KR20180085359A

KR20180085359A - 와이어 방전 가공기 및 가공 방법

Info

Publication number: KR20180085359A
Application number: KR1020180005161A
Authority: KR
Inventors: 도모아키 마츠나가
Original assignee: 화낙 코퍼레이션
Priority date: 2017-01-18
Filing date: 2018-01-15
Publication date: 2018-07-26
Also published as: TW201829104A; EP3351330A1; US20180200815A1; JP2018114584A; US11000910B2; KR102057827B1; JP6517847B2; CN108326381B; CN108326381A; TWI673125B; EP3351330B1

Abstract

와이어 방전 가공기 (12) 는, 극간 (EG) 에 가공 전류를 공급하여 방전 가공을 실시하기 위하여 형성되고, 서로 병렬 접속된 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 각각을 떼어내기 위하여, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와 직렬로 접속된 복수의 스위치 (SW) 와, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 를 스위치 (SW) 로 떼어냄과 함께, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 가공 조건을 변경하는 제어 장치 (16) 를 구비한다.

Description

와이어 방전 가공기 및 가공 방법{WIRE ELECTRICAL DISCHARGE MACHINE AND MACHINING METHOD}

본 발명은, 와이어 전극과 가공 대상물로 형성되는 극간에 전압을 인가하여 가공 대상물을 가공하는 와이어 방전 가공기 및 가공 방법에 관한 것이다.

일본 공개특허공보 평11-216620호에는, 가공 대상물과 직류 전원 사이에서, 가공 대상물과 직류 전원에 직렬로 접속되고, 또한 서로 병렬로 접속된 복수의 스위칭 소자를 갖는 방전 가공용 전원 장치가 개시되어 있다. 그리고, 동작 불량 (고장) 으로 판정된 스위칭 소자를 떼어내기 위하여, 복수의 스위칭 소자와 직렬로 접속되는 복수의 스위치를 형성하는 것도 개시되어 있다.

그러나, 상기한 일본 공개특허공보 평11-216620호에서는, 고장으로 판정된 스위칭 소자를 떼어낼 뿐이므로, 떼어내어지지 않은 다른 스위칭 소자에 흐르는 전류가 커진다. 그 때문에, 고장으로 판정되지 않은 스위칭 소자까지도 고장나, 가공을 실시할 수 없게 된다.

그래서, 본 발명은, 고장난 스위칭 소자를 떼어낸 경우여도, 계속하여 가공을 실시할 수 있는 와이어 방전 가공기 및 가공 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 제 1 양태는, 와이어 전극과 가공 대상물 사이에서 형성되는 극간에, 가공용 전원부를 사용하여, 가공 조건에 따른 가공 전류를 공급함으로써, 상기 가공 대상물에 대해 방전 가공을 실시하는 와이어 방전 가공기로서, 상기 극간에 상기 가공 전류를 공급하여 방전 가공을 실시하기 위하여 형성되고, 서로 병렬 접속된 복수의 스위칭 소자와, 상기 복수의 스위칭 소자의 각각을 떼어내기 위하여, 상기 복수의 스위칭 소자와 직렬로 접속된 복수의 스위치와, 상기 복수의 스위칭 소자의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 상기 스위칭 소자를 상기 스위치로 떼어냄과 함께, 고장난 상기 스위칭 소자의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는 제어 장치를 구비한다.

본 발명의 제 2 양태는, 와이어 전극과 가공 대상물 사이에서 형성되는 극간에, 가공용 전원부를 사용하여, 가공 조건에 따른 가공 전류를 공급함으로써, 상기 가공 대상물에 대해 방전 가공을 실시하는 와이어 방전 가공기의 가공 방법으로서, 상기 와이어 방전 가공기는, 상기 극간에 상기 가공 전류를 공급하기 위하여 형성되고, 서로 병렬 접속된 복수의 스위칭 소자와, 상기 복수의 스위칭 소자의 각각을 떼어내기 위하여, 상기 복수의 스위칭 소자와 직렬로 접속된 복수의 스위치를 구비하고, 상기 복수의 스위칭 소자의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 상기 스위칭 소자를 상기 스위치로 떼어냄과 함께, 고장난 상기 스위칭 소자의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는 제어 스텝을 포함한다.

본 발명에 의하면, 스위칭 소자가 고장난 경우여도, 고장난 스위칭 소자를 떼어내므로, 계속하여 가공을 실시할 수 있다. 또, 고장난 스위칭 소자의 수에 따라 가공 조건을 변경하므로, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자가 고장나는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 계속하여 가공을 실시할 수 있다.

상기의 목적, 특징 및 이점은, 첨부한 도면을 참조하여 설명되는 이하의 실시형태의 설명으로부터 용이하게 이해될 것이다.

도 1 은, 실시형태에 있어서의 와이어 방전 가공기의 구성도이다.
도 2 는, 가공 제어부에 의해 제어되는 스위칭 소자의 온/오프의 타임 차트를 나타내는 도면이다.
도 3 은, 스위칭 소자가 고장난 경우의 예를 나타내는 도면이다.
도 4 는, 가공 조건 변경부의 테이블의 내용을 나타내는 도면이다.

본 발명에 관련된 와이어 방전 가공기 및 가공 방법에 대해, 바람직한 실시형태를 들어, 첨부의 도면을 참조하면서 이하, 상세하게 설명한다.

