible range. For this reason, the variation in the pitch of each through-hole 25 of the effective area 22 of the vapor deposition mask 20 to be manufactured can be reduced, and thereby, the dimensional accuracy and positional accuracy of the pixel of an organic electroluminescent display can be improved. can In addition, the yield in the manufacturing process of the deposition mask 20 may be improved.

또한, 도 10에 도시하는 바와 같은 신장차율의 곡선(80)을 갖는, 전체 폭 500mm의 긴 금속판(64)을 얻는 방법이 특별히 한정되지는 않는다. In addition, the method of obtaining the elongate metal plate 64 with a total width of 500 mm which has the curve 80 of elongation difference rate as shown in FIG. 10 is not specifically limited.

예를 들어, 모재(55)를 압연함으로써, 500mm를 초과하는 전체 폭, 예를 들어 700mm의 전체 폭을 갖는 긴 금속판을 제작하고, 그 후, 당해 긴 금속판의 폭 방향에서의 양단을 소정 범위에 걸쳐 절단함으로써, 폭 500mm의 긴 금속판(64)을 제작해도 된다. 또한 700mm의 전체 폭을 갖는 긴 금속판에서는, 도 10에서 이점 쇄선으로 나타낸 바와 같이, 그 신장차율이 20×10-5를 초과하는 부분이 존재하는 경우가 있다. 이러한 경우에도, 양단을 소정 범위에 걸쳐 절단함으로써, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 만족하는 긴 금속판(64)을 얻을 수 있다. For example, by rolling the base material 55, an elongated metal plate having a total width exceeding 500 mm, for example, a total width of 700 mm is produced, and then, both ends in the width direction of the elongated metal plate are placed within a predetermined range. By cutting over it, you may produce the long metal plate 64 of width 500mm. In addition, in a long metal plate having an overall width of 700 mm, as shown by a dashed-dotted line in FIG. 10 , there may be a portion in which the elongation difference exceeds 20×10 −5 . Even in such a case, by cutting both ends over a predetermined range, the elongate metal plate 64 which satisfy|fills the above-mentioned conditions (1) - (3) can be obtained.

또는, 양단을 소정 범위에 걸쳐 절단하지 않고, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 만족하는 긴 금속판(64)을 압연에 의해 제작해도 된다. Alternatively, the elongated metal plate 64 satisfying the above-described conditions (1) to (3) may be produced by rolling without cutting both ends over a predetermined range.

(증착 마스크의 제조 방법) (Manufacturing method of vapor deposition mask)

이어서, 상술한 바와 같이 해서 선별된 긴 금속판(64)을 사용해서 증착 마스크(20)를 제조하는 방법에 대해, 주로 도 11 내지 도 20을 참조하여 설명한다. 이하에 설명하는 증착 마스크(20)의 제조 방법에서는, 도 11에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)이 공급되고, 이 긴 금속판(64)에 관통 구멍(25)이 형성되고, 또한 긴 금속판(64)을 재단함으로써 낱장형 금속판(21)을 포함하는 증착 마스크(20)가 얻어진다. Next, the method of manufacturing the vapor deposition mask 20 using the elongate metal plate 64 selected as mentioned above is demonstrated mainly with reference to FIGS. 11-20. In the manufacturing method of the vapor deposition mask 20 demonstrated below, as shown in FIG. 11, the elongate metal plate 64 is supplied, the through hole 25 is formed in this elongate metal plate 64, and also the elongate metal plate. By cutting (64), the deposition mask 20 including the sheet metal plate 21 is obtained.

보다 구체적으로는, 증착 마스크(20)의 제조 방법, 띠 형상으로 연장되는 긴 금속판(64)을 공급하는 공정과, 포토리소그래피 기술을 사용한 에칭을 긴 금속판(64)에 실시하여, 긴 금속판(64)에 제1 면(64a) 측으로부터 제1 오목부(30)를 형성하는 공정과, 포토리소그래피 기술을 사용한 에칭을 긴 금속판(64)에 실시하여, 긴 금속판(64)에 제2 면(64b) 측으로부터 제2 오목부(35)를 형성하는 공정을 포함하고 있다. 그리고, 긴 금속판(64)에 형성된 제1 오목부(30)와 제2 오목부(35)가 서로 통함으로써, 긴 금속판(64)에 관통 구멍(25)이 제작된다. 도 11에 도시된 예에서는, 제2 오목부(35)의 형성 공정이, 제1 오목부(30)의 형성 공정 전에 실시되고, 또한 제2 오목부(35)의 형성 공정과 제1 오목부(30)의 형성 공정의 사이에, 제작된 제2 오목부(35)를 밀봉하는 공정이 더 설치되어 있다. 이하에서, 각 공정의 상세를 설명한다. More specifically, the method for manufacturing the deposition mask 20, the step of supplying the elongated metal plate 64 extending in a band shape, and etching using a photolithography technique are performed on the elongated metal plate 64, ), the process of forming the first recessed portion 30 from the side of the first surface 64a , and etching using a photolithography technique are performed on the elongated metal plate 64 , and the second surface 64b is formed on the elongated metal plate 64 . ) side, forming the second concave portion 35 . And the through-hole 25 is produced in the elongate metal plate 64 by the 1st recessed part 30 and the 2nd recessed part 35 formed in the elongate metal plate 64 communicating with each other. In the example shown in FIG. 11 , the step of forming the second concave portion 35 is performed before the step of forming the first concave portion 30 , and further, the forming step of the second concave portion 35 and the first concave portion are performed. Between the formation process of (30), the process of sealing the produced 2nd recessed part 35 is further provided. Hereinafter, the detail of each process is demonstrated.

도 11에는, 증착 마스크(20)를 제작하기 위한 제조 장치(60)가 나타나 있다. 도 11에 도시한 바와 같이, 먼저, 긴 금속판(64)을 코어(61)에 권취한 권취체(62)가 준비된다. 그리고, 이 코어(61)가 회전해서 권취체(62)가 풀어내짐으로써, 도 11에 도시하는 바와 같이 띠 형상으로 연장되는 긴 금속판(64)이 공급된다. 또한, 긴 금속판(64)은, 관통 구멍(25)이 형성되어 낱장형 금속판(21), 나아가 증착 마스크(20)를 이루게 된다. 11, the manufacturing apparatus 60 for manufacturing the vapor deposition mask 20 is shown. As shown in FIG. 11, first, the winding body 62 which wound the elongate metal plate 64 around the core 61 is prepared. Then, as the core 61 rotates and the winding body 62 is unwound, as shown in FIG. 11 , the elongated metal plate 64 extending in a strip shape is supplied. In addition, in the elongated metal plate 64 , a through hole 25 is formed to form the sheet metal plate 21 , and furthermore, the deposition mask 20 .

공급된 긴 금속판(64)은, 반송 롤러(72)에 의해, 에칭 장치(에칭 수단)(70)에 반송된다. 에칭 수단(70)에 의해, 도 12 내지 도 20에 나타낸 각 처리가 실시된다.The supplied elongate metal plate 64 is conveyed to the etching apparatus (etching means) 70 by the conveyance roller 72 . Each of the processes shown in Figs. 12 to 20 is performed by the etching means 70 .

먼저, 도 12에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)의 제1 면(64a) 위(도 12의 지면에서의 하측의 면상) 및 제2 면(64b) 위에 네가티브형의 감광성 레지스트 재료를 도포하여, 긴 금속판(64) 위에 레지스트막(65c, 65d)을 형성한다. 이어서, 레지스트막(65c, 65d) 중의 제거하고 싶은 영역에 광을 투과시키지 않도록 한 노광 마스크(85a, 85b)를 준비하여, 노광 마스크(85a, 85b)를 각각 도 13에 도시한 바와 같이 레지스트막(65c, 65d) 위에 배치한다. 노광 마스크(85a, 85b)로서는, 예를 들어 레지스트막(65c, 65d) 중의 제거하고 싶은 영역에 광을 투과시키지 않도록 한 유리 건판이 사용된다. 그 후, 진공 밀착에 의해 노광 마스크(85a, 85b)를 레지스트막(65c, 65d)에 충분히 밀착시킨다. First, as shown in FIG. 12 , a negative photosensitive resist material is applied on the first surface 64a of the elongated metal plate 64 (on the lower surface in the paper of FIG. 12 ) and on the second surface 64b of the elongated metal plate 64 . Thus, resist films 65c and 65d are formed on the elongated metal plate 64 . Next, exposure masks 85a and 85b in which light is not transmitted to the region to be removed in the resist films 65c and 65d are prepared, and the exposure masks 85a and 85b are respectively formed as resist films as shown in FIG. 13 . Place it on (65c, 65d). As the exposure masks 85a and 85b, for example, a glass dry plate in which light is not transmitted to the region to be removed in the resist films 65c and 65d is used. Thereafter, the exposure masks 85a and 85b are sufficiently brought into close contact with the resist films 65c and 65d by vacuum adhesion.

또한 감광성 레지스트 재료로서, 포지티브형의 것이 사용되어도 된다. 이 경우, 노광 마스크로서, 레지스트막 중 제거하고 싶은 영역에 광을 투과시키도록 한 노광 마스크가 사용된다. Moreover, as a photosensitive resist material, a positive type thing may be used. In this case, as the exposure mask, an exposure mask in which light is transmitted through a region to be removed in the resist film is used.

