KR20200056421A - 이상 검지 장치 및 이상 검지 방법 - Google Patents

이상 검지 장치 및 이상 검지 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20200056421A
KR20200056421A KR1020207011099A KR20207011099A KR20200056421A KR 20200056421 A KR20200056421 A KR 20200056421A KR 1020207011099 A KR1020207011099 A KR 1020207011099A KR 20207011099 A KR20207011099 A KR 20207011099A KR 20200056421 A KR20200056421 A KR 20200056421A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
unit
detection period
detection
movable terminal
Prior art date
Application number
KR1020207011099A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102323649B1 (ko
Inventor
다이사쿠 스가와라
도루 다나카
Original Assignee
알프스 알파인 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 알프스 알파인 가부시키가이샤 filed Critical 알프스 알파인 가부시키가이샤
Publication of KR20200056421A publication Critical patent/KR20200056421A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102323649B1 publication Critical patent/KR102323649B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54—Testing for continuity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/12—Measuring electrostatic fields or voltage-potential
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01C—RESISTORS
    • H01C10/00—Adjustable resistors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

일 실시형태에 관련된 이상 검지 장치는, 저항 소자와, 상기 저항 소자에 접촉하면서 이동하는 가동 단자를 구비하는 퍼텐쇼미터의 이상 검지 장치로서, 상기 저항 소자의 일단에, 제 1 검지 기간 동안, 제 1 전압을 인가하고, 상기 제 1 검지 기간과 연속된 기간인 제 2 검지 기간 동안, 제 2 전압을 인가하는 제 1 인가부와, 상기 저항 소자의 타단에, 상기 제 1 검지 기간 동안, 상기 제 1 전압을 인가하고, 상기 제 2 기간 동안, 상기 제 2 전압을 인가하는 제 2 인가부와, 상기 가동 단자로부터의 출력 전압을 검출하는 전압 검출부와, 상기 제 1 인가부 및 상기 제 2 인가부에 의한 인가 전압의 전환시에 있어서의, 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압에 기초하여, 상기 가동 단자의 접촉 불량을 검지하는 이상 검지부를 구비한다.

Description

이상 검지 장치 및 이상 검지 방법
본 발명은, 이상 검지 장치 및 이상 검지 방법에 관한 것이다.
종래, 퍼텐쇼미터의 가동 단자의 전압을 검출하고, 검출된 전압에 기초하여, 단선이나 단락 등의, 퍼텐쇼미터의 이상을 검지하는 이상 검지 장치가 알려져 있다.
일본 공개특허공보 평11-37708호 일본 공개특허공보 평10-103910호
그러나, 종래의 이상 검지 장치에서는, 가동 단자와 전원의 단락이나, 가동 단자와 그라운드의 단락은 검지할 수 있었지만, 퍼텐쇼미터에서 빈번히 발생하는 가동 단자의 접촉 불량을 검지할 수 없었다.
본 발명은, 상기의 과제를 감안하여 이루어진 것으로, 퍼텐쇼미터에 있어서의 가동 단자의 접촉 불량을 검지할 수 있는 이상 검지 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
일 실시형태에 관련된 이상 검지 장치는, 저항 소자와, 상기 저항 소자에 접촉하면서 이동하는 가동 단자를 구비하는 퍼텐쇼미터의 이상 검지 장치로서, 상기 저항 소자의 일단에, 제 1 검지 기간 동안, 제 1 전압을 인가하고, 상기 제 1 검지 기간과 연속된 기간인 제 2 검지 기간 동안, 제 2 전압을 인가하는 제 1 인가부와, 상기 저항 소자의 타단에, 상기 제 1 검지 기간 동안, 상기 제 1 전압을 인가하고, 상기 제 2 기간 동안, 상기 제 2 전압을 인가하는 제 2 인가부와, 상기 가동 단자로부터의 출력 전압을 검출하는 전압 검출부와, 상기 제 1 인가부 및 상기 제 2 인가부에의한 인가 전압의 전환시에 있어서의, 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압에 기초하여, 상기 가동 단자의 접촉 불량을 검지하는 이상 검지부를 구비한다.
본 발명의 각 실시형태에 의하면, 퍼텐쇼미터에 있어서의 가동 단자의 접촉 불량을 검지할 수 있는 이상 검지 장치를 제공할 수 있다.
도 1 은, 이상 검지 장치의 구성의 일례를 나타내는 도면.
도 2 는, 제 1 인가부 및 제 2 인가부가 저항 소자에 인가하는 전압의 일례를 나타내는 도면.
도 3A 는 퍼텐쇼미터의 상태에 따른 전압을 나타내는 도면.
도 3B 는 퍼텐쇼미터의 상태에 따른 전압을 나타내는 도면.
도 3C 는 퍼텐쇼미터의 상태에 따른 전압을 나타내는 도면.
도 4A 는 퍼텐쇼미터의 상태에 따른 전압을 나타내는 도면.
도 4B 는 퍼텐쇼미터의 상태에 따른 전압을 나타내는 도면.
도 5A 는 퍼텐쇼미터의 상태에 따른 전압을 나타내는 도면.
도 5B 는 퍼텐쇼미터의 상태에 따른 전압을 나타내는 도면.
도 6 은, 이상 검지 장치의 처리의 일례를 나타내는 플로 차트.
도 7 은, 이상 검지 처리의 일례를 나타내는 플로 차트.
이하, 본 발명의 각 실시형태에 대하여, 첨부하는 도면을 참조하면서 설명한다. 또한, 각 실시형태에 관련된 명세서 및 도면의 기재에 관하여, 실질적으로 동일한 기능 구성을 갖는 구성 요소에 대해서는, 동일한 부호를 부여함으로써 중복된 설명을 생략한다.
일 실시형태에 관련된 이상 검지 장치 (1) 에 대하여, 도 1 ∼ 도 7 을 참조하여 설명한다. 도 1 은, 이상 검지 장치 (1) 및 퍼텐쇼미터 (2) 의 일례를 나타내는 도면이다. 먼저, 퍼텐쇼미터 (2) 에 대하여 설명한다.
퍼텐쇼미터 (2) 는, 저항 소자 (21) 와, 가동 단자 (22) 와, 단자 (T21 ∼ T23) 를 구비한다. 도 1 의 예에서는, 퍼텐쇼미터 (2) 가, 가동 단자 (22) 의 직선 상의 위치를 검출하기 위한 리니어 퍼텐쇼미터인 경우를 상정하고 있다. 그러나, 퍼텐쇼미터 (2) 는, 가동 단자 (22) 의 회전 각도를 검출하기 위한 로터리 퍼텐쇼미터여도 된다.
