KR101040922B1 - 테스트 핸들러 및 그 부품 이송방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 테스트 핸들러는 복수개의 스택커를 구비한 로딩부와; X-Y방향으로 이동가능한 로딩 픽킹유닛과; 테스트할 전자부품을 일시적으로 저장하기 위한 고정 로딩버퍼와; 테스트할 전자부품을 수납하고, 이동하는 이동 로딩버퍼와; 이동 로딩버퍼로부터 전자부품을 테스트 트레이로 로딩하는 로딩 소팅부와; 전자부품을 테스트 트레이에 안착시키는 X-Y방향으로 이동가능한 로딩 소팅유닛과; 전자부품을 테스트하는 테스트부와; 테스트가 완료되어 배출된 테스트 트레이로부터 전자부품을 소팅하기 위한 언로딩 소팅부와; X-Y방향으로 이동가능한 제1 및 제2 언로딩 소팅유닛과; Y방향으로 이동가능한 다수의 언로딩 버퍼와; 복수개의 유저 트레이를 구비한 언로딩부와; 언로딩 소팅부의 다수의 언로딩 버퍼에 안착된 전자부품을 등급별로 분류하여, 유저 트레이에 안착시키는 X-Y방향으로 이동가능한 언로딩 픽킹유닛으로 이루어지며, 상기 언로딩 소팅부는 제1 언로딩 소팅부와 제2 언로딩 소팅부로 구성되고, 제1 언로딩 소팅부에서 테스트 트레이의 제1 작업영역의 전자부품을 소팅하고, 제2 언로딩 소팅부에서 상기 테스트 트레이의 제2 작업영역의 전자부품을 소팅하는 것을 특징으로 하고 있다.
테스트, 핸들러, 테스트 트레이, 로딩 버퍼, 언로딩 버퍼

Description

테스트 핸들러 및 그 부품 이송방법{Test Handler and Device Transferring Apparatus thereof}
본 발명은 테스트 핸들러에 관한 것으로, 특히 반도체 소자의 테스트를 보다 빠르게 안정되게 수행할 수 있는 테스트 핸들러에 관한 것이다.
종래, 메모리나 비메모리 반도체 소자등의 디바이스와, 디바이스들을 하나의 기판상에 적절히 구성한 모듈을 포함하는 전자부품들은 생산 후 여러 종류의 테스트를 거친 후 출하하게 된다. 그리고, 이와 같은 테스트는 핸들러에 의해 행하여 지고 있다.
핸들러는 테스트할 전자부품을 로딩 스택커로부터 흡착한 후에 이동시켜, 상기 전자부품을 교환부에 마련된 테스트 트레이에 수납하고, 테스트 트레이에 수납된 전자부품을 테스트부로 이동하여 테스트하게 된다. 그리고, 핸들러는 테스트 결과의 시험 데이터에 근거하여 분류(sort)하고, 테스트 완료된 전자부품을 수납한 테스트 트레이로부터 언로딩 스택커에 X-Y 암 (픽킹유닛)에 의해 언로딩하게 된다.
이러한 핸들러는 테스트가 완료된 전자부품이 수납된 테스트 트레이로부터 언로딩 스택커에 설치된 커스터머 트레이에 직접 전자부품을 픽 앤 플레이싱하거 나, 상기 테스트 트레이와 커스터머 트레이 사이에 하나의 버퍼(buffer)를 설치하여, 전자부품을 테스트 트레이에서 버퍼로 이송 후에 버퍼에 수납된 전자부품을 버퍼가 여러차례 이동하면서 커스터머 트레이로 이송하도록 되어있다.
그러나, 상기와 같이 구성된 종래의 핸들러는 정해진 시간에 테스트 할 수 있는 전자부품의 수량을 늘리는데 한계가 있고, 처리속도의 저하를 가져오는 문제점이 있다.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 테스트가 완료된 전자부품을 테스트 트레이로부터 언로딩부의 커스터머 트레이로 이송하는 장치와 방법을 간단하고, 정해진 시간에 가능한 신속하게 처리할 수 있는 테스트 핸들러 및 그 부품 이송방법을 제공함에 있다.
