KR20150032430A - 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치 - Google Patents

에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명의 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치는 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디에 라벨을 인쇄하는 에스에스디 라벨링 장치와, 상기 라벨링된 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송하여 상기 라벨링된 에스에스디의 전기적 양불량을 테스트하는 테스트 핸들러 장치와, 상기 테스트된 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송하여 상기 테스트된 에스에스디의 양불량품을 소팅하는 에스에스디 소팅 장치를 포함하고, 상기 에스에스디 라벨링 장치, 상기 테스트 핸들러 장치 및 상기 에스에스디 소팅 장치는 인라화하여 자동화한 것을 포함한다.

Description

에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치{automatic module apparatus for manufacturing solid state drive(SSD)}
본 발명의 기술적 사상은 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치에 관한 것으로, 특히 테스트 핸들러 장치를 포함하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치에 관한 것이다.
에스에스디(Solid State Disk(SSD))는 컴퓨터에 사용되는 하드 디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드 디스크를 대체하기 위해 사용될 수 있다. 에스에스디는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자를 사용하여 데이터를 저장함으로써 프로그램의 실행 속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용시 하드 디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다. 에스에스디의 제조 공정들중 제품 출하하기 전에는 에스에스디를 테스트하여 양품 및 불량품을 구별할 필요가 있다.
본 발명의 기술적 사상이 해결하고자 하는 과제는 에스에스디의 양불량품을 테스트할 수 있는 테스트 핸들러 장치를 포함하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치를 제공하는 데에 있다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 의한 기술적 사상의 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치는 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디에 라벨을 인쇄하는 에스에스디 라벨링 장치와, 상기 라벨링된 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송하여 상기 라벨링된 에스에스디의 전기적 양불량을 테스트하는 테스트 핸들러 장치와, 상기 테스트된 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송하여 상기 테스트된 에스에스디의 양불량품을 소팅하는 에스에스디 소팅 장치를 포함하고, 상기 에스에스디 라벨링 장치, 상기 테스트 핸들러 장치 및 상기 에스에스디 소팅 장치는 인라화하여 자동화한 것을 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 캐리어 트레이는 상기 에스에스디 라벨링 장치, 상기 테스트 핸들러 장치 및 상기 에스에스디 소팅 장치에 설치된 트레이 이송 장치에 의하여 이송될 수 있다. 상기 트레이 이송 장치 내에는 상기 캐리어 트레이를 회전시킬 수 있는 트레이 회전 부재가 설치되어 있을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 에스에스디 라벨링 장치의 전단에는 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 케이스를 조립하는 에스에스디 케이싱 장치가 더 설치되어 있을 수 있다. 상기 에스에스디 케이싱 장치의 전단에는 라우터 장치에 의해 제조된 베어 에스에스디의 양불량을 소팅하는 에스에스디 소팅 장치가 더 설치되어 있을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 에스에스디 소팅장치의 후단에는 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 외관을 검사하는 비주얼 검사 장치가 더 설치되어 있을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 테스트 핸들러 장치 및 에스에스디 소팅장치의 사이에는 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 외관을 검사하는 비주얼 검사 장치가 더 설치되어 있을 수 있다.
또한, 본 발명의 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치는 에스에스디를 탑재할 수 있는 캐리어 트레이를 제공하는 트레이 로딩 장치와, 상기 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송할 수 있는 트레이 이송 장치와, 상기 트레이 이송 장치에 의하여 이송되고 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 전기적 특성을 테스트하는 테스트 핸들러 장치를 포함하고, 상기 테스트 핸들러 장치는, 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디를 이송하여 테스트 키트 상에 안착시킬 수 있는 테스트 키트 스택부, 및 상기 테스트 키트 스택부로부터 상기 테스트 키트를 이송하여 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 전기적 특성을 테스트하는 테스트 사이트부를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 테스트 키트 스택부는 서로 다른 테스트 키트를 스택할 수 있는 복수개의 테스트 키트 스택 유니트들을 포함하고, 개개의 테스트 키트 스택 유니트에는 복수개의 테스트 키트들이 탑재되어 있을 수 있다. 상기 테스트 키트 스택부에는 상기 테스트 키트 스택 유니트들간에 상기 테스트 키트를 이송하거나, 상기 테스트 키트 스택 유니트들에 탑재된 테스트 키트를 상하로 이송하기 위한 이송 로봇이 설치되어 있을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 테스트 핸들러 장치는 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디 및 상기 에스에스디가 탑재된 테스트 키트를 모두 이송할 수 있는 이송 로봇을 포함할 수 있다. 상기 이송 로봇은 상기 에스에스디를 이송할 수 있는 픽커 및 상기 테스트 키트를 이송할 수 있는 그립퍼를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 테스트 사이트부는 상기 테스트 키트가 탑재되어 고정되는 테스트 키트 고정 지지대와, 상기 테스트 키트 상에 탑재된 에스에스디와 전기적으로 접속될 수 있는 테스트 보드를 포함할 수 있다. 상기 테스트 키트의 하면에는 돌출 돌기가 설치되어 있고 상기 테스트 키트 고정 지지대에는 홈이 설치되어 있고, 상기 테스트 키트 고정 지지대의 홈에 상기 테스트 키트의 돌출 돌기가 삽입 및 이동되어 고정될 수 있다. 상기 테스트 보드에는 상기 테스트 키트 상에 탑재된 에스에스디와의 전기적 접속을 위한 복수개의 단위 소켓 구룹들이 설치되어 있고, 상기 단위 소켓 그룹에는 서로 다른 복수개의 소켓들이 설치되어 있을 수 있다.