도 1 은, 와이어 전극 (10) 과 가공 대상물 (워크) (W) 사이에서 형성되는 극간 (EG) 에, 전압을 인가하여 가공 전류 (방전 전류) 를 흘림으로써 방전 가공을 실시하는 와이어 방전 가공기 (12) 의 구성도이다. 와이어 방전 가공기 (12) 는, 극간 (EG) 에 전압 (야기 전압) (Vs) 을 인가하여 방전을 야기시키기 위한 회로 (이하, 방전 야기 회로라고 한다) (C1) 와, 극간 (EG) 에 전압 (가공 전압) (Vm) 을 인가하여 가공 전류를 흘리기 위한 회로 (이하, 가공 회로라고 한다) (C2) 와, 극간 (EG) 의 전압 (이하, 극간 전압이라고 한다) (Vg) 을 검출하는 전압 검출부 (14) 와, 제어 장치 (16) 를 구비한다.

방전 야기 회로 (C1) 는, 전원부 (이하, 방전 야기용 전원부라고 한다) (18) 와, FET 등으로 구성되는 스위칭 소자 (SWE1) 를 갖는다. 방전 야기용 전원부 (18) 는 직류 전원을 갖는다. 본 실시형태에서는, 방전 야기용 전원부 (18) 는, 정극성의 전압 (Vs) 을 극간 (EG) 에 인가하기 위하여, 방전 야기용 전원부 (18) 의 정극 (＋ 극) 이 가공 대상물 (W) 에 접속되고, 부극 (－ 극) 이 와이어 전극 (10) 에 접속되어 있다. 또한, 방전 야기용 전원부 (18) 는, 정극성의 전압 (Vs) 및 부극성의 전압 (Vs) 중 어느 일방을 선택적으로 극간 (EG) 에 인가할 수 있는 구성을 가져도 된다.

스위칭 소자 (SWE1) 는, 극간 (EG) 에 방전을 야기시키기 위하여, 극간 (EG) 에 방전 야기용 전원부 (18) 의 전압 (야기 전압) (Vs) 을 인가하기 위한 것이다. 스위칭 소자 (SWE1) 는, 방전 야기용 전원부 (18) 와 극간 (EG) 사이에서, 방전 야기용 전원부 (18) 및 극간 (EG) 에 직렬로 접속되어 있다. 이 스위칭 소자 (SWE1) 가 온이 되면, 방전 야기용 전원부 (18) 의 전압 (야기 전압) (Vs) 이 극간 (EG) 에 인가된다. 요컨대, 스위칭 소자 (SWE1) 의 온/오프에 의해, 전압 (Vs) 의 극간 (EG) 으로의 인가가 온/오프가 된다. 도 1 에 나타내는 예에서는, 스위칭 소자 (SWE1) 를, 방전 야기용 전원부 (18) 의 정극과 가공 대상물 (W) 사이, 및 방전 야기용 전원부 (18) 의 부극과 와이어 전극 (10) 사이에 각각 형성했는데, 어느 일방에만 형성해도 된다.

가공 회로 (C2) 는, 전원부 (이하, 가공용 전원부라고 한다) (20) 와, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 를 갖는다. 가공용 전원부 (20) 는 직류 전원을 갖는다. 본 실시형태에서는, 가공용 전원부 (20) 는, 정극성의 전압 (Vm) 을 극간 (EG) 에 인가하기 위하여, 가공용 전원부 (20) 의 정극 (＋ 극) 이 가공 대상물 (W) 에 접속되고, 부극 (－ 극) 이 와이어 전극 (10) 에 접속되어 있다. 또한, 가공용 전원부 (20) 는, 정극성의 전압 (Vm) 및 부극성의 전압 (Vm) 중 어느 일방을 선택적으로 극간 (EG) 에 인가할 수 있는 구성을 가져도 된다.

복수의 스위칭 소자 (SWE2) 는, 극간 (EG) 에 가공 전류를 공급하여 방전 가공을 실시하기 위하여 형성되어 있다. 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 는, 3 개의 그룹으로 나뉘어져, 동일한 그룹에 속하는 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 는, 서로 병렬로 접속되어 있다. 이 스위칭 소자 (SWE2) 는, FET 등에 의해 구성되어 있다. 본 실시형태에서는, 1 번째의 그룹에 속하는 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 를 SWE2a 라고 하고, 2 번째의 그룹에 속하는 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 를 SWE2b 라고 하고, 3 번째의 그룹에 속하는 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 를 SWE2c 라고 하는 경우가 있다.

복수의 스위칭 소자 (제 1 스위칭 소자) (SWE2a, SWE2b) 는, 가공용 전원부 (20) 로부터의 가공 전류를 극간 (EG) 에 공급하기 위한 것이다. 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 는, 가공용 전원부 (20) 와 극간 (EG) 사이에서, 가공용 전원부 (20) 및 극간 (EG) 에 직렬로 접속되고, 또한 서로 병렬로 접속되어 있다. 복수의 스위칭 소자 (SWE2a) 는, 가공용 전원부 (20) 의 정극과 가공 대상물 (W) 사이에서, 가공용 전원부 (20) 및 가공 대상물 (W) 에 직렬로 접속되고, 또한 서로 병렬로 접속되어 있다. 복수의 스위칭 소자 (SWE2b) 는, 가공용 전원부 (20) 의 부극과 와이어 전극 (10) 사이에서, 가공용 전원부 (20) 및 와이어 전극 (10) 에 직렬로 접속되고, 또한 서로 병렬로 접속되어 있다.