본 발명의 테스트 핸들러는 테스트할 전자부품이 적재된 복수개의 스택커를 구비한 로딩부와; 상기 로딩부의 일측에 설치되며, X-Y방향으로 이동가능한 로딩 픽킹유닛과; 상기 로딩부의 스택커로부터 상기 로딩 픽킹유닛에 의해 테스트할 전자부품을 일시적으로 저장하기 위한 고정 로딩버퍼와; 상기 고정 로딩버퍼의 일측에 설치되고, 상기 로딩 픽킹유닛에 의해 테스트할 전자부품이 안착되며, Y방향으로 이동가능한 이동 로딩버퍼와; 상기 이동 로딩버퍼로부터 테스트할 전자부품을 받아 안착되는 테스트 트레이가 설치된 로딩 소팅부와; 상기 로딩 소팅부에 설치되 어, 상기 전자부품을 상기 테스트 트레이에 안착시키는 X-Y방향으로 이동가능한 로딩 소팅유닛과; 상기 로딩 소팅부로부터 상기 테스트 트레이가 유입되어 상기 전자부품을 테스트하는 테스트부와; 테스트가 완료되어 배출된 테스트 트레이로부터 전자부품을 소팅하기 위한 언로딩 소팅부와; 상기 언로딩 소팅부에 설치되며, X-Y방향으로 이동가능한 제1 및 제2 언로딩 소팅유닛과; Y방향으로 이동가능한 제1, 제2, 제3 및 제4 언로딩 버퍼와; 복수개의 유저 트레이를 구비한 언로딩부와; 상기 언로딩 소팅부의 제1, 제2, 제3 및 제4 언로딩 버퍼에 안착된 전자부품을 등급별로 분류하여, 상기 유저 트레이에 안착시키는 X-Y방향으로 이동가능한 언로딩 픽킹유닛으로 이루어지며, 상기 언로딩 소팅부는 제1 언로딩 소팅부와 제2 언로딩 소팅부로 구성되고, 제1 언로딩 소팅부에서 테스트 트레이의 제1 작업영역의 전자부품을 소팅하고, 제2 언로딩 소팅부에서 상기 테스트 트레이의 제2 작업영역의 전자부품을 소팅한다는 점에 있다.
본 발명의 테스트 핸들러는 테스트가 완료된 테스트 트레이로부터 전자부품을 복수의 언로딩 소팅유닛이 작업영역을 나누어 작업함과 함께, 상기 소팅유닛의 무게의 감소로, 장비에 무리를 가하지 않고 작업을 안정적으로 신속하게 처리할 수 있는 이점이 있다.
또한, 테스트가 완료된 전자부품을 테스트 트레이로부터 짧은 시간에 전량이 적재될 수 있는 복수의 언로딩 버퍼를 도입하여, 작업시간을 단축할 수 있다.
게다가, 테스트 트레이의 이송경로 내에 언로딩 소팅부를 다수개 설치하여 언로딩 작업과 소팅작업을 동시에 실시할 수 있어서 작업시간 단축과 효율성을 증대시킬 수 있다.
또한, 언로딩 소팅 작업에서 미리 양불의 등급분류별로 언로딩 버퍼에 언로딩함으로써, 한 개의 언로딩 픽킹유닛으로도 유저 트레이에 언로딩하는 작업이 수월하게 이루어지는 이점도 내포하고 있다.
