KR20170024188A

KR20170024188A - 표시 패널의 어레이 테스트 장치 및 표시 패널의 어레이 테스트 방법

Info

Publication number: KR20170024188A
Application number: KR1020150118663A
Authority: KR
Inventors: 김준걸; 김시준; 김희선
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Priority date: 2015-08-24
Filing date: 2015-08-24
Publication date: 2017-03-07
Also published as: US20170064297A1; KR102383419B1

Abstract

표시 패널의 어레이 테스트 장치는, 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널이 로딩되는 스테이지, 복수의 프로브 핀들을 포함하는 콘택부, 복수의 프로브 핀들을 표시 패널의 복수의 패드들에 접촉시키는 조정부, 및 프로브 핀들 및 패드들을 통하여 표시 패널의 화소 회로들에 어레이 테스트 신호를 인가하고, 패드들 및 프로브 핀들을 통하여 화소 회로들로부터 테스트 결과 신호를 수신하며, 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 파형 정보를 생성하고, 파형 정보에 기초하여 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 테스트부를 포함한다. 이에 따라, 어레이 테스트에 의한 결함 판정 및 검출의 정확도가 향상될 수 있다.

Description

표시 패널의 어레이 테스트 장치 및 표시 패널의 어레이 테스트 방법{ARRAY TEST DEVICE AND ARRAY TEST METHOD FOR DISPLAY DEVICE}

본 발명은 테스트 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 표시 패널의 어레이 테스트 장치 및 어레이 테스트 방법에 관한 것이다.

유기 발광 다이오드 표시 패널과 같은 표시 패널에서 각각이 트랜지스터 및 커패시터를 포함하는 화소 회로들이 형성된 후, 화소 회로의 불량 여부를 판단하는 어레이 테스트가 수행될 수 있다. 이러한 어레이 테스트에 의해 불량품이라 판단되는 표시 패널은 리페어 공정에 의해 리페어되거나, 리페어 불가한 경우에는 후속되는 패널(셀) 공정 및 모듈 공정을 진행하지 않을 수 있다. 이에 따라, 후속의 공정들이 수행되지 않음으로써, 표시 패널의 제조 시간이 단축될 수 있다.

한편, 종래의 어레이 테스트에서는 어레이 테스트 신호에 응답하여 화소 회로로부터 출력되는 신호의 피크 값에 기초하여 화소 회로의 불량 여부를 판단하였다. 이에 따라, 어레이 테스트의 정확도가 낮은 문제가 있었다.

본 발명의 일 목적은 어레이 테스트에 의한 결함 판정 및 검출의 정확도가 향상시킬 수 있는 어레이 테스트 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 어레이 테스트에 의한 결함 판정 및 검출의 정확도가 향상시킬 수 있는 어레이 테스트 방법을 제공하는 것이다.

다만, 본 발명의 해결하고자 하는 과제는 상기 언급된 과제에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.

본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널의 어레이 테스트 장치는 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널이 로딩되는 스테이지, 복수의 프로브 핀들을 포함하는 콘택부, 상기 복수의 프로브 핀들을 상기 표시 패널의 복수의 패드들에 접촉시키는 조정부, 및 상기 프로브 핀들 및 상기 패드들을 통하여 상기 표시 패널의 상기 화소 회로들에 어레이 테스트 신호를 인가하고, 상기 패드들 및 상기 프로브 핀들을 통하여 상기 화소 회로들로부터 테스트 결과 신호를 수신하며, 상기 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 파형 정보를 생성하고, 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 테스트부를 포함한다.

일 실시예에서, 상기 테스트부는 상기 화소 회로들 중 제1 화소 회로에 대한 상기 파형 정보가 상기 화소 회로들 중 상기 제1 화소 회로를 제외한 제2 화소 회로들에 대한 상기 파형 정보와 상이한 경우, 상기 제1 화소 회로를 불량 화소로 판단할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트부는 상기 화소 회로들로부터 상기 테스트 결과 신호를 순차적으로 수신하고, 상기 순차적으로 수신되는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형 정보가 변경되는 경우, 상기 파형 정보가 변경된 상기 테스트 결과 신호를 출력한 화소 회로를 불량 화소로 판단할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트부는 각 화소 회로에 대하여 복수의 샘플링 포인트들에서 상기 테스트 결과 신호를 샘플링하고, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 파형 정보를 생성할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트부는 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에 상응하는 적어도 하나의 벡터를 추출하고, 상기 적어도 하나의 벡터를 나타내는 상기 파형 정보를 생성할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트부에 의해 추출되는 상기 벡터는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에서 기울기가 변경되는 두 개의 점들을 시작점 및 끝점으로 가지는 벡터일 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트부는 상기 파형 정보에 포함된 상기 적어도 하나의 벡터의 개수, 상기 적어도 하나의 벡터의 크기 성분 및 상기 적어도 하나의 벡터의 방향 성분 중 적어도 하나에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트부는 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들을 소정의 함수에 매칭시키고, 상기 매칭된 함수의 계수들을 나타내는 상기 파형 정보를 생성할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트부는, 상기 어레이 테스트 신호를 생성하고, 상기 프로브 핀들에 상기 어레이 테스트 신호를 인가하는 어레이 테스트 신호 생성부, 상기 프로브 핀들을 통하여 상기 화소 회로들로부터 상기 테스트 결과 신호를 수신하고, 상기 테스트 결과 신호에 대한 상기 파형 정보를 생성하는 파형 정보 생성부, 및 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 결함 판단부를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 프로브 핀들은 상기 어레이 테스트 신호가 인가되는 상기 패드들로서 상기 표시 패널에 포함된 어레이 테스트 전용 패드들에 접촉될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 어레이 테스트 장치는 상기 표시 패널에 데이터 구동부가 실장되기 전에 상기 표시 패널에 대한 어레이 테스트를 수행할 수 있다.

