JP5621095B2 - 放電加工機用電源装置 - Google Patents

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Description

本発明はスイッチング素子の短絡故障検出機能を具備する放電加工機用電源装置に関する。
従来より、放電加工機における放電部(放電負荷)の電源側にFETの如きスイッチング素子を設置した電源供給回路における半導体素子の短絡故障手段として、図7又は図8に示す如き短絡故障検出手段が知られている。
また、例えば、特許文献1に記載の如き電源供給回路におけるスイッチング素子の短絡故障検出装置がある。
しかしながら、特許文献1に記載の電源供給回路における短絡故障検出手段を実現するための設計値を開示するスイッチング素子の提供元が存在せず、電源供給回路の製品化について品質保証が受けられない問題があった。
図7を参照するに、スイッチング素子短絡故障検出手段100においては、出力電圧がEである加工パルス用電源101と被加工材103との間にFETの如きスイッチング素子TR1を設け、前記加工パルス用電源101の正極に加工パルス制限用の電流制限抵抗Rと加工パルス用逆流防止ダイオードDを直列に接続し、前記スイッチング素子TR1のドレインDに前記ダイオードDを接続すると共にスイッチング素子TR1のソースS側に前記被加工材103が接続してある。
前記電源101の負極は前記被加工材103に放電間隙をもって対向する電極105に接続してある。また前記スイッチング素子TR1のゲートGには、放電加工機(図示省略)を制御するNC装置107に制御される加工パルスタイミング生成手段109が接続してある。
出力電圧がEである故障検出用電源111の正極側の回路は二つに分岐していて、一方は基準電圧vの入力として電圧比較器113に接続し、もう一方は、故障検出用プルアップ抵抗Rを介して入力電圧vの入力として前記電圧比較器113に接続してある。そして前記故障検出用電源111の負極は前記スイッチング素子TR1のソースSに接続してある。
上述の故障検出用プルアップ抵抗Rは、放電加工運転中において前記スイッチング素子のドレインDとソースSの間に係る振動電圧に起因する故障検出回路の故障を防ぐためのスイッチSW1を介して前記スイッチング素子TR1のドレインDに接続してある。前記電圧比較器113の比較結果は故障検出器115に入力され、この故障検出器115の比較結果は前記NC装置107にフィードバックされ、故障と判断された場合には、前記スイッチング素子TR1をOFFにする指令を出力して放電加工を停止させるものである。
上記構成のスイッチング素子短絡故障検出手段100において、スイッチング素子TR1の故障検出は加工停止中にスイッチSW1を閉にした状態で行われ、故障検出器115において基準電圧vと入力電圧vが等しく、v=v=Eならば、スイッチング素子TR1は非導通で正常と判断される。一方、v>v≒0ならばスイッチング素子TR1は導通状態であり故障と判断されるものである。
しかしながら、スイッチング素子短絡故障検出手段100においては、放電加工運転中には故障検出回路の故障を防止することを目的とするスイッチSW1を開の状態にするため故障検出の監視動作を行うことができない。
図8に示すスイッチング素子短絡故障検出手段200は、前記図7のスイッチング素子短絡故障検出手段100における電圧比較器113をフォトカプラに変更したものであり以下にその概要を説明する。なお同一の構成部品には同一の符号を付してその詳細な説明は省略する。
図8を参照するに、スイッチング素子短絡故障検出手段200における故障検出回路にはフォトカプラ201が設けてある。このフォトカプラ201の一次側LEDのアノードAに出力電圧Eの一次側駆動電源203の正極が接続してある。そして、この一次側駆動電源203の負極は前記スイッチング素子TR1のソースSに接続してある。
前記フォトカプラ201の一次側LEDのカソードKには、フォトカプラ一次側用電流制限抵抗R、放電加工運転中において前記スイッチング素子のドレインDとソースS間にかかる振動電圧に起因する故障検出回路の故障を防ぐためのスイッチSW1およびフォトカプラ一次側保護用ダイオードDが順に直列に接続してあり、このダイオードDのカソードKが前記スイッチング素子TR1のドレインDに接続してある。