본 발명의 기술적 사상에 의한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치는 제조 공정 전 또는 후에 캐리어 트레이를 트레이 이송 장치를 이용하여 이송시킴으로써 에스에스디 제조 공장 내에서 인라인화시켜 자동화시킬 수 있다. 이에 다라, 에스에스디의 제조 시간이나 원가를 절감할 수 있고, 제품의 품질을 향상시킬 수 있다. 본 발명의 기술적 사상에 의한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치는 에스에스디의 전기적 특성을 테스터할 수 있는 테스트 핸들러 장치를 포함한다. 테스트핸들러 장치는 다양한 종류의 에스에스디를 용이하고 측정할 수 있는 테스트 보드를 포함하는 테스트 사이트를 구비하여 에스에스디 테스트 비용 및 시간을 절약할 수 있다.
도 1은 본 발명의 기술적 사상에 의한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치에 이용될 수 있는 에스에스디의 분해 사시도이다.
도 2는 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따라 테스트 핸들러 장치를 포함하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치를 설명하기 위한 개략도이다.
도 3은 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따라 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치에 이용되는 캐리어 트레이의 평면도이다.
도 4는 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따라 테스트 핸들러 장치를 포함하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치를 설명하기 위한 개략도이다.
도 5는 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따른 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치의 테스트 핸들러 장치를 설명하기 위한 평면도이다.
도 6은 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 의한 테스트 키트 스택부를 설명하기 위한 사시도이다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 의한 테스트 키트 스택부에 탑재되는 테스트 키트를 설명하기 위한 사시도이다.
도 9 및 도 10은 본 발명의 기술적 사상에 의한 핸들러 테스트 핸들러 장치의 이송 로봇을 설명하기 위한 사시도이다.
도 11 및 도 12는 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 키트 고정 지지대를 설명하기 위한 상면 및 배면도이다.
도 13a 및 13b는 본 발명의 기술적 사상에 의해 테스트 키트 고정 지지대와 테스트 키트와의 고정 방법을 설명하기 위한 개략도이다.
도 14는 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 보드를 설명하기 위한 일측면도이다.
도 15는 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 보드의 소켓을 확대하여 도시한 일측면도이다.
도 16은 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 키트와 테스트 보드의 소켓간의 연결 상태를 도시한 사시도이다.
도 17 내지 20은 본 발명의 기술적 사상에 의해 에스에스디가 탑재된 테스트 키트와 테스트 보드간의 접속 과정을 설명하기 위한 단면도들이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려, 이들 실시예는 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 통상의 기술자에게 본 발명의 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다.
이하의 설명에서 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 연결된다고 기술될 때, 이는 다른 구성 요소와 바로 연결될 수도 있지만, 그 사이에 제3의 구성 요소가 개재될 수도 있다. 유사하게, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 상부에 존재한다고 기술될 때, 이는 다른 구성 요소의 바로 위에 존재할 수도 있고, 그 사이에 제3의 구성 요소가 개재될 수도 있다. 또한, 도면에서 각 구성 요소의 구조나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되었고, 설명과 관계없는 부분은 생략되었다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.
달리 정의되지 않는 한, 여기에 사용되는 모든 용어들은 기술 용어와 과학 용어를 포함하여 본 발명 개념이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 공통적으로 이해하고 있는 바와 동일한 의미를 지닌다. 또한, 통상적으로 사용되는, 사전에 정의된 바와 같은 용어들은 관련되는 기술의 맥락에서 이들이 의미하는 바와 일관되는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 여기에 명시적으로 정의하지 않는 한 과도하게 형식적인 의미로 해석되어서는 아니 될 것이다. 한편, 사용되는 용어들은 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 기술적 사상에 의한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치에 이용될 수 있는 에스에스디의 분해 사시도이다.
구체적으로, 도 1은 에스에스디(20)의 일 예로써 제시되는 것이다. 도 1과 같은 에스에스디(20) 외에 다양한 형태나 크기, 다양한 구성 요소들을 포함할 수 있다. 에스에스디(20)는 인쇄 회로 기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리들(3), 제어기(5), 입출력 제어기(7) 및 커넥터(connector)(9)로 구성할 수 있다. 제어기(5) 및 입출력 제어기(7)는 하나의 반도체 칩으로 구성할 수도 있다.
다수개의 플래쉬 메모리들(3), 제어기(5), 입출력 제어기(7) 및 커넥터(9)는 인쇄 회로 기판(1)에 탑재할 수 있다. 에스에스디(20)의 각 구성요소들을 인쇄 회로 기판(1)의 일면에 탑재할 수 있다. 또한, 에스에스디(20)의 데이터 저장 용량에 따라 인쇄 회로 기판(1)의 일면에 제어기(5)와 입출력 제어기(7)를 탑재하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(3)를 탑재할 수도 있다.
제어기(5)는 에스에스디(20)를 전반적으로 제어할 수 있으며, 입출력 제어기(7)는 커넥터(9)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어할 수 있다. 다수개의 플래쉬 메모리(3)는 제어기(5)의 제어에 따라 입출력 제어기(7)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력 제어기(7)로 출력할 수 있다. 입출력 제어기(7)는 입력되거나 출력되는 데이터를 커넥터(9)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(9)는 다수개의 핀이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력 단자에 연결될 수 있다.
인쇄 회로 기판(1) 상에 각 구성 요소들만이 탑재된 상태를 베어(bare) 에스에스디라고 칭할 수 있다. 베어 에스에스디를 보호하기 위하여 케이스(11a, 11b)가 조립될 수 있다. 다시 말해, 인쇄 회로 기판(1) 상에 탑재된 각 구성요소들을 보호하기 위하여 케이스(11a, 11b)가 조립될 수 있다.
케이스(11a)는 인쇄 회로 기판(1)의 상부에 조립되어 인쇄 회로 기판(1) 상에 탑재된 각 구성요소들을 보호할 수 있다. 또한, 케이스(11b)는 인쇄 회로 기판(1)의 하부에 조립되어 인쇄 회로 기판(1) 상에 탑재된 각 구성요소나 인쇄 회로 기판(1)을 보호할 수 있다. 이하에서는 편의상 베어 에스에스디 또는 케이스(11a, 11b)가 탑재된 에스에스디의 참조번호는 통일하여 20으로 설명한다.