이 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 는, 전부 동시에 온/오프된다. 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 가 온이 되면, 가공용 전원부 (20) 의 전압 (가공 전압) (Vm) 이 극간 (EG) 에 인가된다. 요컨대, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 의 온/오프에 의해, 가공 전압 (Vm) 의 극간 (EG) 으로의 인가가 온/오프가 된다. 극간 (EG) 에 가공 전압 (Vm) 이 인가됨으로써, 극간 (EG) 에 가공 전류 (방전 전류) 가 흐른다.

또한, 도 1 에 나타내는 예에서는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a) 와 복수의 스위칭 소자 (SWE2b) 의 양방을 형성했지만, 어느 일방만 (예를 들어, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a) 만) 을 형성해도 된다.

복수의 스위칭 소자 (제 2 스위칭 소자) (SWE2c) 는, 극간 (EG) 에 흐른 가공 전류를 극간 (EG) 에 환류하기 위한 것이다. 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 는, 극간 (EG) 과 병렬로 접속되어 있다. 이 스위칭 소자 (SWE2c) 는, 전부 동시에 온/오프된다.

가공 회로 (C2) 는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와 직렬로 접속된 복수의 스위치 (SW) 를 갖는다. 스위치 (SW) 는, 자신과 직렬로 접속된 스위칭 소자 (SWE2) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어내는 것이다. 여기서, 스위칭 소자 (SWE2a) 에 직렬로 접속된 스위치 (SW) 를 SWa 라고 하고, 스위칭 소자 (SWE2b) 에 직렬로 접속된 스위치 (SW) 를 SWb 라고 하고, 스위칭 소자 (SWE2c) 에 직렬로 접속된 스위치 (SW) 를 SWc 라고 하는 경우가 있다. 스위치 (제 1 스위치) (SWa) 는, 자신과 직렬로 접속된 스위칭 소자 (SWE2a) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어내기 위한 것이고, 스위치 (제 1 스위치) (SWb) 는, 자신과 직렬로 접속된 스위칭 소자 (SWE2b) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어내기 위한 것이다. 스위치 (제 2 스위치) (SWc) 는, 자신과 직렬로 접속된 스위칭 소자 (SWE2c) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어내기 위한 것이다. 이 스위치 (SWa, SWb, SWc) 는, 통상시에는 닫힘이 되는 노멀리 온의 스위치이다.

방전 가공시에는, 극간 (EG) 에 야기 전압 (Vs) 을 인가하고 나서 가공 전류를 극간 (EG) 에 공급한다는 동작을 고속으로 반복하여 실시하는 점에서, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 응답 주파수 (온/오프의 주파수) 를 높게 할 필요가 있다. 응답 주파수가 높은 스위칭 소자는, 소전류 밖에 흘릴 수 없기 때문에, 극간 (EG) 에 흐르는 대전류의 가공 전류를 분산하기 위하여, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 를 복수 형성하고, 그것들을 서로 병렬로 접속하고 있다. 이에 반하여, 스위치 (SWa, SWb, SWc) 는 노멀리 온이므로 높은 응답 주파수일 필요가 없는 점에서, 응답 주파수가 낮은 스위치여도 된다. 요컨대, 스위치 (SWa, SWb, SWc) 는, 응답 주파수가 스위칭 소자 (SWE2, SWE2c) 보다 낮아도 된다. 또한, 이 스위치 (SW (SWa, SWb, SWc)) 는, FET 등의 스위칭 소자여도 된다.

제어 장치 (16) 는, CPU 등의 프로세서와 프로그램이 기억된 메모리를 갖는다. 상기 프로세서가 상기 프로그램을 실행함으로써, 본 실시형태의 제어 장치 (16) 로서 기능한다. 제어 장치 (16) 는, 가공 제어부 (30), 고장 검출부 (32), 스위칭 소자 절리부 (切離部) (34), 및 가공 조건 변경부 (36) 를 갖는다.

가공 제어부 (30) 는, 가공 조건에 따라, 스위칭 소자 (SWE1, SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 온/오프를 제어함으로써, 가공 대상물 (W) 에 대해 가공을 실시한다.

고장 검출부 (32) 는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 중, 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 를 검출한다. 고장 검출부 (32) 는, 검출된 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 를 특정하는 정보 (예를 들어, 위치를 나타내는 정보) 를 스위칭 소자 절리부 (34) 에 출력함과 함께, 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 수를 가공 조건 변경부 (36) 에 출력한다.

스위칭 소자 절리부 (34) 는, 스위치 (SW) 를 제어함으로써, 고장나 있는 스위칭 소자 (이하, 고장 스위칭 소자라고 부르는 경우가 있다.) (SWE2) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어낸다. 스위칭 소자 절리부 (34) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 와 직렬로 접속된 스위치 (SW) 를 오프로 함으로써, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어낸다. 예를 들어, 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2) 가 SWE2a 인 경우에는, 고장 스위칭 소자 (SWE2a) 와 직렬로 접속되어 있는 스위치 (SWa) 를 오프로 함으로써, 고장 스위칭 소자 (SWE2a) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어낸다. 가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 수에 따라 가공 조건을 변경한다.

