KR100958278B1 - 에스에스디（ｓｓｄ） 언로딩장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 캐리어 트레이로 동시에 이송시켜 언로딩 할 수 있는 SSD 언로딩장치에 관한 것으로, 본 발명의 SSD 언로딩장치는 베이스 프레임(11)의 일측에 설치되는 제1이송로봇(12)과, 베이스 프레임(11)의 타측에 설치되는 제2이송로봇(13)과, 제1이송로봇(12)과 제2이송로봇(13) 사이에 위치되도록 베이스 프레임(11)에 설치되는 수직이송로봇(14)과, 제1이송로봇(12)에 설치되어 다수개의 SSD를 수납하는 테스트 트레이(20)와, 제2이송로봇(13)에 설치되어 테스트 트레이(20)로부터 이송되는 SSD를 수납하는 캐리어 트레이(30)와, 수직이송로봇(14)에 설치되어 테스트 트레이(20)에 수납된 SSD가 낙하되도록 테스트 트레이(20)를 푸시하는 푸시부(40)와, 제2이송로봇(13)의 하측에 위치되도록 베이스 프레임(11)에 설치되어 푸시부(40)가 테스트 트레이(20)를 푸시하여 SSD의 낙하 시 이를 지지하여 캐리어 트레이(30)로 낙하시켜 언로딩시키는 SSD 언로딩부(50)로 구성됨을 특징으로 한다.
SSD, 캐리어, 테스트, 트레이, 언로딩

Description

에스에스디（ＳＳＤ） 언로딩장치{Solid state disk unloading apparatus}
본 발명은 SSD 언로딩장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 테스트 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 캐리어 트레이로 동시에 이송시켜 언로딩할 수 있는 SSD 언로딩장치에 관한 것이다.
에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자가 적용되어 프로그램의 실행속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다. 이러한 SSD를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 SSD의 사시도이다. 도 1에서와 같이 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 인쇄회로기판(1)은 양측면에 홈(1a)이 형성되며, 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)는 각각 인쇄회로기판(1)에 실장된다. 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커 넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 데이터를 커넥터(5)를 통해 외부로 출력하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 커넥트 핀(5a)이 구성되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다.
상기 구성을 갖는 SSD의 조립이 완료되면 전기적인 테스트를 실시하게 되며, 이러한 SSD의 전기적인 특성을 테스트하기 위해 SSD 테스트 핸들러가 개발되고 있다. 이러한 종래의 SSD 테스트 핸들러는 테스트 트레이(test tray)에 수납된 테스트된 SSD를 캐리어로 로딩 시 SSD 픽커(picker)가 연속적으로 이동하여 테스트 트레이에 수납된 SSD를 캐리어 트레이(carrier tray)로 이송시켜 언로딩하게 된다.
종래와 같이 테스트 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 SSD 픽커를 이용하여 캐리어 트레이로 이송하여 언로딩하는 경우에 SSD 픽커가 반복 이동하여 SSD를 언로딩함으로써 SSD 언로딩시간이 길어지게 되며, 이로 인해 SSD 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있다.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 테스트 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 캐리어 트레이로 동시에 이송시켜 언로딩함으로써 SSD 이송시간을 줄여 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 SSD 언로딩장치를 제공함에 있다.
본 발명의 SSD 언로딩장치는 베이스 프레임(base frame)의 일측에 설치되는 제1이송로봇과, 베이스 프레임의 타측에 설치되는 제2이송로봇과, 제1이송로봇과 제2이송로봇 사이에 위치되도록 베이스 프레임에 설치되는 수직이송로봇과, 제1이송로봇에 설치되어 다수개의 SSD를 수납하는 테스트 트레이와, 제2이송로봇에 설치되어 테스트 트레이로부터 이송되는 SSD를 수납하는 캐리어 트레이와, 수직이송로봇에 설치되어 테스트 트레이에 수납된 SSD가 낙하되도록 테스트 트레이를 푸시(push)하는 푸시부와, 제2이송로봇의 하측에 위치되도록 베이스 프레임에 설치되어 푸시부가 테스트 트레이를 푸시하여 SSD의 낙하 시 이를 지지하여 캐리어 트레이로 낙하시켜 언로딩시키는 SSD 언로딩부로 구성되며,
제1이송로봇과 제2이송로봇은 각각 직선이송기구가 사용되고, 수직이송로봇은 공압실린더가 사용되며, 테스트 트레이는 제1이송로봇에 설치되는 모듈안착부재와, 모듈안착부재에 설치되는 다수개의 보조프레임과, 다수개의 보조프레임에 각각 설치되어 SSD를 수납하며 하측에 제1관통홈이 형성되는 다수개의 소켓모듈로 이루어지며, 캐리어 트레이는 제2이송로봇에 설치되며 SSD가 수납되는 다수개의 수납홈이 형성되는 SSD 수납부재와, SSD 수납부재의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈의 양측을 커버하거나 해제하여 SSD가 낙하되도록 하는 래치기구로 이루어지며, 푸시부는 수직이송로봇에 설치되어 승/하강되며 다수개의 제2관통홈이 형성되는 푸시플레이트와, 푸시플레이트에 형성된 다수개의 제2관통홈의 양단에 각각 설치되어 소켓모듈을 푸시하여 SSD가 낙하되도록 하는 다수개의 푸시핀으로 이루어지며, SSD 언로딩부는 베이스 프레임에 설치되는 고정플레이트와, 고정플레이트에 설치되는 다수개의 가이드부싱과, 다수개의 가이드부싱에 설치되어 승/하강되는 이동플레이트와, 이동플레이트에 연동되도록 설치되어 SSD를 지지하는 다수개의 지지부재와, 고정플레이트에 설치되어 캐리어 트레이에 수납된 SSD 낙하 시 다수개의 지지부재가 푸시부의 푸시플레이트에 형성된 제2관통홈과 테스트 트레이의 소켓모듈에 형성된 제1관통홈을 각각 통과하여 테스트 트레이에 수납된 SSD를 지지하여 캐리어 트레이로 언로딩하도록 이동플레이트를 승/하강시키는 승강기구로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 SSD 언로딩장치는 테스트 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 캐리어 트레이로 동시에 언로딩함으로써 SSD 이송시간을 줄여 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다.
(실시예)
본 발명의 SSD 언로딩장치의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 개략 구성도이고, 도 3은 도 2에 도 시된 SSD 언로딩장치의 분리 조립 사시도이다.
도 2 및 도 3에서와 같이 본 발명의 SSD 언로딩장치는 베이스 프레임(11), 제1이송로봇(12), 제2이송로봇(13), 수직이송로봇(14), 테스트 트레이(20), 캐리어 트레이(30), 푸시부(40) 및 SSD 언로딩부(50)로 구성되며, 각각의 구성을 상세히 설명하면 다음과 같다.
베이스 프레임(11)은 본 발명의 SSD 언로딩장치를 전반적으로 지지하며, 제1이송로봇(12)은 베이스 프레임(11)의 일측에 설치되어 테스트 트레이(20)를 이송시킨다. 제2이송로봇(13)은 베이스 프레임(11)의 타측에 설치되어 캐리어 트레이(30)를 이송시킨다. 이러한 제1 및 제2이송로봇(12,13)은 각각 리니어 모터나 볼스크류 이송기구와 같은 직선이송기구가 적용된다. 수직이송로봇(14)은 제1이송로봇(12)과 제2이송로봇(13) 사이에 위치되도록 베이스 프레임(11)에 설치되어 푸시부(40)를 승/하강시키며, 실린더나 볼스크류 이송기구가 적용된다.
테스트 트레이(20)는 제1이송로봇(12)에 설치되어 다수개의 SSD를 수납하며, 캐리어 트레이(30)는 제2이송로봇(13)에 설치되어 테스트 트레이(20)로부터 이송되는 SSD를 수납한다. 푸시부(40)는 수직이송로봇(14)에 설치되어 테스트 트레이(20)에 수납된 SSD가 낙하되도록 테스트 트레이(20)를 푸시하며, SSD 언로딩부(50)는 제2이송로봇(13)의 하측에 위치되도록 베이스 프레임(11)에 설치되어 푸시부(40)가 테스트 트레이(20)를 푸시하여 SSD의 낙하 시 이를 지지하여 캐리어 트레이(30)로 낙하시켜 언로딩(unloading)시킨다.
상기 구성 중 테스트 트레이(20), 캐리어 트레이(30), 푸시부(40) 및 SSD 언 로딩부(50)를 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
테스트 트레이(20)는 도 3 및 도 4에서와 같이 모듈안착부재(21), 다수개의 보조프레임(22) 및 다수개의 소켓모듈(23)로 구성된다.
모듈안착부재(21)는 테스트 트레이(20)를 전반적으로 지지하며, 다수개의 보조프레임(22)은 모듈안착부재(21)에 설치된다. 즉, 도 3에서와 같이 다수개의 보조 프레임(22)은 모듈안착부재(21)에 각각 일정 간격으로 이격되어 설치된다. 다수개의 소켓모듈(23)은 다수개의 보조프레임(22)에 각각 설치되어 SSD를 수납하며, 하측에 제1관통홈(23a)이 형성된다.
SSD를 수납하는 다수개의 소켓모듈(23)은 도 4에서와 같이 SSD 수납부재(23b)와 다수개의 래치부재(23c)로 이루어진다. SSD 수납부재(23b)는 SSD를 수납하고, 저면에 SSD 언로딩부(50)의 지지부재(54)가 삽입되어 수직방향으로 승/하강될 수 있도록 제1관통홈(23a)이 형성되며, 다수개의 래치부재(23c)는 SSD 수납부재(23b)의 양단에 각각 설치되어 SSD를 지지하거나 해제한다.
캐리어 트레이(30)는 도 3 및 도 5에서와 같이 SSD 수납부재(31) 및 래치기구(32)로 구성된다.
SSD 수납부재(31)는 다수개의 수납홈(31a)이 형성되며, 래치기구(32)는 SSD 수납부재(31)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(31a)의 양측을 커버하거나 해제하여 SSD가 낙하되도록 한다. 이러한 래치기구(32)는 제1바이송기구(32a)와 제2바이송기구(32b)로 이루어진다.
제1바이송기구(32a)는 SSD 수납부재(31)의 하측에 설치되어 다수개의 수납 홈(31a)의 일측을 커버하거나 해제한다. 즉, 제1바이송기구(32a)는 도 5에 도시된 화살표 a1,a2방향으로 이동하여 SSD 수납부재(31)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(31a)의 일측을 커버하거나 해제한다. 이러한 제1바이송기구(32a)는 다수개의 제1연결부재(111), 다수개의 제1바(112), 다수개의 제1탄성부재(113) 및 제1공압실린더(114)로 구성된다.
다수개의 제1연결부재(111)는 제1바이송기구(32a)를 각각 전반적으로 지지하며, 다수개의 제1바(112)는 다수개의 제1연결부재(111)와 연동되도록 각각 설치되어 다수개의 수납홈(31a)의 일측을 커버하거나 해제한다. 다수개의 제1탄성부재(113)는 각각 다수개의 제1연결부재(111)와 SSD 수납부재(31)에 각각 설치되어 다수개의 제1바(112)에 의해 다수개의 수납홈(31a)의 일측이 커버되도록 탄성력을 제공한다. 즉, 도 5에서와 같이 다수개의 제1탄성부재(113)는 압축 스프링이 적용되어 다수개의 제1바(112)를 화살표 a1방향으로 이동시켜 다수개의 수납홈(31a)의 일측을 항상 커버하여 SSD가 수납되도록 한다.
제1공압실린더(114)는 다수개의 제1연결부재(111)에 설치되어 다수개의 제1바(112)에 의해 커버된 다수개의 수납홈(31a)의 일측이 해제되도록 다수개의 제1연결부재(111)를 이동시켜 다수개의 수납홈(31a)에 수납된 SSD가 자유 낙하될 수 있도록 한다. 즉, 도 5에서와 같이 제1공압실린더(114)는 다수개의 수납홈(31a)의 일측을 커버하고 있는 다수개의 제1바(112)를 화살표 a2방향으로 이동시켜 SSD가 자유 낙하되도록 한다.
제2바이송기구(32b)는 SSD 수납부재(31)의 하측에 설치되어 다수개의 수납 홈(31a)의 타측을 커버하거나 해제한다. 즉, 제2바이송기구(32b)는 도 5에 도시된 화살표 b1,b2방향으로 이동하여 SSD 수납부재(31)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(31a)의 타측을 커버하거나 해제한다. 이러한, 제2바이송기구(32b)는 다수개의 제2연결부재(121), 다수개의 제2바(122), 다수개의 제2탄성부재(123) 및 제2공압실린더(124)로 구성된다.
다수개의 제2연결부재(121)는 제2바이송기구(32b)를 각각 전반적으로 지지하며, 다수개의 제2바(122)는 다수개의 제2연결부재(121)와 연동되도록 각각 설치되어 다수개의 수납홈(31a)의 타측을 커버하거나 해제한다. 다수개의 제2탄성부재(123)는 각각 다수개의 제2연결부재(121)와 SSD 수납부재(31)에 각각 설치되어 다수개의 제2바(122)에 의해 다수개의 수납홈(31a)의 타측이 커버되도록 탄성력을 제공한다. 즉, 도 5에서와 같이 다수개의 제2탄성부재(123)는 압축 스프링이 적용되어 다수개의 제2바(122)를 화살표 b1방향으로 이동시켜 다수개의 수납홈(31a)의 타측을 항상 커버하여 SSD가 수납되도록 한다.
제2공압실린더(124)는 다수개의 제2연결부재(121)에 설치되어 다수개의 제2바(122)에 의해 커버된 다수개의 수납홈(31a)의 타측이 해제되도록 다수개의 제2연결부재(121)를 이동시켜 다수개의 수납홈(31a)에 수납된 SSD가 자유 낙하될 수 있도록 한다. 즉, 도 5에서와 같이 제2공압실린더(124)는 다수개의 수납홈(31a)의 타측을 커버하고 있는 다수개의 제2바(122)를 화살표 b2방향으로 이동시켜 SSD가 자유 낙하되도록 한다.
푸시부(40)는 도 3 및 도 6에서와 같이 푸시플레이트(push plate)(41) 및 다 수개의 푸시핀(push pin)(42)으로 구성된다. 푸시플레이트(41)는 수직이송로봇(14)에 설치되어 승/하강되며 다수개의 제2관통홈(41a)이 형성되며, 다수개의 푸시핀(42)은 푸시플레이트(41)에 형성된 다수개의 제2관통홈(41a)의 양단에 각각 설치되어 소켓모듈(23)을 푸시하여 SSD가 낙하되도록 한다. 즉, 다수개의 푸시핀(42)은 테스트가 완료된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)가 캐리어 트레이(30)의 상측으로 이송되면 테스트 트레이(20)의 소켓모듈(23)을 푸시한다. 푸시핀(42)이 푸시하면 이 힘에 의해 소켓모듈(23)은 SSD의 지지 상태를 해제하여 SSD가 낙하되도록 한다.
SSD 언로딩부(50)는 도 2 및 도 3에서와 같이 고정플레이트(51), 다수개의 가이드부싱(guide busing)(52), 이동플레이트(53), 다수개의 지지부재(54) 및 승강기구(55)로 구성된다.
고정플레이트(51)는 베이스 프레임(11)에 고정 설치되며, 다수개의 가이드부싱(52)은 고정플레이트(51)에 설치된다. 이동플레이트(53)는 다수개의 가이드부싱(52)에 설치되어 승/하강되며, 다수개의 지지부재(54)는 이동플레이트(53)에 연동되도록 설치되어 SSD를 지지한다. 승강기구(55)는 고정플레이트(51)에 설치되어 캐리어 트레이(30)에 수납된 SSD 낙하 시 다수개의 지지부재(54)가 푸시부(40)의 푸시플레이트(41)에 형성된 제2관통홈(41a)과 테스트 트레이(20)의 소켓모듈(23)에 형성된 제1관통홈(23a)을 각각 통과하여 캐리어 트레이(30)에 수납된 SSD를 지지하여 테스트 트레이(20)에 언로딩하도록 이동플레이트(53)를 승/하강시킨다. 이러한 승강기구(55)는 공압실린더나 볼스크류 이송기가 적용된다.
상기 구성을 갖는 본 발명의 SSD 언로딩장치의 작용을 첨부된 도 7a 내지 도 7c를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 2에 도시된 바와 같이 테스트 트레이(20)에 수납된 SSD가 테스트 장치(16)에서 테스트가 완료되면 테스트 트레이(20)는 트레이 이송장치(15)에 의해 화살표 방향으로 언로딩된다. 테스트 트레이(20)가 언로딩되면 제1이송로봇(12)은 이를 캐리어 트레이(30)의 상측으로 이송한다. 캐리어 트레이(30)는 테스트된 SSD를 수납하기 위해 제2이송로봇(13)에 의해 미리 언로딩 위치, 즉 테스트 트레이(20)의 하측으로 이송된다.
캐리어 트레이(30)가 언로딩 위치로 이송되고 테스트 트레이(20)가 캐리어 트레이(30)의 상측으로 이송되면 푸시부(40)가 수직이송로봇(14: 도 2에 도시됨)에 승강한다. 푸시부(40)는 테스트 트레이(20)의 소켓모듈(23: 도 4에 도시됨)을 푸시핀(42: 도 6에 도시됨)으로 푸시하여 소켓모듈(23)이 지지하고 있는 테스트가 완료된 SSD의 지지 상태를 해제시킨다.
소켓모듈(23)에 수납된 SSD의 지지 상태가 해제되면 SSD 언로딩부(50)의 다수개의 지지부재(54)는 도 7a에서와 같이 푸시부(40)의 푸시플레이트(41)에 형성된 제2관통홈(41a)과 테스트 트레이(20)의 소켓모듈(23)에 형성된 제1관통홈(23a)을 각각 통과하여 테스트 트레이(20)에 수납된 다수개의 SSD의 저면을 지지하기 위해 승강한다.
다수개의 지지부재(54)가 SSD를 지지하면 도 7b 및 도 7c에서와 같이 다수개의 지지부재(54)는 SSD를 지지한 상태로 승강기구(55)에 의해 하강된다. 이와 같이 다수개의 지지부재(54)가 하강되어 SSD가 캐리어 트레이(30)로 하강되어 언로딩되 면 캐리어 트레이(30)는 이를 수납하게 된다.
캐리어 트레이(30)에서 SSD의 수납 시 래치기구(32: 도 5에 도시됨)가 다수개의 수납홈(31a: 도 3에 도시됨)의 양측을 커버하고 있지 않으면 래치기구(32)는 언로딩된 SSD가 저면으로 낙하되지 않도록 다수개의 수납홈(31a)의 양측을 커버하여 테스트가 완료된 SSD가 캐리어 트레이(30)에 수납되도록 한다. 이와 같이 SSD 언로딩부(50)에 의해 테스트가 완료된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)에서 캐리어 트레이(30)로 다수개의 SSD를 동시에 언로딩함으로써 SSD의 이송작업 시간을 개선시킬 수 있게 된다.
본 발명의 SSD 언로딩장치는 SSD를 자동으로 테스트하는 SSD 테스트 핸들러 분야에 적용할 수 있다.
도 1은 SSD의 사시도,
도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 개략 구성도,
도 3은 도 2에 도시된 SSD 언로딩장치의 분리 조립 사시도,
도 4는 도 3에 도시된 소켓모듈의 분리 조립 사시도,
도 5는 도 3에 도시된 래치기구의 사시도,
도 6은 도 3에 도시된 푸시부의 사시도,
도 7a 내지 도 7c는 도 3에 도시된 SSD 언로딩장치의 작동 상태를 나타낸 도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
11: 베이스 프레임 12: 제1이송로봇
13: 제2이송로봇 14: 수직이송로봇
20: 테스트 트레이 21: 모듈안착부재
22: 보조프레임 23: 소켓모듈
30: 캐리어 트레이 31: SSD 수납부재
32: 래치기구 32a: 제1바이송기구
32b: 제2바이송기구 40: 푸시부
41: 푸시플레이트 42:푸시핀
50: SSD 언로딩부 51: 고정플레이트
52: 가이드부싱 53: 이동플레이트
54: 지지부재 55: 승강기구

Claims (7)

  1. 베이스 프레임의 일측에 설치되는 제1이송로봇과,
    베이스 프레임의 타측에 설치되는 제2이송로봇과,
    상기 제1이송로봇과 상기 제2이송로봇 사이에 위치되도록 베이스 프레임에 설치되는 수직이송로봇과,
    상기 제1이송로봇에 설치되어 다수개의 SSD를 수납하는 테스트 트레이와,
    상기 제2이송로봇에 설치되어 테스트 트레이로부터 이송되는 SSD를 수납하는 캐리어 트레이와,
    상기 수직이송로봇에 설치되어 상기 테스트 트레이에 수납된 SSD가 낙하되도록 테스트 트레이를 푸시하는 푸시부와,
    상기 제2이송로봇의 하측에 위치되도록 베이스 프레임에 설치되어 상기 푸시부가 상기 테스트 트레이를 푸시하여 SSD의 낙하 시 이를 지지하여 상기 캐리어 트레이로 낙하시켜 언로딩시키는 SSD 언로딩부로 구성되며,
    상기 제1이송로봇과 상기 제2이송로봇은 각각 직선이송기구가 사용되고,
    상기 수직이송로봇은 공압실린더가 사용되며,
    상기 테스트 트레이는 제1이송로봇에 설치되는 모듈안착부재와, 상기 모듈안착부재에 설치되는 다수개의 보조프레임과, 상기 다수개의 보조프레임에 각각 설치되어 SSD를 수납하며 하측에 제1관통홈이 형성되는 다수개의 소켓모듈로 이루어지며,
    상기 캐리어 트레이는 제2이송로봇에 설치되며 SSD가 수납되는 다수개의 수납홈이 형성되는 SSD 수납부재와, 상기 SSD 수납부재의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈의 양측을 커버하거나 해제하여 SSD가 낙하되도록 하는 래치기구로 이루어지며,
    상기 푸시부는 수직이송로봇에 설치되어 승/하강되며 다수개의 제2관통홈이 형성되는 푸시플레이트와, 상기 푸시플레이트에 형성된 다수개의 제2관통홈의 양단에 각각 설치되어 소켓모듈을 푸시하여 SSD가 낙하되도록 하는 다수개의 푸시핀으로 이루어지며,
    상기 SSD 언로딩부는 베이스 프레임에 설치되는 고정플레이트와, 상기 고정플레이트에 설치되는 다수개의 가이드부싱과, 상기 다수개의 가이드부싱에 설치되어 승/하강되는 이동플레이트와, 상기 이동플레이트에 연동되도록 설치되어 SSD를 지지하는 다수개의 지지부재와, 상기 고정플레이트에 설치되어 캐리어 트레이에 수납된 SSD 낙하 시 상기 다수개의 지지부재가 푸시부의 푸시플레이트에 형성된 제2관통홈과 테스트 트레이의 소켓모듈에 형성된 제1관통홈을 각각 통과하여 테스트 트레이에 수납된 SSD를 지지하여 캐리어 트레이로 언로딩하도록 상기 이동플레이트를 승/하강시키는 승강기구로 이루어지는 것을 특징으로 하는 SSD 언로딩장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서, 상기 래치기구는 상기 SSD 수납부재의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈의 일측을 커버하거나 해제하는 제1바이송기구와, 상기 SSD 수납부재의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈의 타측을 커버하거나 해제하는 제2바이송기구로 이루어짐을 특징으로 하는 SSD 언로딩장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1바이송기구는 다수개의 제1연결부재와,
    상기 다수개의 제1연결부재와 연동되도록 각각 설치되어 다수개의 수납홈의 일측을 커버하거나 해제하는 다수개의 제1바와,
    상기 다수개의 제1연결부재와 SSD 수납부재에 각각 설치되어 다수개의 제1바에 의해 다수개의 수납홈의 일측이 커버되도록 탄성력을 제공하는 다수개의 제1탄성부재와,
    상기 다수개의 제1연결부재에 설치되어 다수개의 제1바에 의해 커버된 다수개의 수납홈의 일측이 해제되도록 다수개의 제1연결부재를 이동시키는 제1공압실린더로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 언로딩장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제1바이송기구는 다수개의 제2연결부재와,
    상기 다수개의 제2연결부재와 연동되도록 각각 설치되어 다수개의 수납홈의 타측을 커버하거나 해제하는 다수개의 제2바와,
    상기 다수개의 제2연결부재와 SSD 수납부재에 각각 설치되어 다수개의 제2바에 의해 다수개의 수납홈의 타측이 커버되도록 탄성력을 제공하는 다수개의 제2탄성부재와,
    상기 다수개의 제2연결부재에 설치되어 다수개의 제2바에 의해 커버된 다수개의 수납홈의 타측이 해제되도록 다수개의 제2연결부재를 이동시키는 제2공압실린더로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 언로딩장치.
  6. 삭제
  7. 삭제
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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