여기서 본 실시 형태에 의하면, 상술한 바와 같이, 단부(64e)에서의 신장차율이 중앙 부분(R1)에서의 신장차율의 최댓값보다 큰 긴 금속판(64)이 사용되고 있다. 즉, 긴 금속판(64)의 폭 방향(D2)의 단부(64e)에서의 물결 형상의 정도가, 긴 금속판(64)의 폭 방향(D2)의 중앙부(64c)에서의 물결 형상의 정도보다 크게 되어 있다. 일반적으로 진공 밀착에 있어서는, 긴 금속판(64) 위에 설치된 레지스트막(65c, 65d)과, 노광 마스크(85a, 85b)와의 사이에 존재하고 있는 공기를, 긴 금속판(64) 및 레지스트막(65c, 65d)의 적층체의 단부로부터 외부로 배출함으로써, 레지스트막(65c, 65d)과 노광 마스크(85a, 85b)의 사이의 밀착이 실현된다. 여기서, 가령, 긴 금속판(64)의 단부(64e)에서의 물결 형상의 정도가 긴 금속판(64)의 중앙부(64c)에서의 물결 형상의 정도보다 작게 되어 있으면, 적층체의 단부 근방의 영역이, 적층체의 중앙부 근방의 영역보다 먼저 노광 마스크(85a, 85b)에 밀착되어버려, 그 결과, 적층체의 중앙부 근방에 존재하는 공기의 배출로가 없어져버리는 경우를 생각할 수 있다. 이에 반해 본 실시 형태에 의하면, 긴 금속판(64)의 단부(64e)에서의 물결 형상의 정도가 긴 금속판(64)의 중앙부(64c)에서의 물결 형상의 정도보다 크게 되어 있으므로, 적층체의 중앙부 근방에 존재하는 공기의 배출로를 확실하게 확보할 수 있고, 이 때문에, 노광 마스크(85a, 85b)를 레지스트막(65c, 65d)에 전역에 걸쳐 충분히 밀착시킬 수 있다. Here, according to this embodiment, as mentioned above, the elongate metal plate 64 whose elongation difference rate at the edge part 64e is larger than the maximum value of the elongation difference rate at the center part R1 is used. That is, the degree of wave shape in the end portion 64e in the width direction D2 of the elongated metal plate 64 is larger than the degree of wave shape in the central portion 64c in the width direction D2 of the elongated metal plate 64 . has been In general, in vacuum adhesion, the air existing between the resist films 65c and 65d provided on the elongated metal plate 64 and the exposure masks 85a and 85b is blown into the elongated metal plate 64 and the resist film 65c, By discharging from the end of the stacked body 65d) to the outside, close contact between the resist films 65c and 65d and the exposure masks 85a and 85b is realized. Here, for example, if the degree of corrugation at the end portion 64e of the elongated metal plate 64 is smaller than the degree of corrugation at the central portion 64c of the elongated metal plate 64, the region near the end of the laminate is , it is conceivably brought into close contact with the exposure masks 85a and 85b before the region near the central portion of the laminate, and as a result, the exhaust path of the air existing in the vicinity of the central portion of the laminate disappears. On the other hand, according to this embodiment, since the degree of corrugation at the end portion 64e of the elongated metal plate 64 is larger than the degree of corrugation at the central portion 64c of the elongated metal plate 64, the central portion of the laminate The exhaust path of the air existing in the vicinity can be reliably secured, and therefore, the exposure masks 85a and 85b can be sufficiently adhered to the resist films 65c and 65d over the entire area.

그 후, 레지스트막(65c, 65d)을 노광 마스크(85a, 85b) 너머로 노광하고, 또한 레지스트막(65c, 65d)을 현상한다. 이상과 같이 하여, 도 14에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)의 제1 면(64a) 위에 레지스트 패턴(간단히, 레지스트라고도 칭함)(65a)을 형성하고, 긴 금속판(64)의 제2 면(64b) 위에 레지스트 패턴(간단히, 레지스트라고도 칭함)(65b)을 형성할 수 있다. Thereafter, the resist films 65c and 65d are exposed through the exposure masks 85a and 85b, and the resist films 65c and 65d are further developed. As described above, as shown in FIG. 14 , a resist pattern (simply also referred to as a resist) 65a is formed on the first surface 64a of the elongated metal plate 64 , and the second A resist pattern (referred to simply as a resist) 65b can be formed on the surface 64b.

이어서, 도 15에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64) 위에 형성된 레지스트 패턴(65b)을 마스크로 하고, 에칭액(예를 들어 염화제2철 용액)을 사용하여, 긴 금속판(64)의 제2 면(64b)측에서 에칭한다. 예를 들어, 에칭액이, 반송되는 긴 금속판(64)의 제2 면(64b)에 대면하는 측에 배치된 노즐로부터, 레지스트 패턴(65b) 너머로 긴 금속판(64)의 제2 면(64b)을 향해서 분사된다. 그 결과, 도 15에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64) 중 레지스트 패턴(65b)에 의해 덮여 있지 않은 영역에서, 에칭액에 의한 침식이 진행된다. 이상과 같이 하여, 제2 면(64b) 측으로부터 긴 금속판(64)에 다수의 제2 오목부(35)가 형성된다. Next, as shown in FIG. 15 , the resist pattern 65b formed on the elongated metal plate 64 is used as a mask, and an etching solution (eg, ferric chloride solution) is used to form the second layer of the elongated metal plate 64 . Etched from the side 64b. For example, from a nozzle disposed on the side facing the second surface 64b of the elongated metal plate 64 to which the etching solution is conveyed, the second surface 64b of the elongated metal plate 64 over the resist pattern 65b is removed. sprayed toward As a result, as shown in FIG. 15, in the area|region which is not covered with the resist pattern 65b of the elongate metal plate 64, erosion by an etching liquid advances. As mentioned above, many 2nd recessed parts 35 are formed in the long metal plate 64 from the 2nd surface 64b side.

그 후, 도 16에 도시한 바와 같이, 에칭액에 대한 내성을 가진 수지(69)에 의해, 형성된 제2 오목부(35)가 피복된다. 즉, 에칭액에 대한 내성을 가진 수지(69)에 의해, 제2 오목부(35)가 밀봉된다. 도 16에 나타내는 예에서, 수지(69)의 막이, 형성된 제2 오목부(35)뿐만 아니라, 제2 면(64b)(레지스트 패턴(65b))도 덮도록 형성되어 있다. Thereafter, as shown in Fig. 16, the formed second concave portion 35 is covered with the resin 69 having resistance to the etching solution. That is, the second recessed portion 35 is sealed by the resin 69 having resistance to the etching solution. In the example shown in FIG. 16, the film|membrane of the resin 69 is formed so that it may cover not only the formed 2nd recessed part 35 but the 2nd surface 64b (resist pattern 65b).

이어서, 도 17에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)에 대하여 제2 회째의 에칭을 행한다. 제2 회째의 에칭에 있어서, 긴 금속판(64)은 제1 면(64a) 측으로부터만 에칭되어, 제1 면(64a) 측으로부터 제1 오목부(30)의 형성이 진행되어 간다. 긴 금속판(64)의 제2 면(64b) 측에는, 에칭액에 대한 내성을 가진 수지(69)가 피복되어 있기 때문이다. 따라서, 제1 회째의 에칭에 의해 원하는 형상으로 형성된 제2 오목부(35)의 형상이 손상되어버리는 일은 없다. Next, as shown in FIG. 17 , the second etching is performed on the elongated metal plate 64 . In the second etching, the elongated metal plate 64 is etched only from the first surface 64a side, and the formation of the first concave portion 30 proceeds from the first surface 64a side. This is because the second surface 64b side of the elongated metal plate 64 is coated with a resin 69 resistant to the etching solution. Therefore, the shape of the 2nd recessed part 35 formed in the desired shape by the 1st etching is not impaired.

에칭에 의한 침식은, 긴 금속판(64) 중 에칭액에 접촉한 부분에서 행하여져 간다. 따라서, 침식은, 긴 금속판(64)의 법선 방향(두께 방향)으로만 진행되는 것이 아니라, 긴 금속판(64)의 판면을 따른 방향으로도 진행되어 간다. 그 결과, 도 18에 도시한 바와 같이, 에칭이 긴 금속판(64)의 법선 방향으로 진행되어 제1 오목부(30)가 제2 오목부(35)와 접속할 뿐만 아니라, 레지스트 패턴(65a)의 인접하는 2개의 구멍(66a)에 대면하는 위치에 각각 형성된 2개의 제1 오목부(30)가, 2개의 구멍(66a)의 사이에 위치하는 브리지부(67a)의 이측에서 합류된다. Erosion by etching is performed in the part of the elongate metal plate 64 which contacted the etching liquid. Accordingly, the erosion proceeds not only in the normal direction (thickness direction) of the elongated metal plate 64 , but also in the direction along the plate surface of the elongated metal plate 64 . As a result, as shown in Fig. 18, etching proceeds in the normal direction of the long metal plate 64 so that the first concave portion 30 is connected to the second concave portion 35 as well as the resist pattern 65a. Two first concave portions 30 respectively formed at positions facing the adjacent two holes 66a are joined at the back side of the bridge portion 67a positioned between the two holes 66a.

도 19에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)의 제1 면(64a) 측으로부터의 에칭이 더 진행된다. 도 19에 도시한 바와 같이, 인접하는 2개의 제1 오목부(30)가 합류해서 이루어지는 합류 부분(43)이 레지스트 패턴(65a)으로부터 이격되고, 레지스트 패턴(65a)의 아래가 되는 당해 합류 부분(43)에서, 에칭에 의한 침식이 금속판(64)의 법선 방향(두께 방향)으로도 진행된다. 이에 의해, 증착 마스크의 법선 방향을 따른 한쪽 측을 향해서 뾰족하게 되어 있던 합류 부분(43)이, 증착 마스크의 법선 방향을 따른 한쪽 측으로부터 에칭되어, 도 19에 도시한 바와 같이 모따기된다. 이에 의해, 제1 오목부(30)의 벽면(31)이 증착 마스크의 법선 방향에 대하여 이루는 경사 각도(θ1)를 증대시킬 수 있다. As shown in FIG. 19 , etching from the side of the first surface 64a of the elongated metal plate 64 further proceeds. As shown in Fig. 19, a merging portion 43 formed by merging of two adjacent first concave portions 30 is spaced apart from the resist pattern 65a, and the merging portion below the resist pattern 65a. In (43), erosion by etching proceeds also in the normal direction (thickness direction) of the metal plate 64 . As a result, the merging portions 43 pointed toward one side along the normal direction of the deposition mask are etched from one side along the normal direction of the deposition mask, and are chamfered as shown in FIG. 19 . Accordingly, the inclination angle θ1 formed by the wall surface 31 of the first concave portion 30 with respect to the normal direction of the deposition mask can be increased.

이와 같이 하여, 에칭에 의한 긴 금속판(64)의 제1 면(64a)의 침식이, 긴 금속판(64)의 유효 영역(22)을 이루게 되는 전체 영역 내에서 진행된다. 이에 의해, 유효 영역(22)을 이루게 되는 영역 내에서의 긴 금속판(64)의 법선 방향을 따른 최대 두께(Ta)가, 에칭 전에 있어서의 긴 금속판(64)의 최대 두께(Tb)보다 얇아진다.In this way, the erosion of the first surface 64a of the elongated metal plate 64 by etching proceeds within the entire region that constitutes the effective region 22 of the elongated metal plate 64 . Accordingly, the maximum thickness Ta along the normal direction of the elongated metal plate 64 in the region constituting the effective region 22 is smaller than the maximum thickness Tb of the elongated metal plate 64 before etching. .

이상과 같이 하여, 긴 금속판(64)의 제1 면(64a) 측으로부터의 에칭이 미리 설정한 양만큼 진행되어, 긴 금속판(64)에 대한 제2 회째의 에칭이 종료된다. 이때, 제1 오목부(30)는, 긴 금속판(64)의 두께 방향을 따라서 제2 오목부(35)에 도달하는 위치까지 연장되어 있고, 이에 의해, 서로 통해 있는 제1 오목부(30) 및 제2 오목부(35)에 의해 관통 구멍(25)이 긴 금속판(64)에 형성된다. As mentioned above, etching from the 1st surface 64a side of the elongate metal plate 64 advances only by the predetermined amount, and the 2nd etching with respect to the elongate metal plate 64 is complete|finished. At this time, the first concave portion 30 extends along the thickness direction of the elongated metal plate 64 to a position reaching the second concave portion 35 , whereby the first concave portions 30 communicate with each other. and a through hole 25 is formed in the elongated metal plate 64 by the second concave portion 35 .