前記フォトカプラ201の二次側のトランジスタのコレクタCには、二次側用負荷抵抗Rを介して出力電圧がEである二次側駆動電源205と前記故障検出器115が接続してある。また、二次側のトランジスタのエミッタEは二次側駆動電源205の負極に接続してある。ここで、前記フォトカプラ201について前記一次側LEDが導通のとき、前記二次側トランジスタは導通になり、前記一次側LEDが非導通のときは前記二次側トランジスタは非導通になるものとする。
上記構成のスイッチング素子短絡故障検出手段200において、スイッチング素子TR1の故障検出は加工停止中にスイッチSW1を閉にした状態で行われ、フォトカプラ201のトランジスタが非導通で、故障検出器115に入力される電圧vがv≒Eならば、スイッチング素子TR1は非導通で正常と判断される。一方、フォトカプラ201のトランジスタが導通状態で電圧vが≒0ならば、スイッチング素子TR1は導通状態(短絡状態)であり故障と判断されるものである。
しかしながら、スイッチング素子短絡故障検出手段200においても、放電加工運転中には故障検出回路の故障を防止することを目的とするスイッチSW1を開の状態にするため故障検出の監視動作を行うことができない。
特開2007−174756号公報
前記スイッチング素子短絡故障検出手段100または200等の従来の故障検出回路においては、加工運転中は故障検出回路の故障を防止することを目的とするスイッチSW1を開の状態にしなくてはならないため、スイッチング素子としてのスイッチング素子TR1の短絡故障を検出することができない。
また、特許文献1に記載の電源供給回路の故障検出装置においては、これを実現するための設計値を開示するスイッチング素子の提供元が存在せず電源供給回路の製品化についての品質保証が受けられない問題がある。
本発明は上述の如き問題を解決するために成されたものであり、本発明の課題は、加工運転中におけるスイッチング素子の短絡故障を検出可能にした放電加工機用電源装置を既存の信頼性の高い電流センサを用いて製品化を実現することである。
請求項1に記載の放電加工機用電源装置は、加工用電極と被加工材との間隙に放電加工用の電気パルスを印加する放電加工機用電源装置において、前記放電加工用の電気パルスを前記間隙に印加するスイッチング素子と、該スイッチング素子に流れるスイッチング電流を検出する電流センサを設け、該電流センサの指示値と前記スイッチング素子の短絡故障を判別する閾値との大小を比較してその比較結果を論理値として出力する比較器を設け、前記スイッチング素子の制御信号を基に前記比較器の比較結果を記憶する素子を備えた故障検出器を設け、該故障検出器は、前記スイッチング素子が非導通状態から導通状態に変化するように前記スイッチング素子の制御信号が作用する時刻に前記比較器の比較結果を記憶して、前記スイッチング素子の短絡故障の検出結果に前記比較器の記憶を反映させることを特徴とするものである
本発明によれば、加工パルススイッチング素子の加工運転中におけるスイッチング電流を検出することにより、前記加工パルス用スイッチング素子の短絡故障を瞬時に検出することができる。
また、前記スイッチング電流の値を取得するための電流センサは広く市場に流通しており、本発明による短絡故障検出手段を実現するための設計値に不足はなく、電源供給回路の製品化について品質保証が受けられる。
さらに、故障信号を放電加工機のNC装置および加工パルス生成手段に伝達させることにより、放電加工システムを安全に停止させることができる。これにより、被加工材に係る加工不良を防止することができる。
本願発明に係る放電加工機用電源装置の回路の基本構成ブロック図。 基本構成ブロック図における故障検出器の第1の実施形態。 第1の実施形態の故障検出器の動作を説明するタイムチャート。 第1の実施形態における、スイッチング信号に対するスイッチング素子の動作の時間的遅れと検出マスク信号の説明図。 基本構成ブロック図における故障検出器の第2の実施形態。 第2の実施形態の故障検出器の動作を説明するタイムチャート。 放電加工機における放電部(放電負荷)の電源側にFETの如きスイッチング素子を設置した電源供給回路における短絡故障手段の従来例。 放電加工機における放電部(放電負荷)の電源側にFETの如きスイッチング素子を設置した電源供給回路における短絡故障手段の別の従来例。
以下、本発明の実施の形態を図面によって説明する。
