KR20150138289A - 프로브 핀 및 이것을 이용한 전자 디바이스 - Google Patents

프로브 핀 및 이것을 이용한 전자 디바이스 Download PDF

Info

Publication number
KR20150138289A
KR20150138289A KR1020157030889A KR20157030889A KR20150138289A KR 20150138289 A KR20150138289 A KR 20150138289A KR 1020157030889 A KR1020157030889 A KR 1020157030889A KR 20157030889 A KR20157030889 A KR 20157030889A KR 20150138289 A KR20150138289 A KR 20150138289A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
plunger
elastic piece
contact
probe pin
coil spring
Prior art date
Application number
KR1020157030889A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101779686B1 (ko
Inventor
요시노부 헴미
타카히로 사카이
히로타다 테라니시
Original Assignee
오므론 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 오므론 가부시키가이샤 filed Critical 오므론 가부시키가이샤
Publication of KR20150138289A publication Critical patent/KR20150138289A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101779686B1 publication Critical patent/KR101779686B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R4/00—Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
    • H01R4/28—Clamped connections, spring connections
    • H01R4/48—Clamped connections, spring connections utilising a spring, clip, or other resilient member
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G01R1/06722—Spring-loaded
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2464—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the contact point
    • H01R13/2471—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the contact point pin shaped
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441—Details
    • G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)

Abstract

프로브 핀이, 코일 스프링(3)과, 본체부(11) 및 본체부(11)로부터 동일 방향으로 연재되는 제1 탄성편(12) 및 제2 탄성편(13)을 갖는 제1 플런저(1)와, 제1 탄성편(12)과 제2 탄성편(13)과의 사이에 압입되는 제2 플런저(2)를 구비하고 있다. 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)는 도전성을 가지며, 코일 스프링(3)의 양단부(3A, 3B)로부터 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)를 각각 삽입한다. 그리고, 제1 플런저(1)의 제1 탄성편(12)과 제2 탄성편(13)으로 제2 플런저(2)를 끼어지지하고, 제1 탄성편(12)을 제2 플런저(2)의 편면에 압접시켜서, 이 압접 개소를 통하여, 제1 플런저(1)와 제2 플런저(2)를 도통시키고 있다.