본 발명의 테스트 핸들러의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 핸들러의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 핸들러의 분해 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 핸들러를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 1 내지 도 3에서와 같이, 본 발명의 테스트 핸들러(1)는 로딩부(100), 로딩 소팅부(200), 테스트부(300), 언로딩 소팅부(400) 및 언로딩부(500)로 구성된다. 상기 로딩부(100)에는 복수개의 스택커(2), 복수개의 커스터머 트레이(10), 고정 로딩버퍼(120) 및 이동 로딩버퍼(130)가 설치되고, 그 상부에는 각기 로딩 픽킹유닛(110)이 설치된다. 그리고, 로딩 소팅부(200)에는 로딩 소팅유닛(210)이 설치되고, 빈 테스트 트레이(20)가 위치하게 된다. 언로딩 소팅부(400)에는 복수개의 언로딩 소팅유닛(410,420), 복수개의 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)가 설치되며, 테스트가 완료된 전자부품이 적재된 테스트 트레이(20)가 위치하게 된다. 언로딩부(500)에는 복수개의 스택커(5), 복수개의 유저 트레이(50) 및 언로딩 픽킹유닛(510)이 설치된다.
본 발명의 테스트 핸들러(1)는 그 전방부의 일측에는 로딩부(100)가 설치된다. 상기 로딩부(100)에는 복수개의 스택커(2)가 설치되고, 상기 스택커(2)의 내측에는 커스터머 트레이(10)가 각기 설치된다. 상기 커스터머 트레이(10)의 상부측에는 X-Y방향으로 이동가능한 로딩 픽킹유닛(110)이 설치된다. 상기 로딩 픽킹유닛(110)은 일반적으로 사용하고 있는 X-Y로봇에 복수개의 픽커(도시되지 않음)를 설치하여 한번에 복수개의 전자부품을 픽 앤 플레이스할 수 있게 구성된다.
상기 커스터머 트레이(10)의 후방에는 소정의 전자부품을 일시적(또는 임시적)으로 저장하기 위한 고정 로딩버퍼(120)가 설치된다. 그리고, 상기 고정 로딩버퍼(120)와 일정 간격을 두고 이동 로딩버퍼(130)가 설치된다. 상기 커스터머 트레이(10)로부터 테스트할 전자부품을 받은 상기 이동 로딩버퍼(130)는 상기 로딩부(100)와 상기 로딩 소팅부(200) 사이를 이동하면서 상기 테스트 트레이(20)에 전자부품을 전달하고, 그 사이에 상기 로딩 픽킹유닛(110)은 테스트할 전자부품을 상기 커스터머 트레이(10)로부터 픽킹하여, 상기 고정 로딩버퍼(120)에 플레이싱하게 된다. 상기 테스트 트레이(20)에 전자부품을 전달하고 원 위치로 복귀한 상기 이동 로딩버퍼(130)는 상기 커스커머 트레이(10)와 상기 고정 로딩버퍼(120)로부터 전자부품을 전달받게 된다. 상기 이동 로딩버퍼(130)는 다시 로딩 소팅부(200)로 이동하여 전자부품을 테스트 트레이(20)에 전달하게 된다.
상기 작업들이 반복하여 진행된 후, 상기 테스트 트레이(20)에 전자부품의 안착이 완료되면, 푸셔(도시되지 않음)에 의해 상기 테스트 트레이(20)를 테스트부(300)로 유입시키게 된다.
상기 테스트부(300)에 유입된 상기 테스트 트레이(20)에 안착되어 있는 전자부품을 고온 또는 저온 환경에 노출시키는 열충격시험과 소정의 전기적인 테스트를 수행하게 된다. 테스트가 완료되면 테스트 결과 데이터를 제어부(미도시)로 전달하여 저장하고, 전자부품들이 수납된 테스트 트레이(20)를 상온에 노출시키고 소정 시간경과 후에 배출하게 된다. 상기 테스트부(300)로부터 배출된 테스트 트레이(20)는 언로딩 소팅부(400)에 위치하게 된다.
상기 언로딩 소팅부(400)는 제1 및 제2 언로딩 소팅부(401, 402)로 이루어지며, 상기 제1 언로딩 소팅부(401)는 제1 언로딩 소팅유닛(410), 제1 언로딩 버퍼(430a) 및 제3 언로딩 버퍼(430b)로 구성되고, 상기 제2 언로딩 소팅부(402)는 제2 언로딩 소팅유닛(420), 제2 언로딩 버퍼(440a) 및 제4 언로딩 버퍼(440b)로 구성된다.
상기 언로딩 소팅부(400)의 제1 및 2 언로딩 소팅부(401,402)는 테스트 트레이(20)의 이송경로 상에 위치하며, 상기 제2 언로딩 소팅부(402)는 상기 제1 언로딩 소팅부(401)에서 테스트 트레이(20)의 이송방향(화살표①,②)으로 소정의 거리 떨어져 위치하고 있으며, 상기 제1 언로딩 소팅부(401)에서는 테스트 트레이(20)의 제1 작업영역(WS1: 1st Working Space)의 전자부품을 상기 제1언로딩 소팅유닛(410)에 의해, 상기 제2 언로딩 소팅부(402)에서는 상기 테스트 트레이(20)의 전체 영역에서 상기 제1 작업영역(WS1)을 뺀 나머지 영역인 제2 작업영역(WS2: 2nd Working Space)의 전자부품을 상기 제2 언로딩 소팅유닛(420)에 의해 테스트결과 데이터를 근거로 분류(소팅)하여 상기 제1 내지 제4 언로딩 버 퍼(430a,440a,430b,440b)에 안착시킨다.
상기 제1, 제2, 제3 및 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)는 복수의 유저 트레이(50)와 X-Y방향으로 이동가능한 언로딩 픽킹유닛(510)을 구비하고 있는 언로딩부(500)로 순차적으로 이동하게 된다.
상기 언로딩부(500)에 위치한 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)에 안착된 전자부품을 등급별로 분류하여, 상기 언로딩 픽킹유닛(510)에 의해 상기 복수의 유저 트레이(50)에 전자부품을 언로딩하게 된다.
이하, 본 발명의 테스트 핸들러의 작업과정을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
본 발명의 테스트 핸들러의 작업과정의 전체의 흐름은 도 5에 도시된 바와 같이, STEP1에서는 로딩부(100)에 테스트할 전자부품이 적재된 커스터머 트레이(10)를 위치시키고, STEP2에서는 상기 커스터머 트레이(10)로부터 X-Y방향으로 이동가능한 로딩 픽킹유닛(110)에 의해 이동 로딩버퍼(130)와 고정 로딩버퍼(120)에 순차적으로 전자부품을 공급하게 된다.
상기 STEP2는 상기 커스터머 트레이(10)로부터 전자부품을 이동 로딩버퍼(130)에 공급하는 단계와, 상기 이동 로딩버퍼(130)에 전자부품의 공급이 완료된 후, 상기 고정 로딩버퍼(120)에 전자부품을 공급하는 단계가 순차적으로 이루어지게 된다.
STEP3에서는 테스트할 전자부품의 적재가 완료된 상기 이동 로딩버퍼(130)는 Y방향으로 로딩 소팅부(200)로 이동하게 되고, STEP4에서는 상기 로딩 소팅부(200) 에 위치한 상기 이동 로딩버퍼(130)의 전자부품을 로딩 소팅유닛(210)이 테스트 트레이(20)로 공급하게 된다.
STEP5에서는 상기 테스트 트레이(20)에 전자부품의 공급이 완료되었는지 여부를 판단하여, 공급이 완료되지 않은 경우, 상기 이동 로딩버퍼(130)는 상기 로딩 소팅부(200)에서 빈 상태로 상기 로딩부(100)의 원위치로 복귀하여, 상기 고정 로딩버퍼(120)와 커스터머 트레이(10)로부터 순차적으로 전자부품을 공급받게 된다.
그리고, 상기 테스트 트레이(20)에 전자부품의 공급이 완료될 때까지 상기STEP3, STEP4 및 STEP5를 반복하여 진행하게 된다.
공급이 완료되면, 다음 단계인 STEP6에서 전자부품이 소진된 상기 이동 로딩버퍼(130)를 상기 로딩부(100)의 원위치로 복귀시키고, 공급이 완료된 테스트 트레이(20)를 테스트부(300)로 유입하게 된다.
STEP7에서는 상기 테스트부(300)에 유입된 상기 테스트 트레이(20)의 전자부품을 테스트하게 된다.
STEP8에서는 상기 테스트가 완료된 테스트 트레이(20)를 상기 테스트부(300)에서 배출하여 언로딩 소팅부(400)에 위치시키게 된다.
STEP9에서는 상기 언로딩 소팅부(400)의 제1 언로딩 소팅부(401)에 위치한 테스트 트레이(20)로부터 전자부품을 상기 제1 언로딩 소팅유닛(410)에 의해 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)로 공급한 후, 상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)를 순차적으로 언로딩부(500)로 이동시킴과 함께, 상기 테스트 트레이(20)를 제2 언로딩 소팅부(402)로 이동시키고, 상기 테스트 트레이(20)에 적재된 나머지 전자부품을 제2 언로딩 소팅유닛(420)에 의해 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)로 공급한 후, 전자부품이 소진된 상기 테스트 트레이(20)를 로딩 소팅부(200)로 이동시키고, 상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)를 순차적으로 언로딩부(500)로 이동시키게 된다.
STEP10에서는 언로딩 픽킹 유닛(510)에 의해 언로딩부(500)의 일측에 위치한 상기 제1 내지 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)로부터 복수개의 유저 트레이(50)로 전자부품을 등급별로 언로딩하고, 상기 제1 내지 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)를 순차적으로 언로딩 소팅부(400)로 복귀시키게 된다.
상기 STEP1에서 STEP10까지의 일련의 과정은 상기 복수개의 스택커(2)에 적치된 커스터머 트레이(10)의 전자부품들이 소진되거나 복수개의 스택커(5)의 유저 트레이(50)에 충진될 때까지 자동으로 반복하게 된다.
이하, 본 발명의 테스트 핸들러의 작업과정 중에 상기 STEP9의 과정을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 4와 도 6에서는 테스트 핸들러의 작업과정 중에 STEP9의 구성과 흐름도를 보여주고 있다.
도 4와 도 6에서 도시된 바와 같이, 제1 언로딩 소팅부(401)에 위치한 상기 테스트 트레이(20)의 제1 작업영역(WS1)으로부터 상기 제1 언로딩 소팅유닛(410)이 테스트 완료된 전자제품을 픽킹하여, 상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)가 대기하고 있는 위치로 순차적으로 이동하는 STEP90을 수행하게 된다.
상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)로부터 상기 제1 언로딩 소팅유 닛(410)이 픽킹한 전자부품 중에 양품을 상기 제1 언로딩 버퍼(430a)에, 불량품을 상기 제3 언로딩 버퍼(430b)에 적재하는 STEP91을 수행하게 된다.
적재가 완료되면, 화살표①방향으로 상기 테스트 트레이(20)를 제2 언로딩 소팅부(402)로 이동시킴과 함께, 상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)를 언로딩부(500)로 순차적으로 이동시키는 STEP92를 수행하게 된다.
제2 언로딩 소팅부(402)에 위치한 상기 테스트 트레이(20)의 제2 작업영역(WS2)으로부터 상기 제2 언로딩 소팅유닛(420)이 테스트 완료된 전자제품을 픽킹하여, 상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)가 대기하고 있는 위치로 순차적으로 이동하는 STEP93을 수행하게 된다.
상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)로부터 상기 제2 언로딩 소팅유닛(420)이 픽킹한 전자부품 중에 양품을 상기 제2 언로딩 버퍼(440a)에, 불량품을 상기 제4 언로딩 버퍼(440b)에 적재하는 STEP94를 수행하게 된다.
적재가 완료되면, 화살표②방향으로 상기 테스트 트레이(20)를 로딩 소팅부(200)로 이동시킴과 함께, 상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)를 언로딩부(500)로 순차적으로 이동시키는 STEP95를 수행하게 된다.
STEP92와 STEP95의 과정을 통하여 순차적으로 상기 언로딩부(500)로 이동한 상기 1 내지 4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)로부터 상기 언로딩 픽킹 유닛(510)에 의해 복수개의 유저 트레이(50)로 전자부품을 등급별로 언로딩하고, 전자부품이 소진된 상기 제1 내지 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)를 언로딩이 완료된 순서대로 언로딩 소팅부(400)로 복귀시키게 된다.
본 발명의 테스트 핸들러는 전자부품을 전기적으로 신속하게 테스트 할 수 있는 테스트 핸들러 분야 또는 부품이나 물품을 효율적으로 이송하기 위한 이동장치 분야에 적용할 수 있다.
도 1은 본 발명의 핸들러의 사시도,
도 2는 도 1에 도시된 핸들러의 분해 사시도,
도 3은 도 2에 도시된 핸들러를 개략적으로 나타낸 평면도,
도 4는 본 발명의 핸들러의 언로딩 소팅부의 구조를 나타낸 개략도,
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 핸들러의 작업과정을 보여주는 전체 흐름도,
도 6은 도 5b에 도시된 STEP9를 상세히 설명한 흐름도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
100: 로딩부 110: 로딩 픽킹유닛
120: 고정 로딩버퍼 130: 이동 로딩버퍼
200: 로딩 소팅부 210: 로딩 소팅유닛
300: 테스트부 400: 언로딩 소팅부
410,420: 언로딩 소팅유닛 430,440,430＇,440＇: 언로딩 버퍼
500: 언로딩부 510: 언로딩 픽킹유닛

Claims (7)

  1. 테스트할 전자부품이 적재된 복수개의 스택커(10)를 구비한 로딩부(100)와;
    상기 로딩부의 일측에 설치되며, X-Y방향으로 이동가능한 로딩 픽킹유닛(110)과;
    상기 로딩부의 스택커로부터 상기 로딩 픽킹유닛(110)에 의해 테스트할 전자부품을 일시적으로 저장하기 위한 고정 로딩버퍼(120)와;
    상기 고정 로딩버퍼(120)의 일측에 설치되고, 상기 로딩 픽킹유닛(110)에 의해 테스트할 전자부품이 안착되며, Y방향으로 이동가능한 이동 로딩버퍼(130)와;
    상기 이동 로딩버퍼(130)로부터 테스트할 전자부품을 받아 안착되는 테스트 트레이(20)가 설치된 로딩 소팅부(200)와;
    상기 로딩 소팅부(200)에 설치되어, 상기 전자부품을 상기 테스트 트레이에 안착시키는 X-Y방향으로 이동가능한 로딩 소팅유닛(210)과;
    상기 로딩 소팅부(200)로부터 상기 테스트 트레이가 유입되어 상기 전자부품을 테스트하는 테스트부(300)와;
    테스트가 완료되어 상기 테스트부(300)에서 배출된 테스트 트레이(20)로부터 전자부품을 소팅하기 위한 언로딩 소팅부(400)와;
    상기 언로딩 소팅부(400)에 설치되며, X-Y방향으로 이동가능한 제1 및 제2 언로딩 소팅유닛(410,420)과;
    상기 제1 및 제2 언로딩 소팅유닛(410,420)에 의해 테스트가 완료된 전자부품이 안착되고, Y방향으로 이동가능한 제1, 제2, 제3 및 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)와;
    상기 제1, 제2, 제3 및 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)로부터 소팅된 전자부품이 적재되는 복수개의 유저 트레이(50)를 구비한 언로딩부(500)와;
    상기 언로딩부(500)에 설치되며, 상기 언로딩 소팅부(400)의 제1, 제2, 제3 및 제4 언로딩버퍼(430a,440a,430b,440b)에 안착된 전자부품을 등급별로 분류하여, 상기 유저 트레이(50)에 안착시키는 X-Y방향으로 이동가능한 언로딩 픽킹유닛(510)으로 이루어지며,
    상기 언로딩 소팅부(400)는 제1 언로딩 소팅부(401)와 제2 언로딩 소팅부(402)로 구성되고, 상기 제1 언로딩 소팅부(401)에서 테스트 트레이(20)의 제1 작업영역(WS1: 1st Working Space)의 전자부품을 소팅하고, 상기 제2 언로딩 소팅부(402)에서 상기 테스트 트레이(20)의 제2 작업영역(WS2: 2nd Working Space)의 전자부품을 소팅하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 트레이(20)의 제2 작업영역(WS2)은 상기 테스트 트레이(20)의 전체 영역에서 상기 제1 작업영역(WS1)을 뺀 나머지 영역인 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  3. 제1항에 있어서, 상기 언로딩 소팅부(400)는 제1 및 제2 언로딩 소팅부(401, 402)로 이루어지며, 상기 제1 언로딩 소팅부(401)는 제1 언로딩 소팅유닛(410), 제 1 언로딩 버퍼(430a) 및 제3 언로딩 버퍼(430b)로 구성되고, 상기 제2 언로딩 소팅부(402)는 제2 언로딩 소팅유닛(420), 제2 언로딩 버퍼(440a) 및 제4 언로딩 버퍼(440b)로 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  4. 제1항 또는 제3항에 있어서, 상기 언로딩 소팅부(400)의 제1 및 2 언로딩 소팅부(401,402)는 테스트 트레이(20)의 이송경로 상에 위치하며, 상기 제2 언로딩 소팅부(402)는 상기 제1 언로딩 소팅부(401)에서 테스트 트레이(20)의 이송방향으로 소정의 거리 떨어져 위치하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제1 및 제2 언로딩 버퍼(430a,440a)는 전자부품이 적재된 테스트 트레이(20)와 언로딩부(500)와의 사이에 위치하고, 상기 제3 및 제4 언로딩 버퍼(430b,440b)는 상기 테스트 트레이(20)의 좌, 우측 어느 한 측에 위치하여 상기 언로딩 소팅부(400)와 상기 언로딩부(500)의 사이를 왕복이동하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  6. 로딩부(100)에 테스트할 전자부품이 적재된 커스터머 트레이(10)를 위치시키는 단계(STEP1)와;
    상기 커스터머 트레이(10)로부터 X-Y방향으로 이동가능한 로딩 픽킹유닛(110)에 의해 이동 로딩버퍼(130)와 고정 로딩버퍼(120)에 순차적으로 전자부품을 공급하는 단계(STEP2)와;
    전자부품의 공급이 완료된 상기 이동 로딩버퍼(130)는 Y방향으로 로딩 소팅부(200)로 이동되는 단계(STEP3)와;
    상기 로딩 소팅부(200)에 위치한 상기 이동 로딩버퍼(130)에 적재된 전자부품을 로딩 소팅유닛(210)이 테스트 트레이(20)로 공급하는 단계(STEP4)와;
    상기 테스트 트레이(20)에 전자부품의 공급이 완료되었는지 여부를 판단하는 단계(STEP5)와;
    전자부품이 소진된 상기 이동 로딩버퍼(130)를 상기 로딩부(100)의 원위치로 복귀시키고, 공급이 완료된 테스트 트레이(20)를 테스트부(300)로 유입하는 단계(STEP6)와;
    테스트부(300)에 유입된 상기 테스트 트레이(20)의 전자부품을 테스트하는 단계(STEP7)와;
    상기 테스트가 완료된 테스트 트레이(20)를 테스트부(300)에서 배출하여 언로딩 소팅부(400)에 위치시키는 단계(STEP8);
    상기 언로딩 소팅부(400)의 제1 언로딩 소팅부(401)에 위치한 테스트 트레이(20)로부터 전자부품을 상기 제1 언로딩 소팅유닛(410)에 의해 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)로 공급한 후, 상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)를 순차적으로 언로딩부(500)로 이동시킴과 함께, 상기 테스트 트레이(20)를 제2 언로딩 소팅부(402)로 이동시키고, 상기 테스트 트레이(20)에 적재된 나머지 전자부품을 제2 언로딩 소팅유닛(420)에 의해 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)로 공급한 후, 전자부품이 소진된 상기 테스트 트레이(20)를 로딩 소팅부(200)로 이동시키고, 상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)를 순차적으로 언로딩부(500)로 이동시키는 단계(STEP9);
    언로딩 픽킹유닛(510)에 의해 언로딩부(500)의 일측에 위치한 상기 제1 내지 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)로부터 복수개의 유저 트레이(50)로 전자부품을 등급별로 언로딩하고, 상기 제1 내지 제4 언로딩 버퍼(430a,440a,430b,440b)를 순차적으로 언로딩 소팅부(400)로 복귀시키는 단계(STEP10)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 부품 이송방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 언로딩 소팅부(400)의 제1 언로딩 소팅부(401)에 위치한 테스트 트레이(20)로부터 전자부품을 상기 제1 언로딩 소팅유닛(410)에 의해 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)로 공급한 후, 상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)를 순차적으로 언로딩부(500)로 이동시킴과 함께, 상기 테스트 트레이(20)를 제2 언로딩 소팅부(402)로 이동시키고, 상기 테스트 트레이(20)에 적재된 나머지 전자부품을 제2 언로딩 소팅유닛(420)에 의해 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)로 공급한 후, 전자부품이 소진된 상기 테스트 트레이(20)를 로딩 소팅부(200)로 이동시키고, 상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)를 순차적으로 언로딩부(500)로 이동시키는 단계(STEP9)는,
    제1 언로딩 소팅부(401)에 위치한 상기 테스트 트레이(20)로부터 상기 제1 언로딩 소팅유닛(410)이 테스트 완료된 전자제품을 픽킹하여, 상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)가 대기하고 있는 위치로 순차적으로 이동하는 단계(STEP90) 와,
    상기 제1 언로딩 소팅유닛(410)이 픽킹한 전자부품 중에 양품을 상기 제1 언로딩 버퍼(430a)에, 불량품을 상기 제3 언로딩 버퍼(430b)에 적재하는 단계(STEP91)와,
    적재가 완료되면, 상기 테스트 트레이(20)를 제2 언로딩 소팅부(402)로 이동시키고, 상기 제1 및 제3 언로딩 버퍼(430a,430b)를 언로딩부(500)로 순차적으로 이동시키는 단계(STEP92)와,
    제2 언로딩 소팅부(402)에 위치한 상기 테스트 트레이(20)로부터 상기 제2 언로딩 소팅유닛(420)이 적재된 나머지 전자제품을 픽킹하여, 상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)가 대기하고 있는 위치로 순차적으로 이동하는 단계(STEP93)와,
    상기 제2 언로딩 소팅유닛(420)이 픽킹한 전자부품 중에 양품을 상기 제2 언로딩 버퍼(440a)에, 불량품을 상기 제4 언로딩 버퍼(440b)에 적재하는 단계(STEP94)와,
    전자부품이 소진된 상기 테스트 트레이(20)를 로딩 소팅부(200)로 이동시키고, 상기 제2 및 제4 언로딩 버퍼(440a,440b)를 언로딩부(500)로 순차적으로 이동시키는 단계(STEP95)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 부품 이송방법.
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