図1を参照するに、放電加工機用電源装置1は出力電圧Eの加工パルス用電源3と被加工材5との間にFETの如きスイッチング素子TR1を設置してある。そして、このスイッチング素子TR1のドレインDと前記加工パルス用電源3の正極との間には、前記加工パルス用電源3側から順に直列接続された加工パルス用電流制限抵抗Rと電流センサCSおよび加工パルス逆流防止ダイオードDが設けてある。
ここで、加工パルス電流の仕様に鑑みて、前記電流センサCSについて例えば対応周波数が1キロヘルツから1メガヘルツの間で、かつ適用電流実効値が10ミリアンペアから60アンペアのものが選定される。
一方、前記スイッチング素子TR1のソースS側は前記被加工材5に接続し、前記加工パルス用電源3の負極は前記被加工材5に放電間隙をもって対向する電極7に接続してある。また、前記スイッチング素子TR1のゲートGには、放電加工機(図示省略)を制御するNC装置9に制御される加工パルス生成手段11が接続してある。
加工運転時において、前記電流センサCSはスイッチング素子TR1によりスイッチングされたときに流れる電流iの瞬時値を検出して、この電流iの電流値に対する指示値vを比較器13に入力信号Bとして出力する。また、前記比較器13には前記電流値に対する指示値vに係るスイッチング素子TR1の短絡故障を検出するための閾値vが基準電源EREFから入力されている。ここで、前記電流値に対する前記指示値vの関係は前記電流センサCSの提供元により設計値として開示されている。
なお、加工運転中にスイッチング素子TR1がスイッチング制御されている状態において、スイッチング素子TR1が正常ならば、前記スイッチング素子TR1のON/OFF状態に係る加工パルス生成手段11の指令値がON(導通)のとき、前記スイッチング電流iは、前記電極7と被加工材5との加工間隙における電気負荷に起因して流れる。そして、前記スイッチング電流iの大きさは、加工間隙における負荷抵抗をRとすれば、i=E/(R+R)である。また、加工パルス生成手段11の指令値がOFF(非導通)のときは、i=0である。
スイッチング素子TR1が短絡故障ならば、加工パルス生成手段11の指令値がONのときもOFFのときも共に、i=E/(R+R)となる。
前記比較器13は前記指示値vと閾値vの大小を比較して、前記比較結果を論理信号F(1または0)として故障検出器15に出力する。また、この故障検出器15には前記加工パルス生成手段11から前記スイッチング素子TR1をスイッチング制御するパルス信号Aが入力される。
前記故障検出器15は、前記スイッチング素子の短絡故障の有無を判断して、その判断結果が論理信号Q(1または0)として、前記放電加工機(図示省略)を制御するNC装置9に出力し、NC装置9はこの判断結果を基に前記加工パルス生成手段11を制御して放電加工を停止または継続する。もしくは、論理信号Qを指令値として前記加工パルス生成手段11に出力することにより、放電加工を停止または継続させてもよい。
図2は、上述の比較器13と故障検出器15からなる論理回路の第1の実施形態を示したものである。
図1、図2を参照するに、前記故障検出器15は前記スイッチング素子TR1をON/OFF制御するパルスからなる制御信号A(1または0)と、この制御信号AをΔtだけ遅延させる遅延素子Delay1からの遅延信号C(1または0)とを入力として論理信号J(1または0)を出力とする第1の論理和素子ORを有している。なお、前記制御信号Aにおいて、A=1の場合はスイッチング素子TR1がON(導通状態)、A=0の場合はスイッチング素子TR1をOFF(非導通状態)にさせるものである。
また、第2の論理和素子ORは、前記第1の論理和素子ORの出力である論理信号Jと前記比較器13の出力F(1または0)とを入力として論理信号K(1または0)を出力するものである。比較器13の出力Fは、v<vの場合はF=1、v≧vの場合はF=0である。なお、前記比較器13は前記閾値vを出力する基準電源EREFと前記指示値vを比較するコンパレータCOMPとで構成してある。
リセット回路17には、その出力HをH=1からH=0に変化させた時刻にRSフリップフロップRS−FFの短絡故障の記憶を解除する作用がある。この動作のタイミングは放電加工機が起動したときでも良く、または加工運転開始時刻でも良い。なお、前記短絡故障の記憶を解除させる作用を失効するときは、前記出力HはH=0からH=1に変化する。