도 2 를 사용하여, 가공 제어부 (30) 에 의한 스위칭 소자 (SWE1, SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 제어를 설명한다. 도 2 는, 가공 제어부 (30) 에 의해 제어되는 스위칭 소자 (SWE1, SWE2a ∼ SWE2c) 의 온/오프의 타임 차트를 나타내는 도면이다. 또한, 처음에는, 모든 스위칭 소자 (SWE1, SWE2a ∼ SWE2c) 가 오프 상태인 것으로 한다.

제어 장치 (16) 는, 복수의 스위칭 소자 (SWE1) 를 전부 온으로 하여, 극간 (EG) 에 방전 야기용 전원부 (18) 의 전압 (야기 전압) (Vs) 을 인가한다. 제어 장치 (16) 는, 극간 (EG) 에 방전이 발생하면, 복수의 스위칭 소자 (SWE1) 를 전부 오프로 하고, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 를 전부 온으로 한다. 이로써, 극간 (EG) 에 가공용 전원부 (20) 의 전압 (가공 전압) (Vm) 이 인가되어 가공 전류가 흐른다. 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 가 온으로 되면, 시간의 경과와 함께 극간 (EG) 에 흐르는 가공 전류는 서서히 증가해 간다. 또한, 극간 (EG) 에 방전이 발생하면, 극간 전압 (Vg) 은, 아크 전압까지 저하되므로, 제어 장치 (16) 는, 전압 검출부 (14) 가 검출한 극간 전압 (Vg) 이 저하되면, 방전이 발생한 것으로 판단한다.

제어 장치 (16) 는, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 를 온으로 하고 나서, 가공 조건에 의해 결정된 소정 시간 (제 1 소정 시간) (T1) 이 경과하면, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 를 전부 오프로 하고, 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 를 전부 온으로 한다. 스위칭 소자 (SWE2c) 가 온으로 되면, 극간 (EG) 에 흐르는 가공 전류가 극간 (EG) 에 환류되므로, 스위칭 소자 (SWE2c) 가 온되어 있는 동안에는, 극간 (EG) 에 흐르는 가공 전류의 양 (크기) 이 유지된다.

제어 장치 (16) 는, 스위칭 소자 (SWE2c) 를 온으로 하고 나서, 가공 조건에 의해 결정된 소정 시간 (제 2 소정 시간) (T2) 이 경과하면, 스위칭 소자 (SWE2c) 를 전부 오프로 한다. 이로써, 극간 (EG) 으로의 가공 전류의 공급이 종료된다. 그리고, 극간 (EG) 으로의 가공 전류의 공급을 종료하고 나서, 가공 조건에 의해 결정된 휴지 시간 (QT) 이 경과하면, 다시 복수의 스위칭 소자 (SWE1) 를 전부 온으로 하여 야기 전압 (Vs) 을 극간 (EG) 에 인가함으로써 상기한 동작을 반복한다. 요컨대, 야기 전압 (Vs) 의 인가 개시부터 휴지 시간 (QT) 의 종료까지를 1 사이클로 하고, 이 1 사이클을 반복하여 실시함으로써, 가공 대상물 (W) 에 대해 가공을 실시한다.

여기서, 도 3 에 나타내는 바와 같이, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 중, 예를 들어, 1 개의 스위칭 소자 (SWE2a) 와 1 개의 스위칭 소자 (SWE2c) 가 고장 (쇼트) 난 경우에는, 가공용 전원부 (20) 로부터의 가공 전류는, 고장 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2c) 를 흘리기 때문에, 극간 (EG) 에 가공 전류가 흐르지 않아, 가공을 실시할 수 없게 된다. 또, 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나 있는 경우에는, 극간 (EG) 에 공급하는 가공 전류를 제어할 수 없기 때문에, 적절한 가공을 실시할 수 없다. 그래서, 본 실시형태에서는, 고장 검출부 (32) 에 의해 고장 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 를 검출하고, 스위칭 소자 절리부 (34) 에 의해, 검출된 고장 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어냄으로써, 이와 같은 문제를 해결한다.

그러나, 고장 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 를 가공 회로 (C2) 로부터 떼어내도, 극간 (EG) 에 흐르는 가공 전류의 양은 변하지 않는다. 그 때문에, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 를 떼어냄으로써, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 그룹에 속하는 다른 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) (고장 스위칭 소자 (SWE2) 와 병렬로 접속되어 있는 다른 정상적인 스위칭 소자 (SWE2)) 에 흐르는 가공 전류가 많아진다. 예를 들어, 도 3 과 같이, 고장 스위칭 소자가 SWE2a, SWE2c 인 경우에는, 고장나지 않은 다른 정상적인 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2c) 에 흐르는 가공 전류가 많아진다. 이로써, 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 경우가 있다. 또, 동일한 그룹에 속하는 복수의 스위칭 소자 (SWE2) (서로 병렬 접속되어 있는 복수의 스위칭 소자 (SWE2)) 중, 고장 스위칭 소자 (SWE) 의 수가 클수록, 그 그룹에 속하는 다른 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 에 흐르는 전류가 많아진다. 그래서, 본 실시형태에서는, 이와 같은 문제를 해결하기 위하여, 가공 조건 변경부 (36) 에 의해 가공 조건을 변경하고 있다.