그 후, 도 20에 도시한 바와 같이, 긴 금속판(64)으로부터 수지(69)가 제거된다. 수지막(69)은, 예를 들어 알칼리계 박리액을 사용함으로써 제거할 수 있다. 또한, 알칼리계 박리액이 사용되는 경우, 도 20에 도시한 바와 같이, 수지(69)와 동시에 레지스트 패턴(65a, 65b)도 제거된다. Thereafter, as shown in FIG. 20 , the resin 69 is removed from the elongated metal plate 64 . The resin film 69 can be removed, for example, by using an alkali-based stripper. Further, when an alkali-based stripper is used, the resist patterns 65a and 65b are also removed simultaneously with the resin 69, as shown in FIG.

이와 같이 하여 다수의 관통 구멍(25)을 형성된 긴 금속판(64)은, 당해 긴 금속판(64)을 끼움 지지한 상태에서 회전하는 반송 롤러(72, 72)에 의해, 절단 장치(절단 수단)(73)에 반송된다. 또한, 이 반송 롤러(72, 72)의 회전에 의해 긴 금속판(64)에 작용하는 텐션(인장력)을 통해서, 상술한 공급 코어(61)가 회전되어, 권취체(62)로부터 긴 금속판(64)이 공급되도록 되어 있다. In this way, the elongated metal plate 64 having the plurality of through holes 25 formed therein is formed by a cutting device (cutting means) ( 73) is returned. Further, through the tension (tensile force) acting on the elongated metal plate 64 by the rotation of the conveying rollers 72 , 72 , the above-described supply core 61 is rotated, and the elongated metal plate 64 is moved from the winding body 62 . ) is to be supplied.

그 후, 다수의 오목부(61)가 형성된 긴 금속판(64)을 절단 장치(절단 수단)(73)에 의해 소정의 길이 및 폭으로 절단함으로써, 다수의 관통 구멍(25)이 형성된 낱장형 금속판(21)이 얻어진다. Thereafter, the long metal plate 64 having the plurality of concave portions 61 formed thereon is cut to a predetermined length and width by a cutting device (cutting means) 73, so that the sheet metal plate in which the plurality of through holes 25 are formed. (21) is obtained.

이상과 같이 하여, 다수의 관통 구멍(25)이 형성된 금속판(21)을 포함하는 증착 마스크(20)가 얻어진다. 여기서 본 실시 형태에 의하면, 금속판(21)의 제1 면(21a)은, 유효 영역(22)의 전역에 걸쳐 에칭되어 있다. 이로 인해, 증착 마스크(20)의 유효 영역(22)의 두께를 작게 하고, 또한 제1 면(21a)측에 형성되는 2개의 제1 오목부(30)의 벽면(31)의 선단부 테두리(32)가 합류하는 부분(43)의 외측 윤곽을, 모따기된 형상으로 할 수 있다. 따라서, 상술한 각도(θ1)를 크게 할 수 있고, 이에 의해, 증착 재료의 이용 효율 및 증착의 위치 정밀도를 향상시킬 수 있다.As described above, the deposition mask 20 including the metal plate 21 having a large number of through holes 25 formed therein is obtained. Here, according to the present embodiment, the first surface 21a of the metal plate 21 is etched over the entire effective region 22 . For this reason, the thickness of the effective area|region 22 of the deposition mask 20 is made small, and the front-end|tip edge 32 of the wall surface 31 of the two 1st recessed parts 30 formed on the 1st surface 21a side is further reduced. ) can be made into a chamfered shape of the outer contour of the part 43 where it joins. Therefore, the above-mentioned angle (theta)1 can be made large, and by this, the utilization efficiency of vapor deposition material and the positional precision of vapor deposition can be improved.

그런데, 물결 형상을 갖는 긴 금속판(64)을 길이 방향을 따라서 소정의 폭으로 절단하는 것은, 절단 후에 얻어지는 가늘고 긴 형상의 금속판(21)을 포함하는 각 증착 마스크(20)의 길이가, 금속판(21)이 잘라내진 위치, 즉 긴 금속판(64)의 폭 방향에서의 위치에 따라서 상이한 것을 의미한다. 여기서 본 실시 형태에 의하면, 상술한 바와 같이, 폭 방향(D2)에서의 신장차율에 기초하여 미리 선별된 긴 금속판(64)이 사용되고 있다. 이로 인해, 긴 금속판(64)이 물결 형상을 갖는 경우에도, 동시에 제작되는 복수의 증착 마스크(20)의 길이의 상이의 정도를 허용 범위 내의 것으로 할 수 있다. 따라서 본 실시 형태에 의하면, 증착 마스크(20)의 유효 영역(22)의 두께를 작게 하고, 또한 증착 마스크(20)의 제1 오목부(30)의 벽면(31)의 경사 각도(θ1)를 크게 하여, 증착 재료의 이용 효율 및 증착의 위치 정밀도를 향상시키는 것이나, 증착 마스크(20)의 유효 영역(22)의 각 관통 구멍(25)의 피치의 변동을 저감하는 것, 및 증착 마스크 제조 공정 중의 노광 공정에서의 밀착성을 높여서, 증착 마스크(20)의 제조 공정의 수율을 향상시키는 것을 양립시킬 수 있다. 따라서, 우수한 특성을 갖는 증착 마스크(20)를 안정적으로 제공할 수 있다.By the way, cutting the elongated metal plate 64 having a wavy shape to a predetermined width along the longitudinal direction means that the length of each deposition mask 20 including the elongated metal plate 21 obtained after cutting is the length of the metal plate ( It means that 21) differs according to the cut out position, ie, the position in the width direction of the elongate metal plate 64. As shown in FIG. Here, according to this embodiment, as mentioned above, the elongate metal plate 64 preselected based on the elongation difference ratio in the width direction D2 is used. For this reason, even when the elongate metal plate 64 has a wavy shape, the degree of difference in the lengths of the some vapor deposition mask 20 produced simultaneously can be made into the thing within a permissible range. Therefore, according to the present embodiment, the thickness of the effective region 22 of the deposition mask 20 is reduced, and the inclination angle θ1 of the wall surface 31 of the first recess 30 of the deposition mask 20 is increased. Enlarging it to improve the utilization efficiency of the deposition material and the positioning accuracy of deposition, reducing the variation in the pitch of each through-hole 25 in the effective area 22 of the deposition mask 20, and the deposition mask manufacturing process It is compatible with improving the adhesiveness in the exposure process in the middle, and improving the yield of the manufacturing process of the vapor deposition mask 20. Accordingly, the deposition mask 20 having excellent characteristics can be stably provided.

(증착 방법) (Deposition method)

이어서, 얻어진 증착 마스크(20)를 사용해서 기판(92) 위에 증착 재료를 증착시키는 방법에 대해 설명한다. 우선, 도 2에 도시한 바와 같이, 증착 마스크(20)를 기판(92)에 대하여 밀착시킨다. 이때, 증착 마스크(20)를 프레임(15)에 장설함으로써, 증착 마스크(20)의 면이 기판(92)의 면에 평행해지도록 한다. 여기서 본 실시 형태에 의하면, 폭 방향(D2)에서의 신장차율에 기초하여 미리 선별된 긴 금속판(64)이 사용되고 있다. 이 때문에, 이러한 선별이 실시되지 않는 경우에 비해, 각 증착 마스크(20)에서의 길이의 변동이, 나아가서는 유효 영역(22)의 각 관통 구멍(25)의 피치의 변동이 균일하게 저감되어 있다. 따라서, 높은 위치 정밀도로 증착 재료를 기판(92)에 증착시킬 수 있다. 따라서, 증착에 의해 유기 EL 표시 장치의 화소를 형성하는 경우, 유기 EL 표시 장치의 화소의 치수 정밀도나 위치 정밀도를 높일 수 있다. 이에 의해, 고정밀의 유기 EL 표시 장치를 제작하는 것이 가능해진다. Next, the method of vapor-depositing vapor deposition material on the board|substrate 92 using the obtained vapor deposition mask 20 is demonstrated. First, as shown in FIG. 2 , the deposition mask 20 is brought into close contact with the substrate 92 . At this time, by installing the deposition mask 20 on the frame 15 , the surface of the deposition mask 20 is parallel to the surface of the substrate 92 . Here, according to this embodiment, the elongate metal plate 64 pre-sorted based on the elongation difference ratio in the width direction D2 is used. For this reason, compared with the case where such sorting is not performed, the variation in the length in each deposition mask 20 and further the variation in the pitch of each through hole 25 in the effective area 22 are uniformly reduced. . Accordingly, the deposition material can be deposited on the substrate 92 with high positioning accuracy. Therefore, when forming the pixel of an organic electroluminescent display by vapor deposition, the dimensional precision and positional precision of the pixel of an organic electroluminescent display can be improved. Thereby, it becomes possible to produce a high-definition organic electroluminescence display.

또한 상술한 본 실시 형태에 있어서, 긴 금속판(64)의 폭 방향(D2)의 각 위치에서의 긴 금속판(64)의 길이를, 긴 금속판(64)을 길이 방향에 있어서 절단하지 않고 산출하는 예를 나타냈다. 그러나, 이것에 한정되지 않고, 긴 금속판(64)을 길이 방향에 있어서 적절한 길이로 절단한 후, 폭 방향(D2)의 각 위치에서, 절단된 금속판의 길이를 산출하고, 그 결과에 기초하여 금속판의 선별을 실시해도 된다.Moreover, in this embodiment mentioned above, the length of the elongate metal plate 64 at each position in the width direction D2 of the elongate metal plate 64 is an example of calculating without cutting the elongate metal plate 64 in the longitudinal direction. showed However, it is not limited to this, After cut|disconnecting the elongate metal plate 64 to the appropriate length in the longitudinal direction, at each position in the width direction D2, the length of the cut|disconnected metal plate is computed, Based on the result, a metal plate may be selected.

또한 본 실시 형태에 있어서, 금속판(21)의 제1 면(21a)이, 유효 영역(22)의 전역에 걸쳐 에칭되는 예를 나타냈다. 그러나, 이것에 한정되지 않고, 유효 영역(22)의 일부에서만 금속판(21)의 제1 면(21a)이 에칭되어도 된다. In addition, in this embodiment, the example in which the 1st surface 21a of the metal plate 21 was etched over the whole effective area|region 22 was shown. However, the present invention is not limited thereto, and the first surface 21a of the metal plate 21 may be etched only in a part of the effective area 22 .

실시예 Example

이어서, 본 발명을 실시예에 의해 더욱 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 그 요지를 초과하지 않는 한, 이하의 실시예의 기재에 한정되는 것은 아니다.Next, although an Example demonstrates this invention more concretely, this invention is not limited to description of the following example, unless the summary is exceeded.