저항 소자 (21) 는, 일단이 단자 (T21) 에 접속되고, 타단이 단자 (T22) 에 접속된다. 저항 소자 (21) 는, 이상 검지 장치 (1) 에 의해 전압이 인가된다.
가동 단자 (22) 는, 유저의 조작에 따라, 저항 소자 (21) 에 접촉하면서 이동하는 단자이다. 가동 단자 (22) 는, 일단이 저항 소자 (21) 에 접촉하고, 타단이 단자 (T23) 에 접속된다. 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 은, 이상 검지 장치 (1) 에 의해 검출된다.
다음으로, 이상 검지 장치 (1) 에 대하여 설명한다. 이상 검지 장치 (1) 는, 퍼텐쇼미터 (2) 의 가동 단자 (22) 의 위치를 검출함과 함께, 퍼텐쇼미터 (2) 의 이상을 검지하는 장치이다. 즉, 이상 검지 장치 (1) 는, 가동 단자 (22) 의 위치를 검출하는 위치 검출 장치를 겸한다.
퍼텐쇼미터 (2) 의 이상에는, 가동 단자 (22) 와 고압측 전원의 단락 (이하「천락 (天絡)」이라고 한다), 가동 단자 (22) 와 저압측 전원의 단락 (이하「지락 (地絡)」이라고 한다), 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 의 일단 또는 타단의 단락, 저항 소자 (21) 로부터의 가동 단자 (22) 의 이간 (들뜸), 및 저항 소자 (21) 에 대한 가동 단자 (22) 의 접촉 불량이 포함된다. 가동 단자 (22) 의 접촉 불량이란, 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 사이에 이물질이 끼이는 등의 원인에 의해, 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 사이의 저항값이 증대된 상태를 말한다.
이상 검지 장치 (1) 는, CPU (Central Processing Unit) 와, ROM (Read Only Memory) 과, RAM (Random Access Memory) 을 구비하는 컴퓨터에 의해 구성된다. 이상 검지 장치 (1) 는, MCU (Micro Control Unit) 등의 마이크로 컴퓨터에 의해 구성되어도 되고, PC (Personal Computer) 등의 범용 컴퓨터에 의해 구성되어도 된다.
도 1 의 이상 검지 장치 (1) 는, 기능 구성으로서, 제 1 인가부 (11) 와, 제 2 인가부 (12) 와, 전압 검출부 (13) 와, 위치 검출부 (14) 와, 이상 검지부 (15) 와, 제어부 (16) 와, 단자 (T11 ∼ T13) 를 구비한다. 제 1 인가부 (11), 제 2 인가부 (12), 및 전압 검출부 (13) 는, 각각 하드웨어에 의해 구성되고, 위치 검출부 (14), 이상 검지부 (15), 및 제어부 (16) 는, 각각 CPU 가 프로그램을 실행함으로써 실현된다. 또한, 위치 검출부 (14), 이상 검지부 (15), 및 제어부 (16) 를 하드웨어에 의해 구성하는 것도 가능하다.
제 1 인가부 (11) 는, 퍼텐쇼미터 (2) 의 단자 (T21) 에 접속된 단자 (T11) 에 접속된다. 즉, 제 1 인가부 (11) 는, 단자 (T11, T21) 를 개재하여, 저항 소자 (21) 의 일단에 접속된다. 제 1 인가부 (11) 는, 제어부 (16) 로부터의 지시에 따라, 저항 소자 (21) 의 일단에, 제 1 전압 (V1) 또는 제 2 전압 (V2) 을 인가한다.
제 1 전압 (V1) 은, 제 2 전압 (V2) 보다 높은 전압이다. 제 1 전압 (V1) 의 전압원인 제 1 전압원은, 고압측 전원에 상당하고, 제 2 전압 (V2) 의 전압원인 제 2 전압원은, 저압측 전원에 상당한다. 제 1 인가부 (11) 는, 제어부 (16) 로부터의 지시에 따라, 단자 (T11) 와, 제 1 전압원 또는 제 2 전압원을 접속하는 스위칭 회로에 의해 구성된다. 이상 검지 장치 (1) 가 MCU 인 경우, 제 1 인가부 (11) 는, 출력 포트에 상당한다. 예를 들어, 제 1 전압원은 전원이고, 제 2 전압원은 그라운드이고, 제 1 전압 (V1) 은 5 V 이고, 제 2 전압 (V2) 은 0 V 이지만, 이것에 한정되지 않는다.
제 2 인가부 (12) 는, 퍼텐쇼미터 (2) 의 단자 (T22) 에 접속된 단자 (T12) 에 접속된다. 즉, 제 2 인가부 (12) 는, 단자 (T12, T22) 를 개재하여, 저항 소자 (21) 의 타단에 접속된다. 제 2 인가부 (12) 는, 제어부 (16) 로부터의 지시에 따라, 저항 소자 (21) 의 타단에, 제 1 전압 (V1) 또는 제 2 전압 (V2) 을 인가한다.
제 2 인가부 (12) 는, 제어부 (16) 로부터의 지시에 따라, 단자 (T12) 와, 제 1 전압원 또는 제 2 전압원을 접속하는 스위칭 회로에 의해 구성된다. 이상 검지 장치 (1) 가 MCU 인 경우, 제 2 인가부 (12) 는, 출력 포트에 상당한다.
전압 검출부 (13) 는, 퍼텐쇼미터 (2) 의 단자 (T23) 에 접속된 단자 (T13) 에 접속된다. 즉, 전압 검출부 (13) 는, 단자 (T13, T23) 를 개재하여, 가동 단자 (22) 의 타단에 접속된다. 전압 검출부 (13) 는, 플래시형 ADC (Analog to Digital Converter) 나 파이프라인형 ADC, 순차 비교형 ADC 등의 ADC 에 의해 구성되고, 소정의 샘플링 간격으로, 단자 (T13) 에 인가된 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 을 검출한다. 전압 (Vm) 은, 가동 단자 (22) 로부터의 출력 전압에 상당한다. 이상 검지 장치 (1) 가 MCU 인 경우, 전압 검출부 (13) 는, 입력 포트에 상당한다.
위치 검출부 (14) 는, 전압 검출부 (13) 가 검출한 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 에 기초하여, 가동 단자 (22) 의 위치를 검출한다. 위치 검출부 (14) 는, 전압 (Vm) 과 위치의 대응 관계를 나타내는 위치 테이블을 갖고, 전압 검출부 (13) 가 검출한 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 과 대응하는 위치를, 가동 단자 (22) 의 위치로서 검출한다.