가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2a) 의 수, 고장 스위칭 소자 (SWE2b) 의 수, 및 고장 스위칭 소자 (SWE2c) 의 수 중, 가장 큰 수 (이하, 간단히 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수라고 하는 경우가 있다) 에 따라 가공 조건을 변경한다. 제일 고장이 많은 그룹의 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 합함으로써, 모든 정상적인 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 를 보호할 수 있다. 예를 들어, 도 3 에 나타내는 경우에는, 고장 스위칭 소자 (SWE2a) 의 수가 1, 고장 스위칭 소자 (SWE2b) 의 수가 0, 고장 스위칭 소자 (SWE2c) 의 수가 1 로 되어 있으므로, 가장 큰 수는 1 이 되고, 이 수 (1) 에 따라 가공 조건을 변경하게 된다.

가공 조건 변경부 (36) 는, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치가 소정치를 초과하지 않도록, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 가공 조건을 변경한다. 이 소정치는, 모든 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 가 고장나 있지 않을 때에, 모든 복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 각각에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치에 기초하여 결정된다. 또, 소정 기간 (PT) 은, 적어도 1 사이클 이상의 기간을 포함하는 기간 (예를 들어, 10 사이클의 기간) 이다. 가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 전과 고장 후에서, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치가 변하지 않도록 가공 조건을 변경하는 것이 바람직하다.

가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 휴지 시간 (QT) 을 변경해도 된다. 가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 휴지 시간 (QT) 을 길게 해도 된다. 휴지 시간 (QT) 이 길어짐으로써, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치가 낮아지기 때문이다. 가공 제어부 (30) 는, 가공 조건 변경부 (36) 가 변경한 휴지 시간 (QT) 에 기초하여, 스위칭 소자 (SWE1) 를 온으로 하는 타이밍을 결정한다.

또, 가공용 전원부 (20) 의 전압 (가공 전압) (Vm) 을 가변으로 하고, 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 을 가공 조건에 포함해도 된다. 이 경우에는, 가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라, 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 을 변경해도 된다. 가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 을 작게 해도 된다. 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 이 내려감으로써, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치가 낮아지기 때문이다. 가공 제어부 (30) 는, 가공 조건 변경부 (36) 가 변경한 전압 (Vm) 을 가공용 전원부 (20) 가 출력되도록, 가공용 전원부 (20) 를 제어한다.

본 실시형태에서는, 가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라, 휴지 조건과 전압 (Vm) 을 변경한다. 가공 조건 변경부 (36) 는, 미리 결정된 휴지 시간 (QT) (이하, QTd) 에 보정 계수 (k1) 를 곱함으로써, 휴지 시간 (QT) 을 변경한다. 휴지 시간 (QT) 은, QT ＝ QTd × k1 의 관계식 (수학식 1) 으로 나타내고, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 0 인 경우에는, 보정 계수 (k1) 는 1 이 된다. 또, 가공 조건 변경부 (36) 는, 미리 결정된 전압 (Vm) (이하, Vmd) 에 보정 계수 (k2) 를 곱함으로써 전압 (Vm) 을 변경한다. 전압 (Vm) 은 Vm ＝ Vmd × k2 의 관계식 (수학식 2) 으로 나타내고, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 0 인 경우에는, 보정 계수 (k2) 는 1 이 된다.

가공 조건 변경부 (36) 는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따른 보정 계수 (k1, k2) 를 기억한 테이블 (36a) (도 4 참조) 을 갖고, 그 테이블 (36a) 을 사용하여 휴지 시간 (QT) 및 전압 (Vm) 을 변경한다. 도 4 에 나타내는 예에서는, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 1 인 경우에는, 보정 계수 (k1) 가「1.1」, 보정 계수 (k2) 가「0.9」가 되고, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 2 인 경우에는, 보정 계수 (k1) 가「1.2」, 보정 계수 (k2) 가「0.8」이 된다. 이와 같이, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 커질수록, 보정 계수 (k1) 의 값이 커지고, 보정 계수 (k2) 의 값이 작아진다. 따라서, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 커질수록, 휴지 시간 (QT) 은 길어지고, 전압 (Vm) 은 작아진다. 또한, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라, 휴지 시간 (QT) 및 전압 (Vm) 을 변경하도록 했지만, 휴지 시간 (QT) 및 전압 (Vm) 의 일방을 변경해도 된다.

여기서, 복수의 스위치 (SW (SWa, SWb, SWc)) 의 온/오프 상태를 전환함으로써, 가공 회로 (C2) 의 회로 상태를 전환할 수 있다. 고장 검출부 (32) 는, 복수의 스위치 (SW (SWa, SWb, SWc)) 를 온/오프함으로써 가공 회로 (C2) 의 회로 상태를 전환했을 때에 전압 검출부 (14) 가 검출한 극간 전압 (Vg) 에 기초하여, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출한다. 고장 검출부 (32) 는, 각 회로 상태에 있어서의 전압 검출부 (14) 가 검출한 극간 전압 (Vg) 에 기초하여 고장 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출한다.

회로 상태가 정상인 경우 (그 회로 상태를 구성하는 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나지 않은 경우) 에는, 극간 전압 (Vg) 은 소정의 정상 범위 내가 되지만, 그 회로 상태가 비정상인 경우 (그 회로 상태를 구성하는 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나 있는 경우) 에는, 극간 전압 (Vg) 이 소정의 정상 범위 외가 된다. 따라서, 극간 전압 (Vg) 을 봄으로써 그 회로 상태가 정상적인지 여부를 판단할 수 있다. 또, 고장난 스위칭 소자 (SWE2 (SWE2a, SWE2b, SWE2c)) 의 지점에 따라, 각 회로 상태의 정상·비정상의 패턴이 상이하다. 따라서, 고장 검출부 (32) 는, 각 회로 상태의 정상·비정상에 따라 고장 스위칭 소자를 특정할 수 있다.