본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법에서, 복수의 프로브 핀들 및 상기 프로브 핀들에 접촉된 상기 표시 패널의 복수의 패드들을 통하여 상기 표시 패널의 상기 화소 회로들에 어레이 테스트 신호가 인가되고, 상기 패드들 및 상기 프로브 핀들을 통하여 상기 화소 회로들로부터 테스트 결과 신호가 수신되며, 상기 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 파형 정보가 생성되고, 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부가 판단될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하도록, 상기 화소 회로들 중 제1 화소 회로에 대한 상기 파형 정보가 상기 화소 회로들 중 상기 제1 화소 회로를 제외한 제2 화소 회로들에 대한 상기 파형 정보와 상이한 경우, 상기 제1 화소 회로가 불량 화소로 판단될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하도록, 상기 화소 회로들로부터 순차적으로 수신되는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형 정보가 변경되는 경우, 상기 파형 정보가 변경된 상기 테스트 결과 신호를 출력한 화소 회로가 불량 화소로 판단될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형을 나타내는 상기 파형 정보를 생성하도록, 각 화소 회로에 대하여 복수의 샘플링 포인트들에서 상기 테스트 결과 신호를 샘플링되고, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 파형 정보가 생성될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에 상응하는 적어도 하나의 벡터가 추출되고, 상기 파형 정보는 상기 적어도 하나의 벡터를 나타낼 수 있다.

일 실시예에서, 상기 벡터는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에서 기울기가 변경되는 두 개의 점들을 시작점 및 끝점으로 가지는 벡터일 수 있다.

일 실시예에서, 상기 파형 정보에 포함된 상기 적어도 하나의 벡터의 개수, 상기 적어도 하나의 벡터의 크기 성분 및 상기 적어도 하나의 벡터의 방향 성분 중 적어도 하나에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부가 판단될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들이 소정의 함수에 매칭되고, 상기 파형 정보는 상기 매칭된 함수의 계수들을 나타낼 수 있다.

일 실시예에서, 상기 어레이 테스트 방법은 상기 표시 패널에 데이터 구동부가 실장되기 전에 수행될 수 있다.

본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치 및 어레이 테스트 방법은 어레이 테스트 신호에 응답하여 화소 회로로부터 출력되는 테스트 결과 신호에 대한 파형 정보에 기초하여 화소 회로의 결함 여부를 판정함으로써, 어레이 테스트에 의한 결함 판정 및 검출의 정확도를 향상시킬 수 있다.

다만, 본 발명의 효과는 상기 언급한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.

도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치를 나타내는 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치에 포함된 테스트부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치에서 생성되는 파형 정보의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 방법을 나타내는 순서도이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 방법에 의해 생성되는 파형 정보를 설명하기 위한 도면이다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.

도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.

도 1을 참조하면, 표시 패널의 기판 상에 화소 회로 어레이를 형성하는 어레이 공정이 수행될 수 있다(S100). 각 화소 회로는 적어도 하나의 박막 트랜지스터 및 적어도 하나의 커패시터를 포함할 수 있다.

어레이 공정이 수행된 후, 상기 화소 회로 어레이의 불량 여부를 검출하는 어레이 테스트가 수행될 수 있다(S110). 상기 어레이 테스트에 의해 각 화소 회로에 포함된 트랜지스터의 정상 동작 여부, 각 화소에 연결된 라인들의 결함(예를 들어, 쇼트) 등이 테스트될 수 있다. 예를 들어, 상기 어레이 테스트는, 상기 화소 회로에 어레이 테스트 신호를 인가하고, 상기 어레이 테스트 신호에 응답하여 상기 화소 회로로부터 출력되는 테스트 결과 신호를 분석함으로써 수행될 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트는, 상기 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 파형 정보를 생성하고, 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형 정보에 기초하여 화소 회로의 불량 여부를 판단할 수 있다. 한편, 종래의 어레이 테스트는 상기 테스트 결과 신호의 피크 값을 추출하여 화소 회로의 불량 여부를 판단하였다. 이에 따라, 어떠한 화소 회로가 결함을 가짐으로써 이의 테스트 결과 신호가 다른 화소 회로들의 테스트 결과 신호들과 다른 파형을 가지더라도, 상기 화소 회로들로부터 출력된 테스트 결과 신호들의 피크 값이 동일한 경우, 해당 화소 회로는 정상적으로 동작하는 것으로 판단되었다. 그러나, 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트에서는, 화소 회로의 불량 여부가 테스트 결과 신호의 파형 정보에 기초하여 판단됨으로써, 화소 회로의 결함 판정 및 검출의 정확도가 향상될 수 있다.

