TW201509013A - 探針銷及使用此探針銷之電子裝置 - Google Patents

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Yoshinobu Hemmi
Takahiro Sakai
Hirotada Teranishi
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Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

本發明的目的在於提供接觸穩定性高、製造成本低的探針銷。 本發明的探針銷係具備：螺旋彈簧3；第1柱塞1，係具有主體部11及從主體部11朝相同方向延伸的第1彈性片12與第2彈性片13；及第2柱塞2，係壓入至第1彈性片12與第2彈性片13之間。第1柱塞1及第2柱塞2係擁有導電性。分別將第1柱塞1及第2柱塞2從螺旋彈簧3的兩端部3A、3B插入。以第1柱塞1的第1彈性片12與第2彈性片13挾持第2柱塞2，使第1彈性片12壓接在第2柱塞2的一面，經由該壓接部位使第1柱塞1與第2柱塞2導通。

Description

探針銷及使用此探針銷之電子裝置
本發明係有關探針銷(probe pin)，例如組裝至IC用測試插座(test socket)的探針銷。
就探針銷而言，習知技術中例如有下述之專利文獻1的第6圖所記載的探針銷。該探針銷係具備螺旋彈簧(coil spring)及相同形狀的上側接觸銷(contact pin)、下側接觸銷。此外，上側接觸銷和下側接觸銷係在螺旋彈簧的內部以相互正交之方式結合，上側接觸銷的一對鉤(hook)收容至下側接觸銷的溝，而下側接觸銷的一對鉤收容至上側接觸銷的溝。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本國特開2008-516398號公報
然而，雖然前述的探針銷係設計成其中一方接觸銷的一對鉤與另一方接觸銷的主體部的溝以至少一個地方接觸來進行電性接觸，但接觸銷間的接觸狀態容易出現差異，有無法獲得穩定的電性接觸之問題。
此外，前述的探針銷並無法正確地判定上側 接觸銷及下側接觸銷的接觸位置。因此，為了獲得跟設計一致的電性接觸，就必須嚴格地管理零件的尺寸公差，而有製造成本變高的問題。
有鑒於前述問題，本發明係以提供接觸穩定性高、製造成本低的探針銷為課題。
本發明的探針銷係具備：螺旋彈簧；第1柱塞(plunger)，係具有主體部及從前述主體部朝相同方向延伸的第1彈性片與第2彈性片；及第2柱塞，係壓入至前述第1彈性片與前述第2彈性片之間；前述第1柱塞及前述第2柱塞係擁有導電性；將前述第1柱塞及前述第2柱塞分別從前述螺旋彈簧的兩端部插入，並且以前述第1柱塞的前述第1彈性片與前述第2彈性片挾持前述第2柱塞，使前述第1彈性片壓接在前述第2柱塞的一面，而使前述第1柱塞與前述第2柱塞經由該壓接部位而導通。
依據本發明，係以第1柱塞的第1彈性片與第2彈性片挾持第2柱塞，並且第1彈性片壓接在第2柱塞的一面。因此，接觸狀態沒有差異，能夠在第1柱塞與第2柱塞之間獲得高接觸穩定性及穩定的電性接觸。
就本發明的實施形態而言，亦可構成為至少在前述第1彈性片突設壓接前述第2柱塞的一面的接點部，使前述第1柱塞與前述第2柱塞經由前述接點部而導通。
依據本實施形態，第1柱塞的接點部面接觸於 第2柱塞，因此第1柱塞與第2柱塞能夠經由接點部獲得穩定的電性接觸。因此，不需要嚴格管理零件的尺寸公差，能夠降低製造成本。
就本發明的實施形態而言，亦可構成為前述第1柱塞的第1彈性片與第2彈性片具有相異長度。
依據本實施形態，設計自由度變大，能夠對應各式各樣的用途。
就本發明的實施形態而言，亦可構成為前述第1柱塞的第1彈性片及第2彈性片之中至少有一者具有導引(guide)突起，並且前述第2柱塞具有供前述導引突起嵌合的導引溝；前述第1柱塞及前述第2柱塞的滑動(slide)移動係沿著前述導引溝進行。
依據本實施形態，藉由導引突起及導引溝，第1柱塞及第2柱塞係無鬆動地滑動移動，能夠正確地檢測第1柱塞與第2柱塞的接觸位置。
就本發明的實施形態而言，亦可構成為前述第1柱塞係具有突設在前述第1彈性片及前述第2彈性片的基部之第1支撐突出部、及突設在距該第1支撐突出部一定距離的位置之第1防脫落用凸部，並且，具有突設在前述第2柱塞的短邊方向的兩側面之第2支撐突出部、及突設在距該第2支撐突出部一定距離的位置之第2防脫落用凸部；前述螺旋彈簧的一端配置在前述第1支撐突出部與前述第1防脫落用凸部之間，前述螺旋彈簧的另一端配置在前述第2支撐突出部與前述第2防脫落用凸部之間。