또한, 고장 검출부 (32) 는, 선행 기술 문헌으로서 예시한 일본 공개특허공보 평11-216620호에 개시되어 있는 바와 같이, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 작동 상태 (도통하고 있는지 여부) 를 검출하는 검출 회로를 형성하고, 검출 회로가 검출한 검출 신호에 기초하여, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b, SWE2c) 의 고장을 검출해도 된다. 또, 그 이외의 방법으로, 고장 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출해도 된다.

상기 실시형태에서는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a), 복수의 스위칭 소자 (SWE2b), 및 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 를 형성하도록 했지만, 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 를 형성하지 않아도 된다. 또, 스위칭 소자 (SWE2c) 에 관해서는 1 개만 형성해도 된다. 또한, 스위칭 소자 (SWE2a) 및 스위칭 소자 (SWE2b) 중 일방만을 형성해도 된다. 또, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 를 1 개만 형성해도 된다. 또한, 스위칭 소자 (SWE2a) 와 스위칭 소자 (SWE2b) 의 양방을 형성하는 경우에는, 그 수가 동일한 것이 바람직하다.

예를 들어, 스위칭 소자 (SWE2b) 를 형성하지 않고, 스위칭 소자 (SWE2a) 를 복수 형성하고, 이들의 스위칭 소자 (SWE2a) 를 서로 병렬로 접속함과 함께, 스위칭 소자 (SWE2c) 의 수를 1 개로 해도 된다. 이 경우에는, 스위칭 소자 (SWE2b, SWE2c) 에 직렬로 접속되는 스위치 (SWb, SWc) 를 형성하지 않아도 된다.

이상과 같이, 상기 실시형태에서 설명한 와이어 방전 가공기 (12) 는, 와이어 전극 (10) 과 가공 대상물 (W) 사이에서 형성되는 극간 (EG) 에, 가공용 전원부 (20) 를 사용하여, 가공 조건에 따른 가공 전류를 공급함으로써, 가공 대상물 (W) 에 대해 방전 가공을 실시한다. 이 와이어 방전 가공기 (12) 는, 극간 (EG) 에 가공 전류를 공급하여 방전 가공을 실시하기 위하여 형성되고, 서로 병렬 접속된 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 각각을 떼어내기 위하여, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와 직렬로 접속된 복수의 스위치 (SW) 와, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 를 스위치 (SW) 로 떼어냄과 함께, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 가공 조건을 변경하는 제어 장치 (16) 를 구비한다.

이로써, 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장난 경우여도, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 를 떼어내므로, 계속하여 가공을 실시할 수 있다. 또, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 가공 조건을 변경하므로, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 계속하여 가공을 실시할 수 있다.

복수의 스위칭 소자 (SWE2) 는, 가공용 전원부 (20) 로부터의 가공 전류를 극간 (EG) 에 공급하기 위하여, 극간 (EG) 과 가공용 전원부 (20) 사이에서 극간 (EG) 및 가공용 전원부 (20) 와 직렬로 접속되고, 또한 서로 병렬로 접속된 복수의 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 를 포함한다. 복수의 스위치 (SW) 는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 의 각각을 떼어내기 위하여, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 와 직렬로 접속된 복수의 스위치 (SWa (또는 SWb)) 를 포함한다. 제어 장치 (16) 는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 를 스위치 (SWa (또는 SWb)) 로 떼어냄과 함께, 고장난 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 의 수에 따라 가공 조건을 변경한다.

이로써, 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 가 고장난 경우여도, 고장난 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 를 떼어내므로, 계속하여 가공을 실시할 수 있다. 또, 고장난 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 의 수에 따라 가공 조건을 변경하므로, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 계속하여 가공을 실시할 수 있다.

복수의 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 및 복수의 스위치 (SWa, SWb) 는, 가공용 전원부 (20) 와 가공 대상물 (W) 사이 및 가공용 전원부 (20) 와 와이어 전극 (10) 사이에 각각 형성되어 있다. 제어 장치 (16) 는, 가공용 전원부 (20) 와 가공 대상물 (W) 사이에 형성되고 또한 고장난 스위칭 소자 (SWE2a) 의 수와, 가공용 전원부 (20) 와 와이어 전극 (10) 사이에 형성되고 또한 고장난 스위칭 소자 (SWE2b) 의 수 중, 큰 쪽의 수에 따라 가공 조건을 변경한다.

이로써, 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 가 고장난 경우여도, 고장난 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 를 떼어내므로, 계속하여 가공을 실시할 수 있다. 또, 고장난 스위칭 소자 (SWE2a) 의 수와 고장난 스위칭 소자 (SWE2b) 의 수 중, 큰 쪽의 수에 따라 가공 조건을 변경하므로, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있고, 계속하여 가공을 실시할 수 있다.

