KR100666448B1 - 액정표시장치의 어레이 기판 테스트 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 액정표시장치의 어레이 기판 테스트 방법을 개시한다. 개시된 본 발명은 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버, 상기 게이트 드라이버에 전기적으로 연결되는 게이트 구동용 패드부, 다수의 데이터 라인을 구동하는 소오스 드라이버, 상기 소오스 드라이버에 전기적으로 연결되는 소오스 구동용 패드부 및 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인이 교차되는 지점에 형성된 다수의 액정 셀을 포함하는 어레이 기판 테스트 방법에 있어서, 적어도 하나의 어레이 기판이 형성된 어레이 글래스를 제공하는 단계, 게이트 구동용 패드부 및 소오스 구동용 패드부 중 적어도 하나의 패드부에 전기적으로 연결되는 쉬프트 레지스터 회로부를 어레이 글래스에 설치하는 단계, 쉬프트 레지스터 회로부에 어레이 기판 테스트를 위한 신호를 인가하여 액정 셀, 게이트 라인 및 데이터 라인 중 적어도 하나를 테스트하는 단계 및 어레이 글래스에 형성된 쉬프트 레지스터 회로부를 제거하는 단계를 포함한다. 본 발명에 따르면, 어레이 기판의 외부에 박막 트랜지스터 기반의 쉬프트 레지스터를 설치함으로써 어레이 기판 테스트를 실시할 경우, 콘택 포인트 및 테스트 장비의 프로브 핀 수를 줄여 어레이 기판 테스트를 경제적으로 실시할 수 있다.

Description

액정표시장치의 어레이 기판 테스트 방법{METHOD FOR TESTING ARRAY OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

도 1은 본 발명의 일실시예에 따라 어레이 기판을 테스트하기 위한 어레이 글래스의 구성도.

*도면의 주요 부분에 대한 부호 설명*

100 : 어레이 글래스 20 : 어레이 기판

30 : 화소부 40 : 쉬프트 레지스터 입력 패드부

50 : 쉬프트 레지스터 회로부 60 : 게이트 구동용 패드부

70 : 소오스 구동용 패드부

본 발명은 액정표시장치(Liquid Crystal Display Element)에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 어레이 기판 외부에 쉬프트 레지스터를 구비함으로써 어레이 기판 테스트를 실시할 경우에 콘택 핀(Contact Pin) 및 테스트 장비의 프로브 핀(Probe Pin) 수를 줄일 수 있는 액정표시장치의 어레이 기판 테스트 방법에 관한 것이다.

기존 어레이 기판 테스트(Array Test) 방식에는 IBM(International Business Machines)사 방식이라 불리우는 콘택(Contact) 방식과 콘택 방식이 아닌 PDI(Photon Dynamic Instrument)사 패드(PAD)를 이용한 방식이 있으며, IBM사 방식이 널리 사용되어 왔다.

그러나, 콘택 방식은 어레이 기판 테스트 후에 콘택 포인트(Point)인 패드부의 금속막이 손상되는 현상이 발생하며, 각각의 패드에 신호를 인가하기 위한 콘택 핀(Contact Pin)은 프로브 카드(Probe Card)라는 형태의 고가 부품을 필요로 하여 제조시 개발 비용이 상승하는 단점을 가지고 있다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 어레이 기판 외부에 쉬프트 레지스터를 구비함으로써 어레이 기판 테스트를 실시할 경우에 콘택 핀 및 테스트 장비의 프로브 핀 수를 줄일 수 있는 액정표시장치 의 어레이 기판 테스트 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버, 상기 게이트 드라이버에 전기적으로 연결되는 게이트 구동용 패드부, 다수의 데이터 라인을 구동하는 소오스 드라이버, 상기 소오스 드라이버에 전기적으로 연결되는 소오스 구동용 패드부 및 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인이 교차되는 지점에 형성된 다수의 액정 셀을 포함하는 어레이 기판 테스트 방법에 있어서, a) 적어도 하나의 상기 어레이 기판이 형성된 어레이 글래스를 제공하는 단계; b) 상기 게이트 구동용 패드부 및 소오스 구동용 패드부 중 적어도 하나의 패드부에 전기적으로 연결되는 쉬프트 레지스터 회로부를 상기 어레이 글래스에 설치하는 단계; c) 상기 쉬프트 레지스터 회로부에 상기 어레이 기판 테스트를 위한 신호를 인가하여 상기 액정 셀, 게이트 라인 및 데이터 라인 중 적어도 하나를 테스트하는 단계; 및 d) 상기 어레이 글래스에 형성된 쉬프트 레지스터 회로부를 제거하는 단계를 포함한다.

여기에서, 상기 d)단계는 스크라이빙(scribing)에 의해서 상기 쉬프트 레지스터 회로부를 제거하는 것이 바람직하다.

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(실시예)

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

본 발명의 일실시예에 따른 어레이 기판 테스트 방법은 복수의 어레이 기판(20)이 형성된 어레이 글래스(100) 상에서 이루어 질 수 있다. 여기서 어레이 기판(20)은 화면을 표시하는 화소부(Active Area : 30)와, 게이트 드라이버를 구동하기 위한 신호를 인가는 게이트 구동용 드라이버 칩(미도시)과, 소오스 드라이버를 구동하기 위한 신호를 인가하는 소오스 구동용 드라이버 칩(미도시)과, 게이트 구동용 드라이버 칩과 소오스 구동용 드라이버 칩에 전기적으로 연결되는 게이트 구동용 패드부(60) 및 소오스 구동용 패드부(70)를 포함한다.

또한, 어레이 글래스(100)는 어레이 기판(20)의 외부에 위치하여 게이트 구동용 패드부(60)와 소오스 구동용 패드부(70)에 전기적으로 연결되는 쉬프트 레지스터 회로부(50)가 형성된다. 쉬프트 레지스터 회로부(50)는, 어레이 기판 테스트를 실시할 경우, 콘택 포인트 및 테스트 장비의 프로브 핀 수를 줄일 수 있도록 한다. 어레이 글래스(100)에는 외부로부터 인가되는 테스트 신호를 쉬프트 레지스터 회로부(50)로 전달하는 쉬프트 레지스터 입력 패드부(60)가 더 형성되는 것이 바람직하다.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따라 어레이 기판을 테스트하기 위한 어레이 글래스의 구성도이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 어레이 기판 테스트 방법은 쉬프트 레지스터 회로부(50)를 통해 게이트 라인 혹은 데이터 라인으로 입력 신호를 순차적으로 인가하며, 게이트 구동용 패드부(60) 또는 소오스 구동용 패드부(50)로부터 검출되는 신호를 이용하여 게이트 라인 또는 데이터 라인 간의 오픈(Open)/쇼트(Short) 테스트를 실시할 수 있다.

종래 게이트 구동용 패드부(60) 또는 데이트 구동용 패드부(50) 중 어느 한쪽은 어레이 기판 테스트를 위해 프로브 핀을 수백 내지 수천 개를 접촉하여 테스트 하던 방법과 달리, 본 실시예에서는 어레이 글래스(100) 상에 쉬프트 레지스터 회로부(50)를 형성함으로써 프로브 핀수를 수개로 줄여 경제적으로 어레이 기판 테스트를 실시할 수 있게 된다.

그리고, 쉬프트 레지스터 회로부(50)는 보통 게이트 구동용 패드부(60) 또는 소오스 구동용 패드부(50)의 바깥 영역에 위치하여 어레이 테스트를 실시한 후, 스크라이빙(Scribing)에 의해 쉬프트 레지스터 회로부(50)를 어레이 글래스(100)상에서 제거하여 완제품 패널에서는 남지 않게 된다.

본 실시예의 어레이 기판 테스트 방법을 자세하게 살펴보면, 게이트 구동용 패드부(60)나 소오스 구동용 패드부(50)는 팬아웃(Fanout)라인 방식을 사용하여 쉬프트 레지스터 회로부(50)와 연결하며, 어레이 기판 테스트를 위해 쉬프트 레지스터 입력 패드부(40)를 통해 테스트 신호를 인가하고, 각 타이밍에 따라서 쉬프트 레지스터 회로부(50)의 출력을 어레이 기판(20) 내부에 순차적으로 인가한다. 그리고, 게이트 구동용 패드부(60)를 통해 각각의 게이트 라인과 데이터 라인간의 쇼트 테스트를 실시할 수 있다.

또한, 비콘택(non-contact) 방식인 PDI(Photon Dynamic Instrument)사 테스트 방식에서 모듈레이터(Modulator)를 사용하면, 쉬프트 레지스터 입력 패드부(40)와 게이트 구동용 패드부(60)를 통해 구동 신호를 인가한 후에 액정 셀의 충전량을 모듈레이터로 검출하여 불량 액정 셀을 검출할 수 있다.