상기 어레이 테스트에 의해 화소 회로가 불량품으로 판단되는 경우(S110: 불량품), 상기 화소 회로의 리페어 가능 여부가 판단될 수 있다(S120). 상기 화소 회로가 리페어 가능한 경우(S120: 예), 상기 화소 회로는 리페어 공정에 의해 리페어될 수 있다(S125). 이러한 리페어 공정에 의해 표시 패널의 수율이 향상될 수 있다. 상기 화소 회로가 리페어 가능하지 않은 경우(S120: 아니오), 후속 공정(예를 들어, 패널(셀) 공정, 모듈 공정 등)을 수행하지 않을 수 있다. 이에 따라, 리페어 불가한 화소 회로를 포함하는 표시 패널에 대한 후속 공정이 수행되지 않음으로써, 표시 패널의 제조 시간이 단축될 수 있다.

화소 회로들이 양품으로 판단되거나 리페어가 완료된 경우(S110: 양품, S125), 상기 화소 회로들을 포함하는 화소 어레이에 애노드 전극, 유기 발광층 및 캐소드 전극을 형성하여 유기 발광 다이오드를 형성하는 패널(셀) 공정이 수행될 수 있다(S130). 상기 패널 공정 후, 표시 패널에 대한 점등 테스트, 누설 전류 테스트 및/또는 에이징 등을 수행하는 셀 테스트가 수행될 수 있다(S140). 상기 셀 테스트에 의해 표시 패널이 불량품으로 판단되는 경우(S140: 불량품), 상기 표시 패널의 리페어 가능 여부가 판단될 수 있다(S150). 상기 표시 패널이 리페어 가능한 경우(S150: 예), 상기 표시 패널은 리페어 공정에 의해 리페어될 수 있다(S155). 상기 표시 패널이 리페어 가능하지 않은 경우(S150: 아니오), 후속 공정(예를 들어, 모듈 공정 등)을 수행하지 않을 수 있다.

표시 패널이 셀 테스트에 의해 양품으로 판단되거나 리페어가 완료된 경우(S140: 양품, S155), 상기 표시 패널에 대한 모듈 공정이 수행되고(S160), 이어서 최종 테스트가 수행될 수 있다(S170). 상기 최종 테스트에 의해 양품으로 판정된 표시 패널은 완성품으로 선별될 수 있고(S170: 양품, S190), 불량품으로 판정된 표시 패널은 리페어 가능 여부에 따라 리페어 되거나, 폐기될 수 있다(S170: 불량품, S180, S185, S190).

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널의 제조 방법에서, 어레이 공정 후 리페어 테스트가 수행되고, 상기 리페어 테스트에 의해 불량품으로 판단된 화소 회로가 리페어됨으로써, 표시 패널의 수율이 향상될 수 있다. 특히, 상기 리페어 테스트에 있어서, 화소 회로의 불량 여부가 테스트 결과 신호의 파형 정보에 기초하여 판단됨으로써, 상기 리페어 테스트의 정확도가 향상될 수 있다.

도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치를 나타내는 블록도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 일 예를 나타내는 블록도이며, 도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치에 포함된 테스트부의 일 예를 나타내는 블록도이며, 도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치에서 생성되는 파형 정보의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.

도 2를 참조하면, 어레이 테스트 장치(200)는 표시 패널(205)에 대한 어레이 테스트를 수행할 수 있고, 스테이지(210), 콘택부(230), 조정부(250) 및 테스트부(270)를 포함할 수 있다.

스테이지(210)에는 표시 패널(205)이 로딩될 수 있다. 실시예에 따라, 표시 패널(205)은 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode; OLED) 표시 패널, 액정 표시(Liquid Crystal Display; LCD) 패널, 또는 다른 표시 패널일 수 있다.

예를 들어, 도 3을 참조하면, 표시 패널(300)은 화소부(310), 스캔 구동부(330), IC 실장 영역(350) 및 패드부(370)를 포함할 수 있다.

화소부(310)는 스캔 라인들(SL1, SLN)과 데이터 라인들(DL1, DLN)의 교차점들에 위치하는 복수의 화소 회로들(PX)을 포함할 수 있다. 한편, 어레이 테스트 장치(200)는 화소부(310)에 각 화소 회로(PX)에 연결된 유기 발광 다이오드가 형성되기 전에 표시 패널(300)에 대한 어레이 테스트를 수행할 수 있다.