복수의 스위칭 소자 (SWE2) 는, 가공용 전원부 (20) 에 의한 극간 (EG) 으로의 가공 전류의 공급 후에, 극간 (EG) 에 흐르는 가공 전류를 환류시키기 위하여, 극간 (EG) 과 병렬로 접속된 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 를 포함한다. 복수의 스위치 (SW) 는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 의 각각을 떼어내기 위하여, 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 에 직렬로 접속된 복수의 스위치 (SWc) 를 포함한다. 제어 장치 (16) 는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2c) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 스위칭 소자 (SWE2c) 를 스위치 (SWc) 로 떼어냄과 함께, 극간 (EG) 및 가공용 전원부 (20) 와 직렬 접속되고 또한 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 의 수와, 극간 (EG) 과 병렬로 접속되고 또한 고장난 스위칭 소자 (SWE2c) 의 수 중 큰 쪽의 수에 따라 가공 조건을 변경한다.

이로써, 스위칭 소자 (SWE2c) 가 고장난 경우여도, 고장난 스위칭 소자 (SWE2c) 를 떼어내므로, 계속하여 가공을 실시할 수 있다. 또, 고장난 스위칭 소자 (SWE2a (또는 SWE2b)) 의 수와, 스위칭 소자 (SWE2c) 의 수 중, 큰 쪽의 수에 따라 가공 조건을 변경하므로, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있고, 계속하여 가공을 실시할 수 있다.

제어 장치 (16) 는, 고장나지 않은 스위칭 소자 (SWE2) 에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치가 소정치를 초과하지 않도록, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 가공 조건을 변경한다. 이로써, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 를 떼어낸 경우여도, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있다.

소정치는, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나 있지 않을 때에, 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 각각에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치에 기초하여 결정된다. 이로써, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 를 떼어낸 경우여도, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있다.

극간 (EG) 에는, 가공 전류가 공급되기 전에, 방전을 야기시키기 위한 야기 전압 (Vs) 이 인가된다. 가공 조건은, 극간 (EG) 으로의 가공 전류의 공급이 종료되고 나서 다시 야기 전압 (Vs) 이 인가될 때까지의 휴지 시간 (QT) 을 포함한다. 제어 장치 (16) 는, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 휴지 시간 (QT) 을 길게 한다. 이로써, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 를 떼어낸 경우여도, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있다.

가공 조건은, 가공용 전원부 (20) 의 전압을 포함한다. 제어 장치 (16) 는, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 가공용 전원부 (20) 의 전압을 작게 한다. 이로써, 고장난 스위칭 소자 (SWE2) 를 떼어낸 경우여도, 고장나지 않은 정상적인 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나는 것을 방지할 수 있다.

제어 장치 (16) 는, 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출하는 고장 검출부 (32) 를 구비한다. 이로써, 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출할 수 있다.

와이어 방전 가공기 (12) 는, 극간 (EG) 의 전압을 검출하는 전압 검출부 (14) 를 구비한다. 복수의 스위치 (SW) 의 온/오프의 상태에 의해, 가공용 전원부 (20) 와 극간 (EG) 을 접속하는 회로 상태가 전환된다. 고장 검출부 (32) 는, 복수의 스위치 (SW) 를 온/오프함으로써 회로 상태를 전환하고, 전환된 각 회로 상태에 있어서 전압 검출부 (14) 가 검출한 극간 (EG) 의 전압에 기초하여, 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출한다. 이로써, 고장나 있는 스위칭 소자 (SWE2) 를 양호한 정밀도로 검출할 수 있다.

Claims

와이어 전극 (10) 과 가공 대상물 (W) 사이에서 형성되는 극간 (EG) 에, 가공용 전원부 (20) 를 사용하여, 가공 조건에 따른 가공 전류를 공급함으로써, 상기 가공 대상물 (W) 에 대해 방전 가공을 실시하는 와이어 방전 가공기 (12) 로서,
상기 극간 (EG) 에 상기 가공 전류를 공급하여 방전 가공을 실시하기 위하여 형성되고, 서로 병렬 접속된 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와,
상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 각각을 떼어내기 위하여, 상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와 직렬로 접속된 복수의 스위치 (SW) 와,
상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 를 상기 스위치 (SW) 로 떼어냄과 함께, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는 제어 장치 (16) 를 구비하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 1 항에 있어서,
상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 는, 상기 가공용 전원부 (20) 로부터의 상기 가공 전류를 상기 극간 (EG) 에 공급하기 위하여, 상기 극간 (EG) 과 상기 가공용 전원부 (20) 사이에서 상기 극간 (EG) 및 상기 가공용 전원부 (20) 와 직렬로 접속되고, 또한 서로 병렬로 접속된 복수의 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 를 포함하고,
상기 복수의 스위치 (SW) 는, 상기 복수의 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 의 각각을 떼어내기 위하여, 상기 복수의 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 와 직렬로 접속된 복수의 제 1 스위치 (SWa, SWb) 를 포함하고,
상기 제어 장치 (16) 는, 상기 복수의 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 상기 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 를 상기 제 1 스위치 (SWa, SWb) 로 떼어냄과 함께, 고장난 상기 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 2 항에 있어서,
상기 복수의 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 및 상기 복수의 제 1 스위치 (SWa, SWb) 는, 상기 가공용 전원부 (20) 와 상기 가공 대상물 (W) 사이 및 상기 가공용 전원부 (20) 와 상기 와이어 전극 (10) 사이에 각각 형성되고,
상기 제어 장치 (16) 는, 상기 가공용 전원부 (20) 와 상기 가공 대상물 (W) 사이에 형성되고 또한 고장난 상기 제 1 스위칭 소자 (SWE2a) 의 수와, 상기 가공용 전원부 (20) 와 상기 와이어 전극 (10) 사이에 형성되고 또한 고장난 상기 제 1 스위칭 소자 (SWE2b) 의 수 중, 큰 쪽의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 는, 상기 가공용 전원부 (20) 에 의한 상기 극간 (EG) 으로의 상기 가공 전류의 공급 후에, 상기 극간 (EG) 에 흐르는 상기 가공 전류를 환류시키기 위하여, 상기 극간 (EG) 과 병렬로 접속된 복수의 제 2 스위칭 소자 (SWE2c) 를 포함하고,
상기 복수의 스위치 (SW) 는, 상기 복수의 제 2 스위칭 소자 (SWE2c) 의 각각을 떼어내기 위하여, 상기 복수의 제 2 스위칭 소자 (SWE2c) 와 직렬로 접속된 복수의 제 2 스위치 (SWc) 를 포함하고,
상기 제어 장치 (16) 는, 상기 복수의 제 2 스위칭 소자 (SWE2c) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 상기 제 2 스위칭 소자 (SWE2c) 를 상기 제 2 스위치 (SWc) 로 떼어냄과 함께, 상기 극간 (EG) 및 상기 가공용 전원부 (20) 와 직렬 접속되고 또한 고장난 상기 제 1 스위칭 소자 (SWE2a, SWE2b) 의 수와, 상기 극간 (EG) 과 병렬로 접속되고 또한 고장난 상기 제 2 스위칭 소자 (SWE2c) 의 수 중 큰 쪽의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제어 장치 (16) 는, 고장나지 않은 상기 스위칭 소자 (SWE2) 에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치가 소정치를 초과하지 않도록, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 5 항에 있어서,
상기 소정치는, 상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 가 고장나 있지 않을 때에, 상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 각각에 흐르는 소정 기간 (PT) 당의 전류의 평균치에 기초하여 결정되는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 극간 (EG) 에는, 상기 가공 전류가 공급되기 전에, 방전을 야기시키기 위한 야기 전압 (Vs) 이 인가되고,
상기 가공 조건은, 상기 극간 (EG) 으로의 상기 가공 전류의 공급이 종료되고 나서 다시 상기 야기 전압 (Vs) 이 인가될 때까지의 휴지 시간 (QT) 을 포함하고,
상기 제어 장치 (16) 는, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 상기 휴지 시간 (QT) 을 길게 하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 가공 조건은, 상기 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 을 포함하고,
상기 제어 장치 (16) 는, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 상기 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 을 작게 하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제어 장치 (16) 는, 고장나 있는 상기 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출하는 고장 검출부 (32) 를 구비하는, 와이어 방전 가공기 (12).
제 9 항에 있어서,
상기 극간 (EG) 의 전압 (Vg) 을 검출하는 전압 검출부 (14) 를 구비하고,
복수의 상기 스위치 (SW) 의 온/오프의 상태에 의해, 상기 가공용 전원부 (20) 와 상기 극간 (EG) 을 접속하는 회로 상태가 전환되고,
상기 고장 검출부 (32) 는, 복수의 상기 스위치 (SW) 를 온/오프함으로써 상기 회로 상태를 전환하고, 전환된 각 회로 상태에 있어서 상기 전압 검출부 (14) 가 검출한 상기 극간 (EG) 의 전압 (Vg) 에 기초하여, 고장나 있는 상기 스위칭 소자 (SWE2) 를 검출하는, 와이어 방전 가공기 (12).
와이어 전극 (10) 과 가공 대상물 (W) 사이에서 형성되는 극간 (EG) 에, 가공용 전원부 (20) 를 사용하여, 가공 조건에 따른 가공 전류를 공급함으로써, 상기 가공 대상물 (W) 에 대해 방전 가공을 실시하는 와이어 방전 가공기 (12) 의 가공 방법으로서,
상기 와이어 방전 가공기 (12) 는,
상기 극간 (EG) 에 상기 가공 전류를 공급하기 위하여 형성되고, 서로 병렬 접속된 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와,
상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 각각을 떼어내기 위하여, 상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 와 직렬로 접속된 복수의 스위치 (SW) 를 구비하고,
상기 복수의 스위칭 소자 (SWE2) 의 적어도 1 개가 고장난 경우에는, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 를 상기 스위치 (SW) 로 떼어냄과 함께, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 의 수에 따라 상기 가공 조건을 변경하는 제어 스텝을 포함하는, 가공 방법.
제 11 항에 있어서,
상기 극간 (EG) 에는, 상기 가공 전류가 공급되기 전에, 방전을 야기시키기 위한 야기 전압 (Vs) 이 인가되고,
상기 가공 조건은, 상기 극간 (EG) 으로의 상기 가공 전류의 공급이 종료되고 나서 다시 상기 야기 전압 (Vs) 이 인가될 때까지의 휴지 시간 (QT) 을 포함하고,
상기 제어 스텝은, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 상기 휴지 시간 (QT) 을 길게 하는, 가공 방법.
제 11 항 또는 제 12 항에 있어서,
상기 가공 조건은, 상기 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 을 포함하고,
상기 제어 스텝은, 고장난 상기 스위칭 소자 (SWE2) 의 수가 클수록, 상기 가공용 전원부 (20) 의 전압 (Vm) 을 작게 하는, 가공 방법.