Description

프로브 핀 및 이것을 이용한 전자 디바이스{PROBE PIN AND ELECTRONIC DEVICE USING SAME}
본 발명은, 프로브 핀, 예를 들면 IC용 테스트 소켓에 조립된 프로브 핀에 관한 것이다.
종래, 프로브 핀으로서는, 예를 들면, 특허 문헌 1의 도 6에 기재된 것이 있다. 이 프로브 핀은, 동일 형상의 상측 콘택트 핀 및 하측 콘택트 핀과, 코일 스프링을 구비하고 있다. 그리고, 상측 콘택트 핀 및 하측 콘택트 핀은, 서로 직교하도록 코일 스프링의 내부에서 결합되어 있고, 상측 콘택트 핀의 한 쌍의 훅이 하측 콘택트 핀의 홈에, 그리고, 하측 콘택트 핀의 한 쌍의 훅이 상측 콘택트 핀의 홈에 수용되어 있다.
특허 문헌 1 : 일본 특개2008-516398호 공보
그러나, 전술한 프로브 핀에서는, 일방의 콘택트 핀의 한 쌍의 훅과 타방의 콘택트 핀의 본체부의 홈이, 적어도 1개소에서 접촉하고, 전기적 접촉하도록 설계되어 있지만, 콘택트 핀 사이의 접촉 상태에 편차가 생기기 쉬워, 안정된 전기적 접촉을 얻을 수가 없다는 문제가 있다.
또한, 전술한 프로브 핀에서는, 상측 콘택트 핀 및 하측 콘택트 핀의 접촉 위치를 정확하게 판정할 수가 없었다. 이 때문에, 설계한 바와 같은 전기적 접촉을 얻기 위해서는, 부품의 치수 공차를 엄격하게 관리할 필요가 있어서, 제조 비용이 높아진다는 문제가 있다.
본 발명은, 전술한 문제를 감안하여, 접촉 안정성이 높고, 제조 비용이 저렴한 프로브 핀을 제공하는 것을 과제로 한다.
본 발명에 관한 프로브 핀은, 코일 스프링과, 본체부 및 상기 본체부로부터 동일 방향으로 연재되는 제1 탄성편 및 제2 탄성편을 갖는 제1 플런저와, 상기 제1 탄성편과 상기 제2 탄성편과의 사이에 압입되는 제2 플런저를 구비하고, 상기 제1 플런저 및 상기 제2 플런저는 도전성을 가지며, 상기 코일 스프링의 양단부로부터 상기 제1 플런저 및 상기 제2 플런저를 각각 삽입함과 함께, 상기 제1 플런저의 상기 제1 탄성편과 상기 제2 탄성편으로 상기 제2 플런저를 끼어지지하고, 상기 제1 탄성편을 상기 제2 플런저의 편면에 압접시켜서, 이 압접 개소를 통하여, 상기 제1 플런저와 상기 제2 플런저를 도통시키는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 제2 플런저를 제1 플런저의 제1 탄성편과 제2 탄성편으로 끼어지지함과 함께, 제1 탄성편이 제2 플런저의 편면에 압접하고 있다. 이 때문에, 접촉 상태에 편차가 없고, 제1 플런저와 제2 플런저와의 사이에 높은 접촉 안정성과 안정된 전기적 접촉을 얻을 수 있다.
본 발명의 실시 형태로서는, 적어도 상기 제1 탄성편에, 상기 제2 플런저의 편면에 압접하는 접점부가 돌설되고, 상기 접점부를 통하여 상기 제1 플런저와 상기 제2 플런저를 도통시키는 구성으로 하여도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 제1 플런저의 접점부가, 제2 플런저에 면접촉하기 때문에, 제1 플런저와 제2 플런저가, 접점부를 통하여 안정된 전기적 접촉을 얻을 수 있다. 이 때문에, 부품의 치수 공차를 엄격하게 관리할 필요가 없고, 제조 비용을 저감할 수 있다.
본 발명의 실시 형태로서는, 상기 제1 플런저의 제1 탄성편과 제2 탄성편이, 다른 길이를 갖고 있는 구성으로 하여도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 설계의 자유도가 넓어지고, 다양한 용도에 대응할 수 있다.
본 발명의 실시 형태로서는, 상기 제1 플런저의 제1 탄성편 및 제2 탄성편의 적어도 어느 일방이, 가이드 돌기를 가짐과 함께, 상기 제2 플런저가, 상기 가이드 돌기가 감합(嵌合)하는 가이드 홈을 가지며, 상기 제1 플런저 및 상기 제2 플런저의 슬라이드 이동이, 상기 가이드 홈에 따라 행하여지는 구성으로 하여도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 가이드 돌기 및 가이드 홈에 의해, 제1 플런저 및 제2 플런저가, 덜커덕거림 없이 슬라이드 이동하고, 제1 플런저와 제2 플런저와의 접촉 위치를 정확하게 검출할 수 있다.
본 발명의 실시 형태로서는, 상기 제1 플런저가, 상기 제1 탄성편 및 상기 제2 탄성편의 기부(基部)에 돌설한 제1 지지 돌출부와, 이 제1 지지 돌출부로부터 일정 거리 떨어진 위치에 돌설한 제1 탈락 방지용 볼록부를 가짐과 함께, 상기 제2 플런저의 짧은 변 방향의 양측면에 돌설한 제2 지지 돌출부와, 이 제2 지지 돌출부로부터 일정 거리 떨어진 위치에 돌설한 제2 탈락 방지용 볼록부를 가지며, 상기 코일 스프링의 일단이, 상기 제1 지지 돌출부와 상기 제1 탈락 방지용 볼록부와의 사이에 배치되고, 상기 코일 스프링의 타단이, 상기 제2 지지 돌출부와 상기 제2 탈락 방지용 볼록부와의 사이에 배치되는 구성으로 하여도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 제1, 제2 지지 돌출부와 제1, 제2 탈락 방지용 볼록부와의 사이에 코일 스프링의 양단부를 배치하고 있기 때문에, 코일 스프링의 덜커덕거림을 방지할 수 있음과 함께, 코일 스프링의 탈락을 방지한다.
또한, 본 발명의 전자 디바이스는, 상기 프로브 핀을 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 접촉 안정성이 높고, 제조 비용이 저렴한 전자 디바이스를 얻을 수 있다.
도 1의 A는 본 발명의 제1 실시 형태의 프로브 핀의 전체 사시도, B는 A의 분해 사시도.
도 2의 A는 도 1의 프로브 핀의 제1 플런저의 평면도, B는 도 1의 프로브 핀의 제2 플런저의 평면도.
도 3의 A는 도 1의 프로브 핀의 정면도, B는 A에 도시하는 Ⅲ-Ⅲ선에서 본 단면도.
도 4의 A는 본 발명의 제2 실시 형태의 프로브 핀의 전체 사시도, B는 A의 분해 사시도.
도 5의 A는 도 4의 프로브 핀의 제1 플런저의 평면도, B는 도 4의 프로브 핀의 제2 플런저의 평면도.
도 6의 A는 도 4의 프로브 핀의 정면도, B는 A에 도시하는 VI-VI 선에서 본 단면도.
도 7의 A는 본 발명의 제3 실시 형태의 프로브 핀의 전체 사시도, B는 A의 분해 사시도.
도 8의 A는 도 7의 프로브 핀의 제1 플런저의 평면도, B는 도 7의 프로브 핀의 제2 플런저의 평면도.
도 9의 A는 도 7의 프로브 핀의 정면도, B는 A에 도시하는 Ⅸ-Ⅸ선에서 본 단면도.
도 10의 A는 본 발명의 제4 실시 형태의 프로브 핀의 전체 사시도, B는 A의 분해 사시도.
도 11의 A는 도 10의 프로브 핀의 제1 플런저의 평면도, B는 도 10의 프로브 핀의 제2 플런저의 평면도.
도 12의 A는 도 10의 프로브 핀의 정면도, B는 A에 도시하는 XⅡ-XⅡ선에서 본 단면도.
이하, 본 발명의 프로브 핀을, 도시한 실시 형태에 의거하여 상세히 설명한다. 또한, 각 실시 형태의 코일 스프링은, 설명의 편의상, 투명체로서 도시한다.
(제1 실시 형태)
본 발명의 제1 실시 형태의 프로브 핀(10)은, 도 1에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(1)와, 제2 플런저(2)와, 코일 스프링(3)을 구비하고 있다. 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)는, 각각 도전성을 갖고 있고, 예를 들면 전주법(電鑄法)으로 형성되어 있다.
제1 플런저(1)는, 도 2에 도시하는 바와 같이, 본체부(11)와, 제1 탄성편(12)과, 제2 탄성편(13)을 구비하고, 동일 두께를 갖고 있다.