依據本實施形態，係將螺旋彈簧的兩端部配置在第1、第2支撐突出部與第1、第2防脫落用凸部之間，因此能夠防止螺旋彈簧的鬆動，並且防止螺旋彈簧的脫落。
此外，本發明的電子裝置(device)係具備前述探針銷。
依據本發明，能夠獲得接觸穩定性高、製造成本低的電子裝置。
1、31、61、91‧‧‧第1柱塞
2、32、62‧‧‧第2柱塞
3‧‧‧螺旋彈簧
10、30、60、90‧‧‧探針銷
11、21‧‧‧主體部
12、42、102‧‧‧第1彈性片
13、43、103‧‧‧第2彈性片
14、24‧‧‧前端部
15、25‧‧‧支撐突出部
16、26‧‧‧防脫落用凸部/防脫落凸部
17、47、107‧‧‧接點部
18、48、108‧‧‧導引突起
22、52、82‧‧‧接觸部
23‧‧‧導引溝
第1圖(A)係本發明第1實施形態的探針銷的整體立體圖，第1圖(B)係第1圖(A)的分解立體圖。
第2圖(A)係第1圖的探針銷的第1柱塞的平面圖，第2圖(B)係第1圖的探針銷的第2柱塞的平面圖。
第3圖(A)係第1圖的探針銷的正面圖，第3圖(B)係第3圖(A)中的III-III線剖面的剖視圖。
第4圖(A)係本發明第2實施形態的探針銷的整體立體圖，第4圖(B)係第4圖(A)的分解立體圖。
第5圖(A)係第4圖的探針銷的第1柱塞的平面圖，第5圖(B)係第4圖的探針銷的第2柱塞的平面圖。
第6圖(A)係第4圖的探針銷的正面圖，第6圖(B)係第6圖(A)中的VI-VI線剖面的剖視圖。
第7圖(A)係本發明第3實施形態的探針銷的整體立體圖，第7圖(B)係第7圖(A)的分解立體圖。
第8圖(A)係第7圖的探針銷的第1柱塞的平面圖，第8 圖(B)係第7圖的探針銷的第2柱塞的平面圖。
第9圖(A)係第7圖的探針銷的正面圖，第9圖(B)係第9圖(A)中的IX-IX線剖面的剖視圖。
第10圖(A)係本發明第4實施形態的探針銷的整體立體圖，第10圖(B)係第10圖(A)的分解立體圖。
第11圖(A)係第10圖的探針銷的第1柱塞的平面圖，第11圖(B)係第10圖的探針銷的第2柱塞的平面圖。
第12圖(A)係第10圖的探針銷的正面圖，第12圖(B)係第12圖(A)中的XII-XII線剖面的剖視圖。
[實施發明之形態]
以下，根據圖式的實施形態，詳細說明本發明的探針銷。另外，各實施形態的螺旋彈簧係為了說明上的方便而以透明的形態圖示。
(第1實施形態)
本發明第1實施形態的探針銷10係如第1圖所示，具備第1柱塞1、第2柱塞2及螺旋彈簧3。第1柱塞1及第2柱塞2皆擁有導電性，以例如電鑄法形成。
如第2圖所示，第1柱塞1係具備主體部11、第1彈性片12及第2彈性片13，三者具有相同的厚度。
主體部11係具有大致矩形形狀。在主體部11的長邊方向的一端11A，係設有平面為三角形形狀的前端部14。此外，第1彈性片12與第2彈性片13係從上述長邊方向的另一端11B平行地延伸，並且，在前述第1、第2彈性片12、13的基部，突設有平面為矩形形狀的支撐突 出部15、15。
第1彈性片12及第2彈性片13係具有矩形形狀 的剖面。此外，第1彈性片12及第2彈性片13的長度相異，兩者以第1彈性片12比第2彈性片13還多長達L2之方式形成。
另外，如第2圖所示，在第1實施形態中，係 以主體部11的長邊方向的另一端11B為基準，將到第1彈性片12的後述接點部17為止的長度與到第2彈性片13的後述導引突起18為止的長度之差設定為L2。
此外，第1彈性片12及第2彈性片13係沿主體 部11的短邊方向具有一定的間隔D1。此外，第1彈性片12及第2彈性片13係以第1彈性片12的外向面12A與第2彈性片13的外向面13A之距離大致等於主體部11的寬度W1之方式配置。
在第1彈性片12的外向面12A及第2彈性片13 的外向面13A係突設有防脫落凸部16、16。防脫落凸部16、16係以中心位於距支撐突出部15、15達距離D2的位置之方式形成。此外，在第1彈性片12的內向面12B的前端部係突設有接點部17，在第2彈性片13的內向面13B的前端部係突設有導引突起18。
第1彈性片12的接點部17係能夠依設計適當選擇形狀或大小等。藉由變更接點部17的形狀等，便能夠調整第1彈性片12對第2柱塞2的偏置力。