(제1 샘플) (first sample)

우선, 인바재로 구성된 모재에 대하여 상술한 압연 공정 및 어닐 공정을 실시함으로써, 긴 금속판이 권취된 권취체(제1 권취체)를 제조하였다. 그 후, 전단기를 사용해서 제1 권취체의 선단부를 잘라냄으로써, 도 21에 도시한 바와 같이, 폭 500mm, 투영 길이 700mm의 금속판을 포함하는 제1 샘플(100)을 얻었다. 또한 「투영 길이」란, 금속판을 바로 위에서 본 경우, 즉, 금속판의 물결 형상을 무시한 경우의 금속판의 길이(압연 방향에서의 치수)이다. 또한 제1 샘플(100)의 폭이란, 폭 방향에서의 제1 샘플(100)의 한 쌍의 단부(101, 102)의 사이의 거리를 말한다. 제1 샘플(100)의 한 쌍의 단부(101, 102)는, 압연 공정 및 어닐 공정에 의해 얻어지는 금속판의 폭 방향에서의 양단을 소정 범위에 걸쳐 잘라내는 절단 공정을 거침으로써 형성되는 부분이며, 거의 곧게 연장되어 있다. First, by performing the above-mentioned rolling process and annealing process with respect to the base material comprised with the invar material, the winding body (1st winding body) in which the elongate metal plate was wound was manufactured. Then, the 1st sample 100 containing the metal plate of width 500mm and projection length 700mm was obtained as shown in FIG. 21 by cutting out the front-end|tip part of a 1st winding body using a shearing machine. In addition, "projection length" is the length (dimension in a rolling direction) of a metal plate in the case where the metal plate is viewed from directly above, ie, the corrugation shape of a metal plate is disregarded. In addition, the width|variety of the 1st sample 100 means the distance between a pair of edge part 101, 102 of the 1st sample 100 in the width direction. A pair of end portions 101 and 102 of the first sample 100 is a portion formed by passing through a cutting step of cutting both ends in the width direction of the metal plate obtained by the rolling step and the annealing step over a predetermined range, almost straight extended.

다음으로 도 21에 도시한 바와 같이, 제1 샘플(100)을 정반(110) 위에 수평하게 적재하였다. 그때, 제1 샘플(100)에 부분적인 오목부가 발생하지 않도록, 제1 샘플(100)을 가만히 정반(110) 위에 놓았다. 이어서, 제1 샘플(100)의 한쪽 단부(101)에서, 투영 길이 500mm의 영역에서의 제1 샘플(100)의 실제 길이, 즉, 물결 형상을 고려한 길이를 측정하였다. 또한 투영 길이 500mm의 영역이란, 투영 길이 700mm의 제1 샘플(100)로부터, 샘플(1)의 길이 방향에서의 양단(103, 104)으로부터 100mm 이내에 있는 영역을 제외한 영역을 말한다. 양단(103, 104)으로부터 100mm 이내에 있는 영역을 측정 대상으로부터 제외한 것은, 전단기에 의한 절단에 기인하는 제1 샘플(100)의 왜곡의 영향이 길이 측정 결과에 미치는 것을 방지하기 위해서이다. 도 21에서, 투영 길이 500mm의 영역이 일점 쇄선으로 나타나 있다.Next, as shown in FIG. 21 , the first sample 100 was horizontally loaded on the surface plate 110 . At that time, the first sample 100 was placed still on the surface plate 110 so that a partial concavity did not occur in the first sample 100 . Next, at one end 101 of the first sample 100, the actual length of the first sample 100 in the region of the projection length of 500 mm, that is, the length taking the wave shape into account was measured. In addition, the area|region with a projection length of 500 mm means the area|region excluding the area|region within 100 mm from the both ends 103 and 104 in the longitudinal direction of the sample 1 from the 1st sample 100 of 700 mm of projection length. The region within 100 mm from both ends 103 and 104 is excluded from the measurement target in order to prevent the influence of the distortion of the first sample 100 due to cutting by the shearing machine from affecting the length measurement result. In Fig. 21, a region with a projection length of 500 mm is indicated by a dashed-dotted line.

측정에 있어서는, 도 21에서 화살표 s로 나타내는 바와 같이, 레이저광을 이용한 측거 장치를 제1 샘플(100)의 길이 방향을 따라 제1 샘플(100)에 대하여 상대적으로 이동시켜서, 길이 방향에서의 제1 샘플(100)의 한쪽 단부(101)에서의 표면의 높이 위치를 1mm 간격으로 측정하였다. 또한, 각 측정점의 사이를 매끄럽게 연결하는 곡선을 긋고, 그 후, 이 곡선의 길이를 산출하였다. 제1 샘플(100)의 표면의 높이 위치를 측정하기 위한 측거 장치로서는, 레이저 현미경인 레이저텍 가부시끼가이샤 제조의 OPTELICS H1200을 사용하였다. 또한 측정 시에 이동되는 요소는 측거 장치 또는 제1 샘플(100) 중 어느 것이어도 상관없지만, 여기에서는, 제1 샘플(100)이 적재되는 정반으로서 500mm×500mm의 오토 스테이지를 사용함으로써, 샘플(100)을 이동시켜서 측정을 행하였다. XY 방향에서의 오토 스테이지의 제어에는, 레이저 간섭계를 이용하였다. 이와 같이 하여, 한쪽 단부(101)에서의 제1 샘플(100)의 길이를 측정하였다. In the measurement, as indicated by an arrow s in FIG. 21 , the measuring device using a laser beam is moved relative to the first sample 100 along the longitudinal direction of the first sample 100 , and 1 The height position of the surface at one end 101 of the sample 100 was measured at intervals of 1 mm. Further, a curve was drawn to smoothly connect between each measurement point, and then the length of the curve was calculated. As a measuring device for measuring the height position of the surface of the first sample 100, OPTELICS H1200, which is a laser microscope, manufactured by Lasertech Co., Ltd. was used. In addition, the element to be moved at the time of measurement may be any of the measuring device or the first sample 100, but here, by using an auto stage of 500 mm × 500 mm as a surface plate on which the first sample 100 is mounted, the sample ( 100) was moved and the measurement was performed. A laser interferometer was used to control the auto stage in the XY direction. In this way, the length of the first sample 100 at one end 101 was measured.

이어서, 한쪽 단부(101)로부터 다른 쪽 단부(102)측으로 20mm 변위한 위치에 있어서, 제1 샘플(100)의 길이를 마찬가지로 측정하였다. 제1 샘플(100)의 폭 방향에서의 위치를 소정의 피치(p)로 바꾸면서 상술한 측정을 반복해서 실시함으로써, 폭 방향의 각 위치에서의 제1 샘플의 길이를 측정하였다. 여기에서는, 피치(p)를 20mm로 하였다. 얻어진 측정 결과는, 한쪽 단부(101)에서의 길이 측정 결과, 다른 쪽 단부(102)에서의 길이 측정 결과, 및 중앙 부분에서의 길이 측정 결과, 및 중앙 부분과 단부(101, 102)의 사이에서의 길이 측정 결과를 포함하고 있다. 또한 중앙 부분은, 한쪽 단부(101)를 기준으로 하는 경우, 한쪽 단부(101)로부터의 거리가 150mm 이상 또한 350mm 이하의 범위 내로 되어 있는 부분이다. 또한, 폭 방향에서 측정 위치는, 제1 샘플(100)의 중앙부에 있어서, 즉, 한쪽 단부(101) 및 다른 쪽 단부로부터의 거리가 동등해지는 위치에서 길이 측정이 실시되도록 설정되어 있다. Next, at a position displaced by 20 mm from one end 101 to the other end 102 side, the length of the first sample 100 was similarly measured. The length of the first sample at each position in the width direction was measured by repeating the above measurement while changing the position of the first sample 100 in the width direction to a predetermined pitch p. Here, the pitch p was set to 20 mm. The obtained measurement results are the length measurement result at one end 101 , the length measurement result at the other end 102 , and the length measurement result at the central portion, and between the central portion and the end portions 101 and 102 . length measurement results. In addition, the central part is a part in which the distance from one edge part 101 is in the range of 150 mm or more and 350 mm or less, when the one edge part 101 is taken as a reference. In addition, the measurement position in the width direction is set so that length measurement may be performed in the center part of the 1st sample 100, ie, at the position where the distance from the one end 101 and the other end becomes equal.

이어서, 폭 방향의 각 위치에서 얻어진 제1 샘플(100)의 길이의 최솟값을, 기준 길이로서 설정하였다. 그 후, 기준 길이에 대한, 폭 방향의 각 위치에서의 제1 샘플(100)의 길이의 차의 비율을, 신장차율로서 산출하였다. 그 결과, 한쪽 단부(101)에서의 신장차율은 79.9×10-5이며, 다른 쪽 단부(102)에서의 신장차율은 71.2×10-5이며, 중앙 부분의 각 위치에서의 신장차율의 최댓값은 15.8×10-5이었다.Next, the minimum value of the length of the 1st sample 100 obtained at each position of the width direction was set as reference length. Thereafter, the ratio of the difference in the length of the first sample 100 at each position in the width direction with respect to the reference length was calculated as the elongation difference ratio. As a result, the elongation difference ratio at one end 101 is 79.9×10 -5 , the elongation difference ratio at the other end 102 is 71.2×10 -5 , and the maximum value of the elongation difference ratio at each position of the central portion is It was 15.8×10 -5 .

제1 샘플(100)에서의 신장차율의 산출 결과와, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 대조한 결과, 제1 샘플(100)에서는, 조건 (3)은 만족되어 있었지만, 조건 (1) 및 (2)가 만족되지 않았다. 따라서 제1 샘플(100)은, 증착 마스크를 제조하기 위한 소재로서 사용할 수 없는 것이라고 판정된다. As a result of comparing the calculation result of the elongation difference ratio in the first sample 100 with the aforementioned conditions (1) to (3), in the first sample 100, condition (3) was satisfied, but condition (1) ) and (2) were not satisfied. Therefore, it is determined that the first sample 100 cannot be used as a material for manufacturing the deposition mask.

또한, 상술한 제1 샘플(100)이 얻어진 제1 권취체의 금속판을 사용하여, 길이 방향을 따라서 5개의 유효 영역이 설치된 증착 마스크를 다수 제조하였다. 각 증착 마스크의 각 유효 영역에는, 규칙적인 배열로 다수의 관통 구멍이 형성되어 있다. 이어서, 얻어진 증착 마스크의 위치 정밀도를 평가하기 위해서, 각 증착 마스크의 총 피치를 측정하고, 그리고 총 피치의 변동 정도를 산출하였다. In addition, using the metal plate of the first winding body from which the above-described first sample 100 was obtained, a plurality of deposition masks provided with five effective regions along the longitudinal direction were manufactured. In each effective area of each deposition mask, a plurality of through holes are formed in a regular arrangement. Next, in order to evaluate the positional accuracy of the obtained deposition mask, the total pitch of each deposition mask was measured, and the degree of variation of the total pitch was calculated.