본체부(11)는, 개략 사각형상을 갖고 있다. 본체부(11)의 긴변 방향의 일단(11A)에는, 평면 삼각형상의 선단부(14)가 마련되어 있다. 또한, 그 긴 변 방향의 타단(11B)에서, 제1 탄성편(12)과 제2 탄성편(13)이 평행하게 연재되어 있음과 함께, 평면 사각형상의 지지 돌출부(15, 15)가 상기 제1, 제2 탄성편(12, 13)의 기부에 돌설되어 있다.
제1 탄성편(12) 및 제2 탄성편(13)은, 단면 사각형상을 갖고 있다. 또한, 제1 탄성편(12) 및 제2 탄성편(13)은, 길이가 다르고, 제1 탄성편(12)의 쪽이, 제2 탄성편(13)보다도 L2만큼 길게 되도록 형성되어 있다.
또한, 제1 실시 형태에서는, 도 2에 도시하는 바와 같이, 본체부(11)의 긴 변 방향의 타단(11B)을 기준으로 하여, 제1 탄성편(12)의 후술하는 접점부(17)까지의 길이와, 제2 탄성편(13)의 후술하는 가이드 돌기(18)까지의 길이와의 차를, L2로 하고 있다.
또한, 제1 탄성편(12) 및 제2 탄성편(13)은, 본체부(11)의 짧은변방향으로 일정한 간격(D1)을 갖고 있다. 또한, 제1 탄성편(12) 및 제2 탄성편(13)은, 제1 탄성편(12)의 외향면(12A)과 제2 탄성편(13)의 외향면(13A)과의 거리가, 본체부(11)의 폭(W1)에 개략 동등하도록 배치되어 있다.
제1 탄성편(12)의 외향면(12A) 및 제2 탄성편(13)의 외향면(13A)에는, 탈락 방지 볼록부(16, 16)가 돌설되어 있다. 탈락 방지 볼록부(16, 16)는, 지지 돌출부(15, 15)로부터 거리(D2)만큼 떨어진 위치에 중심이 위치하도록 형성되어 있다. 또한, 제1 탄성편(12)의 내향면(12B)의 선단부에는, 접점부(17)가 돌설되어 있고, 제2 탄성편(13)의 내향면(13B)의 선단부에는, 가이드 돌기(18)가 돌설되어 있다.
제1 탄성편(12)의 접점부(17)는, 설계에 응하여, 형상 또는 크기 등을 적절히 선택할 수 있다. 접점부(17)의 형상 등을 변경함으로써, 제1 탄성편(12)의 제2 플런저(2)에 대한 가세력을 조정할 수 있다.
또한, 제2 탄성편(13)의 가이드 돌기(18)는, 후술하는 가이드 홈(23)에 감합할 수 있고, 또한, 가이드 홈(23)과 감합한 때에, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2) 사이의 슬라이드 이동(상대적 왕복 이동)을 가이드 홈(23) 내로 규제할 수 있는 것이면 좋고, 형상, 크기 등은 적절히 선택할 수 있다.
제2 플런저(2)는, 도 1, 도 2에 도시하는 바와 같이, 본체부(21)와, 가이드 홈(23)을 구비한 접촉부(22)를 가지며, 동일 두께(D3)를 갖고 있다.
본체부(21)는, 평면 개략 사각형상을 가지며, 그 긴 변 방향의 일단(21A)에는, 평면 V자형상의 선단부(24)가 마련되어 있다. 또한, 본체부(21)의 긴 변 방향의 타단(21B)에는, 평면 개략 사각형상을 갖는 접촉부(22)가 형성되어 있다. 접촉부(22)는, 그 자유단(도 2에서의 좌측)이 평면 개략 삼각형상을 갖고 있고, 자유 단측에 평면 사각형상의 가이드 홈(23)이 형성되어 있다. 또한, 본체부(21)의 긴 변 방향의 타단(21B)의 짧은 변 방향의 양측면에는, 각각, 평면 사각형상의 지지 돌출부(25, 25)가 돌설되어 있다. 또한, 접촉부(22)의 짧은 변 방향의 양측면에는, 각각, 탈락 방지 볼록부(26, 26)가 돌설되어 있다. 탈락 방지 볼록부(26, 26)는, 지지 돌출부(25, 25)로부터 접촉부(22)의 선단측으로 거리(D4)만큼 떨어진 위치에 중심이 위치하도록 형성되어 있다.
또한, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)는, 설계에 응하여, 도금, 코팅 등의 표면 처리를 행할 수도 있다.
코일 스프링(3)은, 예를 들면 탄소강 또는 스테인리스강으로 이루어지고, 도 3에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(1)의 폭(W1) 및 제2 플런저(2)의 폭(W2)보다도 약간 큰 내경을 갖는다. 또한, 상기 코일 스프링(3)은, 제1 플런저(1)의 본체부(11)와 지지 돌출부(15, 15)를 합친 폭(W3) 및 제2 플런저(2)의 본체부(21)와 지지 돌출부(25, 25)를 합친 폭(W4)과, 개략 동일한 외경을 갖고 있다. 또한, 코일 스프링(3)은, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)가 서로 조합된 상태에서는, 미리 압축 방향의 힘이 가하여지도록 스프링 길이가 조정되어 있다.
또한, 제1 플런저(1)의 폭(W1) 및 제2 플런저(2)의 폭(W2)은 동일 치수로 되어 있다.
또한, 지지 돌출부(15, 15 및 25, 25)는, 전부 동일한 형상이고, 동일한 폭 치수를 갖고 있다. 즉, 제1 플런저(1)의 본체부(11)와 지지 돌출부(15, 15)를 합친 폭(W3)과, 제2 플런저(2)의 본체부(21)와 지지 돌출부(25, 25)를 합친 폭(W4)은 동일 치수이다.
제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)는, 다음과 같이 활주 가능하게 조합된다.
제1 플런저(1)의 제1 탄성편(12) 및 제2 탄성편(13)과, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)의 선단을 마주 대하게 한다. 그리고, 코일 스프링(3)의 양단부로부터 내부로 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)를 각각 삽입함과 함께, 제1 플런저(1)의 제1 탄성편(12)과 제2 탄성편(13)과의 사이에 제2 플런저를 압입하여, 제1 탄성편(12)과 제2 탄성편(13)으로 제2 플런저(2)를 끼어지지한다.
이 때, 제1 플런저(1)는, 도 3에 도시하는 바와 같이, 코일 스프링(3)의 제1 단부(3A)측부터 삽입되고, 제1 플런저(1)의 제2 탄성편(13)의 가이드 돌기(18)가, 제2 플런저(2)의 가이드 홈(23)에 갑합된다. 이에 의해, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2) 사이의 슬라이드 이동은, 가이드 홈(23)에 따라 행하여진다. 또한, 가이드 돌기(18)에 의해, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2) 사이의 슬라이드 이동이 가이드 홈(23) 내로 규제되기 때문에, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)의 이동량의 최대치는, 가이드 홈(23)의 길이(L1)와 동등하게 된다.
한편, 제2 플런저(2)는, 코일 스프링(3)의 제2 단부(3B)측에서 삽입된다. 여기서, 도 2에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(1)의 제1, 제2 탄성편(12, 13)은, 제1, 제2 탄성편(12, 13)의 길이의 차(L2)가, 가이드 홈(23)의 길이(L1)와 거의 동일 치수를 갖도록 형성되어 있다. 이 때문에, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)의 이동량에 관계없이, 제1 플런저(1)의 제1 탄성편(12)의 접점부(17)는, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)에 항상 접촉하고 있다.