此外，第2彈性片13的導引突起18係只要是能夠嵌合至後述的導引溝23，且在與導引溝23嵌合時能夠 將第1柱塞1及第2柱塞2間的滑動移動(相對往復移動)限制在導引溝23內即可，形狀、大小等係能夠適當選擇。
如第1圖及第2圖所示，第2柱塞2係具備主體 部21及具有導引溝23的接觸部22，兩者具有相同的厚度D3。
主體部21係具有大致矩形形狀的平面，在其 長邊方向的一端21A係設有平面為V字形狀的前端部24。此外，在主體部21的長邊方向的另一端21B係形成有具有大致矩形形狀之平面的接觸部22。接觸部22的自由端(第2圖的左側)係具有大致三角形形狀的平面，在自由端側形成有平面為矩形形狀的導引溝23。此外，在主體部21的長邊方向的另一端21B的短邊方向的兩側面，係分別突設有平面為矩形形狀的支撐突出部25、25。此外，在接觸部22的短邊方向的兩側面係分別突設有防脫落凸部26、26。防脫落凸部26、26係以中心位於距支撐突出部25、25靠接觸部22的前端側達距離D4的位置之方式形成。
另外，第1柱塞1及第2柱塞2亦能夠依設計進 行鍍敷、塗布(coating)等表面處理。
螺旋彈簧3係以例如碳鋼或不鏽鋼製成，如第 3圖所示，係具有比第1柱塞1的寬度W1及第2柱塞2的寬度W2還大一些的內徑。此外，前述螺旋彈簧3的外徑係大致相同於第1柱塞1的主體部11與支撐突出部15、15加總之寬度W3及第2柱塞2的主體部21與支撐突出部25、25加總之寬度W4。此外，螺旋彈簧3的彈簧長度係事先調 整成在第1柱塞1及第2柱塞2相結合的狀態下會施加壓縮方向的力。
另外，第1柱塞1的寬度W1及第2柱塞2的寬度W2為相同尺寸。
此外，支撐突出部15、15及25、25皆為相同的形狀，且具有相同的寬度尺寸。亦即，第1柱塞1的主體部11與支撐突出部15、15加總之寬度W3和第2柱塞2的主體部21與支撐突出部25、25加總之寬度W4為相同尺寸。
第1柱塞1及第2柱塞2係以能夠進行滑動之方式結合如下。
令第1柱塞1的第1彈性片12及第2彈性片13，與第2柱塞2的接觸部22的前端相對向。接著，將第1柱塞1及第2柱塞2分別從螺旋彈簧3的兩端部插入內部，並且將第2柱塞壓入至第1柱塞1的第1彈性片12與第2彈性片13之間，以第1彈性片12與第2彈性片13挾持第2柱塞2。
此時，如第3圖所示，第1柱塞1係從螺旋彈簧3的第1端部3A側插入，第1柱塞1的第2彈性片13的導引突起18係嵌合至第2柱塞2的導引溝23。藉此，第1柱塞1及第2柱塞2間的滑動移動便沿著導引溝23進行。此外，第1柱塞1及第2柱塞2間的滑動移動被導引突起18限制在導引溝23內，故第1柱塞1及第2柱塞2的移動量的最大值便等於導引溝23的長度L1。
另一方面，第2柱塞2係從螺旋彈簧3的第2端部3B側插入。此處，如第2圖所示，第1柱塞1的第1、第2 彈性片12、13係以第1、第2彈性片12、13的長度之差L2具有與導引溝23的長度L1大致相同尺寸之方式形成。因此，不論第1柱塞1及第2柱塞2的移動量為何，第1柱塞1的第1彈性片12的接點部17都始終接觸第2柱塞2的接觸部22。
此外，第1柱塞1的第1、第2彈性片12、13係 以第1彈性片12的接點部17與第2彈性片13的內向面13B之間的間隔D5比第2柱塞2的厚度D3還小之方式形成。亦即，在第1柱塞1及第2柱塞2相結合的狀態下，第1彈性片12的接點部17係始終被第2柱塞2的接觸部22往外(第2圖的上側)推壓。因此，第1彈性片12係藉由自身的彈力而始終壓接在第2柱塞2的接觸部22的一面。因此，第1柱塞1與第2柱塞2係經由成為壓接部位的接觸部22而導通，並且能夠獲得穩定的電性接觸。
如上述，第1柱塞1的第1彈性片12的接點部17 係一定位在第2柱塞2的接觸部22，並且始終壓接在接觸部22的一面。藉此，能夠在第1柱塞1與第2柱塞2之間獲得高接觸穩定性。此外，第1柱塞1與第2柱塞2之間的滑動移動係沿著導引溝23進行，第1柱塞1與第2柱塞2係一定以接點部17接觸。因此，第1柱塞1與第2柱塞2係經由接觸部22而導通，並且能夠獲得穩定的電性接觸，如此，相較於習知技術，不需要嚴格管理零件的尺寸公差，能夠降低製造成本。