이상 검지부 (15) 는, 전압 검출부 (13) 가 검출한 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 에 기초하여, 퍼텐쇼미터 (2) 의 이상을 검지한다. 이상 검지 방법에 대해서는 후술한다.
제어부 (16) 는, 이상 검지 장치 (1) 의 전체의 동작을 제어한다. 제어 방법에 대해서는 후술한다.
다음으로, 이상 검지 장치 (1) 의 동작의 개요에 대하여 설명한다. 도 2 는, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 가 저항 소자 (21) 에 인가하는 전압의 일례를 나타내는 도면이다. 도 2 에 있어서, 실선은 제 1 인가부 (11) 가 저항 소자 (21) 의 일단 (단자 (T21)) 에 인가하는 전압을 나타내고, 파선은 제 2 인가부 (12) 가 저항 소자 (21) 의 타단 (단자 (T22)) 에 인가하는 전압을 나타낸다. 도 2 에 나타내는 바와 같이, 이상 검지 장치 (1) 는, 동작 기간으로서, 위치 검출 기간 (P0) 과, 제 1 검지 기간 (P1) 과, 제 2 검지 기간 (P2) 과, 제 3 검지 기간 (P3) 을 갖는다.
위치 검출 기간 (P0) 은, 이상 검지 장치 (1) 가 가동 단자 (22) 의 위치를 검출하는 기간이다. 위치 검출 기간 (P0) 동안, 제 1 인가부 (11) 는, 저항 소자 (21) 의 일단에 제 1 전압 (V1) 을 인가하고, 제 2 인가부 (12) 는, 저항 소자 (21) 의 타단에 제 2 전압 (V2) 을 인가한다.
제 1 검지 기간 (P1) 은, 이상 검지 장치 (1) 가 퍼텐쇼미터 (2) 의 이상을 검지하는 제 1 기간이다. 제 1 검지 기간 (P1) 동안, 제 1 인가부 (11) 는, 저항 소자 (21) 의 일단에 제 1 전압 (V1) 을 인가하고, 제 2 인가부 (12) 는, 저항 소자 (21) 의 타단에 제 1 전압 (V1) 을 인가한다.
제 2 검지 기간 (P2) 은, 이상 검지 장치 (1) 가 퍼텐쇼미터 (2) 의 이상을 검지하는 제 2 기간이다. 제 2 검지 기간 (P2) 동안, 제 1 인가부 (11) 는, 저항 소자 (21) 의 일단에 제 2 전압 (V2) 을 인가하고, 제 2 인가부 (12) 는, 저항 소자 (21) 의 타단에 제 2 전압 (V2) 을 인가한다.
제 3 검지 기간 (P3) 은, 이상 검지 장치 (1) 가 퍼텐쇼미터 (2) 의 이상을 검지하는 제 3 기간이다. 제 3 검지 기간 (P3) 동안, 제 1 인가부 (11) 는, 저항 소자 (21) 의 일단에 제 2 전압 (V2) 을 인가하고, 제 2 인가부 (12) 는, 저항 소자 (21) 의 타단에 제 1 전압 (V1) 을 인가한다. 즉, 제 3 검지 기간 (P3) 은, 위치 검출 기간 (P0) 과는 역전압을 인가하는 기간에 상당한다.
이상 검지 장치 (1) 는, 위치 검출 기간 (P0), 제 1 검지 기간 (P1), 제 2 검지 기간 (P2), 및 제 3 검지 기간 (P3) 을 하나의 동작 사이클로 하여, 반복 실행한다. 하나의 동작 사이클에 필요로 하는 시간은, 예를 들어, 5 msec 이지만, 이것에 한정되지 않는다. 또, 위치 검출 기간 (P0), 제 1 검지 기간 (P1), 제 2 검지 기간 (P2), 및 제 3 검지 기간 (P3) 의 계속 시간은, 각각 동일해도 되고, 상이해도 된다. 또, 하나의 동작 사이클에 있어서의 위치 검출 기간 (P0), 제 1 검지 기간 (P1), 제 2 검지 기간 (P2), 및 제 3 검지 기간 (P3) 의 순서는, 도 2 의 예에 한정되지 않는다.
다음으로, 이상 검지부 (15) 에 의한 퍼텐쇼미터 (2) 의 이상 검지 방법에 대하여 설명한다. 도 3A ∼ 3C, 도 4A, 4B, 및 도 5A, 5B 는, 퍼텐쇼미터 (2) 의 상태에 따른 전압 (Vm) 을 나타내는 도면이다. 도 3A 는, 퍼텐쇼미터 (2) 가 정상인 경우의 전압 (Vm) 을 나타내고, 도 3B 는, 가동 단자 (22) 에 접촉 불량이 발생한 경우의 전압 (Vm) 을 나타내고, 도 3C 는, 가동 단자 (22) 가 비접촉인 경우의 전압 (Vm) 을 나타낸다. 또, 도 4A 는, 가동 단자 (22) 에 천락이 발생한 경우의 전압 (Vm) 을 나타내고, 도 4B 는, 가동 단자 (22) 에 지락이 발생한 경우의 전압 (Vm) 을 나타낸다. 또, 도 5A 는, 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 의 일단 (단자 (T21)) 의 단락이 발생한 경우의 전압 (Vm) 을 나타내고, 도 5B 는, 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 의 타단 (단자 (T22)) 의 단락이 발생한 경우의 전압 (Vm) 을 나타낸다. 또한, 전압 (Vm) 은, 제 2 전압 (V2) 보다 크고 제 1 전압 (V1) 보다 작은 것으로 한다. 이것은, 가동 단자 (22) 가, 제 1 전압 (V1) 에 대응하는 위치와, 제 2 전압 (V2) 에 대응하는 위치 사이의 범위 (단, 제 1 전압 (V1) 및 제 2 전압 (V2) 에 대응하는 위치를 제외한다) 를 이동 가능한 것에 상당한다.
퍼텐쇼미터 (2) 가 정상인 경우, 도 3A 에 나타내는 바와 같이, 전압 (Vm) 은, 위치 검출 기간 (P0) 동안, 가동 단자 (22) 의 위치에 따른 전압 V3 이 되고, 제 1 검지 기간 (P1) 동안, 제 1 전압 (V1) 이 되고, 제 2 검지 기간 (P2) 동안, 제 2 전압 (V2) 이 되고, 제 3 검지 기간 (P3) 동안, 가동 단자 (22) 의 위치에 따른 전압 V4 가 된다. 위치 검출 기간 (P0) 과 제 3 검지 기간 (P3) 에서는, 저항 소자 (21) 에 인가되는 전압의 방향이 반대이므로, 전압 V4 는, 전압 V3 을, 제 1 전압 (V1) 과 제 2 전압 (V2) 의 중간 전압을 중심으로 반전된 전압이 된다. 따라서, V4 ＝ V1 ＋ V2 － V3 이 된다.