여기서 총 피치란, 증착 마스크에서의 소정의 2점간의 거리이다. 증착 마스크의 위치 정밀도를 평가할 수 있는 한, 2점의 설정 개소는 특별히 한정되지는 않지만, 여기에서는, 증착 마스크의 일단부측에 위치하는 유효 영역의 근방에 형성되는 소정의 마크와, 증착 마스크의 타단부측에 위치하는 유효 영역의 근방에 형성되는 소정의 마크와의 사이의 거리를, 총 피치로서 측정하였다. 이 경우의 총 피치는, 설계상은 약 600mm가 된다. Here, the total pitch is the distance between two predetermined points in the deposition mask. As long as the positional accuracy of the deposition mask can be evaluated, the setting location of the two points is not particularly limited, but here, a predetermined mark formed in the vicinity of the effective area located on one end side of the deposition mask, and the other of the deposition mask The distance between a predetermined mark formed in the vicinity of the effective area located on the edge side was measured as a total pitch. The total pitch in this case is set to about 600 mm in design.

총 피치의 변동 정도의 지표로서는, 각 증착 마스크의 총 피치 측정값의 표준 편차(σ)에 3을 곱한 값, 소위 3σ를 이용하였다. 제1 권취체로부터 얻어진 증착 마스크의 총 피치 측정값의 변동(3σ)은 35.2㎛이었다. 또한 표준 편차(σ)를 산출할 때의 n수는, 후술하는 각 샘플과의 사이에서의 비교를 행함에 있어서 충분한 확실도를 표준 편차(σ)의 값이 갖도록 설정하였다. 구체적으로는, n수를 400으로 하였다. As an index of the degree of variation of the total pitch, a value obtained by multiplying the standard deviation (σ) of the total pitch measurement value of each deposition mask by 3, so-called 3σ, was used. The variation (3σ) of the total pitch measurement value of the deposition mask obtained from the first winding body was 35.2 μm. In addition, the number of n when calculating the standard deviation ? was set so that the value of the standard deviation ? has sufficient certainty in comparison with each sample described later. Specifically, the number n was set to 400.

(제2 샘플) (second sample)

상술한 제1 권취체와는 상이한 제2 권취체의 선단부를 잘라냄으로써, 폭 500mm, 투영 길이 700mm의 금속판을 포함하는 제2 샘플을 얻었다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 하여, 폭 방향의 각 위치에서, 제2 샘플의 길이를 측정하고, 또한 신장차율을 산출하였다. 그 결과, 한쪽 단부에서의 신장차율은 24.7×10-5이며, 다른 쪽 단부에서의 신장차율은 29.8×10-5이며, 중앙 부분의 각 위치에서의 신장차율의 최댓값은 1.0×10-5이었다. The 2nd sample containing the metal plate of width 500mm and projection length 700mm was obtained by cutting out the front-end|tip part of the 2nd winding body different from the 1st winding body mentioned above. Next, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, at each position in the width direction, the length of the 2nd sample was measured, and also the elongation difference ratio was computed. As a result, the elongation difference ratio at one end was 24.7×10 -5 , the elongation difference ratio at the other end was 29.8×10 -5 , and the maximum value of the elongation difference ratio at each position in the center was 1.0×10 -5 . .

제2 샘플에서의 신장차율의 산출 결과와, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 대조한 결과, 제2 샘플에서는, 조건 (1) 및 (3)은 만족되어 있었지만, 조건 (2)가 만족되지 않았다. 따라서 제2 샘플은, 증착 마스크를 제조하기 위한 소재로서 사용할 수 없는 것이라고 판정된다. As a result of comparing the calculation result of the elongation difference ratio in the second sample with the aforementioned conditions (1) to (3), in the second sample, conditions (1) and (3) were satisfied, but condition (2) was not satisfied Therefore, it is judged that a 2nd sample cannot be used as a raw material for manufacturing a vapor deposition mask.

또한, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 제2 권취체의 금속판을 사용하여, 다수의 관통 구멍이 형성된 증착 마스크를 다수 제조하였다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 얻어진 각 증착 마스크의 총 피치를 측정하고, 그리고 총 피치 측정값의 변동(3σ)을 산출하였다. 그 결과, 3σ의 값은 16.1㎛이었다. Moreover, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, and manufactured many vapor deposition masks in which many through-holes were formed using the metal plate of the 2nd winding body. Next, in the same manner as in the case of the first sample described above, the total pitch of each obtained deposition mask was measured, and the variation (3σ) of the total pitch measurement value was calculated. As a result, the value of 3σ was 16.1 μm.

(제3 샘플) (3rd sample)

상술한 제1 권취체 및 제2 권취체와는 상이한 제3 권취체의 선단부를 잘라냄으로써, 폭 500mm, 투영 길이 700mm의 금속판을 포함하는 제3 샘플을 얻었다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 폭 방향의 각 위치에서, 제3 샘플의 길이를 측정하고, 또한 신장차율을 산출하였다. 그 결과, 한쪽 단부에서의 신장차율은 18.1×10-5이며, 다른 쪽 단부에서의 신장차율은 19.0×10-5이며, 중앙 부분의 각 위치에서의 신장차율의 최댓값은 13.2×10-5이었다. The 3rd sample containing the metal plate of width 500mm and projection length 700mm was obtained by cutting out the front-end|tip part of the 3rd winding body different from the 1st winding body and 2nd winding body mentioned above. Next, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, at each position in the width direction, the length of the 3rd sample was measured, and also the elongation difference rate was computed. As a result, the elongation difference ratio at one end was 18.1×10 -5 , the elongation difference ratio at the other end was 19.0×10 -5 , and the maximum value of the elongation difference ratio at each position in the center was 13.2×10 -5 . .

제3 샘플에서의 신장차율의 산출 결과와, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 대조한 결과, 제3 샘플에서는, 조건 (2) 및 (3)은 만족되어 있었지만, 조건 (1)이 만족되지 않았다. 따라서 제3 샘플은, 증착 마스크를 제조하기 위한 소재로서 사용할 수 없는 것이라고 판정된다. As a result of comparing the calculation result of the elongation difference ratio in the third sample with the aforementioned conditions (1) to (3), in the third sample, conditions (2) and (3) were satisfied, but condition (1) was not satisfied Therefore, it is determined that the third sample cannot be used as a material for manufacturing the deposition mask.

또한, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 제3 권취체의 금속판을 사용하여, 다수의 관통 구멍이 형성된 증착 마스크를 다수 제조하였다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 얻어진 각 증착 마스크의 총 피치를 측정하고, 그리고 총 피치 측정값의 변동(3σ)을 산출하였다. 그 결과, 3σ의 값은 14.2㎛이었다. Moreover, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, and manufactured many vapor deposition masks in which many through-holes were formed using the metal plate of a 3rd winding body. Next, in the same manner as in the case of the first sample described above, the total pitch of each obtained deposition mask was measured, and the variation (3σ) of the total pitch measurement value was calculated. As a result, the value of 3σ was 14.2 mu m.

(제4 샘플) (4th sample)

상술한 제1 권취체 내지 제3 권취체와는 상이한 제4 권취체의 선단부를 잘라냄으로써, 폭 500mm, 투영 길이 700mm의 금속판을 포함하는 제4 샘플을 얻었다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 폭 방향의 각 위치에서, 제4 샘플의 길이를 측정하고, 또한 신장차율을 산출하였다. 그 결과, 한쪽 단부에서의 신장차율은 26.8×10-5이며, 다른 쪽 단부에서의 신장차율은 18.6×10-5이며, 중앙 부분의 각 위치에서의 신장차율의 최댓값은 3.9×10-5이었다. The 4th sample containing the metal plate of width 500mm and projection length 700mm was obtained by cutting out the front-end|tip part of the 4th winding body different from the 1st winding body thru|or 3rd winding body mentioned above. Next, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, at each position in the width direction, the length of the 4th sample was measured, and also the elongation difference ratio was computed. As a result, the elongation difference ratio at one end was 26.8×10 -5 , the elongation difference ratio at the other end was 18.6×10 -5 , and the maximum value of the elongation difference ratio at each position in the center was 3.9×10 -5 . .

제4 샘플에서의 신장차율의 산출 결과와, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 대조한 결과, 제4 샘플에서는, 조건 (1) 및 (3)은 만족되어 있었지만, 조건 (2)가 만족되지 않았다. 따라서 제4 샘플은, 증착 마스크를 제조하기 위한 소재로서 사용할 수 없는 것이라고 판정된다. As a result of comparing the calculation result of the elongation difference ratio in the fourth sample with the aforementioned conditions (1) to (3), in the fourth sample, conditions (1) and (3) were satisfied, but condition (2) was not satisfied Therefore, it is judged that the 4th sample cannot be used as a raw material for manufacturing a vapor deposition mask.

또한, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 제4 권취체의 금속판을 사용하여, 다수의 관통 구멍이 형성된 증착 마스크를 다수 제조하였다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 얻어진 각 증착 마스크의 총 피치를 측정하고, 그리고 총 피치 측정값의 변동(3σ)을 산출하였다. 그 결과, 3σ의 값은 13.5㎛이었다. Moreover, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, and manufactured many vapor deposition masks in which many through-holes were formed using the metal plate of a 4th winding body. Next, in the same manner as in the case of the first sample described above, the total pitch of each obtained deposition mask was measured, and the variation (3σ) of the total pitch measurement value was calculated. As a result, the value of 3σ was 13.5 μm.

(제5 샘플) (5th sample)

상술한 제1 권취체 내지 제4 권취체와는 상이한 제5 권취체의 선단부를 잘라냄으로써, 폭 500mm, 투영 길이 700mm의 금속판을 포함하는 제5 샘플을 얻었다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 폭 방향의 각 위치에서, 제5 샘플의 길이를 측정하고, 또한 신장차율을 산출하였다. 그 결과, 한쪽 단부에서의 신장차율은 18.2×10-5이며, 다른 쪽 단부에서의 신장차율은 12.3×10-5이며, 중앙 부분의 각 위치에서의 신장차율의 최댓값은 9.1×10-5이었다. The 5th sample containing the metal plate of width 500mm and projection length 700mm was obtained by cutting out the front-end|tip part of the 5th winding body different from the 1st winding body thru|or the 4th winding body mentioned above. Next, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, at each position in the width direction, the length of the 5th sample was measured, and also the elongation difference rate was computed. As a result, the elongation difference ratio at one end was 18.2×10 -5 , the elongation difference ratio at the other end was 12.3×10 -5 , and the maximum value of the elongation difference ratio at each position in the center was 9.1×10 -5 . .