また、前記第2の論理和素子ORには、この第2の論理和素子ORの出力である前記論理信号Kとリセット手段17からのリセット出力Hとを入力として故障記憶信号Q(1または0)を出力するRSフリップフロップRS−FFが接続してある。なお、前記故障記憶信号Qについて、K=0のときにQ=1となり故障を記憶する。また、H=0のときにQ=0となり故障の記憶を解除する。また、K=1かつH=1のとき、前記故障記憶信号Qはその記憶状態を保持する。
次に、図3により前記スイッチング素子TR1に係る短絡故障検出動作について説明する。前記制御信号Aは、前記スイッチング素子TR1をスイッチングするパルス信号であり、時刻t11で論理値1から0に立ち下がり、時刻t12で0から1に立ち上がるパルス信号である。制御信号A=1はON指令値で、A=0はOFF指令値に対応するものである。
前記遅延素子Delay1の遅延信号Cは、前記制御信号AをΔtだけ位相を遅延させた信号であり、前記第1の論理和素子ORにより、論理信号J=A+Cが得られる。この論理信号Jは前記スイッチング素子TR1がONからOFFに変化するよう前記制御信号Aが作用する期間において前記比較器13の出力Fの記憶を無効とし、かつ前記スイッチング素子TR1がONとなるよう前記制御信号Aが作用する期間において前記出力Fの記憶を無効とするための信号で、以下検出マスク信号Jと呼称される。
これにより、検出マスク信号Jは、A=1、すなわち、スイッチング指令値がON期間で、J=1の場合は検出マスクを有効(v≧vのときに短絡故障を記憶しない)とし、J=0の場合は検出マスクを無効(v≧vのときに短絡故障を記憶する)とするものである。
なお、前記検出マスク信号Jの立ち下がり時刻をΔt(=t21−t11)だけ遅らせる理由は、図4に示すように、スイッチング素子TR1をONからOFFにする制御信号Aを前記スイッチング素子TR1に与えても、現実のスイッチング素子は直ちにOFFにはならず、ONからOFFになるまでの若干の時間はターンオフ電流が流れているものであり、前記制御信号AがA=1の状態からA=0の状態に変化した直後に前記ターンオフ電流を誤って前記スイッチング素子TR1の短絡故障電流として検出することがないように短絡故障検出動作を無効にするためである。すなわち、スイッチング素子がON(導通状態)からOFF(非導通状態)に変化する期間は故障検出を行わない故障検出マスク期間を有する。
図3において、スイッチング電流の指示値vの変化を見るに、制御信号A=1がONであっても放電加工機における放電間隙において放電または短絡が起きなければ電流は流れないので、符号(イ)で示す区間の指示値vはゼロ(v<v、F=1)である。なお、前記スイッチング素子TR1が正常にOFFすれば前記スイッチング電流は流れないので制御信号A=0の区間の指示値vはゼロである。
また、符号(ロ)で示すようにスイッチング電流の指示値vが、v≧vでF=0になっても、検出マスク信号Jが1で検出マスクが有効(mask)区間においては、それは放電加工機における放電間隙において放電または短絡がおきた場合であるから故障とは判断しない。
符号(ハ)で示す区間のように、スイッチング電流の指示値vが、v≧vとなり、検出マスク信号JがJ=0で検出マスクが無効(unmask)の区間において、J=0になった瞬間に、前記第2の論理和素子ORの出力KがK=0となり、前記RSフリップフロップRS−FFが短絡故障の発生を記憶すると共に故障記憶信号であるQ=1を出力する。この故障記憶信号Q=1はリセット出力HがH=0とならない限り保持される。
図5により故障検出器の第2の実施形態を説明する。故障検出器19には、前記スイッチング素子TR1をON/OFF制御するパルスからなる前記制御信号Aを入力クロックとし、前記比較器13からの比較結果Fを入力Wとし、前記入力クロックの立ち上がりエッジのタイミングで前記入力Wの値を出力Mに反映した上で前記入力クロックの次の立ち上がりエッジのタイミングまで前記出力Mの値を保持し、この出力Mを出力XとするDフリップフロップD−FFが設けてある。
さらに、上述のDフリップフロップD−FFの出力Xを入力
Figure 0005621095
とし、出力Nを故障の記憶信号Qとして出力とするRSフリップフロップRS−FFが設けてある。また、前記RSフリップフロップRS−FFの入力
Figure 0005621095
には、前記リセット回路17からのリセット出力Hが入力できるようになっている。なお、前記RSフリップフロップRS−FFの動作は前記第1の実施の形態に記載のRS−FFと同様なためここでは説明を省略する。
リセット回路17には、その出力HをH=1からH=0に変化させた時刻にRSフリップフロップRS−FFの短絡故障の記憶を解除する作用がある。この動作のタイミングは、放電加工機が起動したときでも良く、または加工運転開始時刻でも良い。なお、前記短絡故障の記憶を解除させる作用を失効するときは、前記出力HはH=0からH=1に変化する。
次に、図6により故障検出器の第2の実施形態の故障検出動作について説明する。
図6において、スイッチング電流の指示値vの変化を見るに、正常なスイッチング素子TR1について、スイッチング素子そのものの遅延に起因して、スイッチング制御信号AがOFF指令値からON指令値に変化した時刻において、前記スイッチング素子TR1はONではなくスイッチング電流は流れないことが分かっている。
すなわち、スイッチング制御信号AがOFFからONに変化した時刻において、スイッチング電流の指示値vはゼロ(v<v、F=1:正常)である。したがって、DフリップフロップD−FFの出力Mは1であり、故障検出信号XはX=1となる。この故障検出信号X=1がRSフリップフロップRS−FFの入力
Figure 0005621095
に入力され、かつリセット信号がH=1のままならば短絡故障の記憶出力Qは正常を示すQ=0の値の記憶を保持する。
また、制御信号A=1がONであっても放電加工機における放電間隙において放電または短絡が起きなければ電流は流れないので、符号(イ)の区間では指示値vはゼロ(v<v、F=1)である。なお、前記スイッチング素子TR1が正常にOFFすれば前記スイッチング電流は流れないので制御信号A=0の区間も指示値vはゼロである。
また、符号(ロ)で示す部分においては、スイッチング制御信号AがA=1の期間においてスイッチング電流の指示値vが、v≧vでF=0になっても、それは放電加工機における放電間隙において放電または短絡がおきた場合であるから故障とは判断しない。以上より、前記スイッチング素子TR1が正常なときは、前記スイッチング制御信号Aの立ち上がりエッジのタイミングにおいて前記スイッチング電流は流れないことが分かる。
符号(ハ)に示すようにスイッチング制御信号AがA=0の期間において、スイッチング電流の指示値vが、v≧vでF=0となり、この状態が継続した場合、前記スイッチング制御信号AがA=0からA=1に変化した時刻、すなわち前記スイッチング制御信号Aについて立ち上がりエッジが発生した時刻において、DフリップフロップD−FFの出力MにF=0の値が反映され保持される。
したがって、故障検出信号XはX=0となり前記RSフリップフロップRS−FFの入力
Figure 0005621095
となり、このRSフリップフロップRS−FFの入力
Figure 0005621095
のままならば前記RSフリップフロップRS−FFの出力NはN=1が記憶される。ゆえに短絡故障検出信号QはQ=1となり、故障検出器から短絡故障検出信号が出力される。
1 放電加工機用電源装置
3 加工パルス用電源
5 被加工材
7 電極
9 NC装置
11 加工パルス生成手段
13 比較器
15 故障検出器
17 リセット手段
19 故障検出器
OMP コンパレータ
CS 電流センサ
加工パルス逆流防止ダイオード
Delay1 遅延素子
D−FF Dフリップフロップ
REF 基準電源
OR 第1の論理和素子
OR 第2の論理和素子
加工パルス用電流制限抵抗
RS−FF RSフリップフロップ
RS−FF RSフリップフロップ
R1 スイッチング素子

Claims (1)

  1. 加工用電極と被加工材との間隙に放電加工用の電気パルスを印加する放電加工機用電源装置において、前記放電加工用の電気パルスを前記間隙に印加するスイッチング素子と、該スイッチング素子に流れるスイッチング電流を検出する電流センサを設け、該電流センサの指示値と前記スイッチング素子の短絡故障を判別する閾値との大小を比較してその比較結果を論理値として出力する比較器を設け、前記スイッチング素子の制御信号を基に前記比較器の比較結果を記憶する素子を備えた故障検出器を設け、該故障検出器は、前記スイッチング素子が非導通状態から導通状態に変化するように前記スイッチング素子の制御信号が作用する時刻に前記比較器の比較結果を記憶して、前記スイッチング素子の短絡故障の検出結果に前記比較器の記憶を反映させることを特徴とする放電加工機用電源装置
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