스캔 구동부(330)는 스캔 라인들(SL1, SLN)을 통하여 화소부(310)에 연결될 수 있다. 일 실시예에서, 스캔 구동부(330)는 패드부(370)를 통하여 공급되는 신호에 응답하여 스캔 라인들(SL1, SLN)을 통하여 화소 회로들(PX)에 스캔 신호들을 순차적으로 제공할 수 있다. 예를 들어, 스캔 구동부(330)는 패드부(370)를 통하여 스캔 구동 전원 전압(VDD/VSS), 스타트 펄스(SP), 스캔 클럭 신호(CLK), 출력 인에이블 신호(OE) 등을 수신할 수 있다. 한편, 상기 어레이 테스트 동안, 어레이 테스트 장치(200)는 스캔 구동부(330)에 패드부(370)를 통하여 이러한 신호들을 제공할 수 있다.

IC 실장 영역(350)에는 데이터 라인들(DL1, DLN)을 통하여 화소부(310)에 연결되는 데이터 패드들이 배치될 수 있다. 한편, 상기 어레이 테스트 동안, 어레이 테스트 장치(200)는 패드부(370)의 패드들(PAD)에 어레이 테스트 신호를 인가할 수 있고, 패드들(PAD)에 인가된 상기 어레이 테스트 신호는 상기 데이터 패드들 및 데이터 라인들(DL1, DLN)을 통하여 화소부(310)의 화소 회로들(PX)에 제공될 수 있다. 또한, 상기 어레이 테스트 신호에 응답하여 화소 회로들(PX)로부터 출력되는 테스트 결과 신호는 상기 데이터 패드들 및 패드들(PAD)을 통하여 어레이 테스트 장치(200)에 제공될 수 있다. 한편, 어레이 테스트 장치(200)에 의한 상기 어레이 테스트가 수행된 후, 데이터 구동부가, 예를 들어 칩-온-글래스(Chip-On-Glass; COG) 방식으로, 상기 데이터 패드에 본딩되어 IC 실장 영역(350)에 실장될 수 있다. 상기 데이터 구동부는 데이터 라인들(DL1, DLN)을 통하여 화소 회로들(PX)에 데이터 신호들을 제공할 수 있다.

패드부(370)는 외부로부터 공급되는 전원들 및/또는 신호들을 표시 패널(300) 내부로 전달하기 위한 다수의 패드들(PAD)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 어레이 테스트 장치(200)는 패드부(370)의 패드들(PAD)을 통하여 상기 어레이 테스트 신호를 인가하고, 상기 테스트 결과 신호를 수신할 수 있다. 다른 실시예에서, 표시 패널(300)에는 상기 데이터 패드들에 연결된 어레이 테스트 전용 패드들이 더욱 형성될 수 있고, 어레이 테스트 장치(200)는 상기 어레이 테스트 전용 패드들을 통하여 상기 어레이 테스트 신호를 인가하고, 상기 테스트 결과 신호를 수신할 수 있다. 즉, 어레이 테스트 장치(200)의 프로브 핀들(PIN)이 상기 어레이 테스트 신호가 인가되는 패드들(PAD)로서 표시 패널(300)에 포함된 상기 어레이 테스트 전용 패드들에 접촉될 수 있다. 예를 들어, 상기 어레이 테스트 전용 패드들은 패드부(370)의 패드들(PAD)보다 큰 사이즈 및 큰 간격을 가질 수 있고, 이에 따라 어레이 테스트 장치(200)의 프로브 핀들(PIN)과의 접촉이 보다 용이할 수 있다. 여기서, "패드"는 패드부(370)에 포함된 기존의 패드를 의미하거나, 상기 어레이 테스트 전용 패드를 의미할 수 있다.

다시 도 2를 참조하면, 어레이 테스트 장치(200)의 콘택부(230)는 복수의 프로브 핀들(PIN)을 포함할 수 있다. 어레이 테스트 장치(200)의 조정부(250)는 콘택부(230)의 프로브 핀들(PIN)을 표시 패널(205)의 패드들(PAD)에 접촉시키도록 콘택부(230)의 위치를 조정할 수 있다. 이에 따라, 어레이 테스트 장치(200)의 테스트부(270)는 프로브 핀들(PIN) 및 패드들(PAD)을 통하여 표시 패널(205)의 화소 회로들(PX)에 어레이 테스트 신호를 인가할 수 있고, 또한 패드들(PAD) 및 프로브 핀들(PIN)을 통하여 표시 패널(205)의 화소 회로들(PX)로부터 테스트 결과 신호를 수신할 수 있다. 일 실시예에서, 테스트부(270)는 프로브 핀들(PIN) 및 패드들(PAD)을 통하여 화소 회로들(PX)에 상기 어레이 테스트 신호(예를 들어, 전압 또는 전류)를 인가하는 동안 프로브 핀들(PIN) 상의 전기 신호(예를 들어, 전류 또는 전압)를 상기 테스트 결과 신호를 수신할 수 있다. 또한, 테스트부(270)는 상기 테스트 결과 신호로부터 상기 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 파형 정보를 추출할 수 있고, 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형 정보에 기초하여 표시 패널(205)의 화소 회로들(PX)의 불량 여부를 판단할 수 있다.

예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 테스트부(400)는 어레이 테스트 신호 생성부(410), 파형 정보 생성부(430) 및 결함 판단부(450)를 포함할 수 있다. 어레이 테스트 신호 생성부(410)는 소정의 레벨을 가지는 전기 신호(예를 들어, 전압 또는 전류)인 어레이 테스트 신호(ATS)를 생성하고, 어레이 테스트 신호(ATS)를 프로브 핀(PIN)에 인가할 수 있다. 프로브 핀(PIN)에 인가된 어레이 테스트 신호(ATS)는 프로브 핀(PIN)에 접촉된 표시 패널(470)의 패드(PAD)를 통하여 화소 회로(PX)에 인가될 수 있다. 화소 회로(PX)는 어레이 테스트 신호(ATS)에 응답하여 소정의 파형을 가지는 전기 신호(예를 들어, 전압 또는 전류)인 테스트 결과 신호(TRS)를 출력할 수 있고, 화소 회로(PX)로부터 출력된 테스트 결과 신호(TRS)는 패드(PAD)에 접촉된 프로브 핀(PIN)에 제공될 수 있다. 여기서, 테스트 결과 신호(TRS)가 화소 회로(PX)로부터 출력된다는 것은 화소 회로(PX)에 어레이 테스트 신호(ATS)가 인가될 때 프로브 핀(PIN) 상의 전기 신호(예를 들어, 전류 또는 전압)가 화소 회로(PX)에 의해 변경되는 것을 포함한다.

파형 정보 생성부(430)는 프로브 핀(PIN)을 통하여 테스트 결과 신호(TRS)를 수신할 수 있다. 일 실시예에서, 파형 정보 생성부(430)는, 어레이 테스트 신호 생성부(410)가 프로브 핀(PIN)에 어레이 테스트 신호(ATS)로서 소정의 레벨을 가지는 전압을 인가하는 동안 프로브 핀(PIN)에 흐르는 전류를 테스트 결과 신호(TRS)를 수신할 수 있다. 파형 정보 생성부(430)는 테스트 결과 신호(TRS)로부터 테스트 결과 신호(TRS)의 파형을 나타내는 파형 정보(WFI)를 추출할 수 있다. 예를 들어, 파형 정보 생성부(430)는 각 화소 회로에 대하여 복수의 샘플링 포인트들에서 테스트 결과 신호(TRS)를 샘플링하고, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 테스트 결과 신호(TRS)의 값들에 기초하여 파형 정보(WFI)를 생성할 수 있다.

일 실시예에서, 파형 정보 생성부(430)는 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 테스트 결과 신호(TRS)의 값들에 기초하여 테스트 결과 신호(TRS)의 파형에 상응하는 적어도 하나의 벡터를 추출하고, 상기 적어도 하나의 벡터를 나타내는 파형 정보(WFI)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 파형 정보 생성부(430)는, 파형 정보(WFI)에 포함되는 상기 벡터로서, 테스트 결과 신호(TRS)의 파형에서 기울기가 (소정의 크기 이상) 변경되는 두 개의 점들을 시작점 및 끝점으로 가지는 벡터를 추출할 수 있다.

예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 화소 회로(PX)에 대한 테스트 결과 신호(TRS)의 파형은 기울기가 소정의 크기 이상 변경되는 제1 내지 제8 점들(P1, P2, P3, P4, P5, P6, P7, P8)을 가질 수 있고, 파형 정보 생성부(430)는, 제1 화소 회로(PX)에 대한 파형 정보(WFI)로서, 각각이 제1 내지 제8 점들(P1, P2, P3, P4, P5, P6, P7, P8) 중 연속된 두 개의 점들을 시작점 및 끝점으로 가지는 제1 내지 제7 벡터들(V1, V2, V3, V4, V5, V6, V7)을 나타내는 정보를 생성할 수 있다. 또한, 제2 화소 회로(PX)에 대한 테스트 결과 신호(TRS)의 파형은 기울기가 소정의 크기 이상 변경되는 제8 내지 제16 점들(P8, P9, P10, P11, P12, P13, P14, P15, P16)을 가질 수 있고, 파형 정보 생성부(430)는, 제2 화소 회로(PX)에 대한 파형 정보(WFI)로서, 각각이 제8 내지 제16 점들(P8, P9, P10, P11, P12, P13, P14, P15, P16) 중 연속된 두 개의 점들을 시작점 및 끝점으로 가지는 제8 내지 제15 벡터들(V8, V9, V10, V11, V12, V13, V14, V15)을 나타내는 정보를 생성할 수 있다. 즉, 파형 정보 생성부(430)는 테스트 결과 신호(TRS)의 파형을 벡터로 표현한 파형 정보(WFI)를 생성할 수 있다.

다른 실시예에서, 파형 정보 생성부(430)는 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 테스트 결과 신호(TRS)의 값들을 소정의 함수(예를 들어, 다항식)에 매칭시키고, 상기 매칭된 함수의 계수들을 나타내는 파형 정보(WFI)를 생성할 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 파형 정보 생성부(430)는 상기 매칭된 함수에 대한 미분 처리를 수행하고, 미분 처리에 의해 도출된 값들을 나타내는 파형 정보(WFI)를 생성할 수 있다.

한편, 파형 정보 생성부(430)에 의해 생성되는 파형 정보(WFI)는 상술한 벡터 표현 또는 함수 매칭에 한정되지 않고, 테스트 결과 신호(TRS)의 파형을 나타낼 수 있는 임의의 정보일 수 있다.

결함 판단부(450)는 파형 정보 생성부(430)로부터 제공된 파형 정보(WFI)에 기초하여 화소 회로(PX)의 결함 여부를 판단할 수 있다. 일 실시예에서, 결함 판단부(450)는 화소 회로들(PX) 중 제1 화소 회로에 대한 파형 정보(WFI)가 화소 회로들(PX) 중 상기 제1 화소 회로를 제외한 제2 화소 회로들에 대한 파형 정보(WFI)와 상이한 경우, 상기 제1 화소 회로를 불량 화소로 판단할 수 있다. 또한, 일 실시예에서, 어레이 테스트 동안, 스캔 구동부(330)는 스캔 라인들(SL1, SLN)을 통하여 화소 회로들(PX)에 스캔 신호를 순차적으로 제공할 수 있고, 테스트부(270)는 각 데이터 라인(DL1, DLN)에 연결된 화소 회로들(PX)로부터 상기 스캔 신호에 응답하여 출력되는 테스트 결과 신호(TRS)를 순차적으로 할 수 있다. 이 때, 상기 순차적으로 수신되는 테스트 결과 신호(TRS)의 파형 정보(WFI)가 변경되는 경우, 결함 판단부(450)는 파형 정보(WFI)가 변경된 테스트 결과 신호(TRS)를 출력한 화소 회로를 불량 화소로 판단할 수 있다. 예를 들어, 하나의 데이터 라인에 연결된 화소 회로들(PX) 중 일부 화소들에 대하여 동일한 제1 파형 정보가 생성되다가, 이어서 상기 화소 회로들(PX) 중 다른 일부 화소 회로들에 대하여 제2 파형 정보가 생성되는 경우, 상기 다른 일부 화소 회로들 중 상기 제2 파형 정보를 가지는 테스트 결과 신호(TRS)를 처음으로 출력한 화소 회로가 불량 화소로 판단될 수 있다.

일 실시예에서, 파형 정보 생성부(430)는 테스트 결과 신호(TRS)의 파형에 상응하는 적어도 하나의 벡터를 나타내는 파형 정보(WFI)를 생성할 수 있고, 결함 판단부(450)는 파형 정보(WFI)에 포함된 상기 적어도 하나의 벡터의 개수, 크기 성분 및 방향 성분 중 적어도 하나에 기초하여 화소 회로들(PX)의 불량 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 화소 회로들(PX) 중 제1 화소 회로에 대한 파형 정보(WFI)가 제1 개수의 벡터들을 포함하고, 화소 회로들(PX) 중 상기 제1 화소 회로를 제외한 제2 화소 회로들에 대한 파형 정보(WFI)가 제2 개수의 벡터들을 포함하는 경우, 결함 판단부(450)는 상기 제1 화소 회로를 불량 화소로 판단할 수 있다. 또한, 예를 들어, 화소 회로들(PX) 중 제1 화소 회로에 대한 파형 정보(WFI)가 제1 크기 성분들 또는 제1 방향 성분들을 가지는 벡터들을 포함하고, 화소 회로들(PX) 중 상기 제1 화소 회로를 제외한 제2 화소 회로들에 대한 파형 정보(WFI)가 모두 제2 크기 성분들 또는 제2 방향 성분들을 가지는 벡터들을 포함하는 경우, 결함 판단부(450)는 상기 제1 화소 회로를 불량 화소로 판단할 수 있다.

한편, 종래의 어레이 테스트 장치는 테스트 결과 신호의 피크 값을 추출하여 화소 회로의 불량 여부를 판단하였다. 이에 따라, 어떠한 화소 회로가 결함을 가짐으로써 이의 테스트 결과 신호가 다른 화소 회로의 테스트 결과 신호와 다른 파형을 가지더라도, 이러한 화소 회로들로부터 출력된 테스트 결과 신호들의 피크 값들이 동일한 경우, 상기 결함을 가진 화소 회로가 정상적으로 동작하는 것으로 판단되었다. 그러나, 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치(200)는 테스트 결과 신호의 파형 정보에 기초하여 화소 회로의 결함 여부를 판단할 수 있다. 이에 따라, 화소 회로의 결함 판정 및 검출의 정확도가 향상될 수 있고, 어레이 테스트 장치(200)에 의한 어레이 테스트의 정확도가 향상될 수 있다.

도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 방법을 나타내는 순서도이고, 도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 방법에 의해 생성되는 파형 정보를 설명하기 위한 도면이다.

도 2 및 도 6을 참조하면, 테스트부(270)는 콘택부(230)의 프로브 핀들(PIN), 및 프로브 핀들(PIN)에 접촉된 표시 패널(205)의 패드들(PAD)을 통하여 표시 패널(205)의 화소 회로들에 어레이 테스트 신호를 인가할 수 있다(S510). 상기 화소 회로들은 상기 어레이 테스트 신호에 응답하여 테스트 결과 신호를 출력할 수 있다.

테스트부(270)는 패드들(PAD) 및 프로브 핀들(PIN)을 통하여 상기 화소 회로들로부터 상기 테스트 결과 신호를 수신할 수 있다(S530). 또한, 테스트부(270)는 상기 테스트 결과 신호의 크기 정보 및 방향 정보를 포함하는 파형 정보를 생성할 수 있다(S550). 예를 들어, 테스트부(270)는 상기 파형 정보로서 상기 테스트 결과 신호를 벡터화하여 생성되는 벡터 정보를 생성할 수 있다. 또한, 테스트부(270)는 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단할 수 있다(S570).

예를 들어, 도 7에 도시된 바와 같이, 어레이 테스트 장치(200)는 하나의 데이터 라인에 연결된 제1 내지 제8 화소 회로들(PX1, PX2, PX3, PX4, PX5, PX6, PX7, PX8)로부터 테스트 결과 신호를 수신할 수 있다. 도 7에 도시된 예에서, 제1 내지 제4 화소 회로들(PX1, PX2, PX3, PX4)로부터 수신된 상기 테스트 결과 신호는 제1 파형을 가지고, 제5 내지 제8 화소 회로들(PX5, PX6, PX7, PX8)로부터 수신된 상기 테스트 결과 신호가 제2 파형을 가질 수 있다. 이 때, 상기 제1 파형과 상기 제2 파형의 피크 값이 실질적으로 동일한 레벨을 가지는 경우, 종래의 어레이 테스트 장치는 제1 내지 제4 화소 회로들(PX1, PX2, PX3, PX4)의 테스트 결과 신호와 제5 내지 제8 화소 회로들(PX5, PX6, PX7, PX8)의 테스트 결과 신호를 구별할 수 없었다. 그러나, 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 장치(200)는 제1 내지 제4 화소 회로들(PX1, PX2, PX3, PX4)의 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 제1 파형 정보를 생성하고, 제5 내지 제8 화소 회로들(PX5, PX6, PX7, PX8)의 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 상기 제1 파형 정보와 다른 제2 파형 정보를 생성할 수 있다. 예를 들어, 도 7에 도시된 예에서, 어레이 테스트 장치(200)는 제1 내지 제4 화소 회로들(PX1, PX2, PX3, PX4)에 대한 상기 제1 파형 정보로서 7 개의 벡터들을 나타내는 파형 정보를 생성할 수 있고, 제5 내지 제8 화소 회로들(PX5, PX6, PX7, PX8)에 대한 상기 제2 파형 정보로서 8 개의 벡터들을 나타내는 파형 정보를 생성할 수 있다. 따라서, 어레이 테스트 장치(200)는 상기 제1 파형 정보 및 상기 제2 파형 정보에 기초하여 제1 내지 제4 화소 회로들(PX1, PX2, PX3, PX4)의 테스트 결과 신호와 제5 내지 제8 화소 회로들(PX5, PX6, PX7, PX8)의 테스트 결과 신호가 서로 다른 것을 알 수 있고, 상기 파형 정보가 변경된 제5 화소 회로(PX5)에 결함이 있는 것으로 판정할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 방법에서, 종래의 어레이 테스트에 의해 검출되지 못하였던 화소 회로의 결함이 정확하게 검출될 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 어레이 테스트 방법에서, 테스트 결과 신호의 파형 정보에 기초하여 화소 회로의 결함 여부가 판단됨으로써, 화소 회로의 결함 판정 및 검출의 정확도가 향상될 수 있고, 어레이 테스트의 정확도가 향상될 수 있다.

본 발명은 표시 패널에 대한 어레이 테스트를 수행하는 어레이 테스트 장치 및 어레이 테스트 방법에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 유기 발광 다이오드 표시 패널 또는 액정 표시 패널에 대한 어레이 테스트를 수행하는 어레이 테스트 장치 및 어레이 테스트 방법에 적용될 수 있다.