또한, 제1 플런저(1)의 제1, 제2 탄성편(12, 13)은, 제1 탄성편(12)의 접점부(17)와 제2 탄성편(13)의 내향면(13B) 사이의 간격(D5)이, 제2 플런저(2)의 두께(D3)보다도 작게 되도록 형성되어 있다. 즉, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)가 서로 조합된 상태에서는, 제1 탄성편(12)의 접점부(17)는, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)에 의해, 밖을 향하여(도 2의 상측) 항상 가압된다. 이 때문에, 제1 탄성편(12)은, 자기의 스프링력에 의해, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)의 편면에 항상 압접하고 있다. 이 때문에, 제1 플런저(1)와 제2 플런저(2)는, 압접 개소가 되는 접촉부(22)를 통하여 도통함과 함께 안정된 전기적 접촉을 얻을 수 있다.
이와 같이, 제1 플런저(1)의 제1 탄성편(12)의 접점부(17)는, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)에 반드시 위치함과 함께, 접촉부(22)의 편면에 항상 압접된다. 이에 의해, 제1 플런저(1)와 제2 플런저(2)와의 사이에 높은 접촉 안정성을 얻을 수 있다. 또한, 제1 플런저(1)와 제2 플런저(2) 사이의 슬라이드 이동이, 가이드 홈(23)에 따라 행하여지고, 제1 플런저(1)와 제2 플런저(2)는, 반드시 접점부(17)에서 접촉한다. 이 때문에, 제1 플런저(1)와 제2 플런저(2)는 접촉부(22)를 통하여 도통함과 함께, 안정된 전기적 접촉을 얻을 수 있고, 그 결과, 종래에 비하여, 부품의 치수 공차를 엄격하게 관리할 필요가 없고 제조 비용을 저감할 수 있다.
또한, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)가 서로 조합된 때, 코일 스프링(3)의 제1 단부(3A)의 스프링이, 제1 플런저(1)의 지지 돌출부(15, 15)와 탈락 방지 볼록부(16, 16)와의 사이에 위치함과 함께, 코일 스프링(3)의 제2 단부(3B)의 스프링이, 제2 플런저(2)의 지지 돌출부(25, 25)와 탈락 방지 볼록부(26, 26)와의 사이에 위치하고 있다. 이 때문에, 코일 스프링(3)의 양단부는, 제1 플런저(1)의 지지 돌출부(15, 15) 및 탈락 방지 볼록부(16, 16)와, 제2 플런저(2)의 지지 돌출부(25, 25) 및 탈락 방지 볼록부(26, 26)로 각각 지지되기 때문에, 코일 스프링(3)의 덜커덕거림을 방지할 수 있음과 함께, 코일 스프링(3)의 탈락을 방지하여, 프로브 핀(10)의 분해를 막는다.
또한, 제1 플런저(1)의 탈락 방지 볼록부(16, 16) 및 제2 플런저(2)의 탈락 방지 볼록부(26, 26)는, 제1 플런저(1) 및 제2 플런저(2)가 서로 조합된 때에, 코일 스프링(3)이 배치될 수 있는 형상 및 크기라면 좋고 적절히 선택 가능하다.
또한, 제1 플런저(1)의 지지 돌출부(15, 15)와 탈락 방지 볼록부(16, 16) 사이의 거리(D2)는, 코일 스프링(3)의 제1 단부(3A)를 지지할 수 있는 크기라면 좋다. 제2 플런저(2)의 지지 돌출부(25, 25)와 탈락 방지 볼록부(26, 26) 사이의 거리(D4)도 마찬가지이다.
또한, 제1 실시 형태에서는, 제1, 제2 탄성편(12, 13)의 길이의 차(L2)를, 가이드 홈(23)의 길이(L1)와 개략 동일 치수를 갖도록 형성하였지만, 이것으로 한하지 않는다. 제1, 제2 탄성편(12, 13)의 길이의 차(L2)는, 가이드 홈(23)의 길이(L1) 이상이면 좋고 적절히 변경 가능하다.
또한, 제1 실시 형태에서는, 제1 플런저(1)의 본체부(11) 및 제1, 제2 탄성편(12, 13)의 두께를 동일하게 함과 함께, 제2 플런저(2)의 본체부(21) 및 접촉부(22)의 두께를 동일하게 하였지만, 이것으로 한하지 않는다. 제1 플런저(1)의 본체부(11) 및 제1, 제2 탄성편(12, 13)의 두께, 및, 제2 플런저(2)의 본체부(21) 및 접촉부(22)의 두께는 적절히 변경하여도 좋다.
(제2 실시 형태)
본 발명의 제2 실시 형태의 프로브 핀(30)은, 도 4 내지 도 6에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(31)와, 제2 플런저(32)와, 코일 스프링(3)을 구비하고 있다. 제1 플런저(31) 및 제2 플런저(32)는, 각각 도전성을 갖고 있고, 예를 들면 전주법으로 형성되어 있다. 또한, 제1 실시 형태와 동일 부분에 관해서는, 동일 참조 번호를 붙여서 설명을 생략하고, 제1 실시 형태와 다른 점에 관해 설명한다.
제2 실시 형태의 프로브 핀(30)에서는, 도 5에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(31)는, 제1 탄성편(42)과 제2 탄성편(43)을 구비하고 있다. 제1 탄성편(42)과 제2 탄성편(43)은, 본체부(11)의 긴 변 방향의 타단(11B)부터 평행하게 연재되어 있음과 함께, 제2 탄성편(43)의 길이가, 제1 탄성편(42)의 길이보다도 L3만큼 길게 되도록 형성되어 있다. 또한, 제2 플런저(32)는, 본체부(21)와 접촉부(52)를 구비하고, 상기 접촉부(52)의 본체부(21)측에 가이드 홈(23)이 형성되어 있다. 상기 가이드 홈(23)은, 본체부(21)의 긴 변 방향 측면의 일부와 접촉부(52)로 획정(劃定)되어 있다.
또한, 제2 실시 형태에서는, 도 5에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(31)의 본체부(11)의 긴 변 방향의 타단(11B)을 기준으로 하여, 제1 탄성편(42)의 접점부(47)까지의 거리와, 제2 탄성편(43)의 가이드 돌기(48)까지의 거리와의 차를 거리(L3)로 하고 있다.
제1 플런저(31)와 제2 플런저(32)를 조합시키면, 도 6에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(31)의 제2 탄성편(43)의 가이드 돌기(48)가, 제2 플런저(32)의 접촉부(52)의 가이드 홈(23)에 갑합된다. 이 때문에, 제1 플런저(31) 및 제2 플런저(32) 사이의 슬라이드 이동이, 가이드 홈(23) 내로 규제된다. 여기서, 제1 탄성편(42) 및 제2 탄성편(43)은, 그 길이의 차(L3)가, 가이드 홈(23)의 길이(L1)와 거의 동일 치수를 갖도록 형성되어 있다. 이 때문에, 제1 플런저(31)의 제1 탄성편(42)의 접점부(47)는, 제2 플런저(32)의 접촉부(52)에 반드시 위치한다. 또한, 제1 플런저(31)의 제1 탄성편(42)은, 제2 플런저(32)의 접촉부(52)의 편면에 항상 압접하고 있다. 이에 의해, 제1 플런저(31)와 제2 플런저(32)와의 사이에 높은 접촉 안정성을 얻을 수 있다.
또한, 제1 탄성편(42)의 접점부(47) 및 제2 탄성편(43)의 가이드 돌기(48)의 형상, 치수 등은, 설계에 응하여 적절히 선택 가능하다.
또한, 제2 실시 형태에서는, 제1, 제2 탄성편(42, 43)의 길이의 차(L3)를, 가이드 홈(23)의 길이(L1)와 거의 동일 치수를 갖도록 형성하였지만, 이것으로 한정되지 않는다. 제1, 제2 탄성편(42, 43)의 길이의 차(L3)는, 가이드 홈(23)의 길이(L1) 이상이면 좋고 적절히 변경 가능하다.
(제3 실시 형태)
본 발명의 제3 실시 형태의 프로브 핀(60)은, 도 7 내지 도 9에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(61)와, 제2 플런저(62)와, 코일 스프링(3)을 구비하고 있다. 제1 플런저(61) 및 제2 플런저(62)는, 각각 도전성을 갖고 있고, 예를 들면 전주법으로 형성되어 있다. 또한, 제1 실시 형태와 동일 부분에 관해서는, 동일 참조 번호를 붙여서 설명을 생략하고, 제1 실시 형태와 다른 점에 관해 설명한다.
제3 실시 형태의 프로브 핀(60)에서는, 도 8에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(61)가, 본체부(11)의 긴 변 방향의 중심축에 대해 좌우 대칭으로 배치된 제1 탄성편(12, 12)을 갖고 있다. 또한, 제2 플런저(62)는, 본체부(21)와 접촉부(82)를 구비하고, 접촉부(82)에 가이드 홈이 형성되어 있지 않다.
제1 플런저(61)와 제2 플런저(62)를 조합시키면, 도 9에 도시하는 바와 같이, 제2 플런저(62)가, 제1 플런저(61)의 제1 탄성편(12, 12)에 끼어지지된 상태가 된다. 여기서, 제1 탄성편(12, 12)은, 접점부(17, 17) 사이의 간격(D6)이 제2 플런저(62)의 두께(D3)보다도 작게 되도록 형성되어 있다. 즉, 제1 플런저(61) 및 제2 플런저(62)가 서로 조합된 상태에서는, 제1 탄성편(12, 12)의 접점부(17, 17)는, 제2 플런저(62)의 접촉부(82)에 의해 항상 밖을 향하여 가압된다. 이 때문에, 제1 탄성편(12, 12)은, 자기의 스프링력에 의해, 제2 플런저(62)의 접촉부(82)의 양면에 항상 압접하고 있다. 이에 의해, 제1 플런저(61)와 제2 플런저(62)가 확실하게 접촉하고 높은 접촉 안정성을 얻을 수 있다.
(제4 실시 형태)
본 발명의 제4 실시 형태의 프로브 핀(90)은, 도 10 내지 도 12에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(91)와, 제2 플런저(2)와, 코일 스프링(3)을 구비하고 있다. 제1 플런저(91)는, 각각 도전성을 갖고 있고, 예를 들면 전주법으로 형성되어 있다. 또한, 제1 실시 형태와 동일 부분에 관해서는, 동일 참조 번호를 붙여서 설명을 생략하고, 제1 실시 형태와 다른 점에 관해 설명한다.
제4 실시 형태의 프로브 핀(90)에서는, 도 11에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(91)는, 제1 탄성편(102)과 제2 탄성편(103)을 갖고 있다.
제1 탄성편(102)은, 도 11에 도시하는 바와 같이, 제1 실시 형태의 제1 탄성편(12)의 내향면(12B)의 거의 중앙에 가이드 돌기(108)를 돌설한 것이다. 그리고, 상기 가이드 돌기(108)는, 선단의 접점부(17)로부터 거리(L4)만큼 떨어진 위치에 돌설되어 있다. 또한, 제2 탄성편(103)은, 각봉(角捧) 형상으로, 제1 탄성편(12)과 같은 길이를 갖고 있다. 제1 탄성편(102)과 제2 탄성편(103)은, 짧은 변 방향으로 일정 간격(D1)을 가지며, 본체부(11)의 긴 변 방향의 타단(11B)부터 평행하게 연재되어 있다.
또한, 제4 실시 형태에서는, 도 11에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(91)의 본체부(11)의 타단(11B)을 기준으로 하여, 제1 탄성편(102)의 접점부(17)까지의 거리와, 제1 탄성편(102)의 가이드 돌기(108)까지의 거리와의 차를 거리(L4)로 하고 있다.
제1 플런저(91)와 제2 플런저(2)를 조합시키면, 도 12에 도시하는 바와 같이, 제1 플런저(91)의 제1 탄성편(102)의 가이드 돌기(108)가, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)의 가이드 홈(23)에 갑합되고, 제1 플런저(91) 및 제2 플런저(2)의 슬라이드 이동이, 가이드 홈(23) 내로 규제된다. 접점부(17) 및 가이드 돌기(108) 사이의 거리(L4)가, 가이드 홈(23)의 길이(L1)와 거의 동일 치수의 길이를 갖도록 형성되어 있기 때문에, 제1 플런저(91)의 제1 탄성편(102)의 접점부(17)는, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)에 반드시 위치한다.
이 때, 제2 플런저(2)는, 제1 플런저(91)의 제1 탄성편(12)과 제2 탄성편(103)에 끼어지지된 상태가 된다. 여기서, 제1 탄성편(12)의 접점부(17)와 제2 탄성편(103)의 내향면(103B) 사이의 간격(D5)이, 제2 플런저(2)의 두께(D3)보다도 작게 되도록 형성되어 있다. 즉, 제1 플런저(91) 및 제2 플런저(2)가 서로 조합된 상태에서는, 제1 탄성편(12)의 접점부(17)는, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)에 의해 항상 밖을 향하여 가압된다. 이 때문에, 제1 탄성편(12)은, 자기 스프링력에 의해, 제2 플런저(2)의 접촉부(22)의 편면에 항상 압접한다. 한편, 제2 탄성편(103)의 내향면(103B)은, 제2 플런저(2)와 항상 면접촉한다. 이에 의해, 제1 플런저(91)와 제2 플런저(2)가 확실하게 접촉하기 때문에, 높은 접촉 안정성을 얻을 수 있다.
또한, 상기 실시 형태에서는, 제1 탄성편(102)의 접점부(17) 및 가이드 돌기(108) 사이의 거리(L4)를, 가이드 홈(23)의 길이(L1)와 거의 동일 치수를 갖도록 형성하였지만, 이것으로 한정되지 않는다. 제1 탄성편(102)의 접점부(17)와 가이드 돌기(108) 사이의 거리(L4)는, 가이드 홈(23)의 길이(L1) 이상이면 좋고 적절히 변경 가능하다.
상기 제1∼제4 실시 형태에서는, 제1 플런저(1, 31, 61, 91) 및 제2 플런저(2, 32, 62)를 전주법으로 형성하였지만, 이것으로 한정되지 않는다. 상기 구성의 제1 플런저(1, 31, 61, 91) 및 제2 플런저(2, 32, 62)를 형성할 수 있는 방법이라면 임의로 선택할 수 있다.
또한, 상기 제1∼제4 실시 형태에서는, 제1 플런저(1, 31, 61, 91)의 제1 탄성편(12, 42, 102)과 제2 탄성편(13, 43, 103)을 평행하게 되도록 배치하고 있지만, 이것으로 한하는 것이 아니고, 동일 방향으로 연재되도록 배치하고 있으면 된다. 예를 들면, 제1 탄성편(12, 42, 102) 및 제2 탄성편(13, 43, 103)의 사이의 거리(D1)가, 선단을 향하고 점차로 작게 되도록, 제1 탄성편(12, 42, 102) 및 제2 탄성편(13, 43, 103)을 경사시켜도 좋다. 이에 의해, 제1 탄성편(12, 42, 102) 및 제2 탄성편(13, 43, 103)의 제2 플런저에 대한 압접을 높일 수 있다.
상기 제1∼제4 실시 형태의 프로브 핀(10, 30, 60, 90)의 각각의 구성 요소는 가능하면 서로 교체하여 또는 추가하여도 좋음은 물론이다.
상기 제1∼제4 실시 형태의 프로브 핀(10, 30, 60, 90)은, IC용 테스트 소켓 등의 전자 디바이스에 적용할 수 있다.
[산업상 이용 가능성]
본 발명에 관한 프로브 핀은, 제1∼제4 실시 형태로 한하지 않고, 제1 탄성편을 갖는 것이면 특히 한정하는 것이 아니다.
1, 31, 61, 91 : 제1 플런저 2, 32, 62 : 제2 플런저
3 : 코일 스프링 10, 30, 60, 90 : 프로브 핀
11, 21 : 본체부 12, 42, 102 : 제1 탄성편
13, 43, 103 : 제2 탄성편 14, 24 : 선단부
15, 25 : 지지 돌출부 16, 26 : 탈락 방지용 볼록부
17, 47, 107 : 접점부 18, 48, 108 : 가이드 돌기
22, 52, 82 : 접촉부 23 : 가이드 홈

Claims (6)

  1. 코일 스프링과,
    본체부 및 상기 본체부로부터 동일 방향으로 연재되는 제1 탄성편 및 제2 탄성편을 갖는 제1 플런저와,
    상기 제1 탄성편과 상기 제2 탄성편과의 사이에 압입되는 제2 플런저를 구비하고,
    상기 제1 플런저 및 상기 제2 플런저는 도전성을 가지며,
    상기 코일 스프링의 양단부로부터 상기 제1 플런저 및 상기 제2 플런저를 각각 삽입함과 함께, 상기 제1 플런저의 상기 제1 탄성편과 상기 제2 탄성편으로 상기 제2 플런저를 끼어지지하고, 상기 제1 탄성편을 상기 제2 플런저의 편면에 압접시켜 이 압접 개소를 통하여 상기 제1 플런저와 상기 제2 플런저를 도통시키는 것을 특징으로 하는 프로브 핀.
  2. 제 1항에 있어서,
    적어도 상기 제1 탄성편에, 상기 제2 플런저의 편면에 압접하는 접점부가 돌설되고, 상기 접점부를 통하여 상기 제1 플런저와 상기 제2 플런저를 도통시키는 것을 특징으로 하는 프로브 핀.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 제1 플런저의 제1 탄성편과 제2 탄성편이, 다른 길이를 갖고 있는 것을 특징으로 하는 프로브 핀.
  4. 제 1항 내지 제3항 중 어느 한 향에 있어서,
    상기 제1 플런저의 제1 탄성편 및 제2 탄성편의 적어도 어느 일방이, 가이드 돌기를 가짐과 함께, 상기 제2 플런저가, 상기 가이드 돌기가 감합되는 가이드 홈을 가지며,
    상기 제1 플런저 및 상기 제2 플런저의 슬라이드 이동이, 상기 가이드 홈에 따라 행하여지는 것을 특징으로 하는 프로브 핀.
  5. 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 향에 있어서,
    상기 제1 플런저가, 상기 제1 탄성편 및 상기 제2 탄성편의 기부에 돌설한 제1 지지 돌출부와, 이 제1 지지 돌출부로부터 일정 거리 떨어진 위치에 돌설한 제1 탈락 방지용 볼록부를 가짐과 함께, 상기 제2 플런저의 짧은 변 방향의 양측면에 돌설한 제2 지지 돌출부와, 이 제2 지지 돌출부로부터 일정 거리 떨어진 위치에 돌설한 제2 탈락 방지용 볼록부를 가지며,
    상기 코일 스프링의 일단이, 상기 제1 지지 돌출부와 상기 제1 탈락 방지용 볼록부와의 사이에 배치되고, 상기 코일 스프링의 타단이, 상기 제2 지지 돌출부와 상기 제2 탈락 방지용 볼록부와의 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 프로브 핀.
  6. 제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 향에 기재된 프로브 핀을 이용한 것을 특징으로 하는 전자 디바이스.
KR1020157030889A 2013-08-21 2014-07-18 프로브 핀 및 이것을 이용한 전자 디바이스 KR101779686B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013171082A JP5985447B2 (ja) 2013-08-21 2013-08-21 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JPJP-P-2013-171082 2013-08-21
PCT/JP2014/069237 WO2015025662A1 (ja) 2013-08-21 2014-07-18 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150138289A true KR20150138289A (ko) 2015-12-09
KR101779686B1 KR101779686B1 (ko) 2017-09-18

Family

ID=52483444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020157030889A KR101779686B1 (ko) 2013-08-21 2014-07-18 프로브 핀 및 이것을 이용한 전자 디바이스

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9595773B2 (ko)
EP (1) EP3037827B1 (ko)
JP (1) JP5985447B2 (ko)
KR (1) KR101779686B1 (ko)
CN (1) CN105190321B (ko)
SG (1) SG11201508921RA (ko)
TW (1) TWI569525B (ko)
WO (1) WO2015025662A1 (ko)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180030439A (ko) * 2016-09-15 2018-03-23 가부시키가이샤 에스디케이 콘택트 장치, 측정용 소켓 및 선단부 어댑터
WO2018143577A1 (en) * 2017-02-02 2018-08-09 Leeno Industrial Inc. Test probe and test socket using the same
KR20180119675A (ko) * 2016-04-15 2018-11-02 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀 및 이것을 사용한 전자 디바이스
KR20190013287A (ko) * 2017-08-01 2019-02-11 주식회사 오킨스전자 라운드 타입으로 접촉 수율이 개선되는 ｐｉｏｎ 핀
KR20190013288A (ko) * 2017-08-01 2019-02-11 주식회사 오킨스전자 사다리꼴 형태로 접촉 수율이 개선되는 ｐｉｏｎ 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓
KR102003244B1 (ko) * 2018-02-14 2019-07-24 주식회사 오킨스전자 스프링 가조립용 파단 돌기를 이용한 반도체 테스트 소켓용 핀의 조립 방법
KR102013138B1 (ko) * 2018-02-14 2019-08-22 주식회사 오킨스전자 탄성편을 포함하는 반도체 테스트 소켓용 핀
KR102013137B1 (ko) * 2018-02-14 2019-08-22 주식회사 오킨스전자 탄성편을 통하여 보조 핀의 콘택 특성이 개선되는 반도체 테스트 소켓용 핀
KR102202827B1 (ko) * 2020-10-27 2021-01-14 (주) 네스텍코리아 프로브 핀 및 이를 적용한 동축 프로브 조립체

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6269337B2 (ja) * 2014-06-16 2018-01-31 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP6337633B2 (ja) * 2014-06-16 2018-06-06 オムロン株式会社 プローブピン
JP6531438B2 (ja) * 2015-03-13 2019-06-19 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを備えたプローブユニット
JP6515877B2 (ja) * 2016-06-17 2019-05-22 オムロン株式会社 プローブピン
JP2018036129A (ja) * 2016-08-31 2018-03-08 オムロン株式会社 プローブピン
JP6642359B2 (ja) * 2016-09-21 2020-02-05 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査ユニット
KR101932509B1 (ko) * 2016-12-12 2018-12-26 주식회사 오킨스전자 다 접점 에지 접촉으로 접촉 특성이 개선되는 fosp 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓
JP6892277B2 (ja) * 2017-02-10 2021-06-23 株式会社日本マイクロニクス プローブ及び電気的接続装置
JP2018151316A (ja) * 2017-03-14 2018-09-27 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査ユニット
TWI690709B (zh) * 2018-08-15 2020-04-11 萬潤科技股份有限公司 探針模組、探針裝置及使用該探針裝置之電子元件檢測方法及設備
JP7274853B2 (ja) * 2018-12-03 2023-05-17 株式会社エンプラス コンタクトピンおよびソケット
KR102126753B1 (ko) * 2018-12-19 2020-06-25 주식회사 오킨스전자 단일 코일 스프링에 의하여 3개의 플런저가 독립적으로 슬라이드 동작하는 테스트 소켓에 있어서, 레일을 통하여 상기 슬라이드 동작이 제어되는 데스트 핀
KR102126752B1 (ko) * 2018-12-19 2020-06-25 주식회사 오킨스전자 이중 코일 스프링에 의하여 3개의 플런저가 독립적으로 슬라이드 동작하는 테스트 소켓에 있어서, 레일을 통하여 콘택 특성이 개선되는 데스트 핀
TWI705248B (zh) * 2019-02-15 2020-09-21 萬潤科技股份有限公司 探針驅動方法及裝置
CN110557877B (zh) * 2019-09-11 2021-03-12 北京航空航天大学 朗缪尔探针、朗缪尔探针检测系统及检测方法
CN111579834B (zh) * 2020-05-18 2023-03-31 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
US11387587B1 (en) * 2021-03-13 2022-07-12 Plastronics Socket Partners, Ltd. Self-retained slider contact pin

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6685492B2 (en) * 2001-12-27 2004-02-03 Rika Electronics International, Inc. Sockets for testing electronic packages having contact probes with contact tips easily maintainable in optimum operational condition
KR100584225B1 (ko) 2004-10-06 2006-05-29 황동원 전자장치용 콘택트
US7008270B1 (en) * 2004-11-30 2006-03-07 Delphi Technologies, Inc. Cable connector
EP1889080A2 (en) * 2005-06-10 2008-02-20 Delaware Capital Formation, Inc. Electrical contact probe with compliant internal interconnect
US7154286B1 (en) * 2005-06-30 2006-12-26 Interconnect Devices, Inc. Dual tapered spring probe
JP4857046B2 (ja) * 2006-08-02 2012-01-18 株式会社エンプラス 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP4943775B2 (ja) * 2006-08-25 2012-05-30 株式会社エンプラス 接触子配設ユニット及び電気部品用ソケット
CN201029131Y (zh) * 2007-03-02 2008-02-27 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器端子
US7862391B2 (en) * 2007-09-18 2011-01-04 Delaware Capital Formation, Inc. Spring contact assembly
TWM350121U (en) * 2008-06-30 2009-02-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact
JP5166176B2 (ja) * 2008-09-04 2013-03-21 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 電子デバイス用ソケット
TWM366772U (en) * 2009-04-03 2009-10-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact
TWM376001U (en) * 2009-08-05 2010-03-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
US8808037B2 (en) * 2009-10-12 2014-08-19 Iwin Co., Ltd. Slidable pogo pin
TWM390564U (en) * 2010-03-18 2010-10-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact
JP4998838B2 (ja) * 2010-04-09 2012-08-15 山一電機株式会社 プローブピン及びそれを備えるｉｃソケット
KR101154519B1 (ko) * 2010-05-27 2012-06-13 하이콘 주식회사 스프링 콘택트 구조
JP5960383B2 (ja) * 2010-06-01 2016-08-02 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 接触子ホルダ
TWM398701U (en) * 2010-07-16 2011-02-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180119675A (ko) * 2016-04-15 2018-11-02 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀 및 이것을 사용한 전자 디바이스
US11187722B2 (en) 2016-04-15 2021-11-30 Omron Corporation Probe pin and electronic device using the same
KR20180030439A (ko) * 2016-09-15 2018-03-23 가부시키가이샤 에스디케이 콘택트 장치, 측정용 소켓 및 선단부 어댑터
WO2018143577A1 (en) * 2017-02-02 2018-08-09 Leeno Industrial Inc. Test probe and test socket using the same
KR20190013287A (ko) * 2017-08-01 2019-02-11 주식회사 오킨스전자 라운드 타입으로 접촉 수율이 개선되는 ｐｉｏｎ 핀
KR20190013288A (ko) * 2017-08-01 2019-02-11 주식회사 오킨스전자 사다리꼴 형태로 접촉 수율이 개선되는 ｐｉｏｎ 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓
KR102003244B1 (ko) * 2018-02-14 2019-07-24 주식회사 오킨스전자 스프링 가조립용 파단 돌기를 이용한 반도체 테스트 소켓용 핀의 조립 방법
KR102013138B1 (ko) * 2018-02-14 2019-08-22 주식회사 오킨스전자 탄성편을 포함하는 반도체 테스트 소켓용 핀
KR102013137B1 (ko) * 2018-02-14 2019-08-22 주식회사 오킨스전자 탄성편을 통하여 보조 핀의 콘택 특성이 개선되는 반도체 테스트 소켓용 핀
KR102202827B1 (ko) * 2020-10-27 2021-01-14 (주) 네스텍코리아 프로브 핀 및 이를 적용한 동축 프로브 조립체

Also Published As

Publication number Publication date
WO2015025662A1 (ja) 2015-02-26
EP3037827B1 (en) 2020-02-05
TW201509013A (zh) 2015-03-01
JP5985447B2 (ja) 2016-09-06
TWI569525B (zh) 2017-02-01
US9595773B2 (en) 2017-03-14
JP2015040734A (ja) 2015-03-02
EP3037827A1 (en) 2016-06-29
CN105190321B (zh) 2018-02-13
CN105190321A (zh) 2015-12-23
EP3037827A4 (en) 2017-03-22
US20160072202A1 (en) 2016-03-10
SG11201508921RA (en) 2015-11-27
KR101779686B1 (ko) 2017-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101779686B1 (ko) 프로브 핀 및 이것을 이용한 전자 디바이스
KR101910997B1 (ko) 프로브 핀
JP6269337B2 (ja) プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
US9331409B2 (en) Electrical connection device
WO2017217042A1 (ja) プローブピン
CN109904648B (zh) 连接器以及连接器组件
KR20180119675A (ko) 프로브 핀 및 이것을 사용한 전자 디바이스
JP2016146255A (ja) ソケット型コネクタ及びコネクタユニット
KR102499677B1 (ko) 프로브 유닛
KR20160117565A (ko) 프로브 핀 및 이것을 사용한 전자 디바이스
KR20180021895A (ko) 플러그 커넥터
CN105988027B (zh) 线型探针用治具
JP6641818B2 (ja) プローブピン、および、これを備えた検査治具
JP2018072157A (ja) 電気接触子、および、それを備える電気接続装置
JP6515516B2 (ja) プローブピン、および、これを備えた電子デバイス
EP1326307A2 (en) An electrical contact element for plug-in connectors
JP2016076479A (ja) プラグコネクタ、プラグコネクタユニット、および、コネクタ装置
JPWO2013168335A1 (ja) 端子装置
US9594931B2 (en) Card connector
JP2013089309A (ja) コネクタ雄端子
TWI608660B (zh) 卡緣連接器組合
KR20200112889A (ko) 검사 유닛 및 검사 장치
WO2019018239A1 (en) SELF-CLEANING ELECTRICAL CONTACT CONTACT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CONTACTS
JP2015045582A (ja) 電気検査治具

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant