KR100876292B1 - 에스에스디（ｓｓｄ） 테스트 핸들러 - Google Patents

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김차일
박성윤
최철규
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Abstract

본 발명은 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 SSD를 베어(bare) 상태에서 자동으로 테스트할 수 있는 SSD 테스트 핸들러에 관한 것으로, 본원 발명의 SSD 테스트 핸들러는 테스트 트레이에 수납된 테스트된 SSD를 배출하고 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납할 수 있도록 테스트 트레이를 스텝 이송시키는 챔버부와, 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 로딩부와; 챔버부의 타측에 설치되어 테스트가 완료된 SSD를 수납하기 위해 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 언로딩부와, 테스트 트레이가 이송되면 테스트 트레이에서 테스트가 완료된 SSD을 가압하여 삽입을 해제한 후 수납하여 회전 정렬시키며 테스트될 SSD를 회전 이송시킨 후 가압하여 테스트 트레이에서 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납시키는 정렬부와, 로딩부에 의해 이송된 캐리어 트레이에 수납된 테스트될 SSD를 정렬부로 이송시키는 로딩 헤드부, 정렬부에 수납된 테스트가 완료된 SSD를 언로딩부에 의해 이송된 빈 캐리어 트레이로 이송시키는 언로딩 헤드부로 구비됨을 특징으로 한다.
SSD, 테스트, 핸들러, 로딩, 언로딩, 챔버, 정렬

Description

에스에스디（ＳＳＤ） 테스트 핸들러{A Solid State Disk Test Handler}
본 발명은 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 SSD를 베어(bare) 상태에서 자동으로 테스트할 수 있는 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것이다.
에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 약칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자를 사용하여 데이터를 저장함으로써 프로그램의 실행속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다.
SSD의 구성 및 작용을 첨부된 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1에 도시된 SSD는 케이스(case)(도시 않음)가 조립되지 않은 베어(bare) 상태의 SSD를 나타내며, 베어 상태의 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(5)는 각각 인쇄회 로기판(1)에 실장되며, 각각을 실장 시 SSD의 데이터의 저장 용량에 따라 인쇄회로기판(1)의 일면에 제어기(3)와 입출력제어기(4)를 실장하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(2)를 실장하여 구성할 수 있다.
SSD를 구성하는 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 입력되거나 출력되는 데이터를 커넥터(5)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 핀(5a)이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다.
케이스(도시 않음)가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD는 커넥터(5)에 구비되는 다수개의 핀(5a)으로 인해 종래의 테스트 핸들러를 이용하여 자동으로 테스트를 실시할 수 없어 SSD의 번인(burn in) 테스트나 전기적인 특성 테스트 시 작업자가 수작업이나 반자동으로 테스터에 SSD를 장착하여 테스트를 실시하였다.
종래와 같이 베어 상태의 SSD의 테스트를 수작업을 이용하여 실시하는 경우 작업자의 숙련도에 따라 테스트 작업의 생산성이 결정되며, 숙련도가 낮은 경우에 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 함으로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 다수개의 테스트 트레이(test tray)를 각각 테스트 사이트(test site)로 순환 이송시키며 테스트 트레이에 수납된 테스트된 SSD를 배출하고, 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납할 수 있도록 테스트 트레이를 스텝 이송시키는 챔버부와; 챔버부의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 로딩부와; 챔버부의 타측에 설치되어 테스트가 완료된 SSD를 수납하기 위해 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 언로딩부와; 로딩부와 언로딩부 사이에 설치되어 테스트 트레이가 이송되면 테스트 트레이에서 테스트가 완료된 SSD을 가압하여 삽입을 해제한 후 수납하여 회전 정렬시키며, 테스트될 SSD를 회전 이송시킨 후 가압하여 테스트 트레이에서 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납시키는 정렬부와; 로딩부와 정렬부의 상측에 설치되어 로딩부에 의해 이송된 캐리어 트레이(carrier tray)에 수납된 테스트될 SSD를 정렬부로 이송시키는 로딩 헤드(loading head)부와; 언로딩부와 정렬부의 상측에 설치되어 정렬부에 수납된 테스트가 완료된 SSD를 언로딩부에 의해 이송된 빈 캐리어 트레이로 이송시키는 언로딩 헤드(unloading head)부로 구비됨을 특징으로 한다.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 함으로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
(실시예1)
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 3은 도 2에 도시된 정렬부 및 챔버부의 측면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 챔버부(110), 로딩부(120), 언로딩부(130), 정렬부(140), 로딩 헤드부(150) 및 언로딩 헤드부(160)로 구성되며, 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다.
챔버부(110)는 다수개의 테스트 트레이(111)를 각각 순환 이송시키며, 테스트 트레이(111)에 수납된 테스트된 SSD를 배출하고, 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납할 수 있도록 테스트 트레이(111)를 스텝 이송시키기 위해 도 2 및 도 3에 도시된 것과 같이 다수개의 테스트 트레이(111), 테스트 사이트(112) 및 순환 이송기구(113)로 구비되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
다수개의 테스트 트레이(111)는 각각 테스트될 다수개의 SSD를 수납하며, 테스트 사이트(112)는 테스트 트레이(111)와 접촉되어 테스트 트레이(111)에 수납된 SSD를 테스트하도록 구성된다. 순환 이송기구(113)는 테스트 사이트(112)의 일측에 설치되어 다수개의 테스트 트레이(111)를 테스트 사이트(112)로 이송시키거나 테스트 트레이(111)에 수납된 SSD를 배출하거나 테스트 트레이(111)에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트 트레이(111)를 순환 이송시킨다.
챔버부(110)의 순환 이송기구(113)는 다수개의 테스트 트레이(111) 중 테스트 사이트(112)에서 테스트가 완료된 테스트 트레이(111)에 수납된 배출하기 위해 정렬부(140)에 의해 SSD가 한 열씩 배출되도록 하거나 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 한 열씩 수납할 수 있도록 테스트가 완료된 SSD가 수납된 테스트 트레이(111)를 간격(P1: 도 3에 도시됨) 만큼 한 스텝(step) 이송시킨다. 테스트 트레이(111)를 한 스텝 이송시키기 위한 순환 이송기구(113)의 구성을 첨부된 도 2 및 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
순환 이송기구(113)는 첨부된 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이 테스트 트레이(111)를 수직방향(Z축방향)으로 이송시키는 제1챔버 승강기(113a)와, 제1챔버 승강기(113a)의 타측에 설치되어 테스트 트레이(111)를 수직방향으로 이송시키는 제2챔버 승강기(113b)와, 제1 및 제2챔버 승강기(113a,113b)의 하측에 설치되어 테스트 트레이(111)를 수평방향으로 이송시키는 제1챔버 이송기구(113c)와, 제1 및 제2챔버 승강기(113a,113b)의 상측에 설치되어 테스트 트레이(111)를 수평방향으로 이송시키는 제2챔버 이송기구(113d)로 이루어진다.
순환 이송기구(113) 중 제1챔버 승강기(113a)는 다수개의 테스트 트레이(111) 중 테스트 사이트(112)에서 테스트가 완료된 테스트 트레이(111)에 수납된 SSD를 한 열씩 배출되도록 하거나 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 한 열씩 수 납할 수 있도록 테스트 트레이(111)를 간격(P)만큼 일정하게 스텝 이송시킨다. 예를 들어, 도 2 및 도 3에 도시된 것과 같이 제1챔버 승강기(113a)는 테스트가 완료된 테스트 트레이(111)가 4개의 열이 구비되는 경우에 첫 번째 열에 위치한 SSD가 배출될 수 있도록 스텝 이송시킨다. 테스트 트레이(111)가 스텝 이송되어 첫 번째 열에 위치한 SSD가 배출되면 제1챔버 승강기(113a)는 테스트 트레이(111)를 한 스텝 이송시켜 다음 열에 위치한 SSD가 배출될 수 있도록 함과 아울러 테스트 트레이(111)에서 SSD가 배출된 빈 첫 번째 열에는 테스트될 SSD가 수납되도록 한다.
제1챔버 승강기(113a)의 스텝 이송에 의해 테스트가 완료된 테스트 트레이(111)에서 테스트가 완료된 SSD가 배출된 후 새로 테스트될 SSD가 테스트 트레이(111)에 수납되면 제1 및 제2챔버 이송기구(113c,113d) 중 제1챔버 이송기구(113c)에 의해 제2챔버 승강기(113b)로 이송된다. 제2챔버 승강기(113b)는 이송된 테스트 트레이(111)를 테스트 사이트(112)로 이송하고, 테스트 사이트(112)에서 테스트 트레이(111)에 수납된 SSD의 테스트가 완료되면 제2챔버 이송기구(113d)에 의해 제1챔버 승강기(113a)로 순환 이송되어 테스트가 완료된 SSD를 배출할 수 있도록 하고, 테스트될 SSD를 테스트 트레이(111)에 수납될 수 있도록 한다.
로딩부(120)는 챔버부(110)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 로딩위치로 이송시키기 위해 도 2에 도시된 바와 같이 다수개의 캐리어 트레이(100a), 제1로딩 승강기(121), 제2로딩 승강기(122), 로딩 스택커(123), 제1로딩 이송기구(124) 및 제2로딩 이송기구(도시 않음)로 구비된다.
다수개의 캐리어 트레이(100a)는 각각 테스트될 다수개의 SSD가 수납되며, 제1로딩 승강기(121)는 챔버부(110)의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 이송받아 승강시켜 투입한다. 제2로딩 승강기(122)는 캐리어 트레이(100a)를 투입하는 제1로딩 승강기(121)와 제2방향(Y)으로 대향되게 설치되어 테스트될 SSD가 수납되는 캐리어 트레이(100a)를 수납하여 하강시킨다. 즉, 캐리어 트레이(100a)에 테스트될 SSD가 수납되면 이를 제2로딩 승강기(122)에 투입하게 된다. 로딩 스택커(123)는 제2로딩 승강기(122)의 타측에 설치되어 테스트될 SSD가 배출된 빈 캐리어 트레이(100a)를 적재한다.
제1로딩 이송기구(124)는 제1로딩 승강기(121)의 일측에 설치되어 제1로딩 승강기(121)에 의해 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)가 투입되면 로딩헤드부(150)가 캐리어 트레이(100a)에 수납된 SSD를 파지하여 정렬부(140)의 제2정렬기(142)로 이송시킬 수 있도록 캐리어 트레이(100a)를 간격(P2) 만큼 한 스텝 이송시킨다. 제2로딩 이송기구는 도면에 기재되어 있지 않지만 제1로딩 이송기구(124)의 하측에 제1로딩 승강기(121)와 제2로딩 승강기(122) 사이에 설치되어 제2로딩 승강기(122)에서 하강되어 투입되는 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 캐리어 트레이(100a)를 제1로딩 승강기(121)로 이송시켜 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 투입하게 된다.
언로딩부(130)는 챔버부(110)의 타측에 설치되어 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 언로딩시키기 위해 다수개의 빈 캐리어 트레이(100a), 제1언로딩 승강기(131), 제2언로딩 승강기(132), 언로딩 스택커(133), 제1언로딩 이송기구(134) 및 제2언로딩 이송기구(도시 않음)로 구성된다.
다수개의 빈 캐리어 트레이(100a)는 각각 테스트가 완료된 다수개의 SSD를 수납하며, 제1언로딩 승강기(131)는 챔버부(110)의 타측에 설치되어 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 하강시킨다. 제2언로딩 승강기(132)는 제2방향(Y)으로 제1언로딩 승강기(131)와 대향되게 설치되어 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 수납하여 승강시켜 배출한다. 언로딩 스택커(133)는 제2언로딩 승강기(132)의 타측에 설치되어 다수개의 빈 캐리어 트레이(100a)를 투입한다.
제1언로딩 이송기구(134)는 제1언로딩 승강기(131)의 일측에 설치되어 언로딩 헤드부(160)가 정렬부(140)의 제1정렬기(142)에 수납된 테스트가 완료된 SSD를 언로딩 스택커(133)에 의해 투입되는 테스트가 완료된 SSD를 수납하기 위한 빈 캐리어 트레이(100a)에 수납할 수 있도록 빈 캐리어 트레이(100a)를 간격(P2) 만큼 한 스텝 이송시킨다. 제2언로딩 이송기구(도시 않음)는 도면에 기재되어 있지 않지만 제1언로딩 이송기구(134)의 하측에 위치되고, 제1언로딩 승강기(131)와 제2언로딩 승강기(132) 사이에 설치되어 제1언로딩 이송기구(134)에 의해 이송된 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 제1언로딩 승강기구(131)에서 이송받아 제2언로딩 승강기(132)로 이송시키고, 제2언로딩 승강기(132)를 통해 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 배출하게 된다.
정렬부(140)는 로딩부(120)와 언로딩부(130) 사이에 설치되어 테스트 트레이(111)가 이송되면 테스트 트레이(111)에서 테스트가 완료된 SSD를 가압하여 삽입을 해제한 후 수납하여 회전 정렬시키며, 테스트될 SSD를 회전 이송시킨 후 가압하 여 테스트 트레이(111)에서 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 도 2 및 도 3에 도시된 것과 같이 푸셔(pusher)(141), 제1정렬기(142) 및 제2정렬기(143)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
푸셔(141)는 제1정렬기(142)와 제2정렬기(143) 사이에 설치되어 제1정렬기(142)에 수납되도록 테스트 트레이(111)에서 테스트가 완료된 SSD의 삽입을 해제시키고, 제2정렬기(143)에 수납된 테스트될 SSD를 삽입 해제되어 제1정렬기(142)로 배출된 테스트 트레이(111)의 SSD 삽입 위치에 삽입되도록 가압하게 된다. SSD를 가압하는 푸셔(141)는 푸시(push)부재(141a), 푸시 승강기(141b), 제1 및 제2푸시 이송기구(141c,141d)로 이루어진다.
푸시부재(141a)는 SSD를 가압하여 테스트가 완료된 SSD를 테스트 트레이(111)에서 인출하거나 테스트될 SSD를 수납하게 된다. 푸시 승강기(141b)는 일측에 푸시부재(141a)가 설치되어 푸시부재(141a)를 정렬부(140)의 제1정렬기(142)와 제2정렬기(143)로 이동되도록 승/하강시킨다. 즉, 푸시 승강기(141b)는 푸시부재(141a)를 승/하강시켜 정렬부(140)의 제1정렬기(142)와 제2정렬기(143)로 이송시켜 푸시 부재(141a)가 제1정렬기(142)에서 제2정렬기(143)로 또는 그 반대 방향으로 승/하강된다. 푸시 승강기(141b)에 의해 승/하강되는 푸시 부재(141a)에 의해 제2정렬기(143)에서 정렬된 테스트될 SSD를 테스트 트레이(111)에 수납되도록 가압하고, 테스트 트레이(111)에서 테스트가 완료된 SSD를 가압하여 인출할 수 있도록 한다. 제1 및 제2푸시 이송기구(141c,141d)는 푸시 승강기(141b)의 타측에 설치되어 푸시 승강기(141b)를 제1 및 제2방향(X,Y)으로 이송시킨다. 즉, 제1 및 제2푸시 이송기구(141c,141d)는 푸시 승강기(141b)를 제1 및 제2방향(X,Y)으로 이송시켜 제1정렬기(142)로 테스트된 다수개의 SSD가 수납되어 정렬되도록 하며, 제2정렬기(143)에 정렬된 다수개의 SSD를 테스트 트레이(111)에 수납시키게 된다.
제1정렬기(142)는 도 2 및 도 3에 도시된 것과 같이 챔버부(110)의 일측에 설치되어 테스트 트레이(111)에서 테스트된 SSD가 삽입 해제되면 이를 수납하여 언로딩 헤드부(160)가 파지할 수 있도록 회전시켜 정렬하기 위해 제1정렬 수납부재(142a) 및 제1회전부재(142b)로 이루어진다. 제1정렬 수납부재(142a)는 테스트 트레이(111)에서 배출되는 테스트된 SSD를 수납하며, 제1회전부재(142b)는 제1정렬 수납부재(142a)의 일측에 설치되어 언로딩 헤드부(160)가 테스트된 SSD를 파지하여 이송시킬 수 있도록 제1정렬 수납부재(142a)를 회전시킨다. 제1정렬 수납부재(142a)를 회전시키는 제1회전부재(142b)는 제1정렬 수납부재(142a)에 수납된 SSD를 90도 회전시킨다. 제1정렬 수납부재(142a)를 회전시키는 제1회전부재(142b)는 도시하지 않은 풀리(pulley), 벨트(belt) 및 모터로 구성된다.
제2정렬기(143)는 제1정렬기(142)와 대향되도록 설치되어 로딩 헤드부(150)에 의해 SSD가 수납되면 이를 회전 이송시켜 정렬하기 위해 도 2 및 도 3에 도시된 것과 같이 제2정렬 수납부재(143a), 제2회전부재(143b) 및 곡선 가이드(143c)로 이루어진다.
제2정렬 수납부재(143a)는 로딩 헤드부(150)에 의해 이송되는 테스트될 SSD를 수납하며, 제2회전부재(143b)는 제2정렬 수납부재(143a)의 일측에 설치되어 제2정렬 수납부재(143a)에 수납된 SSD를 테스트 트레이(111)에 삽입될 수 있도록 회전 시키기 위해 제2정렬 수납부재(143a)를 회전시킨다. 예를 들어, 제2회전부재(143b)는 제2정렬 수납부재(143a)에 수납된 SSD의 커넥터 핀(5a: 도 1에 도시됨)이 테스트 트레이(111)를 향하도록 SSD를 90도 회전시키기 위해 제2정렬 수납부재(143a)를 회전시킨다. 제2정렬 수납부재(143a)를 회전시키는 제2회전부재(143b)는 도시되지 않은 풀리(pulley), 벨트(belt) 및 모터로 구성된다. 곡선 가이드(143c)는 제2회전부재(143b)가 회전 이송될 수 있도록 제2정렬 수납부재(143a)를 제1정렬기(142)의 하측과 로딩 헤드부(150)가 SSD를 수납할 수 있는 위치로 가이드하여 푸셔(141)의 가압에 의해 제2정렬 수납부재(143a)에 수납된 SSD를 테스트 트레이(111)에 수납할 수 있도록 한다. 곡선 가이드(143c)의 곡선을 따라 제2정렬 수납부재(143a)를 이송시키기 위해 제2정렬기(143)는 별도의 제2정렬 수납부재(143a)를 이송시킬 수 있는 볼 스크류나 리니어 모터와 같은 직선이송기구(도시 않음)가 구비된다.
로딩 헤드부(150)는 로딩부(120)에 의해 이송된 캐리어 트레이(100a)에 수납된 테스트될 SSD를 제2정렬기(143)로 이송시키기 위해 로딩부(120)와 정렬부(140)의 상측에 설치된다. 즉, 도 2에 도시된 바와 같이 로딩 헤드부(150)는 제1라인(A1)을 따라 이동되도록 설치되어 제1로딩 이송기구(124)에 의해 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열이 제1라인(A1)으로 이송되면 첫 번째 열에 위치한 테스트될 SSD를 파지하여 제2정렬기(143)로 이송한다. 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열이 비워지면 제1로딩 이송기구(124)에 의해 캐리어 트레이(100a)를 한 스텝 이송시켜 로딩 헤드부(150)가 캐리어 트레이(100a)의 다음 열에 위치한 테스트될 SSD를 파지하여 제2정렬기(143)로 이송할 수 있도록 한다.
언로딩 헤드부(160)는 제1정렬기(142)에 수납된 테스트가 완료된 SSD를 언로딩부(130)에 의해 이송된 빈 캐리어 트레이(100a)로 이송시키기 위해 언로딩부(130)와 정렬부(140)의 상측에 설치된다. 언로딩 헤드부(160)는 도 2에 도시된 것과 같이 제2라인(A2)을 따라 이동되도록 설치되어 제1언로딩 이송기구(134)에 의해 테스트된 SSD가 수납될 빈 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열이 제2라인(A2)으로 이송되면 제1정렬기(142)에 위치한 테스트가 완료된 SSD를 파지하여 빈 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열로 이송한다. 빈 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열이 채워지면 제1언로딩 이송기구(134)에 의해 캐리어 트레이(100a)를 한 스텝 이송시키면 언로딩 헤드부(160)는 제1정렬기(142)에서 테스트가 완료된 SSD를 파지하여 빈 캐리어 트레이(100a)의 다음 열로 이송하여 수납한다.
로딩 버퍼부(170)는 테스트 트레이(111)에서 테스트될 SSD가 수납될 위치에 오류가 발생되면 그 위치에 SSD를 수납하지 않도록 하기위해 로딩부(120)와 정렬부(140)의 사이에 더 구비되어 설치된다. 로딩 버퍼부(170)는 테스트 트레이(111)에서 SSD가 삽입될 위치에 오류가 발생되면 오류가 발생된 위치에 삽입될 SSD를 제2정렬기(143)로 이송하지 않고 임시 적재하기 위해 구비된다.
언로딩 버퍼부(180)는 정렬부(140)와 언로딩부(130) 사이에 더 구비되어 설치되며, 언로딩 버퍼부(180)는 테스트 결과 불량품으로 판정된 불량 SSD가 수납된다. 즉, 언로딩부(130)에 위치한 빈 캐리어 트레이(100a)에 양품 SSD를 수납하는 경우에 테스트 사이트(112)에서 불량품으로 판정된 SSD는 언로딩 버퍼부(180)에 적재된다. 언로딩 버퍼부(180)는 수납된 불량 SSD를 배출하기 위해 불량 SSD 스택 부(190)가 더 구비되어 설치된다.
불량 SSD 스택부(190)는 불량 SSD 수납 버퍼부(191), 불량품 스택커(192), 제1불량품 이송헤드부(193) 및 제2불량품 이송헤드부(194)로 구성되며, 각 구성을 설명하면 다음과 같다. 불량 SSD 수납 버퍼부(191)는 언로딩 버퍼부(180)의 일측에 대향되도록 설치되어 언로딩 버퍼부(180)에 수납된 불량 SSD를 수납한다. 불량품 스택커(192)는 불량 SSD 수납 버퍼부(191)의 일측에 설치되어 불량 SSD 수납 버퍼부(191)에 수납된 불량 SSD가 수납되는 캐리어 트레이(100a)가 적재된다.
언로딩 버퍼부(180)에 수납된 불량 SSD를 불량 SSD 수납 버퍼부(191) 및 불량품 스택커(192)로 각각 순차적으로 이송시키기 위해 제1불량품 이송헤드부(193) 및 제2불량품 이송헤드부(194)가 구비된다. 제1불량품 이송헤드부(193)는 언로딩 버퍼부(180)와 불량 SSD 수납 버퍼부(191)의 상측 즉, 제3라인(A3)을 따라 이동되도록 설치되어 언로딩 버퍼부(180)에 수납된 불량 SSD를 불량 SSD 수납 버퍼부(191)로 이송한다. 제2불량품 이송헤드부(194)는 불량 SSD 수납 버퍼부(191)와 불량품 스택커(192)의 상측 즉, 제4라인(A4)을 따라 이동되도록 설치되어 불량 SSD 수납 버퍼부(191)에 수납된 불량 SSD를 불량품 스택커(192)에 적재된 카세트(192a)로 이송시킨다.
언로딩부(130)에서 사용되는 빈 캐리어 트레이(100a)를 로딩부(120)에 공급받기 위해 로딩부(120)와 언로딩부(130) 사이에는 빈 캐리어 이송기구(200)가 더 구비된다. 빈 캐리어 이송기구(200)는 도 2에 도시된 것과 같이 로딩부(120)와 언로딩부(130) 사이에 설치되어 로딩부(120)에서 캐리어 트레이(100a)에 수납된 테스 트될 SSD가 모두 정렬부(140)로 이송되면 빈 캐리어 트레이(100a)를 로딩 스택커(123)로 이송한 후 로딩 스택커(123)에서 언로딩부(130)의 제2언로딩 승강기(132)로 이송하여 공급하게 된다.
상기 구성을 갖는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러에서 테스트될 SSD, 테스트가 완료된 SSD, 불량 SSD를 이송시키기 위한 로딩 헤드부(150), 언로딩 헤드부(160), 제1불량품 이송헤드부(193) 및 제2불량품 이송헤드부(194)는 각각 픽커(picker)(도시 않음), 픽커(picker)를 각각의 이동방향으로 이동시키기 위한 캔트리(gantry)(도시 않음) 및 픽커를 승/하강시키기 위한 승강기구로 이루어지고, 본원 발명에서의 이송기구나 승강기 등은 볼 스크류나 리니어 모터와 같은 이송기구가 적용된다.
상기 구성을 갖는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 작용을 첨부된 도 2 및 도3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
테스트할 다수개의 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 로딩부(120)의 제2로딩 승강기(122)에 적재한다. 제2로딩 승강기(122)는 캐리어 트레이(100a)를 하강시켜 제2로딩 이송기구(도시 않음)로 이송한다. 제2로딩 이송기구는 캐리어 트레이(100a)를 화살표(B1) 방향으로 이송하여 캐리어 트레이(100a)를 제1로딩 승강기(121)로 이송시킨다. 제1로딩 승강기(121)는 캐리어 트레이(100a)를 승강시켜 제1로딩 이송기구(124)로 투입한다. 제1로딩 이송기구(124)는 화살표(B2) 방향을 따라 캐리어 트레이(100a)를 간격(P2) 만큼 한 스텝 이송시켜 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열이 제1라인(A1)에 위치되도록 이송시킨다. 캐리어 트레이(100a)의 첫째 열이 제1라인(A1)에 위치하면 로딩 헤드부(150)가 첫 번째 열에 위치한 테스트될 SSD를 정렬부(140)의 제2정렬기(143)로 이송한다. 첫 번째 열에 위치한 테스트될 SSD가 제2정렬기(143)로 이송되면 제1로딩 이송기구(124)는 캐리어 트레이(100a)를 간격(P) 만큼 한 스텝 이송시켜 두 번째 열을 제1라인(A1)으로 이송한다. 두 번째 열이 제1라인(A1)으로 이송되면 로딩 헤드부(150)는 두 번째 열에 위치한 테스트될 SSD를 제2정렬기(143)로 이송하며, 이러한 연속적인 동작을 통해 캐리어 트레이(100a)에 수납된 SSD가 제2정렬기(143)로 모두 이송되면 빈 캐리어 트레이(100a)는 로딩 스택커(123)로 이송된다. 캐리어 트레이(110a)에서 제2정렬기(143)로 테스트될 SSD를 이송 시 테스트 트레이(111)에 불량이 발생된 위치에 수납된 SSD는 로딩 헤드부(150)에 의해 별도로 로딩 버퍼부(170)에 적재된다.
정렬부(140)의 제2정렬기(143)에 테스트될 SSD가 모두 수납되면 제2정렬기(143)는 챔버부(110)로 이송되고, 챔버부(110)에 제2정렬기(143)가 위치되면 푸셔(141)에 의해 제2정렬기(143)에 위치한 SSD를 챔버부(110)에 위치한 테스트 트레이(111)에 수납한다. 테스트 트레이(111)에 테스트될 SSD를 수납 시 SSD가 수납되는 위치는 테스트가 완료된 SSD가 배출된 위치에 수납된다. 즉, 도 3에 도시된 바와 같이 테스트 사이트(112)에서 테스트 트레이(111)에 수납된 SSD의 테스트가 완료된 후 테스트 트레이(111)는 챔버부(110)로 이송된다. 챔버부(110)로 테스트 트레이(111)가 이송되면, 테스트 트레이(111)는 순환 이송기구(113)에 의해 화살표(B3) 방향을 따라 간격(P1) 만큼 한 스텝 이송된다. 스텝 이송되어 테스트 트레이(111)의 첫 번째 열이 이송되면 첫 번째 열에 위치한 테스트 트레이(111)에 위치 한 테스트가 완료된 SSD는 푸셔(141)에 의해 테스트 트레이(111)에서 삽입 상태가 해제된 후 제1정렬기(142)로 수납된다.
제1정렬기(142)로 테스트가 완료된 SSD가 배출되면 테스트 트레이(111)는 순환 이송기구(113)에 의해 한 스텝 이송되어 첫 번째 열이 제2정렬기(143)에 수납된 테스트될 SSD를 수납한다. 이러한 연속적인 동작을 통해 테스트 트레이(111)에 테스트된 SSD가 모두 배출되고 테스트될 SSD가 수납되면 이 테스트 트레이(111)는 화살표(B4,B5,B6) 방향을 따라 이송된다.
제1정렬기(142)로 배출된 테스트가 완료된 SSD는 언로딩 헤드부(160)가 파지하여 언로딩부(130)로 이송한다. 언로딩 헤드부(160)는 제2라인(A2)을 따라 이동하면서 제1정렬기(142)에 수납된 SSD를 언로딩부(130)에 위치한 빈 캐리어 트레이(100a)로 이송한다. 빈 캐리어 트레이(100a)는 제2언로딩 승강기(132)에 의해 제1언로딩 이송기구(134)로 이송된다. 제1언로딩 이송기구(134)는 빈 캐리어 트레이(100a)를 화살표(B7) 방향을 따라 이송시켜 빈 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열이 제2라인(A2)에 위치되도록 이송시킨다. 제2라인(A2)에 빈 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열이 위치되면 언로딩 헤드부(160)는 제1정렬기(142)에 위치한 테스트가 완료된 SSD를 파지하여 빈 캐리어 트레이(100a)의 첫 번째 열로 이송한다. 첫 번째 열에 테스트가 완료된 SSD가 수납되면 제1언로딩 이송기구(134)는 간격(P2) 만큼 스텝 이송시켜 두 번째 열이 제2라인(A2)에 위치되도록 이송한다. 제2라인(A2)에 위치한 빈 캐리어 트레이(100a)의 두 번째 열에 테스트가 완료된 SSD를 수납한다. 이러한 연속적인 동작을 통해 빈 캐리어 트레이(100a)에 테스트가 완료 된 SSD가 모두 수납되면 이 캐리어 트레이(100a)를 제1언로딩 승강기(131)로 이송한다. 제1언로딩 승강기(131)는 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 하강시켜 제2언로딩 이송기구(도시 않음)로 이송한다. 제2언로딩 이송기구(도시 않음)는 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이(100a)를 화살표(B8) 방향을 따라 언로딩 스택커(133)로 이송하고, 언로딩 스택커(133)는 이 캐리어 트레이(100a)를 승강시켜 배출하게 된다.
언로딩부(130)에 위치한 빈 캐리어 트레이(100a)에 테스트 결과 양품 SSD만 수납하는 경우에 불량 판정된 불량 SSD는 언로딩 헤드부(160)에 의해 언로딩 버퍼부(180)에 수납되고, 언로딩 버퍼부(180)에 수납된 불량 SSD는 제3라인(A3)을 따라 이동되는 제1불량품 이송헤드부(193)에 의해 불량 SSD 수납 버퍼부(191)로 이송된다. 불량 SSD 수납 버퍼부(191)에 수납된 불량 SSD는 제4라인(A4)을 따라 이동하는 제2불량품 이송헤드부(194)에 의해 불량 SSD 스택부(190)에 위치한 캐리어 트레이(100a)에 수납하여 양품과 불량품에 따라 SSD를 분류하게 된다.
언로딩부(130)에서 양품 SSD를 수납하기 위해 사용되는 빈 캐리어 트레이(100a)는 로딩부(120)에서 공급된다. 즉, 빈 캐리어 이송기구(200)는 로딩부(120)에서 캐리어 트레이(100a)에 수납된 테스트될 SSD가 모두 정렬부(140)로 이송되면 빈 캐리어 트레이(100a)는 로딩 스택커(123)에 적재된 후 이를 화살표(B9) 방향을 따라 언로딩부(130)의 제2언로딩 승강기(132)로 이송하여 언로딩부(130)로 빈 캐리어 트레이(100a)를 공급하여 빈 캐리어 트레이(100a)를 순환시켜 사용할 수 있도록 한다.
(실시예2)
본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 다른 실시예를 첨부된 도면을 이용하여 설명하면 다음과 같다.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 5는 도 4에 도시된 회전이송 챔버부 및 소켓 정렬부의 측면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 제2실시예의 SSD 테스트 핸들러는 본 발명의 제1실시예의 SSD 테스트 핸들러의 구성에서 동일한 구성의 설명은 생략하고, 상이한 구성을 갖는 회전이송 챔버부(210)와 소켓 정렬부(220)를 각각 설명하면 다음과 같다.
회전이송 챔버부(210)는 도 4 및 도 5에 도시된 것과 같이 테스트 사이트(211)로 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓(test socket)(200a)을 회전 이송시키며, 테스트 사이트(211)에서 테스트된 SSD개 수납된 다수개의 테스트 소켓유닛(200a)을 상기 회전방향의 역방향으로 회전 이송시켜 소켓 정렬부(220)로 이송시킨다.
회전이송 챔버부(210)는 테스트 사이트(211), 다수개의 소켓 적재부재(212,213), 회전 가이드부재(214), 소켓 회전기구(215) 및 소켓 푸셔(216)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
테스트 사이트(211)는 테스트될 SSD가 각각 다수개의 테스트 소켓(200a)이 접촉되면 각각의 테스트 소켓유닛(200a)에 수납된 SSD를 테스트하며, 다수개의 소켓 적재부재(212,213)는 테스트 사이트(211)의 일측에 설치되어 소켓 정렬부(220)로부터 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 테스트 소켓(200a)을 수납한다. 다수개 의 소켓 적재부재(212,213)는 대향되도록 회전 가이드부재(214)에 설치된다. 회전 가이드부재(214)는 다수개의 소켓 적재부재(212,213) 중 하나가 일측에 제1회전부재(212a)로 설치되고, 나머지 하나가 타측에 제2회전부재(213a)로 설치되어 회전 이송 시 다수개의 테스트 소켓(200a)의 평행 상태가 유지되도록 한다. 다수개의 테스트 소켓(200a)을 도 5에 도시된 화살표방향으로 회전 이송시키기 위해 소켓 회전기구(215)가 회전 가이드부재(214)에 설치된다. 소켓 회전기구(215)는 회전 가이드부재(214)에 설치되어 회전 가이드부재(214)를 회전시켜 다수개의 소켓 적재부재(212,213)를 각각 소켓 정렬부(220)와 테스트 사이트(211)로 각각 회전 이송시킨다. 소켓 회전기구(215)에 의해 다수개의 소켓 적재부재(212,213) 중 하나가 테스트된 SSD를 수납한 상태에서 소켓 정렬부(210)로 회전 이송되면 푸셔(216)가 다수개의 테스트 소켓(200a)을 가압하여 다수개의 테스트 소켓(200a)이 소켓 정렬부(220)로 이송시키기 위해 푸셔(216)는 다수개의 소켓 적재부재(212,213) 사이에 설치된다. 도 5에서 미설명 부호 "216a"는 리니어모터나 볼 스크류와 같은 직선 이송기구를 나타낸다.
회전 이송챔버부(210)의 다수개의 소켓 적재부재(212,213)로 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 테스트 소켓(200a)을 이송하거나 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓(200a)을 이송받기 위해 소켓 정렬부(220)는 로딩부(120)와 언로딩부(130) 사이에 설치된다. 소켓 정렬부(220)는 회전이송 챔버부(210)에서 역방향으로 이송되는 다수개의 테스트 소켓(200a)을 언로딩하고 회전이송 챔버부(210)로 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓(200a)이 로딩될 수 있도록 이송시킨다. 여기서 역방향은 도 5에 도시된 화살표에서 테스트 사이트(211)의 반대방향 즉 소켓 정렬부(220)로 회전방향을 나타낸다. 도 5에서 미설명 부호 "211a"는 리니어모터나 볼 스크류와 같은 직선 이송기구를 나타낸다.
회전이송 챔버부(210)로부터 이송되는 테스트된 SSD가 수납되는 다수개의 테스트 소켓(200a)을 수납하는 소켓 정렬부(220)는 제1소켓 정렬기(221)와 제2소켓 정렬기(222)로 구성되며, 각각의 상세한 구성은 정렬부(140)의 제1 및 제2정렬기(142,143)의 구성과 동일하며, 제1 및 제2정렬기(142,143)는 SSD를 정렬하는 데 반하여 제1소켓 정렬기(221)와 제2소켓 정렬기(222)는 다수개의 테스트 소켓(200a)을 정렬하도록 구성된다.
소켓 정렬부(220)의 제1소켓 정렬기(221)는 회전이송 챔버부(210)의 일측에 설치되어 회전이송챔버부(210)에서 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓(200a)을 수납하여 언로딩 헤드부(160)가 파지할 수 있도록 회전시킨다. 제2소켓 정렬기(222)는 제1소켓 정렬기(221)와 대향되도록 설치되어 로딩 헤드부(150)에 의해 테스트될 SSD가 다수개의 테스트 소켓(200a)에 수납되면 다수개의 테스트 소켓(200a)을 회전이송 챔버부(210)로 회전 이송시킨다.
회전이송 챔버부(210)로 테스트될 SSD가 수납된 테스트 소켓(200a)이 제2소켓 정렬기(222)에서 회전 이송되면 이를 테스트 사이트(211)로 이송하여 SSD를 테스트한 후 다시 제1소켓 정렬기(221)로 이송된다. 제1소켓 정렬기(221)는 이송된 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓(200a)에 수납된 SSD를 언로딩 헤드부(160)가 파지할 수 있도록 회전 정렬시킨다. 회전 정렬된 테스트된 SSD는 언로딩 헤드부(160)가 파지하여 테스트 결과에 따라 양품과 불량품에 따라 분류하므로써 SSD의 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있게 된다.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 낸드 플래쉬나 제어기 등과 같이 부품을 인쇄회로기판에 실장한 후 케이스를 조립하지 않은 베어 상태의 SSD나 케이스가 조립된 SSD를 테스트하여 양품과 불량품으로 분류하는 분야에 적용할 수 있다.
도 1은 SSD의 정면도,
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,
도 3은 도 2에 도시된 정렬부 및 챔버부의 측면도,
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,
도 5는 도 4에 도시된 회전이송 챔버부 및 소켓 정렬부의 측면도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
110: 챔버부 120: 로딩부
130: 언로딩부 140: 정렬부
150: 로딩 헤드부 160: 언로딩 헤드부
170: 로딩 버퍼부 180: 언로딩 버퍼부
190: 불량 SSD 스택부 210: 회전이송 챔버부
220: 소켓 정렬부

Claims (14)

  1. 다수개의 테스트 트레이를 각각 테스트 사이트로 순환 이송시키며 테스트 트레이에 수납된 테스트된 SSD를 배출하고, 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납할 수 있도록 테스트 트레이를 스텝 이송시키는 챔버부와;
    상기 챔버부의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 로딩부와;
    상기 챔버부의 타측에 설치되어 테스트가 완료된 SSD를 수납하기 위해 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 언로딩부와;
    상기 로딩부와 언로딩부 사이에 설치되어 테스트 트레이가 이송되면 테스트 트레이에서 테스트가 완료된 SSD을 가압하여 삽입을 해제한 후 수납하여 회전 정렬시키며, 테스트될 SSD를 회전 이송시킨 후 가압하여 테스트 트레이에서 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 수납시키는 정렬부와;
    상기 로딩부와 상기 정렬부의 상측에 설치되어 로딩부에 의해 이송된 캐리어 트레이에 수납된 테스트될 SSD를 정렬부로 이송시키는 로딩 헤드부와;
    상기 언로딩부와 상기 정렬부의 상측에 설치되어 정렬부에 수납된 테스트된 SSD를 상기 언로딩부에 의해 이송된 빈 캐리어 트레이로 이송시키는 언로딩 헤드부로 구비됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  2. 제1항에 있어서, 상기 챔버부는 다수개의 테스트 트레이와;
    상기 테스트 트레이와 접촉되어 테스트 트레이에 수납된 SSD를 테스트하는 테스트 사이트와;
    상기 테스트 사이트의 일측에 설치되어 다수개의 테스트 트레이에 테스트된 SSD를 배출하거나 테스트 트레이에 테스트될 SSD를 수납하기 위해 테스트 트레이를 각각 순환 이송시키는 순환 이송기구로 구비되며,
    상기 순환 이송기구는 테스트 트레이를 수직방향으로 이송시키는 제1챔버 승강기와, 상기 제1챔버 승강기의 타측에 설치되는 테스트 트레이를 수직방향으로 이송시키는 제2챔버 승강기와, 상기 제1 및 제2챔버 승강기의 하측에 설치되어 테스트 트레이를 수평방향으로 이송시키는 제1챔버 이송기구와, 상기 제1 및 제2챔버 승강기의 상측에 설치되어 테스트 트레이를 수평방향으로 이송시키는 제2챔버 이송기구로 이루어져 다수개의 테스트 트레이를 순환 이송시키며, 상기 제1챔버 승강기는 다수개의 테스트 트레이 중 테스트 사이트에서 테스트가 완료된 테스트 트레이에 수납된 SSD를 한 열씩 배출되도록 하거나 SSD가 배출된 위치에 테스트될 SSD를 한 열씩 수납할 수 있도록 테스트 트레이를 스텝 이송시킴을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  3. 제1항에 있어서, 상기 정렬부는 상기 챔버부의 일측에 설치되어 테스트 트레이에서 테스트된 SSD가 삽입 해제되면 이를 수납하여 상기 언로딩 헤드부가 파지할 수 있도록 회전시켜 정렬하는 제1정렬기와;
    상기 제1정렬기와 대향되도록 설치되어 상기 로딩 헤드부에 의해 SSD가 수납 되면 이를 회전 이송시켜 정렬하는 제2정렬기와;
    상기 제1정렬기와 상기 제2정렬기 사이에 설치되어 상기 제1정렬기에 수납되도록 테스트 트레이에서 테스트가 완료된 SSD의 삽입을 해제시키고 상기 제2정렬기에 수납된 테스트될 SSD를 삽입 해제되어 상기 제1정렬기로 배출된 테스트 트레이의 SSD 삽입 위치에 삽입되도록 가압하는 푸셔로 구비되며,
    상기 푸셔는 SSD를 가압하는 푸시부재와, 일측에 상기 푸시부재가 설치되어 푸시부재를 상기 정렬부의 제1정렬기와 제2정렬기로 이동되도록 승/하강시키는 푸시 승강기와, 상기 푸시 승강기의 타측에 설치되어 푸시 승강기를 제1 및 제2방향으로 이송시키는 제1 및 제2푸시 이송기구로 이루어지고,
    상기 제1정렬기는 상기 테스트 트레이에서 배출되는 테스트된 SSD를 수납하는 제1정렬 수납부재와, 상기 제1정렬 수납부재의 일측에 설치되어 상기 언로딩 헤드부가 테스트된 SSD를 파지하여 이송시킬 수 있도록 상기 제1정렬 수납부재를 회전시키는 제1회전부재로 이루어지며,
    상기 제2정렬기는 상기 로딩 헤드부에 의해 이송되는 테스트될 SSD를 수납하는 제2정렬 수납부재와, 상기 제2정렬 수납부재의 일측에 설치되어 제2정렬 수납부재에 수납된 SSD를 상기 테스트 트레이에 삽입될 수 있도록 회전시키기 위해 제2정렬 수납부재를 회전시키는 제2회전부재와, 상기 제2회전부재가 제2정렬 수납부재를 상기 제1정렬기의 하측과 로딩 헤드부가 SSD를 수납할 수 있는 위치로 회전 이송되도록 가이드하는 곡선 가이드로 이루어짐을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1정렬기의 제1회전부재는 상기 제1정렬 수납부재에 수납된 SSD를 90도 회전시키기 위해 제1정렬 수납부재를 회전시킴을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제2정렬기의 제2회전부재는 상기 제2정렬 수납부재에 수납된 SSD의 커넥터 핀이 테스트 트레이를 향하도록 SSD를 90도 회전시키기 위해 제2정렬 수납부재를 회전시킴을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  6. 제1항에 있어서, 상기 로딩부는 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 캐리어 트레이와;
    상기 챔버부의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 이송받아 승강시켜 투입하는 제1로딩 승강기와;
    상기 제1로딩 승강기와 대향되게 설치되어 테스트될 SSD가 수납되는 캐리어 트레이를 수납하여 하강시키는 제2로딩 승강기와;
    상기 제2로딩 승강기의 타측에 설치되어 테스트될 SSD가 배출된 빈 캐리어 트레이를 적재하는 로딩 스택커와;
    상기 제1로딩 승강기의 일측에 설치되어 제1로딩 승강기에 의해 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이가 투입되면 상기 로딩헤드부가 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 파지하여 상기 정렬부로 이송시킬 수 있도록 캐리어 트레이를 스텝 이송시킨 후 테스트될 SSD가 배출된 빈 캐리어 트레이를 상기 로딩 스택커로 배출시키 는 제1로딩 이송기구와;
    상기 제1로딩 승강기와 상기 제2로딩 승강기 사이에 설치되어 상기 제2로딩 승강기에서 하강되어 투입되는 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 캐리어 트레이를 상기 제1로딩 승강기로 이송시키는 제2로딩 이송기구로 구비됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  7. 제1항에 있어서, 상기 언로딩부는 테스트가 완료된 SSD를 수납하기 위한 다수개의 빈 캐리어 트레이와;
    상기 챔버부의 타측에 설치되어 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 하강시키는 제1언로딩 승강기와;
    상기 제1언로딩 승강기와 대향되게 설치되어 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 수납하여 승강시켜 배출하는 제2언로딩 승강기와;
    상기 제2언로딩 승강기의 타측에 설치되어 상기 다수개의 빈 캐리어 트레이를 투입하는 언로딩 스택커와;
    상기 제1언로딩 승강기의 일측에 설치되어 상기 언로딩 헤드부가 상기 정렬부에 수납된 테스트가 완료된 SSD를 언로딩 스택커에 의해 투입되는 테스트가 완료된 SSD를 수납하기 위한 빈 캐리어 트레이에 수납할 수 있도록 빈 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 제1언로딩 이송기구와;
    상기 제1언로딩 승강기와 상기 제2언로딩 승강기 사이에 설치되어 제1언로딩 이송기구에 의해 이송된 테스트가 완료된 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 제1언로딩 승강기구에서 이송받아 제2언로딩 승강기로 이송시키는 제2언로딩 이송기구로 구비됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  8. 제1항에 있어서, 상기 로딩부와 상기 정렬부의 사이에 로딩 버퍼부가 더 구비되며, 상기 로딩 버퍼부는 테스트 트레이에서 SSD가 삽입될 위치에 오류가 발생되면 오류가 발생된 위치에 삽입될 SSD가 임시 적재됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  9. 제1항에 있어서, 상기 정렬부와 언로딩부 사이에 언로딩 버퍼부가 더 구비되며, 상기 언로딩 버퍼부는 테스트 결과 불량품으로 판정된 불량 SSD가 수납됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  10. 제9항에 있어서, 상기 언로딩 버퍼부는 수납된 불량 SSD를 배출하기 위해 불량 SSD 스택부가 더 구비되며,
    상기 불량 SSD 스택부는 불량 SSD가 수납되는 불량 SSD 수납 버퍼부와;
    상기 불량 SSD 수납 버퍼부에 수납된 불량 SSD가 수납되는 카세트가 적재되는 불량품 스택커와;
    상기 언로딩 버퍼부와 상기 불량 SSD 수납 버퍼부의 상측에 설치되어 언로딩 버퍼부에 수납된 불량 SSD를 불량 SSD 수납 버퍼부로 이송하는 제1불량품 이송헤드부와;
    상기 불량 SSD 수납 버퍼부와 상기 불량품 스택커의 상측에 설치되어 불량 SSD 수납 버퍼부에 수납된 불량 SSD를 불량품 스택커에 적재된 카세트로 이송시키는 제2불량품 이송헤드부로 이루어짐을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  11. 제1항에 있어서, 상기 로딩부와 상기 언로딩부 사이에는 빈 캐리어 이송기구가 더 구비되며,
    상기 빈 캐리어 이송기구는 상기 로딩부에서 캐리어 트레이에 수납된 테스트될 SSD가 모두 이송되면 빈 캐리어 트레이를 상기 언로딩부로 이송함을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  12. 테스트 사이트로 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓을 회전 이송시키며, 테스트 사이트에서 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓을 상기 상기 회전방향의 역방향으로 회전시켜 이송시키는 회전이송 챔버부와;
    상기 회전이송 챔버부의 일측에 설치되어 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 로딩부와;
    상기 회전이송 챔버부의 타측에 설치되어 테스트가 완료된 SSD를 수납하기 위해 캐리어 트레이를 스텝 이송시키는 언로딩부와;
    상기 로딩부와 언로딩부 사이에 설치되어 회전이송 챔버부에서 역방향으로 이송되는 다수개의 테스트 소켓을 언로딩하고 회전이송 챔버부로 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓이 로딩될 수 있도록 이송하는 소켓 정렬부와;
    상기 로딩부와 상기 소켓 정렬부의 상측에 설치되어 로딩부에 의해 이송된 캐리어 트레이에 수납된 테스트될 SSD를 소켓 정렬부로 이송시키는 로딩 헤드부와;
    상기 언로딩부와 상기 소켓 정렬부의 상측에 설치되어 소켓 정렬부에 수납된 테스트가 완료된 SSD를 상기 언로딩부에 의해 이송된 빈 캐리어 트레이로 이송시키는 언로딩 헤드부로 구비됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  13. 제12항에 있어서, 상기 회전이송 챔버부는 테스트될 SSD가 각각 다수개의 테스트 소켓이 접촉되면 각각의 테스트 소켓에 수납된 SSD를 테스트하는 테스트 사이트와;
    상기 테스트 사이트의 일측에 설치되어 상기 소켓 정렬부로부터 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 테스트 소켓을 수납하는 다수개의 소켓 적재부재와;
    상기 다수개의 소켓 적재부재 중 하나의 일측에 설치되는 제1회전부재와, 나머지 하나의 타측에 설치되는 제2회전부재로 이루어지는 회전 가이드부재와;
    상기 회전 가이드 부재에 설치되어 회전 가이드부재를 회전시켜 상기 다수개의 소켓 적재부재를 각각 상기 소켓 정렬부와 상기 테스트 사이트로 회전 이송시키는 소켓 회전기구와;
    상기 다수개의 소켓 적재부재 사이에 설치되어 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓을 가압하여 상기 소켓 정렬부로 이송시키는 소켓 푸셔로 구비됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  14. 제12항에 있어서, 상기 소켓 정렬부는 상기 회전이송 챔버부의 일측에 설치되어 회전이송챔버부에서 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 소켓을 수납하여 상기 언로딩 헤드부가 파지할 수 있도록 회전시키는 제1소켓 정렬기와;
    상기 제1소켓 정렬기와 대향되도록 설치되어 상기 로딩 헤드부에 의해 테스트될 SSD가 다수개의 테스트 소켓이 수납되면 다수개의 테스트 소켓을 회전이송 챔버부로 회전 이송시키는 제2소켓 정렬기로 구비됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140144337A (ko) * 2013-06-10 2014-12-19 세메스 주식회사 테스트 핸들러
KR20150032430A (ko) * 2013-09-17 2015-03-26 삼성전자주식회사 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치
KR20170108703A (ko) * 2016-03-18 2017-09-27 (주)테크윙 전자부품 테스트용 핸들러
KR101997903B1 (ko) * 2018-04-05 2019-07-08 주식회사 이티 전자 부품 소자 테스트를 위한 얼라이너 및 이를 구비한 핸들러
CN110255144A (zh) * 2019-07-23 2019-09-20 佛山市佛大华康科技有限公司 U盘装配检测生产线
KR102368128B1 (ko) * 2021-08-30 2022-02-28 주식회사 성진전자 인쇄회로기판 비전검사장치용 카세트매거진 공급순환장치

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140144337A (ko) * 2013-06-10 2014-12-19 세메스 주식회사 테스트 핸들러
KR102001467B1 (ko) 2013-06-10 2019-07-18 세메스 주식회사 테스트 핸들러 및 이를 사용하는 테스트 방법
KR20150032430A (ko) * 2013-09-17 2015-03-26 삼성전자주식회사 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치
KR102083489B1 (ko) * 2013-09-17 2020-03-03 삼성전자 주식회사 에스에스디 제조용 자동화 모듈 장치
KR20170108703A (ko) * 2016-03-18 2017-09-27 (주)테크윙 전자부품 테스트용 핸들러
KR102656451B1 (ko) 2016-03-18 2024-04-12 (주)테크윙 전자부품 테스트용 핸들러
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