그러나, PDI 패드에서와 같이, 전체 라인을 하나의 전위로 묶어서 테스트하는 방식에서는 쇼트가 발생한 지점의 어드레스를 알 수 없으나, 본 실시예에서는 어레이 기판 외부에 쉬프트 레지스터 회로부(50)를 구비함으로써 쇼트가 발생한 지점의 어드레스를 알 수 있는 장점을 가진다.

상기와 같은 방식으로 어레이 기판 테스트를 실시할 경우, 쉬프트 레지스터 회로부(50)에 불량이 발생하여 어레이 테스트를 실시할 수 없는 경우에는 쇼트가 발생한 지점의 어드레스를 알 수 없으며, 이를 해결하기 위해 쉬프트 레지스터 회로부(50)의 마지막 출력단에는 파형 검출을 위한 별도의 패드를 두어 어레이 기판 테스트를 실시하기 전에 쉬프트 레지스터 회로부(50)의 이상유무를 확인할 수 있도록 한다.

또한, 본 실시예에서는 게이트 드라이버를 구동하기 위한 게이트 구동용 드라이버 칩과 소오스 드라이버를 구동하기 위한 소오스 구동용 드라이버 칩을 구비하였으나, 게이트 드라이버를 구동하기 위한 게이트 구동용 드라이버 칩과 소오스 드라이버를 구동하기 위한 소오스 구동용 드라이버 칩 중 어느 하나를 구비하는 것도 가능하다.

이에 따라 게이트 구동용 드라이버 칩 또는 소오스 구동용 드라이버 칩을 어레이 기판에 전기적으로 연결하기 위한 게이트 구동용 패드부 또는 소오스 구동용 패드부 중 어느 하나를 구비하는 것도 가능하다.

상기와 같이, 본 실시예에 따른 어레이 기판 테스트 방법에서 어레이 기판 외부에 박막 트랜지스터 기반의 쉬프트 레지스터를 구비함으로써 어레이 기판 테스트를 실시할 경우, 콘택 포인트 및 테스트 장비의 프로브 핀 수를 줄여 어레이 기판 테스트를 경제적으로 실시할 수 있다.

이상, 본 발명을 몇 가지 예를 들어 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 사상에서 벗어나지 않으면서 많은 수정과 변형을 가할 수 있음을 이해할 것이다.

이상에서와 같이, 본 발명에 의하면, 상기와 같이, 본 발명은 어레이 기판의 외부에 박막 트랜지스터 기반의 쉬프트 레지스터를 구비함으로써 어레이 기판 테스트를 실시할 경우, 콘택 포인트 및 테스트 장비의 프로브 핀 수를 줄여 어레이 테스트를 경제적으로 실시할 수 있다.

또한, 본 발명은 어레이 기판 테스트시 고가의 테스트 장비를 사용하지 않아도 되며, 어레이 기판의 패드 접촉으로 인한 패드 손상에 의해 발생할 수 있는 모든 불량을 줄일 수 있는 장점을 가지고 있다.

Claims (7)

1. 삭제
2. 삭제
3. 삭제
4. 삭제
5. 삭제
6. 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버, 상기 게이트 드라이버에 전기적으로 연결되는 게이트 구동용 패드부, 다수의 데이터 라인을 구동하는 소오스 드라이버, 상기 소오스 드라이버에 전기적으로 연결되는 소오스 구동용 패드부 및 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인이 교차되는 지점에 형성된 다수의 액정 셀을 포함하는 어레이 기판 테스트 방법에 있어서,

   a) 적어도 하나의 상기 어레이 기판이 형성된 어레이 글래스를 제공하는 단계;

   b) 상기 게이트 구동용 패드부 및 소오스 구동용 패드부 중 적어도 하나의 패드부에 전기적으로 연결되는 쉬프트 레지스터 회로부를 상기 어레이 글래스에 설치하는 단계;

   c) 상기 쉬프트 레지스터 회로부에 상기 어레이 기판 테스트를 위한 신호를 인가하여 상기 액정 셀, 게이트 라인 및 데이터 라인 중 적어도 하나를 테스트하는 단계; 및

   d) 상기 어레이 글래스에 형성된 쉬프트 레지스터 회로부를 제거하는 단계

   를 포함하는 액정표시장치 어레이 기판 테스트 방법.
7. 제 6 항에 있어서, 상기 d)단계는

   스크라이빙(scribing)에 의해서 상기 쉬프트 레지스터 회로부를 제거하는

   액정표시장치의 어레이 기판 테스트 방법.

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