KR100929780B1 - 에스에스디(ｓｓｄ) 테스트 핸들러 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 SSD를 베어 상태에서 자동으로 테스트할 수 있는 SSD 테스트 핸들러에 관한 것으로, 본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 적재부(100)와, 테스트부(200)와, 캐리어 트레이(10)를 적재부(100)에 로딩하거나 언로딩하는 캐리어 이송로봇(300)과, 테스트 트레이(20)를 로딩영역(L)이나 언로딩영역(U)으로 이송시키는 셔틀부(400)와, 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트 트레이(20)를 테스트부(200)로 회전 이송시키는 제1테스트 트레이 회전이송부(500)와, 테스트부(200)에서 배출되는 테스트 트레이(20)를 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)으로 회전 이송시키는 제2테스트 트레이 회전이송부(600)와, 적재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에 수납된 SSD를 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트 트레이(20)로 이송하는 제1SSD 이송로봇(700)과, 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)에 위치한 테스트 트레이(20)에 수납된 SSD를 적재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류하는 제2SSD 이송로봇(800)으로 구성됨을 특징으로 한다.
Figure R1020080004110
SSD, 테스트, 핸들러, 회전, 로딩, 언로딩

Description

에스에스디(ＳＳＤ) 테스트 핸들러{A Solid State Disk Test Handler}
본 발명은 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 SSD를 베어(bare) 상태에서 자동으로 테스트할 수 있는 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것이다.
에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 약칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자를 사용하여 데이터를 저장하므로써 프로그램의 실행 속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다.
SSD의 구성 및 작용을 첨부된 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1에 도시된 SSD는 케이스(case)(도시 않음)가 조립되지 않은 베어(bare) 상태의 SSD를 나타내며, 베어 상태의 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(5)는 각각 인쇄회 로기판(1)에 실장되며, 각각을 실장 시 SSD의 데이터의 저장 용량에 따라 인쇄회로기판(1)의 일면에 제어기(3)와 입출력제어기(4)를 실장하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(2)를 실장하여 구성할 수 있다.
SSD를 구성하는 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 입력되거나 출력되는 데이터를 커넥터(5)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 핀(5a)이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다.
케이스(도시 않음)가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD는 커넥터(5)에 구비되는 다수개의 핀(5a)으로 인해 SSD의 전기적인 특성 테스트 시 작업자가 수작업이나 반자동으로 테스트장치에 SSD를 장착하여 실시하였다.
종래와 같이 베어 상태의 SSD의 테스트를 수작업을 이용하여 실시하는 경우 작업자의 숙련도에 따라 테스트 작업의 생산성이 결정되며, 숙련도가 낮은 경우에 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 하므로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이(carrier tray)를 적재하는 적재부와, 적재부와 대향되도록 설치되어 다수개의 테스트 트레이(test tray)에 수납된 SSD를 테스트하는 테스트부와, 적재부와 테스트부 사이에 설치되어 캐리어 트레이를 적재부에 로딩(loading)시키거나 언로딩(unloading)시키는 캐리어 이송로봇과, 테스트부와 캐리어 이송로봇 사이에 설치되어 테스트 트레이를 로딩영역이나 언로딩영역으로 이송시키는 셔틀(shuttle)부와, 셔틀부의 하측에 설치되어 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이를 테스트부로 회전 이송시키는 제1테스트 트레이 회전이송부와, 제1테스트 트레이 회전이송부와 대향되도록 설치되어 테스트부에서 배출되는 테스트 트레이를 셔틀부의 언로딩영역으로 회전 이송시키는 제2테스트 트레이 회전이송부와, 테스트부와 대향되도록 설치되어 적재부에 로딩된 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이로 이송하는 제1SSD 이송로봇과, 제1SSD 이송로봇과 대향되도록 설치되어 셔틀부의 언로딩영역에 위치한 테스트 트레이에 수납된 SSD를 적재부에 로딩된 캐리어 트레이로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류하는 제2SSD 이송로봇으로 구성됨을 특징으로 한다.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 하므로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다.
(실시예)
본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 3은 도 2에 도시된 SSD 테스트 핸들러의 측면도이며, 도 4는 도 2에 도시된 테스트부의 정면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 적재부(100), 테스트부(200), 캐리어 이송로봇(300), 셔틀부(400), 제1테스트 트레이 회전이송부(500), 제2테스트 트레이 회전이송부(600), 제1SSD 이송로봇(700) 및 제2SSD 이송로봇(800)으로 구성되며, 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다.
적재부(100)는 테스트될 SSD나 테스트된 SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이(10)를 적재하기 위한 것으로, 다수개의 캐리어 트레이(10), 제1적재기(110), 제2적재기(120), 제3적재기(130), 버퍼부(140) 및 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
상기 캐리어 트레이(10)는 테스트될 SSD나 테스트되는 SSD를 수납하기 위해 각각 수납홈(11)이 형성되며, 이러한 캐리어 트레이(10)를 적재하기 위해 적재부(100)는 8개의 적재기(110,120,130)로 구성된다.