가동 단자 (22) 의 접촉 불량이 발생한 경우, 도 3B 에 나타내는 바와 같이, 전압 (Vm) 은, 위치 검출 기간 (P0) 동안, 가동 단자 (22) 의 위치에 따른 전압 V3 이 되고, 제 1 검지 기간 (P1) 동안, 제 1 전압 (V1) 이 되고, 제 2 검지 기간 (P2) 동안, 제 2 전압 (V2) 이 되고, 제 3 검지 기간 (P3) 동안, 가동 단자 (22) 의 위치에 따른 전압 V4 가 된다. 단, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량이 발생한 경우, 퍼텐쇼미터 (2) 가 정상인 경우에 비해, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 에 의한 인가 전압의 전환시에 있어서의, 전압 (Vm) 의 천이 시간 (상승 시간 및 하강 시간) 이 길어진다. 이것은, 저항 소자 (21) 와 가동 단자 (22) 사이의 저항값의 증대에 의해, 가동 단자 (22) 를 흐르는 전류가 감소하여, 전압 검출부 (13) (ADC) 가 구비하는 샘플 홀드 회로의 샘플링 용량의 충방전에 시간이 걸리기 때문이다. 따라서, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 에 의한 인가 전압의 전환시에 있어서의, 전압 (Vm) 의 천이 시간에 기초하여, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량의 발생을 검지할 수 있다. 구체적으로는, 이상 검지부 (15) 는, 인가 전압을 전압 V1 에서 전압 V2 로 전환했을 때의 천이 시간 (t1) 이, 임계값 (t0) 이상인 경우, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량이 발생하였다고 판단하면 된다. 천이 시간 (t1) 은, 제 2 검지 기간 (P2) 이 개시되고 나서 전압 (Vm) 이 미리 설정된 전압 V5 가 될 때까지의 시간이다. 임계값 (t0) 은, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량이 발생했는지 판단하기 위해 미리 설정된 천이 시간의 임계값이다.
또한, 이상 검지 장치 (1) 의 동작 사이클에 있어서, 제 1 검지 기간 (P1) 과 제 2 검지 기간 (P2) 의 순서가 도 3A ∼ 3C 와는 반대인 경우에는, 이상 검지부 (15) 는, 인가 전압을 전압 V2 에서 전압 V1 로 전환했을 때의 천이 시간에 기초하여 가동 단자 (22) 의 접촉 불량을 검지하면 된다. 또, 이상의 설명으로부터 알 수 있는 바와 같이, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량은, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 에 의한 인가 전압을, 전압 V1 과 전압 V2 사이에서 전환했을 때의, 전압 (Vm) 의 천이 시간에 기초하여 검지된다. 따라서, 이상 검지 장치 (1) 의 동작 사이클에 있어서, 제 1 검지 기간 (P1) 과 제 2 검지 기간 (P2) 은 연속하여 실행되는 것이 바람직하다.
가동 단자 (22) 가 저항 소자 (21) 와 비접촉인 경우, 즉, 저항 소자 (21) 로부터 가동 단자 (22) 가 이간된 경우, 가동 단자 (22) 는 해방단 (解放端) 이 되기 때문에, 도 3C 에 나타내는 바와 같이, 전압 (Vm) 은 일정하지 않게 된다. 보다 구체적으로는, 제 1 검지 기간 (P1) 및 제 2 검지 기간 (P2) 동안, 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 이 되지도 않고 제 2 전압 (V2) 이 되지도 않는다. 따라서, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 또는 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여, 가동 단자 (22) 의 이간을 검지할 수 있다. 구체적으로는, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 또는 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 도 아니고 제 2 전압 (V2) 도 아닌 경우, 가동 단자 (22) 가 비접촉이라고 판단하면 된다.
퍼텐쇼미터 (2) 에 천락이 발생한 경우, 도 4A 에 나타내는 바와 같이, 전압 (Vm) 은, 항상 제 1 전압 (V1) 이 된다. 도 3A ∼ 3C, 도 4A, 4B, 및 도 5A, 5B 로부터 알 수 있는 바와 같이, 제 2 검지 기간 (P2) 동안, 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 이 되는 것은, 천락이 발생한 경우뿐이다. 따라서, 이상 검지부 (15) 는, 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여, 천락의 발생을 검지할 수 있다. 구체적으로는, 이상 검지부 (15) 는, 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 인 경우, 천락이 발생하였다고 판단하면 된다.
퍼텐쇼미터 (2) 에 지락이 발생한 경우, 도 4B 에 나타내는 바와 같이, 전압 (Vm) 은, 항상 제 2 전압 (V2) 이 된다. 도 3A ∼ 3C, 도 4A, 4B, 및 도 5A, 5B 로부터 알 수 있는 바와 같이, 제 1 검지 기간 (P1) 동안, 전압 (Vm) 이 제 2 전압 (V2) 이 되는 것은, 지락이 발생한 경우뿐이다. 따라서, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여, 지락의 발생을 검지할 수 있다. 구체적으로는, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 2 전압 (V2) 인 경우, 지락이 발생하였다고 판단하면 된다.
가동 단자 (22) 와 단자 (T21) 의 단락이 발생한 경우, 도 5A 에 나타내는 바와 같이, 전압 (Vm) 은, 위치 검출 기간 (P0) 및 제 1 검지 기간 (P1) 동안, 제 1 전압 (V1) 이 되고, 제 2 검지 기간 (P2) 및 제 3 검지 기간 (P3) 동안, 제 2 전압 (V2) 이 된다. 도 3A ∼ 3C, 도 4A, 4B, 및 도 5A, 5B 로부터 알 수 있는 바와 같이, 제 1 검지 기간 (P1) 동안, 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 이 되고, 또한, 제 3 검지 기간 (P3) 동안, 전압 (Vm) 이 제 2 전압 (V2) 이 되는 것은, 가동 단자 (22) 와 단자 (T21) 의 단락이 발생한 경우뿐이다. 따라서, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 및 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여, 가동 단자 (22) 와 단자 (T21) 의 단락을 검지할 수 있다. 구체적으로는, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 이고, 또한, 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 2 전압 (V2) 인 경우, 가동 단자 (22) 와 단자 (T21) 의 단락이 발생하였다고 판단하면 된다.