이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

200: 어레이 테스트 장치
210: 스테이지
230: 콘택부
250: 조정부
270: 테스트부

Claims

복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널이 로딩되는 스테이지;
복수의 프로브 핀들을 포함하는 콘택부;
상기 복수의 프로브 핀들을 상기 표시 패널의 복수의 패드들에 접촉시키는 조정부; 및
상기 프로브 핀들 및 상기 패드들을 통하여 상기 표시 패널의 상기 화소 회로들에 어레이 테스트 신호를 인가하고, 상기 패드들 및 상기 프로브 핀들을 통하여 상기 화소 회로들로부터 테스트 결과 신호를 수신하며, 상기 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 파형 정보를 생성하고, 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 테스트부를 포함하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제1 항에 있어서, 상기 테스트부는 상기 화소 회로들 중 제1 화소 회로에 대한 상기 파형 정보가 상기 화소 회로들 중 상기 제1 화소 회로를 제외한 제2 화소 회로들에 대한 상기 파형 정보와 상이한 경우, 상기 제1 화소 회로를 불량 화소로 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제1 항에 있어서, 상기 테스트부는 상기 화소 회로들로부터 상기 테스트 결과 신호를 순차적으로 수신하고, 상기 순차적으로 수신되는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형 정보가 변경되는 경우, 상기 파형 정보가 변경된 상기 테스트 결과 신호를 출력한 화소 회로를 불량 화소로 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제1 항에 있어서, 상기 테스트부는 각 화소 회로에 대하여 복수의 샘플링 포인트들에서 상기 테스트 결과 신호를 샘플링하고, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 파형 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제4 항에 있어서, 상기 테스트부는 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에 상응하는 적어도 하나의 벡터를 추출하고, 상기 적어도 하나의 벡터를 나타내는 상기 파형 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제5 항에 있어서, 상기 테스트부에 의해 추출되는 상기 벡터는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에서 기울기가 변경되는 두 개의 점들을 시작점 및 끝점으로 가지는 벡터인 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제5 항에 있어서, 상기 테스트부는 상기 파형 정보에 포함된 상기 적어도 하나의 벡터의 개수, 상기 적어도 하나의 벡터의 크기 성분 및 상기 적어도 하나의 벡터의 방향 성분 중 적어도 하나에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제4 항에 있어서, 상기 테스트부는 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들을 소정의 함수에 매칭시키고, 상기 매칭된 함수의 계수들을 나타내는 상기 파형 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제1 항에 있어서, 상기 테스트부는,
상기 어레이 테스트 신호를 생성하고, 상기 프로브 핀들에 상기 어레이 테스트 신호를 인가하는 어레이 테스트 신호 생성부;
상기 프로브 핀들을 통하여 상기 화소 회로들로부터 상기 테스트 결과 신호를 수신하고, 상기 테스트 결과 신호에 대한 상기 파형 정보를 생성하는 파형 정보 생성부; 및
상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 결함 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제1 항에 있어서, 상기 프로브 핀들은 상기 어레이 테스트 신호가 인가되는 상기 패드들로서 상기 표시 패널에 포함된 어레이 테스트 전용 패드들에 접촉되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
제1 항에 있어서, 상기 어레이 테스트 장치는 상기 표시 패널에 데이터 구동부가 실장되기 전에 상기 표시 패널에 대한 어레이 테스트를 수행하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 장치.
복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법에 있어서,
복수의 프로브 핀들 및 상기 프로브 핀들에 접촉된 상기 표시 패널의 복수의 패드들을 통하여 상기 표시 패널의 상기 화소 회로들에 어레이 테스트 신호를 인가하는 단계;
상기 패드들 및 상기 프로브 핀들을 통하여 상기 화소 회로들로부터 테스트 결과 신호를 수신하는 단계;
상기 테스트 결과 신호의 파형을 나타내는 파형 정보를 생성하는 단계; 및
상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제12 항에 있어서, 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 단계는,
상기 화소 회로들 중 제1 화소 회로에 대한 상기 파형 정보가 상기 화소 회로들 중 상기 제1 화소 회로를 제외한 제2 화소 회로들에 대한 상기 파형 정보와 상이한 경우, 상기 제1 화소 회로를 불량 화소로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제12 항에 있어서, 상기 파형 정보에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부를 판단하는 단계는,
상기 화소 회로들로부터 순차적으로 수신되는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형 정보가 변경되는 경우, 상기 파형 정보가 변경된 상기 테스트 결과 신호를 출력한 화소 회로를 불량 화소로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제12 항에 있어서, 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형을 나타내는 상기 파형 정보를 생성하는 단계는,
각 화소 회로에 대하여 복수의 샘플링 포인트들에서 상기 테스트 결과 신호를 샘플링하는 단계; 및
상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 파형 정보를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제15 항에 있어서, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들에 기초하여 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에 상응하는 적어도 하나의 벡터가 추출되고, 상기 파형 정보는 상기 적어도 하나의 벡터를 나타내는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제16 항에 있어서, 상기 벡터는 상기 테스트 결과 신호의 상기 파형에서 기울기가 변경되는 두 개의 점들을 시작점 및 끝점으로 가지는 벡터인 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제16 항에 있어서, 상기 파형 정보에 포함된 상기 적어도 하나의 벡터의 개수, 상기 적어도 하나의 벡터의 크기 성분 및 상기 적어도 하나의 벡터의 방향 성분 중 적어도 하나에 기초하여 상기 화소 회로들의 불량 여부가 판단되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제15 항에 있어서, 상기 샘플링 포인트들에서 샘플링된 상기 테스트 결과 신호의 값들이 소정의 함수에 매칭되고, 상기 파형 정보는 상기 매칭된 함수의 계수들을 나타내는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.
제12 항에 있어서, 상기 어레이 테스트 방법은 상기 표시 패널에 데이터 구동부가 실장되기 전에 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 어레이 테스트 방법.