제5 샘플에서의 신장차율의 산출 결과와, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 대조한 결과, 제5 샘플에서는, 조건 (1) 내지 (3)의 모두가 만족되어 있었다. 따라서 제5 샘플은, 증착 마스크를 제조하기 위한 소재로서 사용할 수 있는 것이라고 판정된다.As a result of comparing the calculation result of the elongation difference ratio in the fifth sample with the conditions (1) to (3) described above, in the fifth sample, all of the conditions (1) to (3) were satisfied. Therefore, it is judged that the 5th sample can be used as a raw material for manufacturing a vapor deposition mask.

또한, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 제5 권취체의 금속판을 사용하여, 다수의 관통 구멍이 형성된 증착 마스크를 다수 제조하였다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 얻어진 각 증착 마스크의 총 피치를 측정하고, 그리고 총 피치 측정값의 변동(3σ)을 산출하였다. 그 결과, 3σ의 값은 5.6㎛이었다. Moreover, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, and manufactured many vapor deposition masks in which many through-holes were formed using the metal plate of the 5th winding body. Next, in the same manner as in the case of the first sample described above, the total pitch of each obtained deposition mask was measured, and the variation (3σ) of the total pitch measurement value was calculated. As a result, the value of 3σ was 5.6 mu m.

(제6 샘플) (Sixth sample)

상술한 제1 권취체 내지 제5 권취체와는 상이한 제6 권취체의 선단부를 잘라냄으로써, 폭 500mm, 투영 길이 700mm의 금속판을 포함하는 제6 샘플을 얻었다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 폭 방향의 각 위치에서, 제6 샘플의 길이를 측정하고, 또한 신장차율을 산출하였다. 그 결과, 한쪽 단부에서의 신장차율은 18.2×10-5이며, 다른 쪽 단부에서의 신장차율은 8.8×10-5이며, 중앙 부분의 각 위치에서의 신장차율의 최댓값은 9.1×10-5이었다. The 6th sample containing the metal plate of width 500mm and projection length 700mm was obtained by cutting out the front-end|tip part of the 6th winding body different from the 1st winding body thru|or 5th winding body mentioned above. Next, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, at each position in the width direction, the length of the 6th sample was measured, and also the elongation difference rate was computed. As a result, the elongation difference ratio at one end was 18.2×10 -5 , the elongation difference ratio at the other end was 8.8×10 -5 , and the maximum value of the elongation difference ratio at each position in the center was 9.1×10 -5 . .

제6 샘플에서의 신장차율의 산출 결과와, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 대조한 결과, 제3 샘플에서는, 조건 (1) 및 (2)는 만족되어 있었지만, 조건 (3)이 만족되지 않았다. 따라서 제6 샘플은, 증착 마스크를 제조하기 위한 소재로서 사용할 수 없는 것이라고 판정된다. As a result of comparing the calculation result of the elongation difference ratio in the sixth sample with the above-mentioned conditions (1) to (3), in the third sample, conditions (1) and (2) were satisfied, but condition (3) was not satisfied Therefore, it is judged that the 6th sample cannot be used as a raw material for manufacturing a vapor deposition mask.

또한, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 제6 권취체의 금속판을 사용하여, 다수의 관통 구멍이 형성된 증착 마스크를 다수 제조하였다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 얻어진 각 증착 마스크의 총 피치를 측정하고, 그리고 총 피치 측정값의 변동(3σ)을 산출하였다. 그 결과, 3σ의 값은 12.6㎛이었다. Moreover, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, and manufactured many vapor deposition masks in which many through-holes were formed using the metal plate of the 6th winding body. Next, in the same manner as in the case of the first sample described above, the total pitch of each obtained deposition mask was measured, and the variation (3σ) of the total pitch measurement value was calculated. As a result, the value of 3σ was 12.6 μm.

(제7 샘플) (Seventh sample)

상술한 제1 권취체 내지 제6 권취체와는 상이한 제7 권취체의 선단부를 잘라냄으로써, 폭 500mm, 투영 길이 700mm의 금속판을 포함하는 제7 샘플을 얻었다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 폭 방향의 각 위치에서, 제7 샘플의 길이를 측정하고, 또한 신장차율을 산출하였다. 그 결과, 한쪽 단부에서의 신장차율은 16.5×10-5이며, 다른 쪽 단부에서의 신장차율은 3.2×10-5이며, 중앙 부분의 각 위치에서의 신장차율의 최댓값은 0.8×10-5이었다. The 7th sample containing the metal plate of width 500mm and projection length 700mm was obtained by cutting out the front-end|tip part of the 7th winding body different from the 1st winding body thru|or the 6th winding body mentioned above. Next, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, at each position in the width direction, the length of the 7th sample was measured, and also the elongation difference rate was computed. As a result, the elongation difference ratio at one end was 16.5×10 -5 , the elongation difference ratio at the other end was 3.2×10 -5 , and the maximum value of the elongation difference ratio at each position in the center was 0.8×10 -5 . .

제7 샘플에서의 신장차율의 산출 결과와, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 대조한 결과, 제7 샘플에서는, 조건 (1) 내지 (3)의 모두가 만족되어 있었다. 따라서 제7 샘플은, 증착 마스크를 제조하기 위한 소재로서 사용할 수 있는 것이라고 판정된다.As a result of comparing the calculation result of the elongation difference ratio in the seventh sample with the conditions (1) to (3) described above, in the seventh sample, all of the conditions (1) to (3) were satisfied. Therefore, it is judged that the 7th sample can be used as a raw material for manufacturing a vapor deposition mask.

또한, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 제7 권취체의 금속판을 사용하여, 다수의 관통 구멍이 형성된 증착 마스크를 다수 제조하였다. 이어서, 상술한 제1 샘플의 경우와 마찬가지로 해서, 얻어진 각 증착 마스크의 총 피치를 측정하고, 그리고 총 피치 측정값의 변동(3σ)을 산출하였다. 그 결과, 3σ의 값은 4.3㎛이었다. Moreover, it carried out similarly to the case of the 1st sample mentioned above, and manufactured many vapor deposition masks in which many through-holes were formed using the metal plate of the 7th winding body. Next, in the same manner as in the case of the first sample described above, the total pitch of each obtained deposition mask was measured, and the variation (3σ) of the total pitch measurement value was calculated. As a result, the value of 3σ was 4.3 μm.

이와 같이, 상술한 조건 (1) 내지 (3)에 기초해서 양호한 판정이 내려진 샘플 5, 7이 취출된 제5, 제7 권취체의 금속판을 사용한 경우, 증착 마스크의 총 피치 측정값의 변동(3σ)의 값을 작게, 구체적으로는 10㎛ 이하로 할 수 있었다. 한편, 상술한 조건 (1) 내지 (3)에 기초하여 불량이라고 판정된 샘플 1 내지 4 및 6이 취출된 제1 내지 제4 및 제6 권취체의 금속판을 사용한 경우, 증착 마스크의 총 피치 측정값의 변동(3σ)의 값이 크게, 구체적으로는 10㎛보다 크게 되어 있었다. 이러한 점에서, 상술한 조건 (1) 내지 (3)에 기초하는 판정 결과와, 얻어지는 증착 마스크의 성능과의 사이에는, 강한 상관이 있다고 할 수 있다. 즉, 상술한 조건 (1) 내지 (3)을 이용함으로써, 권취체의 단계에서, 당해 권취체의 금속판으로부터 얻어지는 증착 마스크의 특성을 고정밀도로 예측할 수 있다고 할 수 있다. 따라서, 상술한 조건 (1) 내지 (3)은 유력한 판단 방법이라고 생각한다.As described above, when the metal plates of the 5th and 7th winding bodies from which Samples 5 and 7 from which good judgment was made based on the above-mentioned conditions (1) to (3) were used were used, the variation in the total pitch measurement value of the deposition mask ( 3σ) was able to be small, specifically 10 µm or less. On the other hand, when the metal plates of the first to fourth and sixth winding bodies from which samples 1 to 4 and 6 judged to be defective based on the above-described conditions (1) to (3) were taken out, the total pitch measurement of the deposition mask was used. The value of the variation (3σ) was large, specifically, larger than 10 µm. From this point, it can be said that there exists a strong correlation between the determination result based on the above-mentioned conditions (1) - (3), and the performance of the vapor deposition mask obtained. That is, it can be said that the characteristics of the vapor deposition mask obtained from the metal plate of the said winding body can be predicted with high precision at the stage of a winding body by using the above-mentioned conditions (1) - (3). Therefore, it is considered that the above-mentioned conditions (1) to (3) are a strong judgment method.

20: 증착 마스크
21: 금속판
21a: 금속판의 제1 면
21b: 금속판의 제2 면
22: 유효 영역
23: 주위 영역
25: 관통 구멍
30: 제1 오목부
31: 벽면
35: 제2 오목부
36: 벽면
55: 모재
56: 압연 장치
57: 어닐 장치
61: 코어
62: 권취체
64: 긴 금속판
64a: 긴 금속판의 제1 면
64b: 긴 금속판의 제2 면
64c: 긴 금속판의 폭 방향에서의 중앙부
64e: 긴 금속판의 폭 방향에서의 단부
65a, 65b: 레지스트 패턴
65c, 65d: 레지스트막
80: 신장차율의 곡선
81: 기준선
85a, 85b: 노광 마스크
20: deposition mask
21: metal plate
21a: the first side of the metal plate
21b: the second side of the metal plate
22: effective area
23: surrounding area
25: through hole
30: first recess
31: wall
35: second recess
36: wall
55: base material
56: rolling device
57: annealing device
61: core
62: winding body
64: long metal plate
64a: the first side of the long metal plate
64b: second side of long metal plate
64c: central part in the width direction of a long metal plate
64e: the end in the width direction of the long metal plate
65a, 65b: resist pattern
65c, 65d: resist film
80: curve of height difference ratio
81: baseline
85a, 85b: exposure mask

Claims (13)

복수의 관통 구멍을 형성해서 증착 마스크를 제조하기 위해 사용되는 금속판의 제조 방법이며,
상기 증착 마스크의 상기 관통 구멍은, 상기 금속판을 에칭함으로써 형성되는 것이며,
상기 금속판의 제조 방법은,
모재를 압연해서 상기 금속판을 얻는 압연 공정과,
상기 금속판의 폭 방향에서의 양단을 소정 범위에 걸쳐 잘라내는 절단 공정을 구비하고,
상기 절단 공정 후의 상기 금속판은, 그 길이 방향에서의 길이가 그 폭 방향의 위치에 따라 상이한 것에 기인하는 물결 형상을 적어도 부분적으로 갖고 있으며,
상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 상기 길이의 최솟값을 기준 길이라고 칭하고, 상기 기준 길이에 대한, 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 폭 방향의 각 위치에서의 상기 금속판의 상기 길이의 차의 비율을 신장차율이라 칭하는 경우, 이하의 조건 (1) 내지 (3)이 만족되어 있고,
(1) 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 상기 신장차율이 10×10-5 이하일 것;
(2) 상기 폭 방향에 있어서 상기 금속판의 중앙부로부터 상기 폭 방향으로 250mm 떨어진 위치에서의 상기 신장차율이 20×10-5 이하일 것; 및
(3) 상기 폭 방향에 있어서 상기 금속판의 중앙부로부터 상기 폭 방향으로 250mm 떨어진 위치에서의 상기 신장차율이 상기 중앙 부분에서의 상기 신장차율의 최댓값보다 클 것;
상기 중앙 부분은, 상기 절단 공정 후의 상기 금속판의 폭 방향의 중앙부를 포함하는, 상기 금속판의 폭의 40%를 차지하는 부분인 금속판의 제조 방법.
A method for manufacturing a metal plate used for manufacturing a deposition mask by forming a plurality of through holes,
The through hole of the deposition mask is formed by etching the metal plate,
The method of manufacturing the metal plate,
A rolling step of rolling a base material to obtain the metal plate;
A cutting step of cutting both ends in the width direction of the metal plate over a predetermined range;
The metal plate after the cutting step has at least partially a wavy shape due to the length in the longitudinal direction being different depending on the position in the width direction,
The minimum value of the length of the metal plate after the cutting process is referred to as a reference length, and the ratio of the difference between the length of the metal plate at each position in the width direction of the metal plate after the cutting process to the reference length is the elongation difference ratio. In the case of calling, the following conditions (1) to (3) are satisfied,
(1) the elongation difference ratio at the central portion in the width direction of the metal plate after the cutting step is 10×10 -5 or less;
(2) the elongation difference ratio at a position 250 mm away from the center of the metal plate in the width direction in the width direction is 20×10 -5 or less; and
(3) the elongation difference ratio at a position 250 mm away from the center portion of the metal plate in the width direction in the width direction is greater than a maximum value of the elongation difference ratio at the central portion;
The said central part is a part which occupies 40% of the width of the said metal plate including the central part of the width direction of the said metal plate after the said cutting process, The manufacturing method of a metal plate.
제1항에 있어서, 상기 압연 공정에 의해 얻어진 상기 금속판을 어닐하여, 상기 금속판의 내부 응력을 제거하는 어닐 공정을 더 구비하는 금속판의 제조 방법.The method for manufacturing a metal sheet according to claim 1, further comprising an annealing step of annealing the metal sheet obtained by the rolling step to remove internal stress of the metal sheet. 제2항에 있어서, 상기 어닐 공정은, 상기 압연된 모재를 길이 방향으로 인장하면서 실시되는 금속판의 제조 방법.The method for manufacturing a metal sheet according to claim 2, wherein the annealing step is performed while stretching the rolled base material in the longitudinal direction. 제2항에 있어서, 상기 어닐 공정은, 상기 압연된 모재가 코어에 권취된 상태에서 실시되는 금속판의 제조 방법.The method for manufacturing a metal sheet according to claim 2, wherein the annealing step is performed in a state in which the rolled base material is wound around a core. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 모재의 열팽창 계수가, 상기 금속판으로부터 제조된 증착 마스크를 개재해서 증착 재료가 성막되는 기판의 열팽창 계수와 동등한 값인 금속판의 제조 방법.The method for manufacturing a metal plate according to any one of claims 1 to 4, wherein the coefficient of thermal expansion of the base material is a value equal to the coefficient of thermal expansion of the substrate on which the deposition material is formed through a deposition mask manufactured from the metal plate. 제1항에 있어서, 상기 모재가 인바(invar)재로 구성되어 있는 금속판의 제조 방법.The method for manufacturing a metal plate according to claim 1, wherein the base material is composed of an invar material. 복수의 관통 구멍을 형성해서 증착 마스크를 제조하기 위해 사용되는 금속판이며,
상기 금속판은, 그 길이 방향에서의 길이가 그 폭 방향의 위치에 따라서 상이한 것에 기인하는 물결 형상을 적어도 부분적으로 갖고 있으며,
상기 금속판의 상기 길이의 최솟값을 기준 길이라고 칭하고, 상기 기준 길이에 대한, 상기 금속판의 폭 방향의 각 위치에서의 상기 금속판의 상기 길이의 차의 비율을 신장차율이라 칭하는 경우, 이하의 조건 (1) 내지 (3)이 만족되어 있고,
(1) 상기 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 상기 신장차율이 10×10-5 이하일 것;
(2) 상기 폭 방향에 있어서 상기 금속판의 중앙부로부터 상기 폭 방향으로 250mm 떨어진 위치에서의 상기 신장차율이 20×10-5 이하일 것; 및
(3) 상기 폭 방향에 있어서 상기 금속판의 중앙부로부터 상기 폭 방향으로 250mm 떨어진 위치에서의 상기 신장차율이 상기 중앙 부분에서의 상기 신장차율의 최댓값보다 클 것;
상기 중앙 부분은, 상기 금속판의 폭 방향의 중앙부를 포함하는, 상기 금속판의 폭의 40%를 차지하는 부분인 금속판.
A metal plate used for manufacturing a deposition mask by forming a plurality of through holes,
The metal plate has, at least in part, a wavy shape due to the length in the longitudinal direction being different depending on the position in the width direction,
When the minimum value of the length of the metal plate is referred to as a reference length, and the ratio of the difference in the length of the metal plate at each position in the width direction of the metal plate to the reference length is called the elongation difference ratio, the following conditions (1 ) to (3) are satisfied,
(1) the elongation difference ratio at the central portion in the width direction of the metal plate is 10×10 -5 or less;
(2) the elongation difference ratio at a position 250 mm away from the center of the metal plate in the width direction in the width direction is 20×10 -5 or less; and
(3) the elongation difference ratio at a position 250 mm away from the center portion of the metal plate in the width direction in the width direction is greater than the maximum value of the elongation difference ratio in the central portion;
The said central part is a metal plate which is a part which occupies 40% of the width|variety of the said metal plate, including the central part of the width direction of the said metal plate.
제7항에 있어서, 상기 금속판의 열팽창 계수가, 상기 금속판으로부터 제조된 증착 마스크를 개재해서 증착 재료가 성막되는 기판의 열팽창 계수와 동등한 값인 금속판. The metal plate according to claim 7, wherein the coefficient of thermal expansion of the metal plate is a value equal to the coefficient of thermal expansion of the substrate on which the deposition material is formed through a deposition mask manufactured from the metal plate. 제7항에 있어서, 상기 금속판이 인바재로 구성되어 있는 금속판. The metal plate according to claim 7, wherein the metal plate is made of an invar material. 복수의 관통 구멍이 형성된 유효 영역과, 상기 유효 영역의 주위에 위치하는 주위 영역을 구비하는 증착 마스크를 제조하는 방법이며,
금속판이며, 그 길이 방향에서의 길이가 그 폭 방향의 위치에 따라서 상이한 것에 기인하는 물결 형상을 적어도 부분적으로 갖는 금속판을 준비하는 공정과,
상기 금속판 위에 레지스트 패턴을 형성하는 레지스트 패턴 형성 공정과,
상기 레지스트 패턴을 마스크로 해서 상기 금속판을 에칭하여, 상기 유효 영역을 이루게 되는 상기 금속판의 영역 내에, 상기 관통 구멍을 구획 형성하게 되는 오목부를 형성하는 에칭 공정을 구비하고,
상기 금속판의 상기 길이의 최솟값을 기준 길이라고 칭하고, 상기 기준 길이에 대한, 상기 금속판의 폭 방향의 각 위치에서의 상기 금속판의 상기 길이의 차의 비율을 신장차율이라 칭하는 경우, 이하의 조건 (1) 내지 (3)이 만족되어 있고,
(1) 상기 금속판의 폭 방향의 중앙 부분에서의 상기 신장차율이 10×10-5 이하일 것;
(2) 상기 폭 방향에 있어서 상기 금속판의 중앙부로부터 상기 폭 방향으로 250mm 떨어진 위치에서의 상기 신장차율이 20×10-5 이하일 것; 및
(3) 상기 폭 방향에 있어서 상기 금속판의 중앙부로부터 상기 폭 방향으로 250mm 떨어진 위치에서의 상기 신장차율이 상기 중앙 부분에서의 상기 신장차율의 최댓값보다 클 것;
상기 중앙 부분은, 상기 금속판의 폭 방향의 중앙부를 포함하는, 상기 금속판의 폭의 40%를 차지하는 부분인 증착 마스크의 제조 방법.
A method for manufacturing a deposition mask comprising: an effective region in which a plurality of through holes are formed; and a peripheral region positioned around the effective region;
A step of preparing a metal plate, which is a metal plate, and has at least partly a wavy shape due to the length in the longitudinal direction being different depending on the position in the width direction;
a resist pattern forming step of forming a resist pattern on the metal plate;
an etching step of etching the metal plate using the resist pattern as a mask to form a recess for partitioning the through hole in the region of the metal plate constituting the effective region;
When the minimum value of the length of the metal plate is referred to as a reference length, and the ratio of the difference in the length of the metal plate at each position in the width direction of the metal plate to the reference length is called the elongation difference ratio, the following conditions (1 ) to (3) are satisfied,
(1) the elongation difference ratio at the central portion in the width direction of the metal plate is 10×10 -5 or less;
(2) the elongation difference ratio at a position 250 mm away from the center of the metal plate in the width direction in the width direction is 20×10 -5 or less; and
(3) the elongation difference ratio at a position 250 mm away from the center portion of the metal plate in the width direction in the width direction is greater than the maximum value of the elongation difference ratio in the central portion;
The said central part is a part which occupies 40% of the width of the said metal plate, The manufacturing method of the vapor deposition mask including the central part of the width direction of the said metal plate.
제10항에 있어서, 상기 레지스트 패턴 형성 공정은,
상기 금속판 위에 레지스트막을 형성하는 공정과,
상기 레지스트막에 노광 마스크를 진공 밀착시키는 공정과,
상기 노광 마스크를 개재해서 상기 레지스트막을 소정의 패턴으로 노광하는 공정을 갖는 증착 마스크의 제조 방법.
The method of claim 10, wherein the resist pattern forming process comprises:
forming a resist film on the metal plate;
a step of vacuum-adhering an exposure mask to the resist film;
and exposing the resist film in a predetermined pattern through the exposure mask.
제10항 또는 제11항에 있어서, 상기 금속판의 열팽창 계수가, 상기 금속판으로부터 제조된 증착 마스크를 개재해서 증착 재료가 성막되는 기판의 열팽창 계수와 동등한 값인 증착 마스크의 제조 방법. The method for manufacturing a deposition mask according to claim 10 or 11, wherein the coefficient of thermal expansion of the metal plate is a value equal to the coefficient of thermal expansion of the substrate on which the deposition material is formed through the deposition mask manufactured from the metal plate. 제10항에 있어서, 상기 금속판이 인바재로 구성되어 있는 증착 마스크의 제조 방법.The method for manufacturing a deposition mask according to claim 10, wherein the metal plate is made of an invar material.
KR1020217028724A 2013-01-10 2014-01-10 Metal plate, metal plate production method, and method for producing vapor deposition mask using metal plate KR20210112419A (en)

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Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5455099B1 (en) 2013-09-13 2014-03-26 大日本印刷株式会社 Metal plate, metal plate manufacturing method, and mask manufacturing method using metal plate
JP5516816B1 (en) 2013-10-15 2014-06-11 大日本印刷株式会社 Metal plate, method for producing metal plate, and method for producing vapor deposition mask using metal plate
JP6698265B2 (en) * 2014-02-14 2020-05-27 大日本印刷株式会社 Method for manufacturing vapor deposition mask device, vapor deposition mask with substrate and laminated body
JP5641462B1 (en) * 2014-05-13 2014-12-17 大日本印刷株式会社 Metal plate, metal plate manufacturing method, and mask manufacturing method using metal plate
CN107208251B (en) 2015-02-10 2019-10-25 大日本印刷株式会社 The manufacturing method and deposition mask of deposition mask
US10570498B2 (en) 2015-02-10 2020-02-25 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Manufacturing method for deposition mask, metal plate used for producing deposition mask, and manufacturing method for said metal sheet
JP6701543B2 (en) * 2015-07-10 2020-05-27 大日本印刷株式会社 Vapor deposition mask and method for manufacturing vapor deposition mask
KR102509663B1 (en) 2015-07-17 2023-03-14 도판 인사츠 가부시키가이샤 Method for producing base for metal masks, method for producing metal mask for vapor deposition, base for metal masks, and metal mask for vapor deposition
DE112016003224T5 (en) 2015-07-17 2018-04-19 Toppan Printing Co., Ltd. METAL MASK SUBSTRATE FOR STEAM SEPARATION, METAL MASK FOR STEAM SEPARATION, PRODUCTION METHOD FOR METAL MASK SUBSTRATE FOR STEAM DISPOSAL, AND METHOD FOR PRODUCING METAL MASK FOR STEAM SEPARATION
KR102341450B1 (en) * 2015-07-17 2021-12-21 도판 인사츠 가부시키가이샤 Metal mask substrate, metal mask substrate control method, metal mask, and metal mask production method
KR20200011585A (en) 2015-07-17 2020-02-03 도판 인사츠 가부시키가이샤 Metal mask base, metal mask and method for producing metal mask
US10541387B2 (en) 2015-09-30 2020-01-21 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Deposition mask, method of manufacturing deposition mask and metal plate
KR20180043816A (en) 2015-09-30 2018-04-30 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 A deposition mask, a method of manufacturing a deposition mask, and a metal plate
KR102375261B1 (en) * 2016-04-01 2022-03-17 엘지이노텍 주식회사 Metal mask for deposition, and oled pannel using the same
DE112017002022B4 (en) 2016-04-14 2023-06-01 Toppan Printing Co., Ltd. Vapor deposition mask substrate, method of manufacturing vapor deposition mask substrate and method of manufacturing vapor deposition mask
KR102424298B1 (en) 2016-09-29 2022-07-25 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 Deposition Mask Packing Body and Deposition Mask Packing Method
WO2018092531A1 (en) * 2016-11-18 2018-05-24 大日本印刷株式会社 Vapor deposition mask
JP7121918B2 (en) * 2016-12-14 2022-08-19 大日本印刷株式会社 Evaporation mask device and method for manufacturing evaporation mask device
JP6851820B2 (en) * 2016-12-28 2021-03-31 マクセルホールディングス株式会社 Thin-film deposition mask and its installation method and manufacturing method
WO2018131474A1 (en) * 2017-01-10 2018-07-19 大日本印刷株式会社 Vapor deposition mask, method for manufacturing vapor deposition mask device, and method for manufacturing vapor deposition mask
JP6376483B2 (en) * 2017-01-10 2018-08-22 大日本印刷株式会社 Vapor deposition mask manufacturing method, vapor deposition mask device manufacturing method, and vapor deposition mask quality determination method
JP6428903B2 (en) 2017-01-17 2018-11-28 大日本印刷株式会社 Vapor deposition mask and vapor deposition mask manufacturing method
KR102657827B1 (en) * 2017-01-17 2024-04-17 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 Intermediate product
KR102330373B1 (en) * 2017-03-14 2021-11-23 엘지이노텍 주식회사 Metal substrate, metal mask for deposition, and method for manufacturing of the same
KR20200051702A (en) 2017-09-05 2020-05-13 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 Method for manufacturing deposition mask device and manufacturing device for deposition mask device
CN114899345A (en) * 2017-09-07 2022-08-12 Lg伊诺特有限公司 Method for manufacturing organic light emitting diode deposition mask
JP6319505B1 (en) 2017-09-08 2018-05-09 凸版印刷株式会社 Vapor deposition mask substrate, vapor deposition mask substrate production method, vapor deposition mask production method, and display device production method
WO2019054462A1 (en) * 2017-09-15 2019-03-21 凸版印刷株式会社 Method for manufacturing deposition mask, method for manufacturing display device and deposition mask
JP6299921B1 (en) * 2017-10-13 2018-03-28 凸版印刷株式会社 Vapor deposition mask substrate, vapor deposition mask substrate production method, vapor deposition mask production method, and display device production method
JP6981302B2 (en) * 2017-10-13 2021-12-15 凸版印刷株式会社 A base material for a vapor deposition mask, a method for manufacturing a base material for a vapor deposition mask, a method for manufacturing a vapor deposition mask, and a method for manufacturing a display device.
JP6988565B2 (en) * 2017-10-13 2022-01-05 凸版印刷株式会社 A base material for a vapor deposition mask, a method for manufacturing a base material for a vapor deposition mask, a method for manufacturing a vapor deposition mask, and a method for manufacturing a display device.
JP6299922B1 (en) * 2017-10-13 2018-03-28 凸版印刷株式会社 Vapor deposition mask substrate, vapor deposition mask substrate production method, vapor deposition mask production method, and display device production method
JPWO2019087749A1 (en) 2017-11-01 2020-11-26 大日本印刷株式会社 Thin film deposition mask equipment
CN117187746A (en) 2017-11-14 2023-12-08 大日本印刷株式会社 Method for manufacturing metal plate and method for manufacturing vapor deposition mask
JP7137793B2 (en) * 2018-07-09 2022-09-15 大日本印刷株式会社 Evaporation mask quality determination method, deposition mask manufacturing method, deposition mask device manufacturing method, deposition mask selection method, and deposition mask
WO2020013643A1 (en) * 2018-07-12 2020-01-16 엘지이노텍 주식회사 Metal plate deposition mask for oled pixel deposition
DE202019006014U1 (en) * 2018-11-13 2024-01-25 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Metal plate for making vapor phase deposition masks
KR102202529B1 (en) * 2018-11-27 2021-01-13 주식회사 오럼머티리얼 Producing method of mask integrated frame and mask changing method of mask integrated frame
KR20220017521A (en) * 2019-01-31 2022-02-11 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 Deposition mask group, method for manufacturing electronic device, and electronic device
JP7487481B2 (en) 2019-02-06 2024-05-21 大日本印刷株式会社 DEPOSITION MASK APPARATUS, MASK SUPPORT MECHANISM, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEPOSITION MASK APPARATUS
JP7196717B2 (en) * 2019-03-25 2022-12-27 大日本印刷株式会社 Mask manufacturing method
JP7449485B2 (en) 2019-03-28 2024-03-14 大日本印刷株式会社 Vapor deposition mask and method for manufacturing a vapor deposition mask
JP2019151936A (en) * 2019-06-11 2019-09-12 大日本印刷株式会社 Method for manufacturing vapor deposition mask device, vapor deposition mask having substrate, and laminate
US11732361B2 (en) 2019-10-08 2023-08-22 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Metal plate for manufacturing deposition mask, method for manufacturing metal plate, deposition mask and method for manufacturing deposition mask
KR20210042026A (en) 2019-10-08 2021-04-16 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 Metal plate for producing vapor deposition mask, production method for metal plate, vapor deposition mask and production method for vapor deposition mask
JP6788852B1 (en) 2019-10-08 2020-11-25 大日本印刷株式会社 Metal plate manufacturing method
KR102269904B1 (en) * 2021-02-25 2021-06-28 (주)세우인코퍼레이션 Method for manufacturing open metal mask of large area for oled deposition
KR102405552B1 (en) * 2021-11-16 2022-06-07 (주)세우인코퍼레이션 Method for manufacturing open metal mask of large area for oled deposition

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0867914A (en) * 1994-08-25 1996-03-12 Sumitomo Metal Ind Ltd Production of ic lead frame material
JPH1034237A (en) * 1996-07-30 1998-02-10 Sumitomo Metal Ind Ltd Production of cold rolling stainless steel sheet with excellent flatness
WO2000068449A1 (en) * 1999-05-07 2000-11-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Stainless steel plate for shadow mask and method for production thereof and shadow mask
JP3651432B2 (en) * 2001-09-25 2005-05-25 セイコーエプソン株式会社 Mask, manufacturing method thereof, and manufacturing method of electroluminescence device
JP4126648B2 (en) * 2002-07-01 2008-07-30 日立金属株式会社 Method for manufacturing metal mask member
JP2004185890A (en) * 2002-12-02 2004-07-02 Hitachi Metals Ltd Metal mask
CN100568092C (en) * 2003-03-07 2009-12-09 精工爱普生株式会社 The film build method of mask and method for making thereof, mask manufacturing installation, luminescent material
JP2004362908A (en) * 2003-06-04 2004-12-24 Hitachi Metals Ltd Metal mask and manufacturing method thereof
JP2006247721A (en) * 2005-03-11 2006-09-21 Jfe Steel Kk Method and apparatus for straightening shape of metallic sheet using roll having uneven cross-sectional shape for pinching metallic sheet
KR100796617B1 (en) 2006-12-27 2008-01-22 삼성에스디아이 주식회사 Mask device and manufacturing thereof and organic light emitting display device comprising the same
JP5262226B2 (en) * 2007-08-24 2013-08-14 大日本印刷株式会社 Vapor deposition mask and method of manufacturing vapor deposition mask
JP5294072B2 (en) * 2009-03-18 2013-09-18 日立金属株式会社 Etching material manufacturing method and etching material
JP2012059631A (en) * 2010-09-10 2012-03-22 Hitachi Displays Ltd Mask for organic electroluminescence
CN103205701A (en) * 2012-01-16 2013-07-17 昆山允升吉光电科技有限公司 A vapor deposition mask plate and a production method thereof
CN202786401U (en) * 2012-08-29 2013-03-13 四川虹视显示技术有限公司 Mask plate for OLED evaporation

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