가동 단자 (22) 와 단자 (T22) 의 단락이 발생한 경우, 도 5B 에 나타내는 바와 같이, 전압 (Vm) 은, 위치 검출 기간 (P0) 및 제 2 검지 기간 (P2) 동안, 제 2 전압 (V2) 이 되고, 제 1 검지 기간 (P1) 및 제 3 검지 기간 (P3) 동안, 제 1 전압 (V1) 이 된다. 도 3A ∼ 3C, 도 4A, 4B, 및 도 5A, 5B 로부터 알 수 있는 바와 같이, 제 2 검지 기간 (P2) 동안, 전압 (Vm) 이 제 2 전압 (V2) 이 되고, 또한, 제 3 검지 기간 (P3) 동안, 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 이 되는 것은, 가동 단자 (22) 와 단자 (T22) 의 단락이 발생한 경우뿐이다. 따라서, 이상 검지부 (15) 는, 제 2 검지 기간 (P2) 및 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여, 가동 단자 (22) 와 단자 (T22) 의 단락을 검지할 수 있다. 구체적으로는, 이상 검지부 (15) 는, 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 2 전압 (V2) 이고, 또한, 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 인 경우, 가동 단자 (22) 와 단자 (T22) 의 단락이 발생하였다고 판단하면 된다.
다음으로, 이상 검지 장치 (1) 가 실행하는 처리에 대하여 설명한다. 도 6 은, 이상 검지 장치 (1) 가 실행하는 처리의 각 공정의 일례를 나타내는 플로 차트이다. 도 6 의 처리는, 이상 검지 장치 (1) 가 1 회의 동작 사이클로 실행하는 처리에 상당한다. 이상 검지 장치 (1) 는, 그 동작 중, 도 6 의 처리를 반복 실행한다. 또한, 도 6 의 처리 동안, 전압 검출부 (13) 는, 소정의 샘플링 간격으로 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 을 계속 검출하고 있는 것으로 한다.
위치 검출 기간 (P0) 의 개시 시각이 도래하면, 제어부 (16) 는, 이상 검지 장치 (1) 에 위치 검출 기간 (P0) 의 처리를 개시시킨다 (스텝 S101). 구체적으로는, 제어부 (16) 는, 제 1 인가부 (11) 에 제 1 전압 (V1) 의 인가를 지시하고, 제 2 인가부 (12) 에 제 2 전압 (V2) 의 인가를 지시하고, 위치 검출부 (14) 에 위치 검출 기간 (P0) 의 개시를 통지한다.
제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 는, 인가 전압의 전환을 지시받으면, 당해 지시에 따라, 인가 전압을 전환한다 (스텝 S102). 구체적으로는, 제 1 인가부 (11) 는 저항 소자 (21) 의 일단에 제 1 전압 (V1) 을 인가하고, 제 2 인가부 (12) 는 저항 소자 (21) 의 타단에 제 2 전압 (V2) 을 인가한다.
한편, 위치 검출부 (14) 는, 위치 검출 기간 (P0) 의 개시를 통지받으면, 전압 검출부 (13) 로부터 전압 (Vm) 을 취득하고 (스텝 S103), 위치 테이블을 참조하여, 취득한 전압 (Vm) 에 대응하는 위치를, 가동 단자 (22) 의 위치로서 검출한다 (스텝 S104). 위치 검출부 (14) 는, 스텝 S103, S104 의 처리를, 위치 검출 기간 (P0) 이 종료될 때까지 (스텝 S105 의 NO), 소정의 시간 간격으로 반복 실행한다.
위치 검출 기간 (P0) 의 종료 시각이 도래하면 (스텝 S105 의 YES), 제어부 (16) 는, 이상 검지 장치 (1) 에 제 1 검지 기간 (P1) 의 처리를 개시시킨다 (스텝 S106). 구체적으로는, 제어부 (16) 는, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 에 제 1 전압 (V1) 의 인가를 지시하고, 이상 검지부 (15) 에 제 1 검지 기간 (P1) 의 개시를 통지한다.
제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 는, 인가 전압의 전환을 지시받으면, 당해 지시에 따라, 인가 전압을 전환한다 (스텝 S107). 구체적으로는, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 는, 저항 소자 (21) 의 일단 및 타단에, 각각 제 1 전압 (V1) 을 인가한다.
한편, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 의 개시를 통지받으면, 전압 검출부 (13) 로부터 전압 (Vm) 을 취득한다 (스텝 S108). 이상 검지부 (15) 는, 취득한 전압 (Vm) 을, 제 1 검지 기간 (P1) 에 검출된 전압 (Vm) 으로 하여, 시계열로 기억한다. 이상 검지부 (15) 는, 스텝 S108 의 처리를, 제 1 검지 기간 (P1) 이 종료될 때까지 (스텝 S109 의 NO), 소정의 시간 간격으로 반복 실행한다.
제 1 검지 기간 (P1) 의 종료 시각이 도래하면 (스텝 S109 의 YES), 제어부 (16) 는, 이상 검지 장치 (1) 에 제 2 검지 기간 (P2) 의 처리를 개시시킨다 (스텝 S110). 구체적으로는, 제어부 (16) 는, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 에 제 2 전압 (V2) 의 인가를 지시하고, 이상 검지부 (15) 에 제 2 검지 기간 (P2) 의 개시를 통지한다.
제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 는, 인가 전압의 전환을 지시받으면, 당해 지시에 따라, 인가 전압을 전환한다 (스텝 S111). 구체적으로는, 제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 는, 저항 소자 (21) 의 일단 및 타단에, 각각 제 2 전압 (V2) 을 인가한다.
한편, 이상 검지부 (15) 는, 제 2 검지 기간 (P2) 의 개시를 통지받으면, 전압 검출부 (13) 로부터 전압 (Vm) 을 취득한다 (스텝 S112). 이상 검지부 (15) 는, 취득한 전압 (Vm) 을, 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 으로 하여, 시계열로 기억한다. 이상 검지부 (15) 는, 스텝 S112 의 처리를, 제 2 검지 기간 (P2) 가 종료될 때까지 (스텝 S113 의 NO), 소정의 시간 간격으로 반복 실행한다.
제 2 검지 기간 (P2) 의 종료 시각이 도래하면 (스텝 S113 의 YES), 제어부 (16) 는, 이상 검지 장치 (1) 에 제 3 검지 기간 (P3) 의 처리를 개시시킨다 (스텝 S114). 구체적으로는, 제어부 (16) 는, 제 1 인가부 (11) 에 제 2 전압 (V2) 의 인가를 지시하고, 제 2 인가부 (12) 에 제 1 전압 (V1) 의 인가를 지시하고, 이상 검지부 (15) 에 제 3 검지 기간 (P3) 의 개시를 통지한다.