此外，當第1柱塞1及第2柱塞2相結合時，螺 旋彈簧3的第1端部3A的彈簧係位於第1柱塞1的支撐突出 部15、15與防脫落凸部16、16之間，並且螺旋彈簧3的第2端部3B的彈簧係位於第2柱塞2的支撐突出部25、25與防脫落凸部26、26之間。因此，螺旋彈簧3的兩端部係各自由第1柱塞1的支撐突出部15、15、防脫落凸部16、16和第2柱塞2的支撐突出部25、25、防脫落凸部26、26所保持，故能夠防止螺旋彈簧3的鬆動，並且防止螺旋彈簧3的脫落，從而防止探針銷10的解體。
另外，第1柱塞1的防脫落凸部16、16及第2 柱塞2的防脫落凸部26、26的形狀及大小係只要為在第1柱塞1及第2柱塞2相結合時能夠配置螺旋彈簧3即可，能夠適當選擇。
此外，第1柱塞1的支撐突出部15、15與防脫 落凸部16、16之間的距離D2的大小係只要為能夠保持螺旋彈簧3的第1端部3A即可。第2柱塞2的支撐突出部25、25與防脫落凸部26、26之間的距離D4亦同。
此外，雖然在第1實施形態中係將第1、第2 彈性片12、13的長度之差L2設定為具有與導引溝23的長度L1大致相同尺寸，但並不以此為限。第1、第2彈性片12、13的長度之差L2係只要為導引溝23的長度L1以上即可，能夠適當變更。
此外，在第1實施形態中，雖然係將第1柱塞1 的主體部11及第1、第2彈性片12、13的厚度設定為相同，並且將第2柱塞2的主體部21及接觸部22的厚度設定為相同，但並不以此為限。第1柱塞1的主體部11及第1、第2彈性片12、13的厚度以及第2柱塞2的主體部21及接觸部 22的厚度亦可適當變更。
(第2實施形態)
本發明第2實施形態的探針銷30係如第4圖至第6圖所示，具備第1柱塞31、第2柱塞32及螺旋彈簧3。第1柱塞31及第2柱塞32皆擁有導電性，以例如電鑄法形成。另外，與第1實施形態相同的部分係賦予相同的元件符號並省略其說明，以下針對與第1實施形態之間的不同點進行說明。
如第5圖所示，在第2實施形態的探針銷30中 ，第1柱塞31係具備第1彈性片42與第2彈性片43。第1彈性片42與第2彈性片43係從主體部11的長邊方向的另一端11B平行地延伸，並且以第2彈性片43的長度比第1彈性片42的長度還多長達L3之方式形成。此外，第2柱塞32係具備主體部21與接觸部52，在前述接觸部52的主體部21側形成有導引溝23。前述導引溝23係由主體部21的長邊方向側面的一部分及接觸部52所區劃出。
另外，如第5圖所示，在第2實施形態中，係 以第1柱塞31的主體部11的長邊方向的另一端11B為基準，將到第1彈性片42的接點部47為止的距離與到第2彈性片43的導引突起48為止的距離之差設定為距離L3。
如第6圖所示，當將第1柱塞31與第2柱塞32 結合，第1柱塞31的第2彈性片43的導引突起48便嵌合至第2柱塞32的接觸部52的導引溝23。因此，第1柱塞31及第2柱塞32間的滑動移動係被限制在導引溝23內。此處，第1彈性片42及第2彈性片43係以兩者的長度之差L3具有 與導引溝23的長度L1大致相同尺寸之方式形成。因此，第1柱塞31的第1彈性片42的接點部47係一定位在第2柱塞32的接觸部52。此外，第1柱塞31的第1彈性片42係始終壓接在第2柱塞32的接觸部52的一面。藉此，便能夠在第1柱塞31與第2柱塞32之間獲得高接觸穩定性。
另外，第1彈性片42的接點部47及第2彈性片 43的導引突起48的形狀、尺寸等係能夠依設計適當選擇。
此外，雖然在第2實施形態中係將第1、第2 彈性42、43的長度之差L3設定為具有與導引溝23的長度L1大致相同尺寸，但並不以此為限。第1、第2彈性片42、43的長度之差L3係只要為導引溝23的長度L1以上即可，能夠適當變更。
(第3實施形態)
本發明第3實施形態的探針銷60係如第7圖至第9圖所示，具備第1柱塞61、第2柱塞62及螺旋彈簧3。第1柱塞61及第2柱塞62皆擁有導電性，以例如電鑄法形成。另外，與第1實施形態相同的部分係賦予相同的元件符號並省略其說明，以下針對與第1實施形態之間的不同點進行說明。
如第8圖所示，在第3實施形態的探針銷60中 ，第1柱塞61係具有相對於主體部11的長邊方向的中心軸左右對稱地配置的第1彈性片12、12。此外，第2柱塞62係具備主體部21與接觸部72，但在接觸部82並未形成有導引溝。
如第9圖所示，當將第1柱塞61與第2柱塞62 結合，便形成第2柱塞62被第1柱塞61的第1彈性片12、12挾持的狀態。此處，第1彈性片12、12係以接點部17、17間的間隔D6比第2柱塞62的厚度D3還小之方式形成。亦即，在第1柱塞61及第2柱塞62相結合的狀態下，第1彈性片12、12的接點部17、17係始終被第2柱塞62的接觸部82往外推壓。因此，第1彈性片12、12係藉由自身的彈力而始終壓接在第2柱塞62的接觸部82的兩面。藉此，第1柱塞61與第2柱塞62係確實地接觸，能夠獲得高接觸穩定性。
(第4實施形態)
本發明第4實施形態的探針銷90係如第10圖至第12圖所示，具備第1柱塞91、第2柱塞2及螺旋彈簧3。第1柱塞91皆擁有導電性，以例如電鑄法形成。另外，與第1實施形態相同的部分係賦予相同的元件符號並省略其說明，以下針對與第1實施形態之間的不同點進行說明。
如第11圖所示，在第4實施形態的探針銷90中，第1柱塞91係具有第1彈性片102與第2彈性片103。
如第11圖所示，第1彈性片102乃係在第1實施形態的第1彈性片12的內向面12B的略中央處突設導引突起108而成。此外，前述導引突起108係突設在距前端的接點部17達距離L4之位置。此外，第2彈性片103為角棒形狀，且具有與第1彈性片12相同的長度。第1彈性片102與第2彈性片103係沿短邊方向具有一定間隔D1，且從主體部11的長邊方向的另一端11B平行地延伸。
另外，如第11圖所示，在第4實施形態中，係 以第1柱塞91的主體部11的另一端11B為基準，將到第1彈性片102的接點部17為止的距離與到第1彈性片102的導引突起108為止的距離之差設定為距離L4。
如第12圖所示，當將第1柱塞91與第2柱塞2 結合，第1柱塞91的第1彈性片102的導引突起108便嵌合至第2柱塞2的接觸部22的導引溝23，第1柱塞91及第2柱塞2的滑動移動係被限定在導引溝23內。接點部17及導引突起108間之距離L4係以具有與導引溝23的長度L1大致相同尺寸的長度之方式形成，因此第1柱塞91的第1彈性片102的接點部17係一定位在第2柱塞2的接觸部22。
此時，第2柱塞2係成為被第1柱塞91的第1彈 性片12與第2彈性片103挾持的狀態。此處，係以第1彈性片12的接點部17與第2彈性片103的內向面103B之間的間隔D5比第2柱塞2的厚度D3還小之方式形成。亦即，在第1柱塞91及第2柱塞2相結合的狀態下，第1彈性片12的接點部17係始終被第2柱塞2的接觸部22往外推壓。因此，第1彈性片12係藉由自身彈力而始終壓接在第2柱塞2的接觸部22的一面。另一方面，第2彈性片103的內向面103B係始終與第2柱塞2面接觸。藉此，第1柱塞91與第2柱塞2係確實地接觸，故能夠獲得高接觸穩定性。
此外，雖然在前述實施形態中係將第1彈性片 102的接點部17及導引突起108間之距離L4設定為具有與導引溝23的長度L1大致相同尺寸，但並不以此為限。第1彈性片102的接點部17與導引突起108之間的距離L4係只 要為導引溝23的長度L1以上即可，能夠適當變更。
雖然在前述第1至第4實施形態中係以電鑄法 形成第1柱塞1、31、61、91及第2柱塞2、32、62，但並不以此為限。只要為能夠形成具有前述構成的第1柱塞1、31、61、91及第2柱塞2、32、62之方法，便能夠自由選擇。
此外，雖然在前述第1至第4實施形態中係將 第1柱塞1、31、61、91的第1彈性片12、42、102與第2彈性片13、43、103配置為平行，但並不以此為限，只要是配置成朝相同方向延伸即可。例如，亦可令第1彈性片12、42、102及第2彈性片13、43、103傾斜成第1彈性片12、42、102及第2彈性片13、43、103之間的距離D1愈往前端愈小。藉此，便能夠增強第1彈性片12、42、102及第2彈性片13、43、103對第2柱塞的壓接。
無庸贅言，前述第1至第4實施形態的探針銷 10、30、60、90各自的構成要素若可行則能互換或增設。
前述第1至第4實施形態的探針銷10、30、60、90係能夠適用於IC用測試插座等電子裝置。
[產業上之可利用性]
本發明的探針銷並不限於上述第1至第4實施形態，只有具有第1彈性片，便無特別限定。
1‧‧‧第1柱塞
2‧‧‧第2柱塞
3‧‧‧螺旋彈簧
3A‧‧‧螺旋彈簧的第1端部
3B‧‧‧螺旋彈簧的第2端部
10‧‧‧探針銷
11‧‧‧主體部
12‧‧‧第1彈性片
13‧‧‧第2彈性片
14‧‧‧前端部
15、25‧‧‧支撐突出部
16、26‧‧‧防脫落用凸部/防脫落凸部
17‧‧‧接點部
18‧‧‧導引突起
21‧‧‧主體部
23‧‧‧導引溝
24‧‧‧前端部
D1‧‧‧第1、第2彈性片的間隔
D3‧‧‧第2柱塞的厚度
L1‧‧‧導引溝的長度
L2‧‧‧第1、第2彈性片的長度之差
W1‧‧‧第1柱塞的寬度
W2‧‧‧第2柱塞的寬度
W3‧‧‧第1柱塞的主體部與支撐突出部加總之寬度
W4‧‧‧第2柱塞的主體部與支撐突出部加總之寬度

Claims (6)

  1. 一種探針銷，其特徵為，具備：螺旋彈簧；第1柱塞，係具有主體部及從前述主體部朝相同方向延伸的第1彈性片與第2彈性片；及第2柱塞，係壓入至前述第1彈性片與前述第2彈性片之間；前述第1柱塞及前述第2柱塞係擁有導電性；將前述第1柱塞及前述第2柱塞分別從前述螺旋彈簧的兩端部插入，並且以前述第1柱塞的前述第1彈性片與前述第2彈性片挾持前述第2柱塞，使前述第1彈性片壓接在前述第2柱塞的一面，而使前述第1柱塞與前述第2柱塞經由該壓接部位而導通。
  2. 如請求項1之探針銷，其中至少在前述第1彈性片突設壓接前述第2柱塞的一面的接點部，使前述第1柱塞與前述第2柱塞經由前述接點部而導通。
  3. 如請求項1之探針銷，其中前述第1柱塞的第1彈性片與第2彈性片具有相異長度。
  4. 如請求項1之探針銷，其中前述第1柱塞的第1彈性片及第2彈性片之中至少有一者具有導引突起，並且前述第2柱塞具有供前述導引突起嵌合的導引溝；前述第1柱塞及前述第2柱塞的滑動移動係沿著前述導引溝進行。
  5. 如請求項1至4中任一項之探針銷，其中前述第1柱塞係具有突設在前述第1彈性片及前述第2彈性片的基部之 第1支撐突出部、及突設在距該第1支撐突出部一定距離的位置之第1防脫落用凸部，並且，具有突設在前述第2柱塞的短邊方向的兩側面之第2支撐突出部、及突設在距該第2支撐突出部一定距離的位置之第2防脫落用凸部；前述螺旋彈簧的一端配置在前述第1支撐突出部與前述第1防脫落用凸部之間，前述螺旋彈簧的另一端配置在前述第2支撐突出部與前述第2防脫落用凸部之間。
  6. 一種電子裝置，係使用如請求項1至5中任一項之探針銷。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI585414B (zh) * 2015-03-13 2017-06-01 Omron Tateisi Electronics Co Probe pin and probe unit with this probe pin

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6269337B2 (ja) * 2014-06-16 2018-01-31 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP6337633B2 (ja) * 2014-06-16 2018-06-06 オムロン株式会社 プローブピン
KR102100269B1 (ko) * 2016-04-15 2020-04-13 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀 및 이것을 사용한 전자 디바이스
JP6515877B2 (ja) * 2016-06-17 2019-05-22 オムロン株式会社 プローブピン
JP2018036129A (ja) * 2016-08-31 2018-03-08 オムロン株式会社 プローブピン
JP6352510B2 (ja) * 2016-09-15 2018-07-04 株式会社Ｓｄｋ コンタクト装置および測定用ソケット
JP6642359B2 (ja) * 2016-09-21 2020-02-05 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査ユニット
KR101932509B1 (ko) * 2016-12-12 2018-12-26 주식회사 오킨스전자 다 접점 에지 접촉으로 접촉 특성이 개선되는 fosp 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓
KR101920824B1 (ko) * 2017-02-02 2018-11-21 리노공업주식회사 검사용 프로브 및 소켓
JP6892277B2 (ja) * 2017-02-10 2021-06-23 株式会社日本マイクロニクス プローブ及び電気的接続装置
JP2018151316A (ja) * 2017-03-14 2018-09-27 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査ユニット
KR101957717B1 (ko) * 2017-08-01 2019-07-04 주식회사 오킨스전자 사다리꼴 형태로 접촉 수율이 개선되는 ｐｉｏｎ 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓
KR101957715B1 (ko) * 2017-08-01 2019-07-04 주식회사 오킨스전자 라운드 타입으로 접촉 수율이 개선되는 ｐｉｏｎ 핀
KR102013137B1 (ko) * 2018-02-14 2019-08-22 주식회사 오킨스전자 탄성편을 통하여 보조 핀의 콘택 특성이 개선되는 반도체 테스트 소켓용 핀
KR102013138B1 (ko) * 2018-02-14 2019-08-22 주식회사 오킨스전자 탄성편을 포함하는 반도체 테스트 소켓용 핀
KR102003244B1 (ko) * 2018-02-14 2019-07-24 주식회사 오킨스전자 스프링 가조립용 파단 돌기를 이용한 반도체 테스트 소켓용 핀의 조립 방법
TWI690709B (zh) * 2018-08-15 2020-04-11 萬潤科技股份有限公司 探針模組、探針裝置及使用該探針裝置之電子元件檢測方法及設備
JP7274853B2 (ja) * 2018-12-03 2023-05-17 株式会社エンプラス コンタクトピンおよびソケット
KR102126753B1 (ko) * 2018-12-19 2020-06-25 주식회사 오킨스전자 단일 코일 스프링에 의하여 3개의 플런저가 독립적으로 슬라이드 동작하는 테스트 소켓에 있어서, 레일을 통하여 상기 슬라이드 동작이 제어되는 데스트 핀
KR102126752B1 (ko) * 2018-12-19 2020-06-25 주식회사 오킨스전자 이중 코일 스프링에 의하여 3개의 플런저가 독립적으로 슬라이드 동작하는 테스트 소켓에 있어서, 레일을 통하여 콘택 특성이 개선되는 데스트 핀
TWI705248B (zh) * 2019-02-15 2020-09-21 萬潤科技股份有限公司 探針驅動方法及裝置
CN110557877B (zh) * 2019-09-11 2021-03-12 北京航空航天大学 朗缪尔探针、朗缪尔探针检测系统及检测方法
CN111579834B (zh) * 2020-05-18 2023-03-31 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
KR102202827B1 (ko) * 2020-10-27 2021-01-14 (주) 네스텍코리아 프로브 핀 및 이를 적용한 동축 프로브 조립체
US11387587B1 (en) * 2021-03-13 2022-07-12 Plastronics Socket Partners, Ltd. Self-retained slider contact pin

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6685492B2 (en) * 2001-12-27 2004-02-03 Rika Electronics International, Inc. Sockets for testing electronic packages having contact probes with contact tips easily maintainable in optimum operational condition
KR100584225B1 (ko) * 2004-10-06 2006-05-29 황동원 전자장치용 콘택트
US7008270B1 (en) * 2004-11-30 2006-03-07 Delphi Technologies, Inc. Cable connector
EP1889080A2 (en) * 2005-06-10 2008-02-20 Delaware Capital Formation, Inc. Electrical contact probe with compliant internal interconnect
US7154286B1 (en) * 2005-06-30 2006-12-26 Interconnect Devices, Inc. Dual tapered spring probe
JP4857046B2 (ja) * 2006-08-02 2012-01-18 株式会社エンプラス 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP4943775B2 (ja) * 2006-08-25 2012-05-30 株式会社エンプラス 接触子配設ユニット及び電気部品用ソケット
CN201029131Y (zh) * 2007-03-02 2008-02-27 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器端子
US7862391B2 (en) * 2007-09-18 2011-01-04 Delaware Capital Formation, Inc. Spring contact assembly
TWM350121U (en) * 2008-06-30 2009-02-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact
JP5166176B2 (ja) * 2008-09-04 2013-03-21 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 電子デバイス用ソケット
TWM366772U (en) * 2009-04-03 2009-10-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact
TWM376001U (en) * 2009-08-05 2010-03-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
US8808037B2 (en) * 2009-10-12 2014-08-19 Iwin Co., Ltd. Slidable pogo pin
TWM390564U (en) * 2010-03-18 2010-10-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact
JP4998838B2 (ja) * 2010-04-09 2012-08-15 山一電機株式会社 プローブピン及びそれを備えるｉｃソケット
KR101154519B1 (ko) * 2010-05-27 2012-06-13 하이콘 주식회사 스프링 콘택트 구조
JP5960383B2 (ja) * 2010-06-01 2016-08-02 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 接触子ホルダ
TWM398701U (en) * 2010-07-16 2011-02-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI585414B (zh) * 2015-03-13 2017-06-01 Omron Tateisi Electronics Co Probe pin and probe unit with this probe pin

Also Published As

Publication number Publication date
TWI569525B (zh) 2017-02-01
EP3037827A1 (en) 2016-06-29
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WO2015025662A1 (ja) 2015-02-26
US9595773B2 (en) 2017-03-14
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JP2015040734A (ja) 2015-03-02

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