도 2는 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따라 테스트 핸들러 장치를 포함하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치를 설명하기 위한 개략도이고, 도 3은 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따라 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치에 이용되는 캐리어 트레이의 평면도이다.
구체적으로, 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)를 구성하는 각 제조 장치의 배치 관계의 일예가 도 2에 도시되어 있다. 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)를 구성하는 각 제조 장치는 호스트 컴퓨터(950)에 의하여 제어될 수 있다. 편의상 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)를 구성하는 각 제조 장치를 개별적으로 제어하는 개별 컴퓨터는 도시하지 않는다.
도 3은 도 2의 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)에 이용될 수 있는 캐리어 트레이(310)의 일예이다. 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)는 도 3에 도시한 바와 같은 캐리어 트레이(310)를 트레이 이송 장치(350), 예컨대 컨베이어 레일을 이용하여 화살표(352) 방향으로 이송시킴으로써 에스에스디 제조 공장 내에서 인라인화시킬 수 있다.
일 실시예에서, 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)는 각각의 제조 장치를 제조 공장 내에서 모두 인라인화함으로써 자동화할 수 있다. 일 실시예에서, 도 2에서 도시한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)를 구성하는 각 제조 장치들중에서 일부만을 인라인화하여 자동화하고, 나머지 제조 장치는 오프라인화하여 자동화하지 않을 수도 있다.
일 실시예에서, 에스에스디 라벨링 장치(500), 테스트 핸들러 장치(600a, 600b) 및 제2 에스에스디 소팅 장치(800)만을 인라인화함으로써 자동화하여 구성하고, 라우터 장치(100), 제1 에스에스디 소팅 장치(200), 에스에스디 케이싱 장치(400), 및 비주얼 검사 장치(900)는 오프라인화하여 자동화하지 않을 수 있다.
에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)는 에스에스디의 전기적 특성을 테스터할 수 있는 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)를 포함한다. 도 2에서 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)는 2개 도시하였으나, 편의상 도시한 것으로 3개 이상 설치될 수 있다.
여기서, 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)를 포함하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)의 구성 및 이를 이용하여 에스에스디를 제조하는 제조 공정을 도 2 및 도 3을 이용하여 설명한다.
라우터 장치(100)는 인쇄 회로 기판 상에 형성된 복수개의 베어 에스에스디들을 개개의 베어 에스에스디로 절단하여 분리하는 장치이다. 앞서 도 1에서 설명된 에스에스디(20)는 하나의 에스에스디만을 도시한 것이다.
제1 에스에스디 소팅 장치(200)는 라우터 장치(100)에서 제조된 베어 에스에스디(20)의 양불량을 소팅하는 장치이다. 제1 에스에스디 소팅 장치(200)에는 트레이 로딩 장치(300)로부터 도 3에 도시한 바와 같이 캐리어 트레이(310)가 로딩될 수 있다. 이에 따라, 제1 에스에스디 소팅 장치(200)는 라우터 장치(100)에서 제조된 베어 에스에스디(20)의 기계적 양불량을 소팅하여 양품의 베어 에스에스디(20)를 캐리어 트레이(310)에 탑재할 수 있다.
도 3에 도시한 바와 같이, 캐리어 트레이(310)에는 복수개의 베어 에스에스디(20)를 수용할 수 있는 수용 유니트(312)가 설치될 수 있다. 도 3에서는 편의상 수용 유니트(312)를 편의상 20개 도시하였으나, 이에 제한되지 않을 수 있다. 도 3에서는 캐리어 트레이(310)에는 양품의 베어 에스에스디(20)가 20개 수용되어 있는 것을 보여준다.
베어 에스에스디(20)를 탑재한 캐리어 트레이(310)는 트레이 이송 장치(350)에 의해 에스에스디 케이싱 장치(400)로 이송될 수 있다. 에스에스디 케이싱 장치(400)는 베어 에스에스디(20)의 상부 및/또는 하부에 케이스(도 1의 11)를 조립하는 장치이다. 에스에스디 케이싱 장치(400)에서는 캐리어 트레이(310)에 탑재된 베어 에스에스디(20)를 케이싱부로 이송하여 케이스를 조립한 후, 케이스(도 1의 11)가 조립된 에스에스디(20)를 다시 캐리어 트레이(310)에 이송하는 장치이다.
케이스가 조립된 에스에스디(20)를 탑재한 캐리어 트레이(310)는 트레이 이송 장치(350)에 의해 에스에스디 라벨링 장치(500)로 이송될 수 있다. 에스에스디 라벨링 장치(500)는 에스에스디(20)의 상부 및/또는 하부의 케이스(도 1의 11)나 인쇄 회로 기판에 라벨(label), 예컨대 상호, 시리얼 번호, 모델명, 제품 라트 번호 등을 인쇄하는 장치이다. 에스에스디 라벨링 장치(500)에서는 캐리어 트레이(310)에 탑재된 에스에스디(20)를 라벨링부로 이송하여 라벨링 공정을 진행한 후, 라벨링한 에스에스디(20)를 다시 캐리어 트레이(310)에 이송하는 장치이다.
라벨링된 에스에스디(20)를 탑재한 캐리어 트레이(310)는 트레이 이송 장치(350)에 의해 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)로 이송될 수 있다. 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)는 에스에스디(20)의 전기적 특성을 테스터 하는 장치이다. 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)에서는 캐리어 트레이(310)에 탑재된 에스에스디(20)를 테스트 사이트부로 이송하여 에스에스디(20)를 테스트한 후, 에스에스디(20)를 다시 캐리어 트레이(310)에 이송하는 장치이다. 테스트 사이트부에서는 후술하는 바와 같이 다양한 종류의 에스에스디(20)를 테스트 보드 교체 없이 용이하고 측정할 수 있다. 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)에 대해서는 후에 보다 더 자세하게 설명한다.
전기적으로 테스트된 에스에스디(20)를 탑재한 캐리어 트레이(310)는 트레이 이송 장치(350)에 의해 제2 에스에스디 소팅 장치(800)로 이송될 수 있다. 제2 에스에스디 소팅 장치(800)는 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)에서 테스트된 에스에스디(20)의 양불량을 최종적으로 소팅하는 장치이다. 제2 에스에스디 소팅 장치(800)에서 소팅하여 양품의 에스에스디(20)를 캐리어 트레이(310) 탑재할 수 있다.
양품의 에스에스디(20)를 탑재한 캐리어 트레이(310)는 트레이 이송 장치(350)에 의해 비주얼 검사 장치(900)로 이송될 수 있다. 비주얼 검사 장치(900)는 광학 현미경을 이용하여 에스에스디(20)의 외관 상태를 최종적으로 검사하는 장치이다. 비주얼 검사 장치(900)에서는 캐리어 트레이(310)에 탑재된 에스에스디(20)를 광학 현미경을 포함하는 비주얼 검사부로 이송하여 에스에스디(20)의 외관 상태를 검사한 후, 양품의 에스에스디(20)를 다시 캐리어 트레이(310)에 이송하는 장치이다. 비주얼 검사 장치(900)를 통하여 양품으로 판단된 에스에스디(20)는 포장 공정 등을 통하여 시장에 출하되게 된다.
이와 같이 본 발명의 기술적 사상에 의한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)를 구성하는 개개의 제조 장치는 에스에스디(20)가 탑재된 캐리어 트레이(310)와 이를 이송시킬 수 있는 트레이 이송 장치(350)를 구비한다. 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치는 제조 공정 전 또는 후에 캐리어 트레이(310)를 트레이 이송 장치(350)를 이용하여 이송시킴으로써 에스에스디 제조 공장 내에서 인라인화시켜 자동화시킬 수 있다. 이렇게 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)는 개개의 제조 장치들중 전부 또는 일부를 인라인화시켜 자동화함으로써 에스에스디의 제조 시간이나 원가를 절감할 수 있고, 제품의 품질을 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 기술적 사상에 의한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)는 에스에스디(20)의 전기적 특성을 테스터할 수 있는 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)를 포함한다. 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)는 후술하는 바와 같이 다양한 종류의 에스에스디(20)를 용이하고 측정할 수 있는 테스트 보드를 포함하는 테스트 사이트를 구비하여 에스에스디 테스트 비용 및 시간을 절약할 수 있다.
도 4는 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따라 테스트 핸들러 장치를 포함하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치를 설명하기 위한 개략도이다.
구체적으로, 도 4에 도시한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000a)는 도 2의 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000)와 비교할 때 제조 장치의 배치관계가 다른 것을 제외하고는 구성이나 발명의 효과 면에서 동일하다. 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000a)의 각 제조 장치의 배치 관계는 편의상 또는 기술적인 필요에 의해 변경될 수 있다.
일 실시예에서, 도 4에 도시한 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000a)는 도 2와 비교할 때 테스트 핸들러 장치(600b)와 비주얼 검사 장치(900)가 연결되고, 비주얼 검사 장치(900)는 제2 에스에스디 소팅 장치(800)와 연결되어 배치될 수 있다. 이와 같이 배치될 경우, 전기적으로 테스트된 에스에스디는 비주얼 검사 장치(900)에서 외관 검사를 먼저 진행한 후, 제2 에스에스디 소팅 장치(800)에서 에스에스디의 전기적인 양불량을 최종적으로 소팅한다. 외관적 및 전기적으로 판정된 양품의 에스에스디(20)는 포장 공정 등을 통하여 시장에 출하되게 된다.
도 5는 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 따른 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치의 테스트 핸들러 장치를 설명하기 위한 평면도이다.
구체적으로, 도 5는 도 1 및 도 2의 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치(1000, 1000a)를 구성하는 테스트 핸들러 장치(600a, 600b)중 하나의 테스트 핸들러 장치(600)의 일 예를 시한 평면도이다. 테스트 핸들러 장치(600)는 테스트 키트 스택부(620), 테스트 사이트부(630a, 630b), 제1 이송 로봇(632, 634, 636), 제2 이송 로봇(640, 642) 및 보조 캐리어 트레이 안착부(650)를 포함할 수 있다.
도 1 및 도 2의 에스에스디 라벨링 장치(500)로부터 테스트 핸들러 장치(600)의 일측으로 에스에스디(20)가 탑재된 캐리어 트레이(310)가 트레이 이송 장치(350)에 의해 X축 방향인 a1 방향으로 이송된다. 트레이 이송 장치(350) 내에는 캐리어 트레이(310)를 지지하면서 회전시킬 수 있는 트레이 회전 부재(302)가 설치될 수 있다. 트레이 회전 부재(302)는 캐리어 트레이(310) 내에 탑재된 에스에스디(20)의 커넥터 방향을 후에 설명하는 테스트 보드의 소켓에 맞추기 위해 설치될 수 있다.
캐리어 트레이(310)에 탑재된 에스에스디(20)는 제1 이송 로봇(632, 634, 636)을 이용하여 X축 방향과 수직인 Y축 방향인 a2 방향으로 이송하여 테스트 키트 스택부(620)로 이송한다.
테스트 키트 스택부(620)는 복수개의 테스트 키트 스택 유니트(610)들이 설치될 수 있다. 도 5에서는 테스트 키트 스택 유니트(610)가 5개 설치되어 있으나. 필요에 따라 더 설치할 수도 있다. 테스트 키트 스택 유니트(610) 내에는 테스트 키트(612)가 탑재되어 있을 수 있다. 테스트 키트 스택부(620)로 이송된 에스에스디(20)는 테스트 키트(612) 내에 탑재될 수 있다. 테스트 키트 스택 유니트(610) 및 테스트 키트(612)에 대해서는 후에 자세하게 설명한다.
에스에스디(20)를 탑재한 테스트 키트(612)는 제1 이송 로봇(632, 634, 636)에 의하여 -X축 방향인 a3 방향으로 이송하여 테스트 사이트부(630a, 630b)로 이송한다. 제1 이송 로봇(632, 634, 636)에서, 참조번호 636은 에스에스디(20) 및 테스트 키트(612)를 모두 이송할 수 있는 픽커 및 그립퍼를 나타내며, 참조번호 632 및 634는 각각 픽커 및 그립퍼(636)가 X축 및 Y축으로 이동할 수 있게 하는 이송 레일을 나타낸다. 필요에 따라서, 픽커 및 그립퍼(636)에는 에스에스디(20) 및 테스트 키트(612)를 이송할 수 있게 지면과 수직한 방향, 즉 Z축 방향으로 이송시킬 수 있는 이송 장치가 설치될 수 있다.
테스트 사이트부(630a, 630b)에서는 테스트 키트(612)에 탑재된 에스에스디(20)를 전기적으로 테스트하여 양불량을 판단한다. 테스트 사이트부(630a, 630b)는 테스트 보드(624)와 테스트 키트 고정 지지대(622)로 구성될 수 있다. 테스트 보드(624)는 테스트 키트(612)에 탑재된 에스에스디(20)와 전기적으로 접속할 수 있는 연결 보드이며, 테스트 키트 고정 지지대(622)는 에스에스디(20) 테스트시 에스에스디(20)가 탑재된 테스트 키트(612)를 고정하기 위한 지지대일 수 있다. 테스트 키트 고정 지지대(622)는 테스트 보드(624)와 전기적 접속을 위하여 X축 방향으로 이동될 수 있다. 또한, 테스트 키트 고정 지지대(622)는 테스트 보드(624)와의 높이를 맞추기 위하여 지면과 수직한 방향, 즉 Z축 방향으로 이동될 수 있다. 테스트 사이트부(630a, 630b)에 대하여는 후에 자세하게 설명한다.
에스에스디(20)를 테스트한 후, 에스에스디(20)를 탑재한 테스트 키트(612)는 제1 이송 로봇(632, 634, 636)에 의하여 X축 방향인 a4 방향으로 이송하여 테스트 키트 스택부(620)로 이송한다. 전기적으로 테스트가 완료된 에스에스디(20)는 제1 이송 로봇(632, 634, 636)에 의하여 Y축 방향인 a5 방향으로 이송하여 캐리어 트레이(310)에 탑재한다.
필요에 따라서, 테스트 사이트부(630a, 630b)에서 테스트한 에스에스디(20)가 불량으로 판정될 경우 제1 이송 로봇(632, 634, 636)에 의해 보조 캐리어 트레이 안착부(650)의 보조 캐리어 트레이(310a) 내로 불량 에스에스디(20a)를 이송할 수 있다. 이송된 불량 에스에스디(20a)는 다시 한번 테스트 사이트부(630a, 630b)로 이송하여 테스트하여 최종적으로 불량 여부를 테스트한다.
보조 캐리어 트레이(310a)는 제2 이송 로봇(640, 642)에 의해 트레이 이송 장치(350)로부터 Y축 방향인 b1 방향으로 이송시켜 보조 캐리어 트레이 안착부(650)에 안착시킬 수 또한, 보조 캐리어 트레이 안착부(650)의 보조 캐리어 트레이(310a)는 제2 이송 로봇(640, 642)에 의하여 Y축 방향인 b2 방향으로 이송시킴으로써 트레이 이송 장치(350)로 이송될 수 있다.
제2 이송 로봇(640, 642)에서, 참조번호 642는 보조 캐리어 트레이를 이송할 수 있는 그립퍼를 나타내며, 참조번호 640은 그립퍼(640)가 Y축으로 이동할 수 있게 하는 이송 레일을 나타낸다. 필요에 따라서, 그립퍼(640)에는 그립퍼(640)가 보조 캐리어 트레이(310a)를 이송할 수 있게 지면과 수직한 방향, 즉 Z축 방향으로 이동시킬 수 있는 이송 장치가 설치될 수 있다.
전기적 테스트가 완료된 에스에스디(20)를 탑재하고 있는 캐리어 트레이(310)는 a1 방향으로 다음 제조 공정, 예컨대 도 1의 제2 에스에스디 소팅 장치(800)나 도 2의 비주얼 검사 장치(900)로 이송된다.
도 6은 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 의한 테스트 키트 스택부를 설명하기 위한 사시도이고, 도 7 및 도 8은 본 발명의 기술적 사상의 일 실시예에 의한 테스트 키트 스택부에 탑재되는 테스트 키트를 설명하기 위한 사시도이다.
구체적으로, 도 6은 도 5의 테스트 키트 스택부의 일 예를 도시한 것이고, 도 7 및 도 8은 도 6의 테스트 키트 스택부에 탑재되는 테스트 키트의 일 예를 도시한 것이다. 테스트 키트 스택부(620)는 복수개의 테스트 키트 스택 유니트(610)들을 포함할 수 있다. 개개의 테스트 키트 스택 유니트(610)에는 복수개의 테스트 키트(612)가 탑재되어 있을 수 있다. 에스에스디(20)는 각각의 테스트 키트(612)에 탑재될 수 있다. 테스트 스택 유니트(610)는 복수개를 구비하여 도 6 내지 도 8에 도시한 바와 같이 서로 다른 종류의 에스에스디(20-1, 20-2)를 탑재시킬 수 있다.
테스트 키트 스택부(620)에는 테스트 키트 스택 유니트(610)들 간에 테스트 키트(612)를 이송시키기 위한 제3 이송 로봇(651, 656)을 포함할 수 있다. 제3 이송 로봇(651, 656)은 테스트 키트(612)를 지지하는 핸드부(651)와 핸드부(651)를 지지하고 화살표(658) 방향, 즉 X축 방향으로 이동 가능 하게 하는 이송 지지 기구(656)를 포함할 수 있다.
테스트 키트 스택부(620)에는 테스트 키트 스택 유니트(610)들에 탑재된 테스트 키트(612)를 상하로 들어올리기 위한 제4 이송 로봇(653, 662)을 포함할 수 있다. 제4 이송 로봇(653, 662)은 테스트 키트(612)를 상하, 즉 Z축 방향으로 들어올리기 위한 리프터(653)와 리프터(653)를 지지하는 이송 지지 기구(662)를 포함할 수 있다. 리프터(653)에 의하여 테스트 키트(612)를 들어 올릴 경우, 제1 이송 로봇의 그립퍼(도 9의 636a)에 의하여 테스트 키트(612)는 용이하게 이송될 수 있다. 제3 이송 로봇(651, 656) 및 제4 이송 로봇(653, 662)은 실린더 기구에 의하여 작동될 수 있다.
테스트 키트(612)는 도 7 및 도 8에 예시적으로 도시되어 있다. 도 7의 테스트 키트(612-1)는 폭이 좁은 에스에스디(20-1)가 탑재되어 있다. 도 8의 테스트 키드(612-2)에는 도 7에 비하여 폭이 넓은 에스에스디(20-2)가 탑재되어 있다.
테스트 키트(612-1, 612-2)는 에스에스디(20-1, 20-2)가 탑재되도록 내부 홈(h-1, h-2)을 갖는 에스에스디 탑재부(612b-1, 612b-2)와, 에스에스디 탑재부(612b-1, 612b-2)가 안착되며 내부 관통부(612d-1, 612d-2)를 갖는 키트 베이스부(612a-1, 612a-2)를 구비할 수 있다.
테스트 키트((612-1, 612-2)는 후술하는 바와 같이 테스트 키트 고정 지지부(도 5의 622)에 고정될 수 있는 돌출 돌기(612c-1, 612c-2)가 포함될 수 있다. 돌출 돌기(612c-1, 612c-1)는 테스트 키트 고정 지지부(도 5의 622)에 형성된 홈(도 12 및 도 13의 670)에 삽입되어 에스에스디 테스트시 테스트 키트가 흔들리는 것을 방지할 수 있다.
도 9 및 도 10은 본 발명의 기술적 사상에 의한 핸들러 테스트 핸들러 장치의 이송 로봇을 설명하기 위한 사시도이다.
구체적으로, 도 9 및 도 10은 도 5의 제1 이송 로봇(632, 634, 636)중에서 픽커 및 그립퍼(636)의 일 예를 설명하기 위한 것이다. 앞서 설명한 바와 같이 제1 이송 로봇(632, 634, 636)은 테스트 키트 및 에스에스디를 동시에 이송할 수 있는 픽커 및 그립퍼(636)를 모두 구비한다.
도 9에서는 에스에스디(20)가 탑재된 테스트 키트(612)를 이송할 수 있는 그립퍼(636a)를 나타낸 것이다. 그립퍼(636a)는 테스트 키트(612)의 양측을 잡아 이송할 수 있다. 그립퍼(636a)에는 그립퍼(636)를 지지하는 지지 부재(664)에 연결될 수 있다.
도 10에서는 에스에스디(20)를 이송할 수 있는 픽커(636b)를 나타낸 것이다. 픽커(636b)는 복수개의 에스에스디(20)를 공기에 의하여 흡착하여 이송할 수 있다. 픽커(636b)는 지지 부재(664)에 연결될 수 있으며, 픽커(636b)에는 에스에스디(20)를 용이하게 잡을 수 있도록 실린더 기구(666)가 설치될 수 있다.
도 11 및 도 12는 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 키트 고정 지지대를 설명하기 위한 상면 및 배면도이고, 도 13a 및 13b는 본 발명의 기술적 사상에 의해 테스트 키트 고정 지지대와 테스트 키트와의 고정 방법을 설명하기 위한 개략도이다.
구체적으로, 도 11은 도 5의 테스트 키트 고정 지지대(622) 상에 테스트 키트(612)가 탑재된 상태를 도시하는 상면도이다. 도 12는 도 11은 도 5의 테스트 키트 고정 지지대(622) 상에 테스트 키트(612)가 탑재된 상태를 도시하는 배면도이다.
앞서 설명한 바와 같이 제1 이송 로봇(도 5의 632, 634, 636)에 의하여 테스트 키트 고정 지지대(622) 상에 테스트 키트(612)가 탑재될 수 있다. 테스트 키트 고정 지지대(622)는 테스트 키트의 돌출돌기(612c)가 삽입될 수 있는 홈(670)이 설치되어 있다. 홈(670)은 도 12, 13a, 13b에 도시한 바와 같이 폭이 좁은 부분과 폭이 넓은 부분으로 나누어져 설치될 수 있다. 테스트 키트 고정 지지대(622) 상에 테스트 키트(612)가 탑재되면, 테스트 키트(612)의 하부에 돌출된 돌출 돌기(612c)는 테스트 키트 고정 지지부(622)에 형성된 홈(670)에 삽입되어 고정될 수 있다.
도 13a는 테스트 키트(612)의 하부에 돌출된 돌출 돌기(612c)가 테스트 키트 고정 지지부(622)에 형성된 홈(670)에 삽입된 후, 돌출 돌기(612c)가 폭이 좁은 홈(670a)으로 이동하는 것을 도시한 것이다. 테스트 키트(612)의 돌출 돌기(612c)가 폭이 좁은 홈(670a)으로 이동할 경우 테스트 키트(612)가 테스트 키트 고정 지지부(622)에 고정된다. 테스트 키트(612)가 테스트 키트 고정 지지부(622)에 고정된 후에 테스트 공정이 진행될 수 있다.
도 13b는 테스트 키트(612)의 하부에 돌출된 돌출 돌기(612c)가 테스트 키트 고정 지지부(622)에 형성된 홈(670)에 삽입된 후, 돌출 돌기(612c)가 폭이 넓은 홈(670b)으로 이동하는 것을 도시한 것이다. 테스트 키트(612)의 돌출 돌기(612c)가 폭이 넓은 홈(670b)으로 이동할 경우 테스트 키트(612)가 테스트 키트 고정 지지부(622)에 고정되지 않게 된다. 테스트 공정이 진행되고 난 후에, 테스트 키트(612)가 테스트 키트 고정 지지부(622)에서 풀릴 수 있다.
도 14는 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 보드를 설명하기 위한 일측면도이고, 도 15는 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 보드의 소켓을 확대하여 도시한 일측면도이고, 도 16은 본 발명의 기술적 사상에 의한 테스트 키트와 테스트 보드의 소켓간의 연결 상태를 도시한 사시도이다.
구체적으로, 도 14는 도 5의 테스트 사이트부(630a, 630b)에 이용될 수 있는 테스트 보드(624)의 일 예일 수 있다. 테스트 보드(624)는 단위 소켓 그룹(652)이 복수개 설치될 수 있다. 단위 소켓 구룹(652)에는 다양한 크기나 형태의 소켓(654)들이 설치될 수 있다. 다시 말해, 테스트 보드(624)는 도 14 및 도 15에 도시한 바와 같이 다양한 크기나 형태의 에스에스디(20)에 대응하기 위하여 다양한 소켓(654)이 설치될 수 있다. 소켓(654)은 핀수나 크기가 다양할 수 있으며, 테스트 키트에 탑재되는 에스에스디의 크기나 핀수에 대응하여 설치될 수 있다.
도 16은 도 5의 테스트 사이트부(630a, 630b)에 설치된 테스트 보드(624)에 에스에스디(20)가 탑재된 테스트 키트(612)가 접속된 것의 일 예일 수 있다. 테스트 보드(624)에 설치된 소켓(654)과 테스트 키트(612)에 탑재된 에스에스디(20)가 서로 전기적으로 연결되어 테스트 공정이 진행될 수 있다.
도 17 내지 20은 본 발명의 기술적 사상에 의해 에스에스디가 탑재된 테스트 키트와 테스트 보드간의 접속 과정을 설명하기 위한 단면도들이다.
구체적으로, 도 17 내지 도 20은 도 5의 테스트 키트 스택부(620)와 테스트 사이트부(630a, 630b)를 통하여 에스에스디(20)가 탑재된 테스트 키트(612)와 테스트 보드(도 14 및 도 15의 624)의 접속 과정의 일 예를 보여주는 단면도들이다.
도 17에 도시한 바와 같이 테스트 키트 스택부(620)에 위치하는 테스트 키트(612) 상에 제1 이송 로봇(632, 634, 636)의 픽커(636b)를 이용하여 에스에스디(20)를 탑재한다.
에스에스디(20)가 탑재된 테스트 키트(612)를 테스트 사이트부(도 5의 630a, 630b)로 이송한 후, 테스트 키트 고정 지지대를 이동시킴으로써 도 18에 도시한 바와 같이 에스에스디(20)가 탑재된 테스트 키트(612)가 테스트 보드의 소켓(654)쪽으로 이동될 수 있다.
이렇게 되면, 도 19에 도시한 바와 같이 테스트 키트(612) 상에 탑재된 에스에스디(20)는 테스트 보드(624)의 소켓(654)에 전기적으로 연결될 수 있다. 도 20은 도 19의 테스트 보드(624)의 소켓(654)과 에스에스디(20)의 전기적 연결 관계를 확대하여 도시한 도면이다. 도 20에 보듯이, 테스트 보드(624)의 소켓(654)은 에스에스디(20)의 커넥터(9)와 연결되어 테스트 공정이 진행될 수 있다.
지금까지, 본 발명을 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
20: 에스에스디, 1000, 1000a: 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치, 100: 라우터 장치, 200: 제1 에스에스디 소팅 장치. 300: 트레이 로딩 장치, 310: 캐리어 트레이, 350: 트레이 이송 장치, 500: 에스에스디 라벨링 장치, 600a, 600b: 테스트 핸들러 장치, 800: 제2 에스에스디 소팅 장치, 900: 비주얼 검사 장치, 620: 테스트 키트 스택부, 630a, 630b: 테스트 사이트부, 632, 634, 636: 제1 이송 로봇, 640, 642: 제2 이송 로봇, 650: 보조 캐리어 트레이 안착부

Claims (10)

  1. 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디에 라벨을 인쇄하는 에스에스디 라벨링 장치;
    상기 라벨링된 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송하여 상기 라벨링된 에스에스디의 전기적 양불량을 테스트하는 테스트 핸들러 장치; 및
    상기 테스트된 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송하여 상기 테스트된 에스에스디의 양불량품을 소팅하는 에스에스디 소팅 장치를 포함하고,
    상기 에스에스디 라벨링 장치, 상기 테스트 핸들러 장치 및 상기 에스에스디 소팅 장치는 인라화하여 자동화한 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 캐리어 트레이는 상기 에스에스디 라벨링 장치, 상기 테스트 핸들러 장치 및 상기 에스에스디 소팅 장치에 설치된 트레이 이송 장치에 의하여 이송되는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 에스에스디 라벨링 장치의 전단에는 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 케이스를 조립하는 에스에스디 케이싱 장치가 더 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 에스에스디 소팅장치의 후단에는 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 외관을 검사하는 비주얼 검사 장치가 더 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  5. 에스에스디를 탑재할 수 있는 캐리어 트레이를 제공하는 트레이 로딩 장치;
    상기 에스에스디가 탑재된 캐리어 트레이를 이송할 수 있는 트레이 이송 장치; 및
    상기 트레이 이송 장치에 의하여 이송되고 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 전기적 특성을 테스트하는 테스트 핸들러 장치를 포함하고,
    상기 테스트 핸들러 장치는,
    상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디를 이송하여 테스트 키트 상에 안착시킬 수 있는 테스트 키트 스택부, 및 상기 테스트 키트 스택부로부터 상기 테스트 키트를 이송하여 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디의 전기적 특성을 테스트하는 테스트 사이트부를 포함하는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치,
  6. 제5항에 있어서, 상기 테스트 키트 스택부는 서로 다른 테스트 키트를 스택할 수 있는 복수개의 테스트 키트 스택 유니트들을 포함하고, 개개의 테스트 키트 스택 유니트에는 복수개의 테스트 키트들이 탑재되어 있는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 테스트 키트 스택부에는 상기 테스트 키트 스택 유니트들간에 상기 테스트 키트를 이송하거나, 상기 테스트 키트 스택 유니트들에 탑재된 테스트 키트를 상하로 이송하기 위한 이송 로봇이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 테스트 핸들러 장치는 상기 캐리어 트레이에 탑재된 에스에스디 및 상기 에스에스디가 탑재된 테스트 키트를 모두 이송할 수 있는 이송 로봇을 포함하는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  9. 제5항에 있어서, 상기 테스트 사이트부는 상기 테스트 키트가 탑재되어 고정되는 테스트 키트 고정 지지대와, 상기 테스트 키트 상에 탑재된 에스에스디와 전기적으로 접속될 수 있는 테스트 보드를 포함하는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 테스트 키트의 하면에는 돌출 돌기가 설치되어 있고 상기 테스트 키트 고정 지지대에는 홈이 설치되어 있고, 상기 테스트 키트 고정 지지대의 홈에 상기 테스트 키트의 돌출 돌기가 삽입 및 이동되어 고정되는 것을 특징으로 하는 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10816594B2 (en) 2017-11-27 2020-10-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for testing a signal speed of a semiconductor package and method of manufacturing a semiconductor package

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD743399S1 (en) * 2014-05-30 2015-11-17 Emc Corporation Flash module
TWI575534B (zh) * 2015-10-30 2017-03-21 鑫創科技股份有限公司 固態硬碟卡
US10978818B2 (en) * 2019-07-23 2021-04-13 SK Hynix Inc. Electronic device fastener
CN117316796B (zh) * 2023-09-26 2024-05-07 江苏澄擎新能源有限公司 一种光伏面板生产用状态测试装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5094584A (en) * 1989-04-06 1992-03-10 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for automatically changing printed circuit board test fixtures
KR100524632B1 (ko) * 1997-12-26 2006-01-27 삼성전자주식회사 테스트-번인 장치, 그 테스트-번인 장치를 이용한 인라인시스템 및 그 시스템을 이용한 테스트 방법
KR100876292B1 (ko) * 2007-08-23 2008-12-31 에버테크노 주식회사 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러
KR20100102979A (ko) * 2009-03-12 2010-09-27 삼성전자주식회사 솔리드 스테이트 드라이브의 검사 장치 및 방법

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5313156A (en) * 1991-12-04 1994-05-17 Advantest Corporation Apparatus for automatic handling
US6644982B1 (en) * 1998-12-04 2003-11-11 Formfactor, Inc. Method and apparatus for the transport and tracking of an electronic component
KR100349942B1 (ko) 1999-12-06 2002-08-24 삼성전자 주식회사 램버스 핸들러
JP2004257980A (ja) 2003-02-27 2004-09-16 Mire Kk 半導体素子テスト用ハンドラ
KR100629921B1 (ko) 2004-09-07 2006-09-28 에스피반도체통신 주식회사 반도체 패키지의 테스트 핸들러 및 그 검사 방법
US7196508B2 (en) 2005-03-22 2007-03-27 Mirae Corporation Handler for testing semiconductor devices
US20080110555A1 (en) * 2006-11-14 2008-05-15 Steve Bouchelle Device and method for labeling vials useful in system for dispensing prescriptions
KR20080097516A (ko) 2007-05-02 2008-11-06 삼성전자주식회사 테스트 핸들러
KR20090038235A (ko) 2007-10-15 2009-04-20 (주) 핸들러월드 Ssd 검사장치
KR100940457B1 (ko) 2008-02-04 2010-02-04 에버테크노 주식회사 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러의 푸싱장치
KR100958278B1 (ko) 2008-06-10 2010-05-19 에버테크노 주식회사 에스에스디(ssd) 언로딩장치
KR100988024B1 (ko) 2008-09-05 2010-10-18 프롬써어티 주식회사 자동 주소 설정 기능을 구비한 메모리 테스트 시스템
US7884631B2 (en) * 2009-02-25 2011-02-08 Kingston Technology Corp. Parking structure memory-module tester that moves test motherboards along a highway for remote loading/unloading
KR101040922B1 (ko) 2009-03-23 2011-06-16 에버테크노 주식회사 테스트 핸들러 및 그 부품 이송방법
KR101030227B1 (ko) 2009-09-16 2011-04-22 주식회사 오킨스전자 Ssd용 운반-시험 겸용 트레이
KR20120027580A (ko) 2010-09-13 2012-03-22 삼성전자주식회사 반도체 장치용 테스트 핸들러 및 이를 이용한 반도체 장치 테스트 방법
KR101205951B1 (ko) 2011-04-29 2012-11-28 미래산업 주식회사 메모리카드용 테스트 핸들러

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5094584A (en) * 1989-04-06 1992-03-10 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for automatically changing printed circuit board test fixtures
KR100524632B1 (ko) * 1997-12-26 2006-01-27 삼성전자주식회사 테스트-번인 장치, 그 테스트-번인 장치를 이용한 인라인시스템 및 그 시스템을 이용한 테스트 방법
KR100876292B1 (ko) * 2007-08-23 2008-12-31 에버테크노 주식회사 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러
KR20100102979A (ko) * 2009-03-12 2010-09-27 삼성전자주식회사 솔리드 스테이트 드라이브의 검사 장치 및 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10816594B2 (en) 2017-11-27 2020-10-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for testing a signal speed of a semiconductor package and method of manufacturing a semiconductor package

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