제 1 인가부 (11) 및 제 2 인가부 (12) 는, 인가 전압의 전환을 지시받으면, 당해 지시에 따라, 인가 전압을 전환한다 (스텝 S115). 구체적으로는, 제 1 인가부 (11) 는 저항 소자 (21) 의 일단에 제 2 전압 (V2) 을 인가하고, 제 2 인가부 (12) 는 저항 소자 (21) 의 타단에 제 1 전압 (V1) 을 인가한다.
한편, 이상 검지부 (15) 는, 제 3 검지 기간 (P3) 의 개시를 통지받으면, 전압 검출부 (13) 로부터 전압 (Vm) 을 취득한다 (스텝 S116). 이상 검지부 (15) 는, 취득한 전압 (Vm) 을, 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 으로 하여, 시계열로 기억한다. 이상 검지부 (15) 는, 스텝 S116 의 처리를, 제 3 검지 기간 (P3) 이 종료될 때까지 (스텝 S117 의 NO), 소정의 시간 간격으로 반복 실행한다.
제 3 검지 기간 (P3) 의 종료 시각이 도래하면 (스텝 S117 의 YES), 제어부 (16) 는, 이상 검지부 (15) 에 이상의 검지를 지시한다. 이상 검지부 (15) 는, 이상의 검지를 지시받으면, 당해 지시에 따라, 제 1 검지 기간 (P1), 제 2 검지 기간 (P2), 및 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여, 퍼텐쇼미터 (2) 의 이상을 검지한다 (스텝 S118).
도 7 은, 이상 검지부 (15) 가 실행하는 이상 검지 처리의 각 공정의 일례를 나타내는 플로 차트이다. 도 7 의 이상 검지 처리는, 도 6 의 스텝 S118 의 내부 처리에 상당한다. 따라서, 도 7 의 플로 차트의 개시 시점에서, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1), 제 2 검지 기간 (P2), 및 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 을 취득한 상태이다.
먼저, 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여 이상을 검지한다 (스텝 S201). 이상 검지부 (15) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 에 검출된 전압 (Vm) 이, 제 2 전압 (V2) 인 경우, 지락이 발생하였다고 판단하고 (스텝 S202), 제 1 전압 (V1) 도 아니고 제 2 전압 (V2) 도 아닌 경우, 가동 단자 (22) 가 비접촉이라고 판단한다 (스텝 S203).
제 1 검지 기간 (P1) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 인 경우, 이상 검지부 (15) 는, 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여 이상을 검지한다 (스텝 S204). 이상 검지부 (15) 는, 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 이, 제 1 전압 (V1) 인 경우, 천락이 발생하였다고 판단하고 (스텝 S205), 제 1 전압 (V1) 도 아니고 제 2 전압 (V2) 도 아닌 경우, 가동 단자 (22) 가 비접촉이라고 판단한다 (스텝 S206).
제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 2 전압 (V2) 인 경우, 이상 검지부 (15) 는, 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 에 기초하여 이상을 검지한다 (스텝 S207). 이상 검지부 (15) 는, 제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 이, 제 2 전압 (V2) 인 경우, 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 의 일단(단자 (T21)) 의 단락이 발생하였다고 판단하고 (스텝 S208), 제 1 전압 (V1) 인 경우, 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 의 타단 (단자 (T22)) 의 단락이 발생하였다고 판단한다 (스텝 S209).
제 3 검지 기간 (P3) 에 검출된 전압 (Vm) 이 제 1 전압 (V1) 도 아니고 제 2 전압 (V2) 도 아닌 경우, 이상 검지부 (15) 는, 천이 시간 (t1) 에 기초하여 이상을 검지한다 (스텝 S210). 이상 검지부 (15) 는, 천이 시간 (t1) 이, 임계값 (t0) 이상인 경우 (스텝 S210 의 YES), 가동 단자 (22) 의 접촉 불량이 발생하였다고 판단하고 (스텝 S211), 임계값 (t0) 미만인 경우 (스텝 S210 의 NO), 퍼텐쇼미터 (2) 는 정상이라고 판단한다 (스텝 S212).
이상의 이상 검지 처리에 의해, 이상 검지 장치 (1) 는, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량을 포함하는, 퍼텐쇼미터 (2) 의 각종 이상을 검지할 수 있다. 또한, 도 7 의 예에서는, 제 3 검지 기간 (P3) 의 종료 후에 이상 검지부 (15) 가 이상 검지 처리를 일괄적으로 실행하는 경우를 상정하고 있다. 그러나, 제 1 검지 기간 (P1) 의 종료 후에 스텝 S201 을 실행하고, 제 2 검지 기간 (P2) 의 종료 후에 스텝 S204 를 실행하는 것과 같이, 각 기간의 종료시에, 이상 검지부 (15) 가 각 기간에 대응하는 처리를 실행해도 된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 이상 검지 장치 (1) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 에 저항 소자 (21) 에 제 1 전압 (V1) 을 인가하고, 제 2 검지 기간 (P2) 에 저항 소자 (21) 에 제 2 전압 (V2) 을 인가한다. 이로써, 이상 검지 장치 (1) 는, 저항 소자 (21) 에 대한 인가 전압의 전환시에 있어서의, 전압 (Vm) 의 천이 시간 (t1) 에 기초하여, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량을 검지할 수 있다. 또, 이상 검지 장치 (1) 는, 제 1 검지 기간 (P1) 및 제 2 검지 기간 (P2) 에 검출된 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 에 기초하여, 가동 단자 (22) 의 천락, 지락, 및 저항 소자 (21) 로부터의 이간 등의 이상도 검지할 수 있다.
또, 이상 검지 장치 (1) 는, 제 3 검지 기간 (P3) 에, 저항 소자 (21) 에 위치 검출 기간 (P0) 과는 역방향의 전압을 인가한다. 이로써, 이상 검지 장치 (1) 는, 제 1 검지 기간 (P1), 제 2 검지 기간 (P2), 및 제 3 검지 기간에 검출된 가동 단자 (22) 의 전압 (Vm) 에 기초하여, 가동 단자 (22) 와 저항 소자 (21) 의 일단 또는 타단의 단락을 검지할 수 있다.
또, 종래의 이상 검지 장치는, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량을 검지할 수 없었기 때문에, 이중화하여 이용되었지만, 본 실시형태에 관련된 이상 검지 장치 (1) 는, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량을 검지할 수 있기 때문에, 이중화하지 않고 이용할 수 있다. 이 결과, 퍼텐쇼미터 (2) 를 포함하는 시스템의 부품 점수를 삭감하여, 당해 시스템의 제조 비용이나 고장률을 저감시킬 수 있다.