적재부(100)를 구성하는 다수개의 제1적재기(110)는 3 세트(set)로 구성되며, 각각에 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(10)가 적재된다. 다수개의 제2적재기(120)는 4 세트로 구성되며, 각각에 다수개의 제1적재기(110)의 타측에 설치되어 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 수납하기 위한 다수개의 캐리어 트레이(10)가 적재된다. 예를 들어, 다수개의 제2적재기(120)가 도 2에 도시된 바와 같이 4 세트로 구성되는 경우에 3 세트의 적재기(120)는 양품 SSD를 수납하는 캐리어 트레이(10)를 적재하며, 나머지 1 세트의 적재기(120)는 불량품 SSD를 수납하는 캐리어 트레이(10)를 적재할 수 있도록 구성할 수 있다. 제3적재기(130)는 다수개의 제1적재기(110)와 다수개의 제2적재기(120) 사이에 설치되어 다수개의 제1적재기(110)에서 테스트될 SSD가 배출된 빈 캐리어 트레이(10)를 적재한다. 테스트될 SSD가 모두 배출된 빈 캐리어 트레이(10)를 적재하는 제3적재기(130)는 1 세트로 구성된다.
다수개의 버퍼부(140)는 테스트된 SSD를 수납하기 위해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 더 구비되어 설치된다. 다수개의 버퍼부(140)는 특히 테스트된 SSD를 등급별로 분류 시 다수개의 제2적재기(120)가 부족한 경우에 추가로 사용하기 위해 설치된다. 이러한 다수개의 버퍼부(140)가 설치된 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)는 제1 내지 제3적재기(110,120,130)의 상측에 설치되어 캐리어 이송로봇(130)에 의해 로딩되는 캐리어 트레이(10)를 파지하거나 해제한다. 캐리어 트레이(10)를 파지하기 위해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)는 실린더와 지 지부재로 이루어지는 파지기구(151)가 상측에 배열되어 설치된다.
테스트부(200)는 적재부(100)와 대향되도록 설치되어 다수개의 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트될 SSD를 테스트하여 배출하기 위한 것으로, 다수개의 테스트 트레이(20), 테스트 사이트(210), 제1테스트 승강기(220), 제1테스트 수평이송기구(230), 제2테스트 승강기(240), 제2테스트 수평이송기구(250) 및 제3테스트 수평이송기구(260)로 구성되며 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
테스트 트레이(20)는 다수개의 SSD가 수납되며, 테스트 사이트(210)는 다수개의 테스트 트레이(20)와 접촉되어 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트될 SSD를 테스트하는 테스트장치(도시 않음)가 설치된다.
제1테스트 승강기(220)는 테스트 사이트(210)의 일측에 설치되어 제1테스트 트레이 회전이송부(500)에 의해 회전 이송된 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 테스트 트레이(20)를 순차적으로 승강시켜 정렬한다. 제1테스트 수평이송기구(230)는 테스트 사이트(210)와 제1테스트 승강기(220) 사이에 설치되어 다수개의 테스트 트레이(20)를 테스트 사이트(210)로 이송시킨다.
제2테스트 승강기(240)는 테스트 사이트(210)의 타측에 설치되어 테스트 사이트(210)에서 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 트레이(20)를 이송받아 순차적으로 하강시켜 제2테스트 트레이 회전이송부(600)로 이송시킨다. 제2테스트 수평이송기구(250)는 테스트 사이트(210)와 제2테스트 승강기(240) 사이에 설치되어 다수개의 테스트 트레이(20)를 테스트 사이트(210)에서 제2테스트 트레이 승강기(240)로 이송시킨다.
제3테스트 수평이송기구(260)는 제1테스트 수평이송기구(230)와 제2테스트 수평이송기구(250) 사이에 설치되어 제1테스트 수평이송기구(230)와 제2테스트 수평이송기구(250)와 직교되는 방향으로 테스트 트레이(20)를 이송시켜 테스트 사이트(230)에 테스트 트레이(20)를 접촉시키거나 해제시킨다.
캐리어 이송로봇(300)은 도 3, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 적재부(100)와 테스트부(200) 사이에 설치되어 적재부(100)에 적재된 캐리어 트레이(10)를 로딩하거나 언로딩하기 위한 것으로, 캐리어 프레임(310), 다수개의 캐리어 수평이송기구(320), 다수개의 캐리어 승강기(330) 및 다수개의 캐리어 클램프기구(340)로 구성된다. 이러한 구성을 갖는 캐리어 이송로봇(300)의 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
캐리어 프레임(310)은 적재부(100)와 테스트부(200) 사이에 설치되며, 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)는 각각 캐리어 프레임(310)에 설치된다. 상기 수평이송기구(320)는 벨트이송기구(320a)와 LM 가이드(320b)로 이루어지고, 이들은 캐리어 수평이송기구(320)를 수평방향으로 이송하게 된다. 캐리어 승강기(330)는 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)에 각각 설치되어 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)에 의해 수평방향으로 이송된다. 상기 캐리어 승강기(330)는 볼스크류나 리니어모터와 같은 직선이송기구를 적용하여 캐리어 클램프기구(340)를 승/하강시킨다.
상기 캐리어 클램프기구(340)는 도 5에 도시된 바와 같이, 각기 폭조절기구(340a)와 한쌍의 그립퍼(340b)로 이루어진다. 상기 폭조절기구(340a)는 캐리어 승강기(330)에 설치된다. 그리고, 캐리어 클램프기구(340)는 캐리어 승강기(330)에 각각 설치되어 적재부(100)에 적재된 캐리어 트레이(10)를 로딩하거나 언로딩한다. 즉, 캐리어 클램프기구(340)는 각각 캐리어 수평이송기구(320)와 캐리어 승강기(330)에 의해 수평 및 수직방향으로 이송되어 캐리어 트레이(10)를 제1적재기(110)에서 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 일측에 로딩한다. 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에 수납된 테스트될 SSD가 모두 배출되면 캐리어 클램프기구(340)는 빈 캐리어 트레이(10)를 테스트된 SSD를 수납할 수 있도록 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 이송하거나, 타측에 캐리어 트레이(10)가 모두 위치되면 빈 캐리어 트레이(10)를 제3적재기(130)로 이송한다. 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 이송된 빈 캐리어 트레이(10)에 테스트된 SSD가 모두 채워지면 다수개의 캐리어 클램프기구(340)는 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)와 다수개의 캐리어 승강기(330)에 의해 이송되어 빈 캐리어 트레이(10)를 제2적재기(120)로 언로딩한다.
캐리어 트레이(10)를 로딩하거나 언로딩하는 다수개의 캐리어 클램프기구(340)는 공압실린더(341), 다수개의 캐리어 이송가이드(342), 다수개의 캐리어 클램프부재(343) 및 제1탄성부재(344)로 구성되며, 각 구성을 설명하면 다음과 같다.
공압실린더(341)는 캐리어 승강기(330)에 설치되며, 다수개의 캐리어 이송가이드(342)는 공압실린더(341)의 양측에 각각 설치되어 공압실린더(341)에 의해 이송된다. 다수개의 캐리어 클램프부재(343)는 다수개의 캐리어 이송가이드(342)에 각각 설치되어 공압실린더(341)에 의해 다수개의 캐리어 이송가이드(342)를 따라 서로 벌어지거나 좁아지는 왕복 운동하여 캐리어 트레이(10)를 파지한다. 제1탄성부재(344)는 다수개의 캐리어 클램프부재(343)에 각각 설치되어 다수개의 캐리어 클램프부재(343)가 좁아지는 방향으로 이송 시 복원력을 제공한다.
서로 좁아지거나 멀어지는 방향으로 이송되는 캐리어 클램프부재(343)는 각각 다수개의 ㄱ자형 부재(343a), 다수개의 제2탄성부재(343b), 접촉부재(343c) 및 지지핀(343d)으로 이루어진다. 상기 ㄱ자형 부재(343a)는 각각 캐리어 수평이송기구(342)에 설치되며, 상기 제2탄성부재(343b)는 ㄱ자형 부재(343a)의 내측에 각각 설치된다. 접촉부재(343c)는 제2탄성부재(343b)에 각각 설치되어 제2탄성부재(343b)에 의해 캐리어 트레이(10)를 파지 시 캐리어 트레이(10)와 밀착되며, 다수개의 지지핀(343d)은 ㄱ자형 부재(343a)의 내측에 배열되도록 설치되어 캐리어 트레이(10)를 지지한다.
셔틀부(400)는 테스트부(200)와 캐리어 이송로봇(300) 사이에 설치되어 테스트 트레이(20)를 로딩영역(L)이나 언로딩영역(U)으로 이송시키기 위한 것으로, 도 2, 도 3, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 셔틀 프레임(410), 푸시기구(420), 다수개의 제1트레이 수평이송기구(430), 다수개의 제1셔틀 클램프기구(440), 다수개의 제2셔틀 클램프기구(450), 제3셔틀 클램프기구(460)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
셔틀 프레임(410)은 일측과 타측에 테스트 트레이(20)가 통과될 수 있도록 다수개의 테스트 트레이 통과구멍(411)이 형성되고 다수개의 테스트 트레이 통과구멍(411) 사이에 푸시판 통과구멍(412)이 형성된다.
푸시기구(420)는 푸시판 통과구멍(412)에 위치되도록 셔틀 프레임(410)에 설치되며 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 제2SSD 이송로봇(800)이 파지할 수 있도록 푸시(push)하기 위해 푸시판(421), 푸시 고정부재(422), 다수개의 푸시 가이드부재(423) 및 다수개의 푸시 공압실린더(424)로 구성된다. 푸시기구(420)의 푸시판(421)은 푸시판 통과구멍(412)을 승강되어 통과될 수 있도록 설치되며 다수개의 푸시핀(421a)이 배열되어 설치되며, 푸시 고정부재(422)는 푸시판(421)의 하측에 위치되도록 셔틀 프레임(410)에 고정 설치된다. 다수개의 푸시 가이드부재(423)는 푸시 고정부재(422)와 푸시판(421) 사이에 설치되어 푸시판(421)의 승/하강 시 가이드하며, 다수개의 푸시 공압실린더(424)는 푸시 고정부재(422)와 푸시판(421) 사이에 설치되어 푸시판(421)을 승/하강시킨다.
다수개의 제1트레이 수평이송기구(430)는 각각 셔틀 트레임(410)의 일측에 설치되며, 각각은 벨트이송기구로 이루어진다.
다수개의 제1셔틀 클램프기구(440)는 각각 다수개의 제1트레이 수평이송기구(430)에 설치되어 테스트 트레이(20)를 이송시키기 위한 것으로, 제2트레이 수평이송기구(441), 제1트레이 클램프부재(442) 및 다수개의 접촉핀(442a)으로 구성된다. 제1셔틀 클램프기구(440)의 제2트레이 수평이송기구(441)는 제1트레이 수평이송기구(430)에 설치되며, 제1트레이 클램프부재(442)는 제2트레이 수평이송기구(441)에 설치되어 제2트레이 수평이송기구(441)에 의해 전/후진된다. 다수개의 접촉핀(442a)은 제1트레이 클램프부재(442)에 설치되어 제1트레이 클램프부재(442)의 전/후진에 의해 테스트 트레이(20)와 접촉하거나 해제되어 테스트 트레이(20)를 지지한다. 이와 같이 접촉핀(432a)에 의해 접촉되거나 해제되기 위해 테스트 트레이(20)는 양측면에 홈(도시 않음)이 형성된다.
다수개의 제2셔틀 클램프기구(450)는 셔틀 프레임(410)의 타측에 각각 설치되어 테스트 트레이(20)를 지지하기 위한 것으로, 각각 제3트레이 수평이송기구(451), 제2트레이 클램프부재(452) 및 트레이 지지부재(452a)로 구성된다. 제2셔 틀 클램프기구(450)의 제3트레이 수평이송기구(451)는 셔틀 프레임(410)의 타측에 고정되도록 설치되며, 제2트레이 클램프부재(452)는 제3트레이 수평이송기구(451)에 설치되어 제3트레이 수평이송기구(451)에 의해 전/후진된다. 트레이 지지부재(452a)는 제2트레이 클램프부재(452)에 설치되어 제2트레이 클램프부재(452)의 전/후진에 따라 이동되어 테스트 트레이(20)를 지지한다.
제3셔틀 클램프기구(460)는 다수개의 제2셔틀 클램프기구(450) 사이에 위치되도록 셔틀 프레임(410)의 타측 설치되어 테스트 트레이(20)를 지지하기 위한 것으로, 실린더(461) 및 접촉핀(462)으로 구성된다. 실린더(461)는 제2셔틀 클램프기구(450) 사이에 위치되도록 셔틀 프레임(410)의 타측에 고정 설치되며, 접촉핀(462)은 실린더(461)에 의해 전/후진되도록 설치되어 테스트 트레이(20)를 지지한다. 즉, 제3셔틀 클램프기구(460)는 푸시기구(420)로 테스트 트레이(20)가 이송되면 이를 지지한다.
제1테스트 트레이 회전이송부(500)는 셔틀부(400)의 하측에 설치되어 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)를 테스트부(200)로 하강시킨 후 회전 및 이송시킨다.
제2테스트 트레이 회전이송부(600)는 셔틀부(400)의 하측에 제1테스트 트레이 회전이송부(500)와 대향되도록 설치되어 테스트부(200)에서 배출되는 테스트가 완료된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)를 이송 및 회전시킨 후 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)으로 승강시킨다.
테스트 트레이(20)를 회전 이송시키는 제1테스트 트레이 회전이송부(500)와 제2테스트 트레이 회전이송부(600)는 각각 트레이 수평이송기구(510,610), 테스트 트레이 승강기(520,620), 테스트 트레이 회전기구(530,630) 및 테스트 트레이 회전부재(540,640)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
트레이 수평이송기구(510,610)는 테스트 트레이(20)를 수평방향으로 이송시키며, 테스트 트레이 승강기(520,620)는 테스트 트레이 수평이송기구(510,610)에 설치되어 테스트 트레이(20)를 승/하강시킨다. 테스트 트레이 회전기구(530,630)는 테스트 트레이 승강기(520,620)에 설치된다. 테스트 트레이 회전부재(540,640)는 테스트 트레이 회전기구(530,630)에 설치되어 테스트 트레이 회전기구(530,630)와 테스트 트레이 수평이송기구(510,610)와 테스트 트레이 승강기(520,620)에 의해 이송과 승/하강과 회전되어 테스트 트레이(20)를 회전 이송시킨다. 테스트 트레이(20)는 테스트 트레이 회전부재(540,640)에 파지된 상태에서 테스트 트레이 회전기구(530,630)에 의해 도 3에 도시된 화살표 b와 같은 방향으로 90 도(degree) 회전되어 수납된 SSD의 커넥터(5: 도 1에 도시됨)가 테스트부(200)를 향하도록 하거나 하측을 향하도록 한다.
제1SSD 이송로봇(700)은 테스트부(200)의 대향되도록 설치되어 캐리어 이송로봇(300)에 의해 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(10)가 적재부(100)의 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩되면 테스트될 SSD를 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 빈 테스트 트레이(20)로 이송한다.
제2SSD 이송로봇(800)은 제1SSD 이송로봇(700)과 대향되도록 설치되어 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)에 위치한 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 적 재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에 테스트 결과에 따라 분류하여 이송시킨다. 테스트 결과에 따라 SSD를 분류하는 제2SSD 이송로봇(800)은 테스트장치(도시 않음)로부터 전송된 테스트 결과를 제어장치(도시 않음)를 통해 전송받아 양품과 불량품에 따라 등급을 분류하여 적재부(100)의 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)로 이송한다.
캐리어 트레이(10)를 이송시키는 제1SSD 이송로봇(700)과 제2SSD 이송로봇(800)의 상세한 구성은 도 2에 도시된 바와 같이 X-Y 이송로봇(710,810)과 픽커(720,820)로 구성된다. X-Y 이송로봇(710,810)은 테스트부(200)와 대향되도록 각각 설치되며, 픽커(picker)(720,820)는 X-Y 이송로봇(710,810)에 각각 이동되도록 설치된다. X-Y 이송로봇(710,810)에 각각 이동되도록 설치된 픽커(720,820)는 적재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에 수납된 테스트될 SSD를 셔틀부(400)에 위치한 테스트 트레이(20)로 이송하거나 셔틀부(400)에 위치한 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 적재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)로 이송한다. 즉, 픽커(720,820)는 다수개의 제1적재기(110)에 적재된 캐리어 트레이(10)가 캐리어 이송로봇(300)에 의해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩되면, 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에서 테스트될 SSD를 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트 트레이(20)로 이송한다. 또한, 픽커(720,820)는 다수개의 제2적재기(110)에 적재된 캐리어 트레이(10)가 캐리어 이송로봇(300)에 의해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩되면, 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)에 위치하고 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)에 서 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류한다. 테스트된 SSD가 캐리어 트레이(10)에 채워지면 캐리어 이송로봇(300)은 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)를 다수개의 제2적재기(120)로 이송한다.
이상의 본 발명의 SSD 테스트 핸들러에 구성되는 각각의 이송로봇, 수평이송기구 및 승강기는 각각 리니어 모터, 볼스크류 및 벨트 이송기구중 하나가 선택되어 적용되며, 각각의 이송기구에는 LM 가이드가 더 구비될 수 있다.
상기 구성을 갖는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 작용을 설명하면 다음과 같다.
작업자가 적재부(100)의 다수개의 제1적재기(110)에 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 캐리어 트레이(10)를 적재한다. 제1적재기(110)에 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(10)가 적재되면 캐리어 이송로봇(300)은 다수개의 제1적재기(110)에 적재된 캐리어 트레이(10)를 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 일측으로 이송시켜 로딩시킨다. 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 일측에 캐리어 트레이(10)가 로딩되면 SSD 이송로봇(700)은 테스트될 SSD를 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트 트레이(20)로 이송한다.
SSD 이송로봇(700)이 캐리어 트레이(10)에 수납된 테스트될 SSD를 테스트 트레이(20)로 이송하는 작업 중에 캐리어 트레이(10)가 비워지면 캐리어 이송로봇(300)은 빈 캐리어 트레이(10)를 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 이송한다. 캐리어 이송로봇(300)은 또한 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150) 의 타측에 캐리어 트레이(10)가 모두 위치되면 빈 캐리어 트레이(10)를 제3적재기(130)로 이송한다. 이러한 연속적인 과정을 통해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 빈 캐리어 트레이(10)가 이송되고, 테스트 트레이(10)에 테스트될 SSD가 모두 채워지면 이를 제1테스트 트레이 회전이송부(500)가 파지하여 하강시킨다. 테스트 트레이(20)가 하강되면 제1테스트 트레이 회전이송부(500)는 테스트 트레이(20)를 회전시켜 도 2에 도시된 화살표 a1방향으로 이송시킨다.
테스트 트레이(20)가 화살표 a1방향으로 이송되면 테스트부(200)는 테스트 트레이(20)를 이송받아 제1테스트 승강기(220)에 의해 도 4에 도시된 화살표 a2방향으로 이송시킨다. 이러한 연속적인 동작을 통해 제1테스트 승강기(220)에 두개의 테스트 트레이(20)가 위치되면 제1테스트 수평이송기구(230)는 화살표 a3 방향으로 두 개의 테스트 트레이(20)를 이송시켜 테스트 사이트(210)로 위치시킨다.
두 개의 테스트 트레이(20)가 테스트 사이트(210)로 이송되어 위치되면 제3테스트 수평이송기구(260)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a4방향으로 이송시켜 테스트장치(도시 않음)에 접촉시킨다. 두 개의 테스트 트레이(20)가 테스트장치에 접촉되어 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트될 SSD의 테스트가 완료되면 제3테스트 수평이송기구(260)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a4의 역방향으로 이송시킨다.
두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a4의 역방향으로 이송되면 제2테스트 수평이송기구(250)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a5방향으로 이송시켜 제2테스트 승강기(240)에 위치시킨다. 두 개의 테스트 트레이(20)가 제2테스트 승강 기(240)에 위치되면 제2테스트 승강기(240)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a6방향으로 연속적으로 이송시켜 테스트 트레이(20)가 순차적으로 제2테스트 트레이 회전이송부(600)로 위치시킨다.
제2테스트 트레이 회전이송부(600)는 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)가 이송되면 이를 화살표 a7방향으로 이송시킨 후 회전 및 승강시켜 셔틀부(400)로 이송시킨다. 테스트 트레이(20)가 이송되면 셔틀부(400)는 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)를 고정시킨 후 테스트 트레이(20)를 화살표 a8방향으로 이송시켜 언로딩영역(U)에 위치된 푸시기구(420)로 이송시킨다.
테스트 트레이(20)가 이송되면 푸시기구(420)는 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 푸시하여 테스트 트레이(20)에 삽입된 테스트된 SSD를 이탈시켜 제2SSD 이송로봇(800)이 파지할 수 있도록 한다. 제2SSD 이송로봇(800)은 파지된 SSD를 적재부(100)의 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측에 로딩된 다수개의 빈 캐리어 트레이(10)로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류한다. 즉, 제2SSD 이송로봇(800)은 캐리어 이송로봇(300)에 의해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측에 로딩된 다수개의 빈 캐리어 트레이(10)에 SSD를 등급별로 분류하여 수납한다. 제2SSD 이송로봇(800)의 연속적인 동작에 의해 테스트된 SSD가 분류되어 빈 캐리어 트레이(10)에 수납되어 채워지면 캐리어 이송로봇(300)은 캐리어 트레이(10)를 등급별로 다수개의 제2적재기(120)로 각각 이송시켜 적재한다. 테스트 결과에 따른 등급의 종류가 많아지는 경우에 제2SSD 이송로봇(800)은 테스트된 SSD를 다수개의 버퍼부(140)에 수납한다.
이러한 과정을 통해 제2SSD 이송로봇(800)에 의해 테스트된 SSD가 모두 비워지면 빈 테스트 트레이(20)는 셔틀부(400)에 의해 화살표 a9방향으로 이송되어 로딩영역(L)으로 이송된다. 로딩영역(L)으로 이송된 테스트 트레이(20)는 제1SSD 이송로봇(700)에 의해 테스트될 SSD가 다시 수납되는 과정을 반복하여 대량의 SSD를 자동으로 테스트하여 분류할 수 있게 된다.
본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 낸드 플래쉬나 제어기 등과 같이 부품을 인쇄회로기판에 실장한 후 케이스를 조립하지 않은 베어 상태의 SSD나 케이스가 조립된 SSD를 테스트하여 양품과 불량품으로 분류하는 분야에 적용할 수 있다.
도 1은 SSD의 사시도,
도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,
도 3은 도 2에 도시된 SSD 테스트 핸들러의 측면도,
도 4는 도 2에 도시된 테스트부의 정면도,
도 5는 도 3에 도시된 캐리어 이송로봇의 사시도,
도 6은 도 5에 도시된 캐리어 이송로봇의 평면도,
도 7은 도 3에 도시된 셔틀부의 사시도,
도 8은 도 7에 도시된 셔틀부의 측면도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
10: 캐리어 트레이 20: 테스트 트레이
100: 적재부 110: 제1적재기
120: 제2적재기 130: 제3적재기
140: 버퍼부 150: 캐리어 트레이 파지플레이트부재
200: 테스트부 210: 테스트 사이트
220:제1테스트 승강기 230: 제1테스트 수평이송기구
240: 제2테스트 승강기 250: 제2테스트 수평이송기구
260: 제3테스트 수평이송기구 300: 캐리어 이송로봇
310: 캐리어 프레임 320: 캐리어 수평이송기구
330: 캐리어 승강기 340: 제2캐리어 클램프기구
400: 셔틀부 410: 셔틀 프레임
420: 푸시기구 430: 셔틀이송기구
440: 제1셔틀 클램프기구 500: 제1테스트 트레이 회전이송부
600: 제2테스트 트레이 회전이송부 700: 제1SSD 이송로봇
800: 제2SSD 이송로봇

Claims (13)

  1. SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이를 적재하는 적재부와,
    상기 적재부와 대향되게 설치되며, 테스트 트레이에 수납된 SSD를 테스트하는 테스트부와,
    상기 적재부와 테스트부 사이에 설치되는 캐리어 프레임과, 캐리어 프레임의 일측에 각각 설치되는 벨트이송기구와 LM 가이드로 이루어진 캐리어 수평이송기구와, 캐리어 수평이송기구에 각각 설치되어 캐리어 수평이송기구에 의해 수평방향으로 이송되는 캐리어 승강기와, 상기 캐리어 승강기에 각각 설치되어 캐리어 수평이송기구와 캐리어 승강기에 의해 이송되어 적재부에 적재된 캐리어 트레이를 로딩하거나 언로딩하며, 폭조절기구와 한쌍의 그립퍼로 이루어진 캐리어 클램프기구로 이루어진 캐리어 이송로봇과,
    상기 테스트부와 캐리어 이송로봇 사이에 설치되어 테스트 트레이를 로딩영역이나 언로딩영역으로 이송시키는 셔틀부와,
    상기 셔틀부의 하측에 설치되어 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이를 테스트부로 회전 이송시키는 제1테스트 트레이 회전이송부와,
    상기 제1테스트 트레이 회전이송부와 대향되도록 설치되어 상기 테스트부에서 배출되는 테스트 트레이를 셔틀부의 언로딩영역으로 회전 이송시키는 제2테스트 트레이 회전이송부와,
    상기 테스트부와 대향되도록 설치되어 적재부에 로딩된 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이로 이송하는 제1SSD 이송로봇과,
    상기 제1SSD 이송로봇과 대향되도록 설치되어 셔틀부의 언로딩영역에 위치한 테스트 트레이에 수납된 SSD를 적재부에 로딩된 캐리어 트레이로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류하는 제2SSD 이송로봇으로 구성되며,
    상기 제1테스트 및 제2테스트 트레이 회전이송부는 각각 테스트 트레이 수평이송기구와, 테스트 트레이 수평이송기구에 설치되는 테스트 트레이 승강기와, 테스트 트레이 승강기에 설치되는 테스트 트레이 회전기구와, 테스트 트레이 회전기구에 설치되어 테스트 트레이 회전기구와 상기 테스트 트레이 수평이송기구와 상기 테스트 트레이 승강기에 의해 이송과 승/하강과 회전되어 테스트 트레이를 회전 이송시키는 테스트 트레이 회전부재로 구성되고,
    상기 제1SSD 및 제2SSD 이송로봇은 각각 X-Y 이송로봇과, 상기 X-Y 이송로봇에 각각 설치되어 적재부에 로딩된 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 상기 셔틀부에 위치한 테스트 트레이로 이송하거나 셔틀부에 위치한 테스트 트레이에 수납된 SSD를 상기 적재부에 로딩된 캐리어 트레이로 이송하는 픽커로 구성되는 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  2. 제1항에 있어서, 상기 적재부는 테스트될 SSD나 테스트되는 SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이와,
    상기 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이를 각각 적재하는 제1적재기와,
    상기 제1적재기의 타측에 설치되어 상기 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 수납하기 위한 다수개의 캐리어 트레이를 각각 적재하는 제2적재기와,
    상기 제1적재기와 제2적재기의 사이에 상기 제1적재기에서 테스트될 SSD가 배출된 빈 캐리어 트레이를 적재하는 제3적재기와,
    상기 제1 내지 제3적재기의 상측에 설치되어 상기 캐리어 이송로봇에 의해 로딩되는 캐리어 트레이를 파지하거나 해제하는 캐리어 트레이 파지플레이트부재로 구성되며,
    상기 캐리어 트레이 파지플레이트부재는 테스트된 SSD를 수납하기 위한 다수개의 버퍼부가 더 구비되어 설치됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  3. 제2항에 있어서, 상기 캐리어 트레이는 각각 SSD를 수납하기 위한 수납홈이 형성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  4. 제1항에 있어서, 상기 테스트부는 테스트 트레이와,
    상기 테스트 트레이와 접촉되어 테스트 트레이에 수납된 테스트될 SSD를 테스트하는 테스트장치가 설치되는 테스트 사이트와,
    상기 테스트 사이트의 일측에 설치되어 상기 제1테스트 트레이 회전이송부에 의해 회전 이송된 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이를 순차적으로 승강시켜 정렬하는 제1테스트 승강기와,
    상기 테스트 사이트와 제1테스트 승강기 사이에 설치되어 테스트 트레이를 상기 테스트 사이트로 이송시키는 제1테스트 수평이송기구와,
    상기 테스트 사이트의 타측에 설치되어 상기 테스트 사이트에서 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이를 이송받아 순차적으로 하강시켜 상기 제2테스트 트레이 회전이송부로 이송시키는 제2테스트 승강기와,
    상기 테스트 사이트와 상기 제2테스트 승강기 사이에 설치되어 다수개의 테스트 트레이를 테스트 사이트에서 제2테스트 트레이 승강기로 이송시키는 제2테스트 수평이송기구와,
    상기 제1테스트 수평이송기구와 상기 제2테스트 수평이송기구 사이에 설치되어 제1테스트 수평이송기구와 제2테스트 수평이송기구와 직교되는 방향으로 상기 테스트 사이트로 이송된 테스트 트레이를 상기 테스트 사이트로 이송시켜 테스트 사이트에 테스트 트레이를 접촉시키거나 해제시키는 제3테스트 수평이송기구로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서, 상기 캐리어 이송로봇의 캐리어 클램프기구는 각각 캐리어 승강기에 설치되는 공압실린더와,
    상기 공압실린더의 양측에 각각 설치되어 공압실린더에 의해 이송되는 캐리어 이송가이드와,
    상기 캐리어 이송가이드에 각각 설치되어 공압실린더에 의해 캐리어 이송가이드를 따라 서로 벌어지거나 좁아지는 왕복 운동하여 캐리어 트레이를 파지하는 캐리어 클램프부재와,
    상기 캐리어 클램프부재에 각각 설치되어 캐리어 클램프부재가 좁아지는 방향으로 이송 시 복원력을 제공하는 제1탄성부재로 구성되며,
    상기 캐리어 클램프부재는 각각 캐리어 수평이송기구에 설치되는 다수개의 ㄱ자형 부재와, 상기 ㄱ자형 부재의 내측에 각각 설치되는 제2탄성부재와, 상기 제2탄성부재에 각각 설치되어 제2탄성부재에 의해 캐리어 트레이를 파지 시 캐리어 트레이와 밀착되는 접촉부재와, 상기 ㄱ자형 부재의 내측에 배열되도록 설치되어 캐리어 트레이의 파지 시 캐리어 트레이를 지지하는 지지핀으로 이루어짐을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  7. 제1항에 있어서, 상기 셔틀부는 일측과 타측에 테스트 트레이가 통과될 수 있도록 다수개의 테스트 트레이 통과구멍이 형성되고 테스트 트레이 통과구멍 사이에 푸시판 통과구멍이 형성되는 셔틀 프레임과,
    상기 푸시판 통과구멍에 위치되도록 상기 셔틀 프레임에 설치되어 테스트 트레이에 수납된 SSD를 상기 제2SSD 이송로봇이 파지할 수 있도록 푸시하는 푸시기구와,
    상기 셔틀 프레임의 일측에 설치되는 제1트레이 수평이송기구와,
    상기 제1트레이 수평이송기구에 각각 설치되어 테스트 트레이를 이송시키는 제1셔틀 클램프기구와,
    상기 셔틀 프레임의 타측에 각각 설치되어 테스트 트레이를 지지하는 제2셔틀 클램프기구와,
    상기 제2셔틀 클램프기구 사이에 위치되도록 상기 셔틀 프레임의 타측에 설치되어 테스트 트레이를 지지하는 제3셔틀 클램프기구로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  8. 제7항에 있어서, 상기 푸시기구는 푸시판 통과구멍을 승강되어 통과될 수 있도록 설치되며 다수개의 푸시핀이 배열되어 설치되는 푸시판과,
    상기 푸시판의 하측에 위치되도록 셔틀 프레임에 고정 설치되는 푸시 고정부재와,
    상기 푸시 고정부재와 푸시판 사이에 설치되어 상기 푸시판의 승/하강 시 가이드하는 다수개의 푸시 가이드부재와,
    상기 푸시 고정부재와 푸시판 사이에 설치되어 상기 푸시판을 승/하강시키는 다수개의 푸시 공압실린더로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  9. 제7항에 있어서, 상기 제1셔틀 클램프기구는 각각 상기 제1트레이 수평이송기구에 설치되는 제2트레이 수평이송기구와,
    상기 제2트레이 수평이송기구에 설치되어 제2트레이 수평이송기구에 의해 전/후진되는 제1트레이 클램프부재와,
    상기 제1트레이 클램프부재에 설치되어 제1트레이 클램프부재의 전/후진에 의해 테스트 트레이와 접촉하거나 해제되는 다수개의 접촉핀으로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  10. 제7항에 있어서, 상기 제2셔틀 클램프기구는 각각 상기 셔틀 프레임의 타측에 설치되는 제3트레이 수평이송기구와,
    상기 제3트레이 수평이송기구에 설치되어 제3트레이 수평이송기구에 의해 전/후진되는 제2트레이 클램프부재와,
    상기 제2트레이 클램프부재에 설치되어 제2트레이 클램프부재의 전/후진에 의해 테스트 트레이를 지지하는 트레이 지지부재로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
  11. 제7항에 있어서, 상기 제3셔틀 클램프기구는 제2셔틀 클램프기구 사이에 위치되도록 상기 셔틀 프레임의 타측 설치되는 실린더와,
    상기 실린더에 설치되어 실린더에 의해 전/후진되어 테스트 트레이를 지지하는 접촉핀으로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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