또한, 본 실시형태에 있어서, 이상 검지 장치 (1) 는, 제 3 검지 기간 (P3) 을 갖지 않아도 된다. 이 경우에도, 이상 검지 장치 (1) 는, 가동 단자 (22) 의 접촉 불량, 천락, 지락, 및 저항 소자 (21) 로부터의 이간 등의 이상을 검지할 수 있다.
또한, 상기 실시형태에 든 구성 등에, 그 밖의 요소와의 조합 등, 여기에서 나타낸 구성에 본 발명이 한정되는 것은 아니다. 이러한 점들에 관해서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 변경 가능하고, 그 응용 형태에 따라 적절히 결정할 수 있다.
또, 본 국제 출원은, 2017년 10월 23일에 출원한 일본 특허출원 제2017-204583호에 기초하는 우선권을 주장하는 것이고, 당해 출원의 전체 내용을 본 국제 출원에 원용한다.
1 : 이상 검지 장치
2 : 퍼텐쇼미터
11 : 제 1 인가부
12 : 제 2 인가부
13 : 전압 검출부
14 : 위치 검출부
15 : 이상 검지부
16 : 제어부
21 : 저항 소자
22 : 가동 단자
T11 ∼ 13, T21 ∼ 23 : 단자
P0 : 위치 검출 기간
P1 : 제 1 검지 기간
P2 : 제 2 검지 기간
P3 : 제 3 검지 기간
V1 : 제 1 전압
V2 : 제 2 전압

Claims (9)

  1. 저항 소자와, 상기 저항 소자에 접촉하면서 이동하는 가동 단자를 구비하는 퍼텐쇼미터의 이상 검지 장치로서,
    상기 저항 소자의 일단에, 제 1 검지 기간 동안, 제 1 전압을 인가하고, 상기 제 1 검지 기간과 연속된 기간인 제 2 검지 기간 동안, 제 2 전압을 인가하는 제 1 인가부와,
    상기 저항 소자의 타단에, 상기 제 1 검지 기간 동안, 상기 제 1 전압을 인가하고, 상기 제 2 검지 기간 동안, 상기 제 2 전압을 인가하는 제 2 인가부와,
    상기 가동 단자로부터의 출력 전압을 검출하는 전압 검출부와,
    상기 제 1 인가부 및 상기 제 2 인가부에 의한 인가 전압의 전환시에 있어서의, 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압에 기초하여, 상기 가동 단자의 접촉 불량을 검지하는 이상 검지부를 구비하는, 이상 검지 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 이상 검지부는, 상기 제 1 인가부 및 상기 제 2 인가부에 의한 인가 전압의 전환시에 있어서의, 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압의 천이 시간이 임계값 이상인 경우, 상기 가동 단자의 접촉 불량이 발생하였다고 판단하는, 이상 검지 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 이상 검지부는, 상기 제 1 검지 기간에 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압이 상기 제 2 전압인 경우, 상기 가동 단자와 제 2 전압원의 단락이 발생하였다고 판단하는, 이상 검지 장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 이상 검지부는, 상기 제 2 검지 기간에 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압이 상기 제 1 전압인 경우, 상기 가동 단자와 제 1 전압원의 단락이 발생하였다고 판단하는, 이상 검지 장치.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 인가부가 상기 제 2 전압을 인가하고, 상기 제 2 인가부가 상기 제 1 전압을 인가하는 제 3 검지 기간을 추가로 갖고,
    상기 이상 검지부는, 상기 제 1 검지 기간에 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압이 상기 제 1 전압이고, 또한, 상기 제 3 검지 기간에 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압이 상기 제 2 전압인 경우, 상기 가동 단자와 상기 저항 소자의 상기 일단의 단락이 발생하였다고 판단하는, 이상 검지 장치.
  6. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 인가부가 상기 제 2 전압을 인가하고, 상기 제 2 인가부가 상기 제 1 전압을 인가하는 제 3 검지 기간을 추가로 갖고,
    상기 이상 검지부는, 상기 제 2 검지 기간에 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압이 상기 제 2 전압이고, 또한, 상기 제 3 검지 기간에 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압이 상기 제 1 전압인 경우, 상기 가동 단자와 상기 저항 소자의 상기 타단의 단락이 발생하였다고 판단하는, 이상 검지 장치.
  7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 이상 검지부는, 상기 제 1 검지 기간 또는 상기 제 2 검지 기간에 상기 전압 검출부가 검출한 상기 출력 전압이 상기 제 1 전압도 아니고 상기 제 2 전압도 아닌 경우, 상기 가동 단자가 상기 저항 소자로부터 이간되었다고 판단하는, 이상 검지 장치.
  8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    MCU (Micro Controller Unit) 에 의해 구성되고,
    상기 제 1 인가부, 상기 제 2 인가부, 및 상기 전압 검출부 중 적어도 하나는, 상기 MCU 의 입력 포트 또는 출력 포트인, 이상 검지 장치.
  9. 저항 소자와, 상기 저항 소자에 접촉하면서 이동하는 가동 단자를 구비하는 퍼텐쇼미터의 이상 검지 방법으로서,
    상기 저항 소자의 일단 및 타단에, 제 1 전압을 인가하는 공정과,
    상기 저항 소자의 상기 일단 및 상기 타단에, 제 2 전압을 인가하는 공정과,
    상기 저항 소자에 대한 인가 전압의 전환시에 있어서의 상기 가동 단자의 출력 전압에 기초하여, 상기 가동 단자의 접촉 불량을 검지하는 공정을 포함하는, 이상 검지 방법.
KR1020207011099A 2017-10-23 2018-09-03 이상 검지 장치 및 이상 검지 방법 KR102323649B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2017-204583 2017-10-23
JP2017204583 2017-10-23
PCT/JP2018/032652 WO2019082514A1 (ja) 2017-10-23 2018-09-03 異常検知装置及び異常検知方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200056421A true KR20200056421A (ko) 2020-05-22
KR102323649B1 KR102323649B1 (ko) 2021-11-08

Family

ID=66247377

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020207011099A KR102323649B1 (ko) 2017-10-23 2018-09-03 이상 검지 장치 및 이상 검지 방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11085974B2 (ko)
EP (1) EP3702735B1 (ko)
JP (1) JP6836659B2 (ko)
KR (1) KR102323649B1 (ko)
CN (1) CN111263895B (ko)
WO (1) WO2019082514A1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230148908A (ko) * 2022-04-19 2023-10-26 주식회사 엘지에너지솔루션 에너지 저장 시스템 및 에너지 저장 시스템의 접지구조 제어 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10103910A (ja) 1996-09-25 1998-04-24 Tokimec Inc ポテンショメータによる変位検出回路
US20040228065A1 (en) * 2003-05-17 2004-11-18 Moeller Gmbh Method and circuit arrangement for function monitoring of an electronic-mechanical position switch
KR100577135B1 (ko) * 2004-05-21 2006-05-10 학교법인 울산공업학원 단자의 접촉불량 발생장치
JP2008528990A (ja) * 2005-01-28 2008-07-31 バルション テクニリネン ツツキムスケスクス 位置検出器

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1671439A1 (de) * 1965-11-11 1971-09-30 Knapsack Ag Anordnung zur Messung der Stromstaerke an den einzelnen Elektroden von Elektrolysezellen
US3810008A (en) * 1973-08-16 1974-05-07 Motoda Electronics Apparatuses for detecting failure in a potentiometer circuit
US4834201A (en) * 1987-03-19 1989-05-30 Nippon Seiko Kabushiki Kaisha Electrical power steering apparatus
US4987372A (en) * 1989-08-01 1991-01-22 Lutron Electronics Co., Inc. Potentiometer state sensing circuit
JP2973444B2 (ja) * 1989-12-29 1999-11-08 日本精工株式会社 ポテンシヨメータ式センサの短絡検出装置
GB2241337B (en) * 1990-02-24 1994-01-05 Ferranti Int Plc Potentiometric circuit arrangement
JPH06167303A (ja) * 1992-11-30 1994-06-14 Toshiba Eng Co Ltd 位置検出装置
JP3381562B2 (ja) 1997-07-22 2003-03-04 松下電器産業株式会社 ポテンショメータ異常検出装置
US6181141B1 (en) * 1999-01-22 2001-01-30 Honeywell Inc. Failsafe monitoring system for potentiometers and monitor interface
CN2622828Y (zh) * 2003-06-12 2004-06-30 上海科特高分子材料有限公司 开关设备的无弧切换装置
DE102005023717A1 (de) * 2005-05-18 2006-11-23 E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH Verfahren zur Auswertung eines Potentiometers sowie Schaltungsanordnung mit einem Potentiometer
DE102010007349B4 (de) * 2009-02-09 2018-03-01 Fuji Electric Co., Ltd. Anomalienüberwachungsvorrichtung
JP5570455B2 (ja) * 2011-02-16 2014-08-13 オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 漏電検知装置
CN102279330B (zh) * 2011-06-29 2013-10-02 深圳市英威腾电源有限公司 一种故障检测系统和电子电路系统
JP5628139B2 (ja) * 2011-10-18 2014-11-19 シャープ株式会社 配線欠陥検査方法
JP2013109410A (ja) * 2011-11-17 2013-06-06 Semiconductor Components Industries Llc 判定回路
JP5843663B2 (ja) * 2012-03-05 2016-01-13 アズビル株式会社 ポテンショメータの劣化診断方法
US9684322B2 (en) * 2012-09-21 2017-06-20 Phoenix Contact Development and Manufacturing, Inc. Voltage limiting device for use in a distributed control system
US9429614B2 (en) * 2012-12-31 2016-08-30 Schneider Electric USA, Inc. Open potentiometer detection system
CN103336166A (zh) * 2013-07-11 2013-10-02 张双云 安全型带警示灯接触轨电压监测装置
JP6249528B2 (ja) * 2014-07-04 2017-12-20 アルプス電気株式会社 回転コネクタ
CN205484496U (zh) * 2016-04-01 2016-08-17 重庆水利电力职业技术学院 具有输出保护的电压互感器
JP2017204583A (ja) 2016-05-12 2017-11-16 株式会社パイオラックス バスバー

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10103910A (ja) 1996-09-25 1998-04-24 Tokimec Inc ポテンショメータによる変位検出回路
US20040228065A1 (en) * 2003-05-17 2004-11-18 Moeller Gmbh Method and circuit arrangement for function monitoring of an electronic-mechanical position switch
KR100577135B1 (ko) * 2004-05-21 2006-05-10 학교법인 울산공업학원 단자의 접촉불량 발생장치
JP2008528990A (ja) * 2005-01-28 2008-07-31 バルション テクニリネン ツツキムスケスクス 位置検出器

Also Published As

Publication number Publication date
US11085974B2 (en) 2021-08-10
JPWO2019082514A1 (ja) 2020-10-22
EP3702735A1 (en) 2020-09-02
EP3702735A4 (en) 2021-08-11
CN111263895A (zh) 2020-06-09
EP3702735B1 (en) 2023-03-29
US20200241079A1 (en) 2020-07-30
JP6836659B2 (ja) 2021-03-03
CN111263895B (zh) 2022-02-22
WO2019082514A1 (ja) 2019-05-02
KR102323649B1 (ko) 2021-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2016192897A5 (ko)
JP2017523636A (ja) 電界効果トランジスタ及びその故障検出装置
US10951022B2 (en) Current distributor and protection system for a vehicle
DE112015007198T5 (de) Treiberschaltung für eine Halbleitervorrichtung
JP6629463B2 (ja) 車両の少なくとも１つの負荷のためのヒューズシステム
KR20070033264A (ko) 과전류 검출장치
US20150295395A1 (en) Interruption of a current
JP2007285833A (ja) 接続異常検知装置、接続異常検知方法及び電気装置
KR20200056421A (ko) 이상 검지 장치 및 이상 검지 방법
KR102432318B1 (ko) 하이브리드 ｐｒａ 제어방법
US9314859B2 (en) Contact detection apparatus for wire electrical discharge machine with capability to vary applied gap voltage
US11322930B1 (en) Electrical system including a power distribution circuit
CN113741673A (zh) 一种应用于热插拔服务器的保护装置
KR20190037658A (ko) 컨텍터의 고장률 예측 시스템 및 방법
US9642188B2 (en) Electric heater for heating synthetic materials and method for operating the electric heater
JP2019002855A (ja) 静電検出装置
EP3351330B1 (en) Wire electrical discharge machine and machining method
JP6536812B2 (ja) 電力変換装置
JP6955951B2 (ja) 放電装置
KR100944902B1 (ko) 차량용 전력 시스템의 단락 보호 회로 및 그 제어방법
WO2018059686A1 (en) An electronic control unit for a vehicle capable of controlling multiple electrical loads
US12009679B2 (en) Method for operating an electrical energy store
JP2019050087A (ja) 漏れ電流検出装置及び加熱装置
JP2018064324A (ja) 電源回路および電源制御方法
JP6725309B2 (ja) 電源装置

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant